JPS63124957A - 渦電流探傷方法及び渦電流探傷プロ−ブ - Google Patents
渦電流探傷方法及び渦電流探傷プロ−ブInfo
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- JPS63124957A JPS63124957A JP61271559A JP27155986A JPS63124957A JP S63124957 A JPS63124957 A JP S63124957A JP 61271559 A JP61271559 A JP 61271559A JP 27155986 A JP27155986 A JP 27155986A JP S63124957 A JPS63124957 A JP S63124957A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、熱交換器、コンデンサーに組込まれている伝
熱管、特に強磁性材料から成る伝熱管などの欠陥を検出
する渦電流探傷方法及び渦電流探傷プローブに関する。
熱管、特に強磁性材料から成る伝熱管などの欠陥を検出
する渦電流探傷方法及び渦電流探傷プローブに関する。
［従来の技術］
従来、熱交換器、コンデンサーに組込まれている伝熱管
は、組立前には外面から超音波等を利用して探傷検査を
行うが、組立てた後に定期検査等を行う場合は、外面か
らの探傷検査は構造上不可場合は、欠陥検出に関しては
格別の不都合を生じないが、磁性を有する場合や磁性体
の管の場合、そのままでは欠陥検出が難しく、正確な探
傷を行うことができない。それは管の透磁率そのものの
値が非磁性管に比べて非常に大きい（数百〜数千倍）た
めに磁気ノイズが大きく現われるからであり、また管内
に発生する渦電流が透ｆｊｉ率が大きい程管の内表面近
傍に集中しく表皮効果）、管の肉厚が大きくなると、管
の外表面にまで達せず、管外表面にある欠陥の検出感度
が著しく低下するからでおる。そこで管の軸方向に静磁
界をかけ、磁気飽和させて管の磁気的動作点を上げるこ
とにより、管の見かけ上の透磁率の値を低下せしめ非磁
性管と同等近くの検出性能を（ｑる目的で、従来は第１
図に示す磁気飽和用磁石を付設した内挿型渦電流探傷プ
ローブを用いている。この内挿型渦電流探傷プローブは
、両端部に被検物に対する磁気飽和用の永久磁石Ｄ＋
、Ｄ２を有し、中央部には鉄心Ｂに巻行した検査コイル
Ｃが配設され、前記永久磁石Ｄ＋ 、Ｄ２はその磁化方
向が鉄心Ｂの軸心線と直交する方向で、かつ一方端の磁
石Ｄ１は外周がＮ極、内周がＳ極、他方端の磁石Ｄ２ｔ
よ外周が３４１．内周がＮ極の着磁とした逆極性として
構成されている。
は、組立前には外面から超音波等を利用して探傷検査を
行うが、組立てた後に定期検査等を行う場合は、外面か
らの探傷検査は構造上不可場合は、欠陥検出に関しては
格別の不都合を生じないが、磁性を有する場合や磁性体
の管の場合、そのままでは欠陥検出が難しく、正確な探
傷を行うことができない。それは管の透磁率そのものの
値が非磁性管に比べて非常に大きい（数百〜数千倍）た
めに磁気ノイズが大きく現われるからであり、また管内
に発生する渦電流が透ｆｊｉ率が大きい程管の内表面近
傍に集中しく表皮効果）、管の肉厚が大きくなると、管
の外表面にまで達せず、管外表面にある欠陥の検出感度
が著しく低下するからでおる。そこで管の軸方向に静磁
界をかけ、磁気飽和させて管の磁気的動作点を上げるこ
とにより、管の見かけ上の透磁率の値を低下せしめ非磁
性管と同等近くの検出性能を（ｑる目的で、従来は第１
図に示す磁気飽和用磁石を付設した内挿型渦電流探傷プ
ローブを用いている。この内挿型渦電流探傷プローブは
、両端部に被検物に対する磁気飽和用の永久磁石Ｄ＋
、Ｄ２を有し、中央部には鉄心Ｂに巻行した検査コイル
Ｃが配設され、前記永久磁石Ｄ＋ 、Ｄ２はその磁化方
向が鉄心Ｂの軸心線と直交する方向で、かつ一方端の磁
石Ｄ１は外周がＮ極、内周がＳ極、他方端の磁石Ｄ２ｔ
よ外周が３４１．内周がＮ極の着磁とした逆極性として
構成されている。
この渦電流探傷プローブを被検管体Ａ中に挿入して探傷
を行う場合は、磁５Ｄ＋、Ｄ２と対向する領域では同図
の如く被検管体Ａを含む矢印で示す磁気回路が形成され
て飽和磁化せしめられ、管の磁気的動作点を上げ、管の
見かけ上の透磁率を下げて磁気ノイズを低減させ、この
状態において検査コイルＣを通じて被検管体Ａに渦電流
を生起させ、傷が存在する場合には傷によるインピーダ
ンス変化を捉えて傷の有無が検出される。
を行う場合は、磁５Ｄ＋、Ｄ２と対向する領域では同図
の如く被検管体Ａを含む矢印で示す磁気回路が形成され
て飽和磁化せしめられ、管の磁気的動作点を上げ、管の
見かけ上の透磁率を下げて磁気ノイズを低減させ、この
状態において検査コイルＣを通じて被検管体Ａに渦電流
を生起させ、傷が存在する場合には傷によるインピーダ
ンス変化を捉えて傷の有無が検出される。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで、従来の渦電流探傷プローブにおいては、被検
管体Ａを磁気飽和せしめるに必要な磁化力を与え、検出
能力を向上させるためには、両端部に取付けた磁５Ｄ１
．Ｄ２の肉厚（径方向〉を増加するか又は軸方向寸法を
長くして全磁束量を増加させる必要がある。この場合、
磁石Ｄ＋ 。
管体Ａを磁気飽和せしめるに必要な磁化力を与え、検出
能力を向上させるためには、両端部に取付けた磁５Ｄ１
．Ｄ２の肉厚（径方向〉を増加するか又は軸方向寸法を
長くして全磁束量を増加させる必要がある。この場合、
磁石Ｄ＋ 。
Ｄ２の肉厚を増加させて全磁束量を増加させようとする
場合は鉄心Ｂが細径化される。それがため鉄心Ｂが磁気
飽和状態となり、鉄心Ｂを通過する磁束量が制限され、
例えば被検管体Ａか厚肉細径管である場合は、鉄心Ｂと
被検管体Ａとの断面積比が小さくなり、鉄心Ｂの方が飽
和してしまい、従って被検管体Ａを磁気飽和せしめるに
必要な磁化力を渦電流探傷プローブによって発生させる
ことが困難となる。
場合は鉄心Ｂが細径化される。それがため鉄心Ｂが磁気
飽和状態となり、鉄心Ｂを通過する磁束量が制限され、
例えば被検管体Ａか厚肉細径管である場合は、鉄心Ｂと
被検管体Ａとの断面積比が小さくなり、鉄心Ｂの方が飽
和してしまい、従って被検管体Ａを磁気飽和せしめるに
必要な磁化力を渦電流探傷プローブによって発生させる
ことが困難となる。
［発明の目的］
本発明は、上記問題点を解決すべくなされたもので、鉄
心を磁気飽和せしめることなく、管を通過する必要磁束
圏を確保できて管の磁気飽和度を大きくでき、管の磁気
透磁率を小さくできる渦電流探傷方法及び渦電流探傷プ
ローブを促供することを目的とするものでおる。
心を磁気飽和せしめることなく、管を通過する必要磁束
圏を確保できて管の磁気飽和度を大きくでき、管の磁気
透磁率を小さくできる渦電流探傷方法及び渦電流探傷プ
ローブを促供することを目的とするものでおる。
［問題点を解決するための手段］
上記問題点を解決するための本発明の渦電流探傷方法は
、強磁性管を渦電流探傷するにおいて、探傷プローブの
永久磁石により発生する磁束が継鉄内を通過するときの
磁束の単位面積当りの密度を高めて管内の磁束密度を高
め、管の磁気飽和度を大きくし、管の磁気透磁率を小ざ
くして、強磁性管の欠陥を検出することを特徴とするも
のでおる。
、強磁性管を渦電流探傷するにおいて、探傷プローブの
永久磁石により発生する磁束が継鉄内を通過するときの
磁束の単位面積当りの密度を高めて管内の磁束密度を高
め、管の磁気飽和度を大きくし、管の磁気透磁率を小ざ
くして、強磁性管の欠陥を検出することを特徴とするも
のでおる。
またこの渦電流探傷方法を実施するための本発明の渦電
流探傷プローブは、円柱状鉄心の中央部に検査コイルを
巻着し、両端部に円筒状の永久磁石を嵌着し、前記永久
磁石はその磁化方向が鉄心の軸心線と直交する方向で、
かつ一方端の永久磁石は外周がＮ極、内周がＳ極、他方
端の永久ｒａｓは外周がＳ極、内周がＮ極の着磁とした
渦電流探傷プローブにおいて、前記鉄心に磁気飽和度の
高い材料を用いたことを特徴とするものでおる。
流探傷プローブは、円柱状鉄心の中央部に検査コイルを
巻着し、両端部に円筒状の永久磁石を嵌着し、前記永久
磁石はその磁化方向が鉄心の軸心線と直交する方向で、
かつ一方端の永久磁石は外周がＮ極、内周がＳ極、他方
端の永久ｒａｓは外周がＳ極、内周がＮ極の着磁とした
渦電流探傷プローブにおいて、前記鉄心に磁気飽和度の
高い材料を用いたことを特徴とするものでおる。
［作 用］
上記の如く本発明の渦電流探傷方法は、強磁性管を渦電
流探傷するにおいて、管内の磁束密度を高め、管の磁気
飽和度を大きくして、管の磁気透磁率を小さくするので
、強磁性材特有の管の磁気ノイズが小さくなり、検査コ
イルにより誘起される渦電流の浸透深さが深くなるので
、管内面はもとより管外面の欠陥も確実に検出できる。
流探傷するにおいて、管内の磁束密度を高め、管の磁気
飽和度を大きくして、管の磁気透磁率を小さくするので
、強磁性材特有の管の磁気ノイズが小さくなり、検査コ
イルにより誘起される渦電流の浸透深さが深くなるので
、管内面はもとより管外面の欠陥も確実に検出できる。
また本発明の渦電流探傷プ、ローブは、中央部に検査コ
イルを巻着し、両端部に磁化方向が軸心線と直交する方
向で逆極性の永久磁石を嵌着しだ円柱状鉄心を、磁気飽
和度の高い材料で構成しているので、強磁性管内に挿入
すると、永久磁石により発生する磁束が円柱状鉄心の断
面を通過する時の単位面積当りの密度が大きくなり、こ
れにより渦電流探傷プローブと強磁性管からなる磁気回
路における磁束量が大きくなり、強磁性管の磁束密度が
高まり、磁気飽和度が大きくなり、強磁性管の磁気透磁
率が小さくなる。従って、前記渦電流探傷方法を有効に
実施できる。
イルを巻着し、両端部に磁化方向が軸心線と直交する方
向で逆極性の永久磁石を嵌着しだ円柱状鉄心を、磁気飽
和度の高い材料で構成しているので、強磁性管内に挿入
すると、永久磁石により発生する磁束が円柱状鉄心の断
面を通過する時の単位面積当りの密度が大きくなり、こ
れにより渦電流探傷プローブと強磁性管からなる磁気回
路における磁束量が大きくなり、強磁性管の磁束密度が
高まり、磁気飽和度が大きくなり、強磁性管の磁気透磁
率が小さくなる。従って、前記渦電流探傷方法を有効に
実施できる。
［実施例］
本発明による渦電流探傷方法及び渦電流探傷プローブの
実施例について説明する。先ず渦電流探傷方法を行う為
の渦電流探傷プローブについて説明すると、構造は第１
図に示す従来の渦電流探傷プローブと同じであるが、鉄
心Ｂは従来のものが軟鉄の継鉄でおるのに対し、本発明
のものは高磁気飽和材、本例ではセメンジュール（商品
名）の継鉄である。
実施例について説明する。先ず渦電流探傷方法を行う為
の渦電流探傷プローブについて説明すると、構造は第１
図に示す従来の渦電流探傷プローブと同じであるが、鉄
心Ｂは従来のものが軟鉄の継鉄でおるのに対し、本発明
のものは高磁気飽和材、本例ではセメンジュール（商品
名）の継鉄である。
次にこの本発明の渦電流探傷プローブを用いて強磁性管
の欠陥を検出する渦電流探傷方法の実施例を、従来の渦
電流探傷プローブを用いて強磁性管の欠陥を検出する渦
電流探傷方法と共に説明する。
の欠陥を検出する渦電流探傷方法の実施例を、従来の渦
電流探傷プローブを用いて強磁性管の欠陥を検出する渦
電流探傷方法と共に説明する。
本発明及び従来の渦電流探傷プローブを夫々第２図に示
す被検管体Ａ′内に挿入した。この被検管体Ａ′は、２
４０ｒ−１Ｍｏの強磁性材より成る試験用の伝熱管で、
外径２５．４ｍ、内径１８．ｈｍである。そして人工欠
陥は、外面全周減肉（スロット）で欠陥深さは肉厚３．
５ｍ（薄肉部）に対し１０〜６０％である。
す被検管体Ａ′内に挿入した。この被検管体Ａ′は、２
４０ｒ−１Ｍｏの強磁性材より成る試験用の伝熱管で、
外径２５．４ｍ、内径１８．ｈｍである。そして人工欠
陥は、外面全周減肉（スロット）で欠陥深さは肉厚３．
５ｍ（薄肉部）に対し１０〜６０％である。
然してこの被検管体Ａ′内に挿入した従来の渦電流探傷
プローブでは、円柱状鉄心Ｂが軟鉄継鉄より成る為、永
久磁石Ｄ＋ 、Ｄ２により発生する磁束が円柱状鉄心Ｂ
の断面を通過する時の単位面積当りの密度が小さく、従
って渦電流探傷プローブと被検管体Ａ′から成る磁気回
路における磁束量が小さくなり、被検管体Ａ′の磁束密
度が低くなり、磁気飽和度が小さくなって、強磁性の被
検管体Ａ′の磁気透磁率が大きくなり、強磁性材特有の
被検管体Ａ′のノイズが大きくなるが、被検管体Ａ′に
挿入した本発明の渦電流探傷プローブでは、円柱状鉄心
Ｂが磁気飽和度の高い材料より成る為、永久磁石Ｄ１．
Ｄ２により発生する磁束が円柱状鉄心Ｂの断面を通過す
る時の単位面積当りの密度が大きくなり、これにより渦
電流探傷プローブと被検管体Ａ′から成る磁気回路にお
ける磁束量が大きくなり、被検管体Ａ′の磁束密度が高
くなり、磁気飽和度が大きくなって、強磁性の被検管体
Ａ′の磁気透磁率が小さくなり、強磁性材特有の被検管
体Ａ′のノイズが小さくなる。
プローブでは、円柱状鉄心Ｂが軟鉄継鉄より成る為、永
久磁石Ｄ＋ 、Ｄ２により発生する磁束が円柱状鉄心Ｂ
の断面を通過する時の単位面積当りの密度が小さく、従
って渦電流探傷プローブと被検管体Ａ′から成る磁気回
路における磁束量が小さくなり、被検管体Ａ′の磁束密
度が低くなり、磁気飽和度が小さくなって、強磁性の被
検管体Ａ′の磁気透磁率が大きくなり、強磁性材特有の
被検管体Ａ′のノイズが大きくなるが、被検管体Ａ′に
挿入した本発明の渦電流探傷プローブでは、円柱状鉄心
Ｂが磁気飽和度の高い材料より成る為、永久磁石Ｄ１．
Ｄ２により発生する磁束が円柱状鉄心Ｂの断面を通過す
る時の単位面積当りの密度が大きくなり、これにより渦
電流探傷プローブと被検管体Ａ′から成る磁気回路にお
ける磁束量が大きくなり、被検管体Ａ′の磁束密度が高
くなり、磁気飽和度が大きくなって、強磁性の被検管体
Ａ′の磁気透磁率が小さくなり、強磁性材特有の被検管
体Ａ′のノイズが小さくなる。
そこで、被検管体Ａ′に各々挿入した本発明及び従来の
渦電流探傷プローブの円柱状鉄心Ｂの中央部周方向に巻
着した検査コイルＣにて被検管体Ａ′に周方向の渦電流
を生成させ、夫々の渦電流探傷プローブを被検管体Ａ′
の長手方向に移動した。その結果、渦電流の流路中に、
欠陥による被検管体Ａ′の電磁気的特性の変化により、
渦電流に変化が生じ、これが検査コイルＣのインピーダ
ンスの変化として捉えられ、欠陥が検出された。
渦電流探傷プローブの円柱状鉄心Ｂの中央部周方向に巻
着した検査コイルＣにて被検管体Ａ′に周方向の渦電流
を生成させ、夫々の渦電流探傷プローブを被検管体Ａ′
の長手方向に移動した。その結果、渦電流の流路中に、
欠陥による被検管体Ａ′の電磁気的特性の変化により、
渦電流に変化が生じ、これが検査コイルＣのインピーダ
ンスの変化として捉えられ、欠陥が検出された。
この時の検出波形を第３図ａ乃至ｄに示す。第３図ａ、
ｂは従来の渦電流探傷プローブによる検出波形であり、
第３図ｃ、ｄは本発明の渦電流探傷プローブによる検出
波形である。これらの検出波形に前記の被検管体Ａ′の
欠陥位置を数字■〜■で対応させてあり、従来の渦電流
探傷プローブの検出波形で欠陥を識別できるのは■〜■
の欠陥位置であるのに対し、本発明の渦電流探傷プロー
ブの検出波形で欠陥を識別できるのは■〜■の欠陥位置
全てで、検出性能に優れていることが判る。
ｂは従来の渦電流探傷プローブによる検出波形であり、
第３図ｃ、ｄは本発明の渦電流探傷プローブによる検出
波形である。これらの検出波形に前記の被検管体Ａ′の
欠陥位置を数字■〜■で対応させてあり、従来の渦電流
探傷プローブの検出波形で欠陥を識別できるのは■〜■
の欠陥位置であるのに対し、本発明の渦電流探傷プロー
ブの検出波形で欠陥を識別できるのは■〜■の欠陥位置
全てで、検出性能に優れていることが判る。
これはひとえに被検管体Ａ′のノイズが小さくなり、検
査コイルにより誘起される渦電流の浸透深さが深くなる
からである。第４図は検出パラメーターを欠陥深さとし
たグラフで、このグラフで判るように従来の渦電流探傷
プローブを用いた探傷方法では欠陥深さ３３％位までの
検出しかできなかったのに対し、本発明の渦電流探傷プ
ローブを用いた探傷方法では欠陥深さ１０％まで検出で
きて著しく探傷率が向上した。
査コイルにより誘起される渦電流の浸透深さが深くなる
からである。第４図は検出パラメーターを欠陥深さとし
たグラフで、このグラフで判るように従来の渦電流探傷
プローブを用いた探傷方法では欠陥深さ３３％位までの
検出しかできなかったのに対し、本発明の渦電流探傷プ
ローブを用いた探傷方法では欠陥深さ１０％まで検出で
きて著しく探傷率が向上した。
［発明の効果］
以上の説明で判るように本発明の渦電流深傷方法によれ
ば、強磁性材特有の管の磁気ノイズを小さくでき、渦電
流探傷プローブの検査コイルにより誘起される渦電流の
浸透深さを深くできるので、管内面はもとより管外面の
欠陥も確実に検出できて、極めて探傷能力に優れた効果
がある。
ば、強磁性材特有の管の磁気ノイズを小さくでき、渦電
流探傷プローブの検査コイルにより誘起される渦電流の
浸透深さを深くできるので、管内面はもとより管外面の
欠陥も確実に検出できて、極めて探傷能力に優れた効果
がある。
また本発明の渦電流探傷プローブによれば、上記渦電流
探傷方法を有効に且つ容易に実施できるという効果があ
る。
探傷方法を有効に且つ容易に実施できるという効果があ
る。
第１図は渦電流探傷プローブによる被検管体の探傷原理
を示す縦断面図、第２図は本発明の渦電流探傷方法を実
施する人工欠陥のある被検管体を示す図、第３図ａ乃至
ｄは第２図の被検管体の欠陥検出の検出波形を示すもの
で、ａ、ｂは従来の渦電流探傷プローブによる検出波形
、ｃ、ｄは本発明の渦電流探傷プローブによる検出波形
を示す。 第４図は従来及び本発明の渦電流探傷プローブを用いた
探傷方法による検出パラメーターを欠陥深さとしたグラ
フである。 Ａ′・・・被検管体 Ｂ・・・鉄心Ｃ・・・検査
コイル Ｄｌ、０２・・・永久磁石用 願 人
川崎重工業株式会社 代 理 人 弁理士 高 雄次部−１，ｊ・第１
図 第４図 欠蹄シ牙ざ（汀咀厚％）
を示す縦断面図、第２図は本発明の渦電流探傷方法を実
施する人工欠陥のある被検管体を示す図、第３図ａ乃至
ｄは第２図の被検管体の欠陥検出の検出波形を示すもの
で、ａ、ｂは従来の渦電流探傷プローブによる検出波形
、ｃ、ｄは本発明の渦電流探傷プローブによる検出波形
を示す。 第４図は従来及び本発明の渦電流探傷プローブを用いた
探傷方法による検出パラメーターを欠陥深さとしたグラ
フである。 Ａ′・・・被検管体 Ｂ・・・鉄心Ｃ・・・検査
コイル Ｄｌ、０２・・・永久磁石用 願 人
川崎重工業株式会社 代 理 人 弁理士 高 雄次部−１，ｊ・第１
図 第４図 欠蹄シ牙ざ（汀咀厚％）
Claims (2)
- （１）強磁性管を渦電流探傷するにおいて、探傷プロー
ブの永久磁石により発生する磁束が継鉄内を通過すると
きの磁束の単位面積当りの密度を高めて管内の磁束密度
を高め、管の磁気飽和度を大きくし、管の磁気透磁率を
小さくして、管の欠陥を検出することを特徴とする渦電
流探傷方法。 - （２）円柱状鉄心の中央部に検査コイルを巻着し、両端
部に円筒状の永久磁石を嵌着し、前記永久磁石はその磁
化方向が鉄心の軸心線と直交する方向で、かつ一方端の
永久磁石は外周がＮ極、内周がＳ極、他方端の永久磁石
は外周がＳ極、内周がＮ極の着磁とした渦電流探傷プロ
ーブにおいて、前記鉄心に磁気飽和度の高い材料を用い
たことを特徴とする渦電流探傷プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61271559A JPH0827260B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 渦電流探傷方法及び渦電流探傷プロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61271559A JPH0827260B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 渦電流探傷方法及び渦電流探傷プロ−ブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63124957A true JPS63124957A (ja) | 1988-05-28 |
| JPH0827260B2 JPH0827260B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=17501762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61271559A Expired - Lifetime JPH0827260B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 渦電流探傷方法及び渦電流探傷プロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0827260B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04273055A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-29 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁性管用の内挿型の渦流探傷子 |
| JP2010237186A (ja) * | 2009-03-11 | 2010-10-21 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 渦流探傷用プローブ |
| JP2010261836A (ja) * | 2009-05-08 | 2010-11-18 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 磁性体管の欠陥検査方法。 |
| JP2013072667A (ja) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 渦電流探傷用プローブ |
| KR20150048141A (ko) * | 2012-09-06 | 2015-05-06 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 와류 탐상용 프로브 및 와류 탐상 검사 장치 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2406623B1 (en) * | 2009-03-11 | 2014-08-13 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Eddy current flaw detection probe |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61132747U (ja) * | 1985-02-09 | 1986-08-19 |
-
1986
- 1986-11-14 JP JP61271559A patent/JPH0827260B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61132747U (ja) * | 1985-02-09 | 1986-08-19 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04273055A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-29 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁性管用の内挿型の渦流探傷子 |
| JP2010237186A (ja) * | 2009-03-11 | 2010-10-21 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 渦流探傷用プローブ |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0827260B2 (ja) | 1996-03-21 |
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