JPS63132141A - 穀粒の品質判定装置 - Google Patents

穀粒の品質判定装置

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JPS63132141A
JPS63132141A JP27672286A JP27672286A JPS63132141A JP S63132141 A JPS63132141 A JP S63132141A JP 27672286 A JP27672286 A JP 27672286A JP 27672286 A JP27672286 A JP 27672286A JP S63132141 A JPS63132141 A JP S63132141A
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JP
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JP27672286A
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JPH063416B2 (ja
Inventor
Michio Kawanaka
道夫 川中
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Shizuoka Seiki Co Ltd
Original Assignee
Shizuoka Seiki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は穀粒の品質判定装置に係り、特に測定された
試料の肌ずれ状態を容易に判定し得る穀粒の品質判定装
置に関する。
(従来の技術〕 穀粒の品質判定装置は、玄米等の試料の一粒毎に光を照
射してその光の状態、例えば透過光や反射光などを検出
し、この検出値たる光量により整粒や未熟粒あるいは胴
割れ粒等の品質の判定を行うものである。例えば各玄米
−粒毎に光、を照射し、検出部たる受光素子により透過
光量や反射光量を検出して品質の判定を行っている。あ
るいは、各玄米−粒毎にスリットや小孔から光を部分的
に照射し、透過光量を検出して品質の判定を行っている
ところで、籾は籾摺機によって玄米にされるが、籾摺機
のロール間隔の調整不良等の要因で玄米に肌ずれが生ず
る弊害がある。また、籾の大きさにもバラツキがあり、
効率よく籾摺作業を果すためには、籾摺を丹念に行うの
で、肌ずれが生じ易い弊害がある。このように玄米に肌
ずれが生ずると、玄米の保管性に大きく影響し、保管中
の水分の吸湿及びかびの侵入口となり、品質の低下を招
く不都合があった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、玄米の肌ずれは品質上重要な項目であるにも
拘らず、肌ずれ状態を目視によって測定していたので、
判定のために多大な労力が必要になるとともに、処理時
間が長くなり、しかも判定精度が低下するという不都合
がある。
(発明の目的〕 そこでこの発明の目的は、上述の不都合を除去し、測定
した試料の肌ずれ状態を容易に判定するとともに、籾摺
作業や保管時において品質劣化が生ずるのを未然に防止
し得る穀粒の品質判定装置を実現するにある。
〔問題点を解決するための手段〕
この目的を達成するためにこの発明は、移送される試料
の各試料一粒毎に光を照射して光の状態を検出しこの検
出値により前記各試料一粒毎の品質を判定する穀粒の品
質判定装置において、前記試料の測定作業が完了した際
に前記試料の検出値の基準分布と前記測定された試料の
検出値の分布とを比較し前記測定された試料の肌ずれ状
態を判定すべく制御する制御部を設けたことを特徴とす
る。
〔作用〕
この発明の構成によれば、試料は一粒毎に測定され、そ
して制御部は試料の測定作業が完了した際に試料の検出
値の基準分布と測定された試料の検出値の分布とを比較
し測定された試料゛の肌ずれ状態を判定する。これによ
り、従来の如き品質判定項目中の形質における試料の肌
ずれを目視により測定した場合に比し、判定労力を頗る
低減することができ、しかも籾摺作業や保管時において
品質劣化が生ずるのを未然に防止する。
〔実施例〕
以下図面に基づいてこの発明の実施例を詳細且つ具体的
に説明する。
第1〜5図は、この発明の実施例を示すものである。第
1.2図において、2は穀粒の品質判定装置、4は試料
である例えば玄米Sを各玄米−粒毎に所定位置に保持し
て移送する円板、6は玄米Sを矢印a方向に移送すべく
円板4を回転させるモータ、8は光の照射および光景検
出の機能を果すべく照射手段および検出手段を内装した
ヘッド、10は演算処理の機能を果すべくマイクロコン
ピュータなどから構成される制御部である。
品質判定装置2は、モータ6により回転される円vi4
の試料用孔12に供給された各玄米Sを一粒毎に保持し
て矢印a方向に移送し、ヘッド8により各玄米S−粒毎
に光を照射して光の状態、例えば透過光や反射光等を検
出し、制御部10によりこの検出値たる光量より各玄米
S−粒毎に品質を検出するものである。なお、符号14
は、検出時期を特定するためのタイミング孔である。
光の照射および光量検出の機能を果すべく照射手段およ
び検出手段を内装したヘッド8は、第3図の如く構成さ
れている。円板4は、試料用孔12とタイミング孔14
とを穿設した基板16と、試料用孔12からの小粒の玄
米Sの落下を防止しかつ照射される光を透過させる透明
板18とを積層して成る。この円板4の基板16側には
、試料用孔12の全面に光を照射するように照射手段た
る光源20を設けている。この光源20と対向し円板4
の透明板18側で且つ検出された玄米Sが移動する位置
側には、各玄米Sの一粒毎の透過光量を検出する検出手
段たる透過光量センサ22を設ける。この透過光量セン
サ22は、透明板18側において、玄米Sを透過する光
を透過光量として検出する。また、光源2oを設けた基
板16側には、各玄米Sの一粒毎の反射光量を検出する
検出手段たる反射光量センサ24を設ける。この反射光
量センサ24は、玄米Sの肌ずれにより反射する反射光
量を検出する。
これら各光量センサ22.24の検出する各光量は、前
記制御部1oに入力される。制御部1゜は、反射光量と
透過光量とより各玄米S−粒毎に穀粒状態を判別し、こ
れら各穀粒状態と併せて反射光量と透過光量とより各玄
米Sの一粒毎の品質を判定するとともに、玄米Sの測定
作業が完了した際には玄米Sの検出値、例えば透過率の
基準分布く第5図の実線Aで示す)と前記測定された玄
米S中の整粒の検出値の分布(第5図の破線yで示す)
とを比較し前記測定された整粒の肌ずれ状態を判定する
ものである。なお、符号Xは玄米Sの移送方向、Bは未
熟粒の透過率の基準分布、Cは元来の透過率の基準分布
である。
次に、この実施例の作用を説明する。
円板4の試料用孔12に供給され一粒毎に矢印a方向に
移送される各玄米Sは、ヘッド8位置において光源20
により上方から光を照射される。
照射された光は、玄米Sに肌ずれが生じていない場合に
玄米Sを透過して透過光量センサ22に至るとともに、
玄米Sに肌ずれが生じている場合にはこの肌ずれにより
反射して反射光量センサ24に至る。つまり、透過光量
センサ22は玄米Sを透過する透過光量を検出する一方
、反射光量センサ24は玄米Sの肌ずれによって反射す
る反射光量を検出する。このとき、制御部10は、透過
光量センサ22の透過光量の値と反射光量センサ24か
らの反射光量の値とにより各玄米S−粒毎に品質を判定
するとともに、測定作業が完了した際に玄米Sの整粒の
検出値である透過率の分布を検出し、玄米Sの検出値の
基準分布と測定された整粒の検出値の分布とを比較し測
定された整粒の肌ずれ状態を判定する。詳述すれば、第
5図に示す如く、玄米Sの検出値である透過率の基準分
布(実線Aで示す)に対し測定された玄米S中の整粒の
検出値である透過率の分布(破線y、で示す)とを比較
し、両分布が合致せず、ずれているので、制御部10は
玄米Sが肌ずれであることを判定する。つまり、整粒の
検出された分布が基準分布からどの位ずれているかによ
って、肌ずれ程度を検出することが可能である。
この結果、測定された試料中の整粒を更に肌ずれ状態に
よって品質判定することができるので、品質判定の精度
を向上させ、また形質の判定時における労力を頗る低減
し得る。また、籾摺作業においては、玄米Sの肌ずれが
多い場合に籾摺を抑制し、品質劣化を未然に防止する。
また、胴ずれ状態を客観的に検出し得るので、保管時に
おいて肌ずれ程度を考慮して保管し得るので、玄米Sの
品質劣化を未然に防止する。
〔発明の効果〕
以上詳細な説明から明らかなようにこの発明によれば、
測定された試料の肌ずれ状態を容易に判定し、判定労力
を頗る低減するとともに、穀粒の品質区分の細分化を図
り得る。また、籾摺作業において籾摺状態を抑制し、肌
ずれが生ずるのを未然に防止するとともに、保管時にお
いて品質劣化が生ずるのを未然に防止し得る。
【図面の簡単な説明】
第1〜5図はこの発明の実施例を示し、第1図は品質判
定装置の平面図、第2図は品質判定装置の側面図、第3
図はヘッドの概略説明図、第4図は元来と未熟粒と整粒
との基準分布を示す図、第5図は整粒の基準分布と整粒
の肌ずれにより検出された分布とを示す図である。 図において、2は品質判定装置、4は円板、8はヘッド
、10は制御部、12は試料用孔、2゜は光源、22は
透過光量センサ、そして24は反射光量センサである。 特許出願人    静岡製機株式会社 代理人 弁理士  西 郷 義 美 図面の浄書(内容に変更なし) 第1図 第2図 第3図 !2   ケ22 第4図 小          木 通1?甲 手続主甫正書(方式) %式% 1、事件の表示 特願昭61−276722号 2、発明の名称 穀粒の品質判定装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 住 所  静岡県袋井市山名町4番地の1名称 静岡製
機株式会社 代表者鈴木重夫 4、代 理 人 〒105  置03−438−224
1  (代表)住 所  東京都港区虎ノ門3丁目4番
17号6、補正の対象    図面

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 移送される試料の各試料一粒毎に光を照射して光の状態
    を検出しこの検出値により前記各試料一粒毎の品質を判
    定する穀粒の品質判定装置において、前記試料の測定作
    業が完了した際に前記試料の検出値の基準分布と前記測
    定された試料の検出値の分布とを比較し前記測定された
    試料の肌ずれ状態を判定すべく制御する制御部を設けた
    ことを特徴とする穀粒の品質判定装置。
JP61276722A 1986-11-21 1986-11-21 穀粒の品質判定装置 Expired - Lifetime JPH063416B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61276722A JPH063416B2 (ja) 1986-11-21 1986-11-21 穀粒の品質判定装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP61276722A JPH063416B2 (ja) 1986-11-21 1986-11-21 穀粒の品質判定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63132141A true JPS63132141A (ja) 1988-06-04
JPH063416B2 JPH063416B2 (ja) 1994-01-12

Family

ID=17573422

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JP61276722A Expired - Lifetime JPH063416B2 (ja) 1986-11-21 1986-11-21 穀粒の品質判定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6906796B2 (en) 2001-08-17 2005-06-14 Foss Analytical Ab Device and method for irradiation

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61114786A (ja) * 1984-11-08 1986-06-02 株式会社 サタケ 色彩選別機の光電検出装置

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US6906796B2 (en) 2001-08-17 2005-06-14 Foss Analytical Ab Device and method for irradiation

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