JPS63120523A - Ring counter circuit - Google Patents
Ring counter circuitInfo
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- JPS63120523A JPS63120523A JP61266175A JP26617586A JPS63120523A JP S63120523 A JPS63120523 A JP S63120523A JP 61266175 A JP61266175 A JP 61266175A JP 26617586 A JP26617586 A JP 26617586A JP S63120523 A JPS63120523 A JP S63120523A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
リングカウンタ回路において、所定個数のフリップフロ
ップの出力がそれぞれ定められた状態になっていること
を検出した時、異常動作検出手段よりの信号でリングカ
ウンタ回路をクリアして初期状態に戻して、速やかに正
常動作に復旧させる様にしたものである。[Detailed Description of the Invention] [Summary] In a ring counter circuit, when it is detected that the outputs of a predetermined number of flip-flops are in a predetermined state, the ring counter circuit is activated by a signal from an abnormal operation detection means. This clears the information and returns it to its initial state to quickly restore normal operation.
本発明はリングカウンタ回路の改良に関するものである
。The present invention relates to improvements in ring counter circuits.
リングカウンタ回路は例えば分周回路等に使用されるが
、雑音等の為に誤ったデータが入力した場合には正常動
作の状態遷移と異なる状態遷移に入ることがあるが、こ
の様な時には速やかに正常状態に復旧させることが必要
である。Ring counter circuits are used, for example, in frequency divider circuits, but if incorrect data is input due to noise etc., the ring counter circuit may enter a state transition that is different from the normal operation state transition, but in such a case, it should be immediately It is necessary to restore normal conditions.
第7図は従来例のブロック図、第8図は第7図のタイム
チャート、第9図は第7図の状態遷移図で、第9図fa
tは正常動作の場合、第9図(blは異常動作の場合を
示す。以下、第8図、第9図を参照しながら第7図の動
作を説明する。Fig. 7 is a block diagram of the conventional example, Fig. 8 is a time chart of Fig. 7, Fig. 9 is a state transition diagram of Fig. 7, and Fig. 9 fa
t indicates normal operation, and FIG. 9 indicates abnormal operation. Hereinafter, the operation shown in FIG. 7 will be explained with reference to FIGS. 8 and 9.
先ず、第8図−〇に示すクリアによって第7図に示す様
にリング状に接続されたフリップフロップ(以下、 F
Fと省略する)1〜3の端子Qが0゜FF4の端子0が
1 (端子OはO)になっているとする(第9図(8)
の0000の状態)。First, the flip-flops (hereinafter referred to as F
Suppose that the terminals Q of 1 to 3 (abbreviated as F) are 0 degrees, and the terminal 0 of FF4 is 1 (terminal O is O) (Fig. 9 (8)
0000 state).
この状態はクロックが加えられるとFF4の端子0の1
がFFIの端子りに加えられるので、リングカウンタ回
路は1ビツトシフトしてFFIの端子0は1.FP2〜
4の端子Qは0になり第9図(alの1000の状態に
遷移する。In this state, when a clock is applied, the 1 of terminal 0 of FF4
is applied to the terminal of FFI, so the ring counter circuit shifts by 1 bit so that terminal 0 of FFI becomes 1. FP2~
Terminal Q of 4 becomes 0 and transitions to the state of 1000 in FIG. 9 (al).
そして、クロックが人力する度に第9図(8)に示す様
に1ビツトずつシフトして元の0000の状態に戻り、
又、これを操り返す。この時のFFI〜3の端子0及び
FF4の端子0の出力は第7図■〜■に示す様になる。Then, each time the clock is manually reset, it is shifted one bit at a time as shown in Figure 9 (8) and returns to the original state of 0000.
Again, manipulate this. At this time, the outputs of terminal 0 of FFI-3 and terminal 0 of FF4 are as shown in FIG.
次に、0000の初期状態の時に外部よりの雑音等によ
り誤ったデータが例えばFF3の端子0から出力された
とすると第9図(blに示す様に、FFI〜4の端子口
は0010の状態になるが、この状態はクロックが入力
する度に1ビツトずつシフトし、第9図(b)に示す様
に第9図(alの正常動作時の状態遷移と異なる状B遷
移に入って復旧できなくなる。Next, if incorrect data is output from terminal 0 of FF3 due to external noise etc. at the initial state of 0000, the terminals of FFI to 4 will be in the state of 0010 as shown in Figure 9 (bl). However, this state shifts by one bit each time the clock is input, and as shown in FIG. 9(b), it enters a state B transition, which is different from the state transition during normal operation of (al), and cannot recover. It disappears.
そこで、第7図に示す様に異常動作検出の為のナンド回
路5を設けて5各FPの端子0の出力が1になった。即
ち第9図(blの*印の1101になった時にナンド回
路5から0が出力されてクリア信号が断になり、FFI
〜4の端子CLRがOになるので0000の状態に復帰
し、第9図(alの状態遷移に入ることができる。尚、
FFが4個の場合の異常動作の状態遷移は第9図(1)
)に示す1種類だけである。Therefore, as shown in FIG. 7, a NAND circuit 5 for detecting abnormal operation was provided so that the output of terminal 0 of each of the five FPs became 1. In other words, when it reaches 1101 marked * in Fig. 9 (bl), 0 is output from the NAND circuit 5, the clear signal is disconnected, and the FFI
Since the terminal CLR of ~4 becomes O, it returns to the state of 0000 and can enter the state transition of FIG. 9 (al).
The state transition of abnormal operation when there are four FFs is shown in Figure 9 (1).
There is only one type shown in ).
ここで、例えば正常動作0111の状態の時に雑音によ
って異常動作の状態遷移0110に入ったとすると11
01でしか異常動作が検出できないので復旧までの時間
は1ル一プ分の時間が必要であると云う問題点がある。Here, for example, if a state transition 0110 of abnormal operation is entered due to noise when the state is normal operation 0111, 11
There is a problem in that since an abnormal operation can only be detected at 01, the time required for recovery is one loop.
又、FFO数が増加すると異常動作の状態遷移は1種類
だけではなく3種類、5種類と増加するので、それだけ
の数の異常動作検出回路を設けなければならないので回
路規模が大きくなると云う別の問題点もある。Furthermore, as the number of FFOs increases, the number of abnormal operation state transitions increases from one to three to five types, so that many abnormal operation detection circuits must be provided, resulting in another problem: the circuit size increases. There are also problems.
上記の問題点は第1図に示すリングカウンタ回路により
解決される。The above problems are solved by the ring counter circuit shown in FIG.
8はそれぞれ所定個数のフリップフロップの出力が定め
られた状態になっていることを検出した時、リングカウ
ンタ回路7をクリアする信号を送出する異常動作検出手
段である。Reference numeral 8 denotes an abnormal operation detection means that sends out a signal to clear the ring counter circuit 7 when it is detected that the outputs of a predetermined number of flip-flops are in a predetermined state.
本発明はリングカウンタ回路が異常動作をしている時は
、それぞれ所定個数のフリップフロップの出力が定めら
れた状態になるが、正常動作時にはこの様な状態になら
ないので、これを異常動作検出手段8で検出してリング
カウンタ回路をクリアすることにより復旧時間を短くす
ると共に3回路規模の拡大を改善した。In the present invention, when the ring counter circuit is operating abnormally, the outputs of a predetermined number of flip-flops are in a predetermined state, but since this does not occur during normal operation, this is detected by the abnormal operation detection means. By detecting at 8 and clearing the ring counter circuit, the recovery time was shortened and the expansion of the 3 circuit scale was improved.
第2図は本発明の実施例のブロック図、第3図は第2図
のタイムチャート、第4図は第2図の状態遷移図で、第
4図(alは正常動作の場合、第4図tblは異常動作
の場合を示す。尚、企図を通じて同一符号は同一対象物
を示す。又、排他的論理和回路81.82、ナンド回路
83は異常動作検出手段8の構成部分を示す。以下、第
3図、第4図を参照しながら第2図の動作を説明する。2 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a time chart of FIG. 2, and FIG. 4 is a state transition diagram of FIG. 2. Figure tbl shows the case of abnormal operation.The same reference numerals indicate the same objects throughout the plan.Also, exclusive OR circuits 81 and 82 and NAND circuit 83 indicate the components of the abnormal operation detection means 8.The following , 3 and 4, the operation shown in FIG. 2 will be explained.
先ず、第3図に示す様にリングカウンタ回路を構成する
FF 71〜74の端子0から第3図−■に示す様にク
ロックを8分周した出力が得られる(第3図−■〜■参
照)。そして、FF 74の端子Qの出力がPF 71
の端子りに加えられるので、各FFの端子0の状態は第
4図(a)に示す様に遷移する。First, as shown in FIG. 3, from terminals 0 of FFs 71 to 74 constituting the ring counter circuit, the output obtained by dividing the clock by eight as shown in FIG. 3-■ is obtained (FIG. 3-■ to reference). Then, the output of terminal Q of FF 74 is PF 71
The state of terminal 0 of each FF changes as shown in FIG. 4(a).
ここで、第4図(alに示す様に正常動作をしている際
、0000の状態の時に外部雑音により0010の状態
に変化したとすると、第4図(blに示す様に入カクロ
ソクの立上りでこの状態が1001に遷移する。Here, when the state is 0000 during normal operation as shown in Figure 4 (al), it changes to the state 0010 due to external noise. This state changes to 1001.
そこで、FF71.72の端子Qの10とFF 73.
74の端子0の01とがそれぞれ排他的論理和回路(以
下、 EX−OR回路と省略する)81.82に加えら
れてIEX−ORが取られ、共に1がナンド回路83に
加えられ、ここからOがアンド回路6に加えられるので
第3図−■のクリアが加えられずOが反転付き端子CL
Rに加えられるのでFF 71〜74がクリアされて0
000になり、第4図(alの正常動作の方に移る。Therefore, 10 of terminal Q of FF71.72 and FF73.
The terminals 0 and 01 of 74 are respectively added to exclusive OR circuits (hereinafter abbreviated as EX-OR circuits) 81 and 82 to perform IEX-OR, and both 1 is added to the NAND circuit 83, where Since O is added to the AND circuit 6, the clear in Figure 3-■ is not added and O becomes the inverted terminal CL.
Since it is added to R, FF 71 to 74 are cleared and become 0.
000 and moves to the normal operation of FIG. 4 (al).
ここで、異常動作が検出される点は第4図(blの*印
の部分でooooに復旧することが可能である。Here, the point where the abnormal operation is detected is the part marked with * in Fig. 4 (bl), and it is possible to recover to oooo.
これは第4図(alに示す様に初期値がooooの時に
は1ビットずつシフトしてもFP 71.72 とFF
73との端子0が共に1.0になることはない。As shown in Figure 4 (al), when the initial value is oooo, even if you shift it one bit at a time, FP 71.72 and FF
73 and terminal 0 will never both be 1.0.
しかし、異常動作の場合には第4図(blの*印に示す
様に共に10になることがある。そこで、この共に10
になることを検出すれば異常動作をしていることが判る
。However, in the case of abnormal operation, both values may become 10 as shown in the * mark in Figure 4 (bl).
If this is detected, it can be determined that abnormal operation is occurring.
しかも、1つの状態遷移に対して検出可能点が4個所も
あるので復旧も早くなる。Moreover, since there are four detectable points for one state transition, recovery is also faster.
第5図は本発明の別の実施例のブロック図、第6図は第
5図の状態遷移図である。尚、FFが71〜75と1段
増加し、10分周のリングカウンタ回路になっている。FIG. 5 is a block diagram of another embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a state transition diagram of FIG. Note that the number of FFs is increased by one stage to 71 to 75, making it a ring counter circuit with a frequency divided by 10.
又、異常動作検出手段は第2図と同じである。Further, the abnormal operation detection means is the same as that shown in FIG.
この場合の異常動作の状態遷移は第6図(blに示す様
に3種類あるが、いずれの場合でも前記と同じく異常動
作の際には2組のFFの出力状態が共にで検出してPF
71〜75をクリアすれば従来よりも短時間にoooo
oに復旧させることができると共に、異常動作検出手段
は前記と同じ回路規模でよい。尚、12分周のリングカ
ウンタ回路も共通な異常動作検出手段で実現可能である
。In this case, there are three types of abnormal operation state transitions as shown in Figure 6 (bl), but in any case, as in the case of abnormal operation, the output states of the two sets of FFs are detected together and the PF
If you clear 71-75, it will be done in a shorter time than before.
o, and the abnormal operation detection means may have the same circuit scale as described above. Note that a ring counter circuit with a frequency divided by 12 can also be realized using a common abnormal operation detection means.
以上詳細に説明した様に本発明によれば正常動作への復
旧時間が短縮されると共に、回路規模の増加も改善され
ると云う効果がある。As described in detail above, the present invention has the advantage of shortening the time required to restore normal operation and also reducing the increase in circuit scale.
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明の実施例のブロック図、第5図は本発明
の別の実施例のブロック図、第6図は第5図の状態遷移
図、
第7図は従来例のブロック図、
第8図は第7図のタイムチ士−ト、
第9図は第7図の状態遷移図を示す。
図において、
7はリングカウンタ回路、
8ば5%常動作検出手段を示す。
○Q6)■@■
C3−uFig. 1 is a block diagram of the principle of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of an embodiment of the invention, Fig. 5 is a block diagram of another embodiment of the invention, and Fig. 6 is a state transition diagram of Fig. 5. , FIG. 7 is a block diagram of the conventional example, FIG. 8 is a time chart of FIG. 7, and FIG. 9 is a state transition diagram of FIG. 7. In the figure, 7 indicates a ring counter circuit, and 8 indicates a 5% normal operation detection means. ○Q6)■@■ C3-u
Claims (1)
回路(7)において、 それぞれ所定個数のフリップフロップの出力が定められ
た状態になっていることを検出した時、該リングカウン
タ回路をクリアする信号を送出する異常動作検出手段(
8)を付加したことを特徴とするリングカウンタ回路。[Claims] In a ring counter circuit (7) in which flip-flops are connected in a ring, when it is detected that the outputs of a predetermined number of flip-flops are in a predetermined state, the ring counter circuit is activated. Abnormal operation detection means (
8) A ring counter circuit characterized by adding:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61266175A JPS63120523A (en) | 1986-11-07 | 1986-11-07 | Ring counter circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61266175A JPS63120523A (en) | 1986-11-07 | 1986-11-07 | Ring counter circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63120523A true JPS63120523A (en) | 1988-05-24 |
Family
ID=17427304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61266175A Pending JPS63120523A (en) | 1986-11-07 | 1986-11-07 | Ring counter circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63120523A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002176354A (en) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
-
1986
- 1986-11-07 JP JP61266175A patent/JPS63120523A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002176354A (en) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
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