JPS6312397B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6312397B2
JPS6312397B2 JP56042866A JP4286681A JPS6312397B2 JP S6312397 B2 JPS6312397 B2 JP S6312397B2 JP 56042866 A JP56042866 A JP 56042866A JP 4286681 A JP4286681 A JP 4286681A JP S6312397 B2 JPS6312397 B2 JP S6312397B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
type
layer
photovoltaic device
substrate temperature
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP56042866A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57157577A (en
Inventor
Hajime Ichanagi
Nobuhiko Fujita
Hiroshi Kawai
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP56042866A priority Critical patent/JPS57157577A/ja
Publication of JPS57157577A publication Critical patent/JPS57157577A/ja
Publication of JPS6312397B2 publication Critical patent/JPS6312397B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F10/00Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
    • H10F10/10Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
    • H10F10/17Photovoltaic cells having only PIN junction potential barriers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明はアモルフアスシリコン(以下a―Siと
称する)を用いた太陽電池等の光起電力素子に関
する。 従来より、各種半導体材料を使用した光起電力
素子が存在する。この中でシラン(SiH4)ガス
等のシリコン化合物をグロー放電分解することな
どにより得られるa―Si半導体は結晶半導体に比
べて低温工程で製造でき、大面積化が比較的容易
で不純物のドーピングが容易に行なえ、しかも薄
膜で光起電力素子を形成し得るなどの特徴があ
り、代替エネルギ源開発の要請に応える材料とし
て着目されている。 しかし、現在のところa―Si光起電力素子は他
の単結晶(例えばGaAs Si)半導体材料を使用
した光起電力素子に比べて光を電気エネルギに変
換する効率が低く、従つて製造コストが高いた
め、一般のエネルギ源としては普及されるまでに
至つていない。この光電変換効率を向上させるた
めにa―Siの製造方法の改善や、素子構造の改善
などが図られている。 このa―Siを利用した光起電力素子構造の中で
P型、i型およびn型のa―Si層を順次積層して
なる、いわゆるP―i―n型a―Si光起電力素子
は構造が単純で再現性よく、しかも比較的高い変
換効率が得られる。a―Si半導体に於いては、光
生成したキヤリアの内、正孔の拡散長が短いた
め、P―i―n型a―Si光起電力素子に於いて
は、内部電界の大きいP型a―Si層近傍で多くの
キヤリアを生成させる。つまりP型a―Si層側か
ら光を入射させる方が、生成キヤリアをより多く
収集することができ、従つて変換効率が高くな
る。 しかし、ホウ素(B)などをドープしたP型a
―Si膜は、ドープしないi型a―Si膜に比べて、
バンドギヤツプ巾が小さくなる。従つてP型a―
Si層で光がかなり吸収され、本来到達して欲しい
i型a―Si層に到達する光が少なくなるため光電
変換効率の向上が押えられる。 発明者らは、a―Si膜作成時の基板温度を変え
ることにより、膜中に含まれる水素量およびバン
ドギヤツプ幅を制御することが出来ることに着目
し、種々検討を重ねた結果、P型a―Si層を形成
する時の基板温度をi型a―Si層を形成する時の
基板温度より低くすることにより、光電変換効率
が大巾に向上することを見い出した。従つて本発
明の目的は変換効率の高い薄膜光起電力素子の製
造方法を提供することにある。 以下本発明の実施例について説明する。 第1図は本発明の光起電力素子の構造の1例を
示す断面図であり、1はガラス等の透明絶縁基板
2は酸化錫などの透明電極、3はホウ素(B)な
どをドープしたP型a―Si層、4は不純物をドー
プしないi型a―Si層、5は燐(P)などをドー
プしたn型a―Si層、6はアルミニウムなどの電
極、7は太陽光線である。透明電極2は公知の真
空蒸着法、スパツタ法、CVD法あるいはスプレ
ー法などによつて得られ、その厚みは500Å〜
5000Å程度である。a―Si層3,4,5は公知の
グロー放電分解法、反応性スパツタ法などによつ
て得られ各々の厚みは、P型a―Si層が50〜300
Å、i型a―Si層が約5000Å、n型a―Si層が約
500Åである。電極6は真空蒸着法で作成され、
その厚みは0.5μm〜1μm程度である。 第1表に本発明によるa―Si光起電力素子Aの
特性と従来法によるa―Si光起電力素子Bの特性
を比較して示す。本発明によるa―Si光起電力素
子AのP型a―Si層形成時の基板温度は220℃で
その膜厚は約200Å、i型およびn型a―Si層形
成時の基板温度は280℃でその膜厚は各々約5000
Å、約500Åである。一方従来法によるa―Si光
起電力素子BのP型、i型およびn型のa―Si層
形成時の基板温度は280℃で、その膜厚は各々約
100Å、約5000Å、約500Åである。素子A、B共
にa―Siの各層の膜厚は光電変換効率が最大にな
るように最適化した値である。
【表】 P型a―Si膜の形成時の基板温度が100℃以下
の場合、バンドギヤツプは大きく出来るが、水素
混入量が多くなり過ぎ膜の特性が悪くなるため光
電変換効率の低下が見られるので不適である。ま
たi型a―Si膜の形成時の基板温度は、その特性
から200℃〜360℃が適当である。P型とi型のa
―Si層の形成時の基板温度差は10℃以上なければ
バンドギヤツプ巾に差異が認められない。従つて
P型a―Si層の形成時の基板温度はi型a―Si層
の形成時の基板温度より10℃〜250℃低くくする
必要があり、またP型a―Si層の形成時の基板温
度は100℃より高く、350℃より低くする必要があ
る。 以上詳細に説明したように、本発明によれば、
P―i―n型a―Si光起電力素子において、P型
a―Si層における光吸収損失を低減することがで
き高い光電変換効率の光起電力素子を得ることが
できる。 以上の説明は透明絶縁基板を用い、基板側から
光を入射させる場合について述べたが、不透明な
絶縁基板あるいは金属などの導電性基板を用い基
板と反対側から光を入射させる構造であつても同
様の効果が得られることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光起電力素子の構造の1例を
示す断面図である。 1:基板、2:透明電極、3,4,5:a―Si
層、6:電極、7:太陽光線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 P型、i型およびn型のアモルフアスシリコ
    ン層を含む薄膜光起電力素子に於いて、P型のア
    モルフアスシリコン層を形成する時の基板温度を
    i型のアモルフアスシリコン層を形成する時の基
    板温度より低くすることを特徴とする薄膜光起電
    力素子の製造方法。 2 P型のアモルフアスシリコン層を形成する時
    の基板温度をi型のアモルフアスシリコン層を形
    成する時の基板温度より10℃〜250℃低くするこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜
    光起電力素子の製造方法。 3 P型のアモルフアスシリコン層を形成する時
    の基板温度が100℃より高く、350℃より低いこと
    を特徴とする特許請求の範囲第1項および第2項
    記載の薄膜光起電力素子の製造方法。
JP56042866A 1981-03-23 1981-03-23 Manufacture of thin film photovoltaic element Granted JPS57157577A (en)

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JP56042866A JPS57157577A (en) 1981-03-23 1981-03-23 Manufacture of thin film photovoltaic element

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JP56042866A JPS57157577A (en) 1981-03-23 1981-03-23 Manufacture of thin film photovoltaic element

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JPS57157577A JPS57157577A (en) 1982-09-29
JPS6312397B2 true JPS6312397B2 (ja) 1988-03-18

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH071752B2 (ja) * 1985-04-26 1995-01-11 鐘淵化学工業株式会社 半導体装置の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS55154726A (en) * 1979-05-22 1980-12-02 Shunpei Yamazaki Manufacture of semiconductor device
US4339470A (en) * 1981-02-13 1982-07-13 Rca Corporation Fabricating amorphous silicon solar cells by varying the temperature _of the substrate during deposition of the amorphous silicon layer

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JPS57157577A (en) 1982-09-29

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