JPS629230A - 導波路型光センサ - Google Patents

導波路型光センサ

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JPS629230A
JPS629230A JP14843085A JP14843085A JPS629230A JP S629230 A JPS629230 A JP S629230A JP 14843085 A JP14843085 A JP 14843085A JP 14843085 A JP14843085 A JP 14843085A JP S629230 A JPS629230 A JP S629230A
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JP
Japan
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light
waveguide
fiber
optical fiber
end surface
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JP14843085A
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JPH0514850B2 (ja
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Hiroshi Wada
弘 和田
Tetsuya Yamazaki
哲也 山崎
Eiji Okuda
奥田 栄次
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は光応用ス1測に使用する光セ/すの改良に関す
る。
〔従来技術の説明〕
光センナは、エレクトロニクスセンナに比べて電界、磁
界に影響されずに高精度の計測を行なうことができ、ま
た防爆性の面でも優れているなど多くの特長をもってい
る。
光センサの中には検知部として光ファイバそのものを利
用したものもあるが、センナ機能の拡張性および材i:
[選択の〔1山度の大きさから平面)4波路を用いた光
セ/すが優れている。
導波路型光センナは一般に、導波路が設けられた■明基
板表面あるいはこの基板表面に被■形成し、た吸着■に
ガス状、液状あるいは固体の被検出物■が付着すること
による導波路からの洩光損失を検出するもので、実際に
はこの導波路素子を検出したい箇所に分散配置し、これ
ら素子間および光源と測定装置との間を光ファイバで接
続して全光式のリモートセンシングを行なう。
そして、離れた位置で上記セ/す導波路の洩光ti1失
を検出するには光ファイバの欠陥箇所検出に用いられて
いる後方散乱法が適しており、この後方散乱法で測定す
ることによって損失の変化だけでなく、この損失を生じ
ているずなわち被検出物が付:’?しているセンナの位
置も知ることができる。
第1図に後方散乱法による損失測定系の例を示す。
第1図において、レーザーダイオード等の光源1からの
レーザ光をパルスジェネレーク2でパルス変調し、方向
性結合器3を通して光ファイバ4に入射させるとファイ
バ4を進行方向に伝搬した光パルスはこのファイバ4に
接続された平面導波路センサ5・・・に入光する。そし
ていずれかのセンナ表面に被検知物質が付むして導波路
から残光を生じると、レーり散乱現象に起因する反射光
(後方散乱光)が光ファイバ4を通じて光源側に戻り、
どの反射光のみを方向性結合器3により抽出し、■倍作
用のある光検出器6例えばアバランシュフォトダイオオ
ードにより電気信号に変換する。
電気信号に変換された反射波形はデータ処理され波形表
示装置7に後方散乱光波形として表示される。この波形
f5!Sにより、損失を生じている箇所までの距離およ
び損失特性の測定などを行なうことができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕 上記のように平面4波路と光ファイバとを用いて後方散
乱光検出によるリモートセンシングを行なう場合、第2
図に示すように、通常通り導波路5の端面5Aと接続7
1イバ4の端面4Aの両方を光軸に垂直な面に形成して
両者を接合した場合次のような問題を生じる。
ずなわち光ファイバ4と4波路5の両端面においてフレ
ネル反射を生じ、このフレネル反射光は、前述した後方
散乱光に比べて数+dll大きいため第3図に示すよう
に本来の後方散乱波形8が歪んでしまう。このためセン
ナ導波路の伝送損失の変化および発生fIImを後方散
乱法を用いて検出するリモートセンシング装置は今のと
ころ実用化されていない。
なお、フレネル反射光の戻りを低減する方法として、屈
折率整合剤の使用が考えられるが、光ファイバと先導波
路の屈折率が異なる場合には、この方法では充分な反射
低減効果を得ることができない。
〔問題点を解決する手段〕
セ/す導波路の端面と、これに接続される光ファイバの
端面とを、伝搬方向に直交する面に対し傾斜させる。
〔作 用〕
上記構造によれば、光ファイバ及び光導波路のそれぞれ
の端面からのフレネル反射光が、これら端面が伝搬方向
直交面に対し角度をもった傾斜面になっているため、フ
ァイバおよび導波路の臨界角以上となってファイバ及び
導波路の伝送部以外のクラッド層等に逃げていくので、
光ファイバ及び先導波路に再帰入射されるフレネル反射
光はほとんど無くなり、前述したように後方散乱法を用
いてセ/すの検出部損失及び損失発生位置を正確にリモ
ートセンシングできる。
〈実施例〉 以下本発明を図面に示した実施例に基づいて詳細に説明
する。
第4図は、本発明の要部を示す平面図であり、光ファイ
バ4の一端側は第1図の方向性結合器3に接続されてお
り、その他端が平面導波路センサ5の端部に接続されて
いる。センサ5は、ガラス。
石英、プラスチック等の透光性基板10中に他の部分よ
りも屈折率の大な領域で光導波路11が形成してあり、
この導波路11は断面が略円形で基板内の浅い位置にイ
オン拡散法等により基板と一体化して埋め込み形成され
ている。
−1−記の導波路上面に屈折率が基板よりも大な被検出
物例えば油が付着すると、4波路11中を伝播する先は
4波路外に出射し、4波路11の伝送損失が増加する。
そして−1;記の残光箇所でレーり散乱現象に起因する
反射光(後方散乱光)が光ファイバ4を通じて戻り、第
1図の装置における光検出器6で検出されて表示装置7
で後方散乱光波形として表示される。
」−記のセンサ検出部において接続部のフレネル反射光
戻り防止を図るため、導波路11の端面を含むJl(板
10の側縁10Aを、光伝搬方向軸線12に直交する面
13に対し 基板面に平行な面内で一定角度θをもって
傾斜させてあり、また上記導■■11に軸線を一致させ
て接続される光ファイバ4の端面4Aも同様に同一角度
θをもって傾斜させてある。
そして、両端面11A、4Aは間に を介して光学的に結合されている。屈折率調合■同様に
、4波路の他端側およびこれに接続される光ファイバ4
の端面も同一角度θで傾斜させである。
上記のセ/すで光ファイバ4を伝播した後フ。
イバ端面4Aおよび導波路端面11Aでフレネル反射し
てファイバ内に戻った光は、これら両端面が傾斜してい
るため、ファイバ4の界面に対し全反射臨界角よりも大
きい角度で当りファイバ外へと出射する。
ここで、接合面の傾斜角θはあまり小さいと、戻り反射
光がファイバ外へ出射せずに光検出器まで伝送され、ま
たあまり角度を大きくとるとファイバと導波路との仙ず
れあるいは角度誤差に起因して接続損失が大となるので
、導波路が多モード導波路の場合はθを7度ないし10
度の範囲、単一モード導波路の場合でθを3.5度ない
し6度の範囲内とするのが望ましい。
この範囲内であれば反射光を20dB以上低減させるこ
とができる。
第5図に本発明の他の実施例を示す。
■本例は光ファイバ端面4Aおよび光導波路端面1Aを
基板面に垂直な面内で伝■方向直交面に前述実施例と同
様の効果が得られる。
以上本発明を図面に示した実施例について説明したが、
検出部の導波路構造に特に制限はなく、例えば、4波路
表面に多孔5!tT!Jを設けて被検知物の付着、吸着
性を向上させたものなど種々の構造をとり得ることは言
うまでもない。
(発明の効果〕 本発明によれば、光ファイバと4波路との接合部におけ
るフレネル反射光が防止され、後方散乱光の波形が第6
図に示すように、上記反射光によるノイズの入らない明
瞭な波形として得られるので、光ファイバと平面4波路
とを組み合せた全光式の光センサに、従来光ファイバの
欠陥位置検出に用いられてきた後方散乱法を連用するこ
とが可能となり、これにより導波路 伝送損失の測定ばか りでな(損失を発生している箇所、すなわち被検出物が
存在している位置の正確な検出も全光式でリモートセン
シングできるようになった。
【図面の簡単な説明】
゛11!図は後方散乱法を用いたりモートセンシング装
置の一例を示す模式図、第2図は従来の導波−路と光フ
ァイバとの接続部構造を示ず平面図、第3図は、第2図
の構造における後方散乱光波形を示すグラフ、m4図は
本発明に係る4波路センナと光ファイバとの接続部構造
を示す平面図、第5図は本発明の他の実施例を示ず側断
面図、第6図は本発明センナによる後方散乱光波形を示
ずグラフである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光ファイバ端に、表面を検知面とした平面光導路を接続
    し、前記導波路の伝送損失変化と検出位置情報とを後方
    散乱法でリモートセンシングするようにした導波路型光
    センサであって、前記導波路端面およびこれに接続され
    る光ファイバ端面を伝搬方向直交面に対し傾斜させたこ
    とを特徴とする導波路型光センサ。
JP14843085A 1985-07-08 1985-07-08 導波路型光センサ Granted JPS629230A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14843085A JPS629230A (ja) 1985-07-08 1985-07-08 導波路型光センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14843085A JPS629230A (ja) 1985-07-08 1985-07-08 導波路型光センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS629230A true JPS629230A (ja) 1987-01-17
JPH0514850B2 JPH0514850B2 (ja) 1993-02-26

Family

ID=15452618

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14843085A Granted JPS629230A (ja) 1985-07-08 1985-07-08 導波路型光センサ

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JP (1) JPS629230A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012078133A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Kirin Techno-System Co Ltd 表面検査装置の検査ヘッド
US20140348461A1 (en) * 2013-05-21 2014-11-27 International Business Machines Corporation Optical component with angled-facet waveguide

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US9927574B2 (en) 2013-05-21 2018-03-27 International Business Machines Corporation Optical component with angled-facet waveguide
US10082625B2 (en) 2013-05-21 2018-09-25 International Business Machines Corporation Optical component with angled-facet waveguide

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Publication number Publication date
JPH0514850B2 (ja) 1993-02-26

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