JPS63119241A - 液相エピタキシヤル成長装置 - Google Patents
液相エピタキシヤル成長装置Info
- Publication number
- JPS63119241A JPS63119241A JP26517086A JP26517086A JPS63119241A JP S63119241 A JPS63119241 A JP S63119241A JP 26517086 A JP26517086 A JP 26517086A JP 26517086 A JP26517086 A JP 26517086A JP S63119241 A JPS63119241 A JP S63119241A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- outer tube
- substrates
- holding plate
- epitaxial growth
- inner tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004943 liquid phase epitaxy Methods 0.000 title 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 56
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N cadmium telluride Chemical compound [Te]=[Cd] RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 abstract 2
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 17
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 4
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 4
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
傾斜型液相エピタキシャル成長装置の改良であって、基
板を保持する保持板に基板を多数設置できるような手段
を設けると共に、基板を支持していた支持部材を省略し
て、外管と共に溶接される内管で代用し、液相エピタキ
シャル成長装置を加熱する加熱炉の均一な温度分布領域
内にできるだけ、多数の基板が設置できるようにして、
−回のエピタキシャル成長作業時に、多数の基板を同時
に一括して処理できるようにした液相エピクキシャル成
長装置。
板を保持する保持板に基板を多数設置できるような手段
を設けると共に、基板を支持していた支持部材を省略し
て、外管と共に溶接される内管で代用し、液相エピタキ
シャル成長装置を加熱する加熱炉の均一な温度分布領域
内にできるだけ、多数の基板が設置できるようにして、
−回のエピタキシャル成長作業時に、多数の基板を同時
に一括して処理できるようにした液相エピクキシャル成
長装置。
本発明は液相エピタキシャル成長装置に係り、特に傾斜
型液相エピタキシャル成長装置に関する。
型液相エピタキシャル成長装置に関する。
赤外線検知素子の材料としては、エネルギーバンドギャ
ップの狭い水銀・カドミウム・テルルのような化合物半
導体基板が用いられている。
ップの狭い水銀・カドミウム・テルルのような化合物半
導体基板が用いられている。
この水銀・カドミウム・テルルは、水銀が非常に蒸発し
易い元素であるので、この化合物半導体結晶を組成の変
動が生じないように形成するために、装置構成が簡単な
傾斜型液相エピタキシャル成長方法が用いられている。
易い元素であるので、この化合物半導体結晶を組成の変
動が生じないように形成するために、装置構成が簡単な
傾斜型液相エピタキシャル成長方法が用いられている。
第2図はこのような方法に用いる液相エピタキシャル成
長装置の断面図で、図示するように一端部Aが有底の外
管1の内部には、円筒状の石英より成る一対の支持部材
2がこの外管1の内壁に接するようにして設置されてい
る。
長装置の断面図で、図示するように一端部Aが有底の外
管1の内部には、円筒状の石英より成る一対の支持部材
2がこの外管1の内壁に接するようにして設置されてい
る。
この支持部材2の対向する位置には図示しないが窪み等
が設けられ、その窪みにエピタキシャル成長用基板3と
この基板3を保持する保持板4が設置され、この保持板
4の下部には基板上に形成すべきエピタキシャル成長用
の水銀・カドミウム・テルルの材料5が収容されている
。
が設けられ、その窪みにエピタキシャル成長用基板3と
この基板3を保持する保持板4が設置され、この保持板
4の下部には基板上に形成すべきエピタキシャル成長用
の水銀・カドミウム・テルルの材料5が収容されている
。
この基板3を挟持する支持部材2は、この外管1内に挿
入される有底の内管6によって外管1の端部A側に押圧
された後、外管1の内部を、外管1の内壁と支持部材2
の間の微小な隙間より排気された後、内管6と外管1は
開放端部Bに於いて溶接封止される。
入される有底の内管6によって外管1の端部A側に押圧
された後、外管1の内部を、外管1の内壁と支持部材2
の間の微小な隙間より排気された後、内管6と外管1は
開放端部Bに於いて溶接封止される。
その後、このエピタキシャル成長装置は、加熱炉内の炉
芯管内に挿入された後、加熱炉を加熱することで、エピ
タキシャル成長用材料5を溶融する。
芯管内に挿入された後、加熱炉を加熱することで、エピ
タキシャル成長用材料5を溶融する。
次いでこのエピタキシャル成長装置を矢印C方向に18
0度回転させて、基板3の表面を溶融したエピタキシャ
ル成長材料5に接触させた後、加熱炉の温度を所定の温
度勾配で低下させ、基板上にエピタキシャル結晶層を形
成する。
0度回転させて、基板3の表面を溶融したエピタキシャ
ル成長材料5に接触させた後、加熱炉の温度を所定の温
度勾配で低下させ、基板上にエピタキシャル結晶層を形
成する。
次いで所定の時間を経過し、エピタキシャル層が所定の
厚さだけ成長した段階で、エピタキシャル成長装置を矢
印C方向、或いは矢印C方向と逆方向に更に180度回
転させ、基板上に付着しているエピタキシャル層形成用
材料を基板より分離する。
厚さだけ成長した段階で、エピタキシャル成長装置を矢
印C方向、或いは矢印C方向と逆方向に更に180度回
転させ、基板上に付着しているエピタキシャル層形成用
材料を基板より分離する。
このようにして基板上にエピタキシャル層を形成してい
た。
た。
然し、このような従来の液相エピタキシャル成長装置で
は、円筒状の支持部材の長さlが、加熱炉の均一な温度
分布領域の領域の多くの部分を占める形となり、基板が
設置されるべき均一な温度分布の領域が狭くなる問題が
ある。
は、円筒状の支持部材の長さlが、加熱炉の均一な温度
分布領域の領域の多くの部分を占める形となり、基板が
設置されるべき均一な温度分布の領域が狭くなる問題が
ある。
即ち、このようなエピタキシャル成長用基板が設置され
る温度分布領域は、エピタキシャル成長用温度に対して
±0.5℃の温度が要求される。
る温度分布領域は、エピタキシャル成長用温度に対して
±0.5℃の温度が要求される。
そのため、このような均一な温度分布領域に設置される
基板の数は、基板の寸法が2On+ X 20nの寸法
であると、2枚の数量が限度であり、そのため、−度の
エピタキシャル成長に於ける基板の処理枚数が少なくな
り、エピタキシャル成長に要するコストが大になる欠点
がある。
基板の数は、基板の寸法が2On+ X 20nの寸法
であると、2枚の数量が限度であり、そのため、−度の
エピタキシャル成長に於ける基板の処理枚数が少なくな
り、エピタキシャル成長に要するコストが大になる欠点
がある。
本発明は上記した問題点を解決し、−度のエピタキシャ
ル成長作業時に多数の基板が同時に処理できるようにし
た液相エピタキシャル成長装置の提供を目的とする。
ル成長作業時に多数の基板が同時に処理できるようにし
た液相エピタキシャル成長装置の提供を目的とする。
本発明の液相エピタキシャル成長装置は、基板を保持す
る基板保持板に多数の基板が同時に設置できる設置手段
を設けるとともに、該基板保持板を外管の底部と、前記
内管の底部の間で、支持部材を用いない状態で直接挟持
するようにする。
る基板保持板に多数の基板が同時に設置できる設置手段
を設けるとともに、該基板保持板を外管の底部と、前記
内管の底部の間で、支持部材を用いない状態で直接挟持
するようにする。
本発明の液相エピタキシャル成長用装置は、平板状の基
板の保持板に、基板を同時に多数配設できる手段を設け
るとともに、基板保持板を直接外管と内管との間で挟持
するようにして、加熱炉の均一な温度分布領域内にでき
るだけ、多数枚の基板を設置するようにする。
板の保持板に、基板を同時に多数配設できる手段を設け
るとともに、基板保持板を直接外管と内管との間で挟持
するようにして、加熱炉の均一な温度分布領域内にでき
るだけ、多数枚の基板を設置するようにする。
以下、図面を用いながら本発明の一実施例につき詳細に
説明する。
説明する。
第1図は本発明の液相エピタキシャル成長装置の断面図
である。
である。
図示するように、本発明の液相エピタキシャル成長装置
の基板保持板11にはカドミウムーテルルよりなる基板
12を紙面に垂直方向にスライドして挿入して設置でき
るような窪みを有する突起13を組となるようにして多
数設け、この一対の突起13の窪み内に紙面に垂直方向
に基板12を挿入する。
の基板保持板11にはカドミウムーテルルよりなる基板
12を紙面に垂直方向にスライドして挿入して設置でき
るような窪みを有する突起13を組となるようにして多
数設け、この一対の突起13の窪み内に紙面に垂直方向
に基板12を挿入する。
このようにすれば、基板12が一度に多数枚、基板保持
板11に設置できる。
板11に設置できる。
次いでこの外管14の内部に水銀・カドミウム・テルル
よりなるエピタキシャル層形成用材料15を充填し、基
板保持板11を、外管14の底部Eと内管16の底部G
に対向するようにして設けた図示しない窪みにはめこむ
。そして内管16で基板保持板11を外管14の底部E
側に押圧しながら外管14と内管16の隙間17より外
管14内を排気しながら、開放端部Fに於いて外管14
と内管16とを同時に溶接する。
よりなるエピタキシャル層形成用材料15を充填し、基
板保持板11を、外管14の底部Eと内管16の底部G
に対向するようにして設けた図示しない窪みにはめこむ
。そして内管16で基板保持板11を外管14の底部E
側に押圧しながら外管14と内管16の隙間17より外
管14内を排気しながら、開放端部Fに於いて外管14
と内管16とを同時に溶接する。
次いでこのようにして形成された液相エピタキシャル成
長装置を加熱炉の炉芯管内に挿入して、前記したように
、装置を180度矢印C方向に回転させて溶融したエピ
タキシャル成長用材料15を基板に接触させ、この溶液
15の温度を低下させながら基板12上にエピタキシャ
ル層を形成する。
長装置を加熱炉の炉芯管内に挿入して、前記したように
、装置を180度矢印C方向に回転させて溶融したエピ
タキシャル成長用材料15を基板に接触させ、この溶液
15の温度を低下させながら基板12上にエピタキシャ
ル層を形成する。
このようにすれば、基板が一度のエピタキシャル成長時
に同時に多数枚処理でき、がっ従来の支持部材が無いの
で、加熱炉の均一な温度分布領域内に多数枚の基板が多
数枚設置でき、エピタキシャル成長時の工数が低下する
。
に同時に多数枚処理でき、がっ従来の支持部材が無いの
で、加熱炉の均一な温度分布領域内に多数枚の基板が多
数枚設置でき、エピタキシャル成長時の工数が低下する
。
以上述べたように、本発明の液相エピタキシャル成長装
置によれば、多数枚の基板が同時に処理でき、エピタキ
シャル成長時の工数が低下する。
置によれば、多数枚の基板が同時に処理でき、エピタキ
シャル成長時の工数が低下する。
また従来のように高精度に加工を必要とする円筒状の支
持部材、およびこの支持部材が挿入されるために高精度
に外管の内壁を加工する必要がなくなり、エピタキシャ
ル成長装置が低価格で得られる効果がある。
持部材、およびこの支持部材が挿入されるために高精度
に外管の内壁を加工する必要がなくなり、エピタキシャ
ル成長装置が低価格で得られる効果がある。
第1図は本発明の液相エピタキシャル成長装置の構造を
示す断面図、 第2図は従来の液相エピタキシャル成長装置の構造を示
す断面図である。 図に於いて、 11は基板保持板、12は基板、13は突起、14は外
管、15はエピタキシャル成長用材料、16は内管、1
7は隙間、Cはエピタキシャル成長装置の回転方向を示
す矢印、Eは外管の底部、Fは外管および内管の開放端
部、Gは内管の底部を示す。 第1図 りf、43’RjTJ 工e’7青づ−Y1zFX 七
r←湾(−5rpITm6第2図
示す断面図、 第2図は従来の液相エピタキシャル成長装置の構造を示
す断面図である。 図に於いて、 11は基板保持板、12は基板、13は突起、14は外
管、15はエピタキシャル成長用材料、16は内管、1
7は隙間、Cはエピタキシャル成長装置の回転方向を示
す矢印、Eは外管の底部、Fは外管および内管の開放端
部、Gは内管の底部を示す。 第1図 りf、43’RjTJ 工e’7青づ−Y1zFX 七
r←湾(−5rpITm6第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一端が有底で内部にエピタキシャル層成長用材料(15
)を充填した外管(14)と、該外管(14)に挿入さ
れ、エピタキシャル層成長用基板を設置した基板保持板
(11)と、前記外管(14)に挿入されて該外管(1
4)と共に溶接される有底の内管(16)とよりなる構
成に於いて、 前記基板保持板(11)に多数の基板が同時に設置でき
る設置手段(13)を設けるとともに、該基板保持板(
11)を外管(14)の底部と、前記内管(16)の底
部の間で直接挟持するようにしたことを特徴とする液相
エピタキシャル成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26517086A JPS63119241A (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | 液相エピタキシヤル成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26517086A JPS63119241A (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | 液相エピタキシヤル成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63119241A true JPS63119241A (ja) | 1988-05-23 |
Family
ID=17413562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26517086A Pending JPS63119241A (ja) | 1986-11-06 | 1986-11-06 | 液相エピタキシヤル成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63119241A (ja) |
-
1986
- 1986-11-06 JP JP26517086A patent/JPS63119241A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6466929A (en) | Method of forming defect-free single crystal thin layer of semiconductor material | |
JPS63119241A (ja) | 液相エピタキシヤル成長装置 | |
DK91388A (da) | Substrater til understoetning af elektriske komponenter | |
JPH048767B2 (ja) | ||
JPS63315593A (ja) | 液相エピタキシャル成長装置 | |
JPS62231213A (ja) | 液晶セルの液晶注入方法 | |
JPH0551963U (ja) | 液相エピタキシャル成長用基板ホルダ | |
JPH0625955Y2 (ja) | 液相エピタキシヤル成長装置 | |
JPH01219095A (ja) | 液相エピタキシャル成長装置 | |
JPS5913697A (ja) | 液相エピタキシヤル成長装置 | |
JPS63137436A (ja) | 液相エピタキシヤル成長装置 | |
JPH02135726A (ja) | 液相エピタキシャル成長装置 | |
JPH01179786A (ja) | 液相エピタキシャル成長装置 | |
JPH027918B2 (ja) | ||
JPS6287858A (ja) | キヤピラリ−カラム基板 | |
JPS61237431A (ja) | ウエ−ハのアニ−ル処理用基板ホルダ | |
JPH0516222Y2 (ja) | ||
JPH01122993A (ja) | 液相エピタキシャル成長装置 | |
JPH02263788A (ja) | 液相エピタキシャル成長装置およびその成長方法 | |
JPS5921029A (ja) | 液相エピタキシヤル成長装置 | |
JPH01201094A (ja) | 液相エピタキシャル成長方法 | |
JPH0247436B2 (ja) | Ekisoepitakisharuseichosochi | |
JPS634627A (ja) | 液相エピタキシヤル結晶成長用治具 | |
JPS57177531A (en) | Potting method for semiconductor element | |
JPS5826099A (ja) | 液相エピタキシヤル成長法および成長用ボ−ド |