JPS6288947A - 浸透探傷法の欠陥検出性能測定方法 - Google Patents
浸透探傷法の欠陥検出性能測定方法Info
- Publication number
- JPS6288947A JPS6288947A JP23036085A JP23036085A JPS6288947A JP S6288947 A JPS6288947 A JP S6288947A JP 23036085 A JP23036085 A JP 23036085A JP 23036085 A JP23036085 A JP 23036085A JP S6288947 A JPS6288947 A JP S6288947A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gap
- detection performance
- glass plates
- defect detection
- optical glass
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は浸透探傷方法において亀裂等の欠陥の検出性能
を定員的に測定するための浸透探傷法の欠陥検出性能測
定方法に関する。
を定員的に測定するための浸透探傷法の欠陥検出性能測
定方法に関する。
［従来の技術と発明が解決しようとする問題点］浸透探
信法の欠陥検出性能の測定については、定性的なものと
してＪ ｌ５−Ｚ−２３４３に規定されている。このＪ
ｌ５−Ｚ−２３４３による方法とは、金属板を加熱・
急冷する、あるいは金属板を屈曲させる等して金属板の
表面に微細な割れを発生させて、この割れを基準の欠陥
としてこれに浸透探傷法を施し、その検出性能の測定を
なしていた。
信法の欠陥検出性能の測定については、定性的なものと
してＪ ｌ５−Ｚ−２３４３に規定されている。このＪ
ｌ５−Ｚ−２３４３による方法とは、金属板を加熱・
急冷する、あるいは金属板を屈曲させる等して金属板の
表面に微細な割れを発生させて、この割れを基準の欠陥
としてこれに浸透探傷法を施し、その検出性能の測定を
なしていた。
しかしこのような方法では、上記割れはあくまで割れで
あって隙間の寸法まで規制することはＣきず、かつ定量
的なものではないために、検出性能の判別が極めて困難
であった。またくりかえし使用した場合には、上記割れ
の内部が酸化物等で詰り、超音波洗浄あるいは低温加熱
法によってもその性能の回復は困難であった。
あって隙間の寸法まで規制することはＣきず、かつ定量
的なものではないために、検出性能の判別が極めて困難
であった。またくりかえし使用した場合には、上記割れ
の内部が酸化物等で詰り、超音波洗浄あるいは低温加熱
法によってもその性能の回復は困難であった。
本発明は以上の点に基づいてなされたものでその目的と
するところは、浸透探傷法の欠陥検出性能を定日的にか
つ高精度で測定することを可能にする浸透探傷法の欠陥
検出性能測定方法を提供することにある。
するところは、浸透探傷法の欠陥検出性能を定日的にか
つ高精度で測定することを可能にする浸透探傷法の欠陥
検出性能測定方法を提供することにある。
［問題点を解決するための手段１
すなわち本発明による浸透探傷法の欠陥検出性能測定方
法は、一対の光学ガラス板の一端側を密着させ他端側を
拡開していくとともに単色光を照射してニュートン縞を
作製しこのニュートン縞の数を計数しなから上記他端側
の間隔を調節して所望の位置に固定する工程と、上記他
端側を所望位置に固定した状態で上記一端側をニュート
ン縞が消失するまで拡開してこれを固定し一対の光学ガ
ラス板間に所定の寸法の隙間を形成する工程と、上記隙
間を形成した状態の一対の光学ガラス板に浸透探１法を
施す工程と、該探傷により得られたデータと予め所定の
寸法で形成された上記隙間とから上記浸透探傷法の欠陥
検出性能を計測する工程とを具備したことを特徴とする
ものである。
法は、一対の光学ガラス板の一端側を密着させ他端側を
拡開していくとともに単色光を照射してニュートン縞を
作製しこのニュートン縞の数を計数しなから上記他端側
の間隔を調節して所望の位置に固定する工程と、上記他
端側を所望位置に固定した状態で上記一端側をニュート
ン縞が消失するまで拡開してこれを固定し一対の光学ガ
ラス板間に所定の寸法の隙間を形成する工程と、上記隙
間を形成した状態の一対の光学ガラス板に浸透探１法を
施す工程と、該探傷により得られたデータと予め所定の
寸法で形成された上記隙間とから上記浸透探傷法の欠陥
検出性能を計測する工程とを具備したことを特徴とする
ものである。
［作用コ
つまり一対の光学ガラス板の一端を密着させた状態で他
端を拡開していきその際単色光を照射してニュートン縞
を作製する。そしてこのニュー１−ン縞の数と上記一対
の光学ガラス板の他端側の隙間との関係を利用して、ニ
ュートン縞の数を係数することにより所望の隙間を形成
する。次に他端側を固定した状態で一端側を上記ニュー
トン縞が消失するまで拡開しこれを固定する。これで一
対の光学ガラス板間に所定寸法の隙間が形成される。
端を拡開していきその際単色光を照射してニュートン縞
を作製する。そしてこのニュー１−ン縞の数と上記一対
の光学ガラス板の他端側の隙間との関係を利用して、ニ
ュートン縞の数を係数することにより所望の隙間を形成
する。次に他端側を固定した状態で一端側を上記ニュー
トン縞が消失するまで拡開しこれを固定する。これで一
対の光学ガラス板間に所定寸法の隙間が形成される。
かかる状態で浸透探傷法を施して欠陥（この場合には上
記隙間）を検出する。そして得られた検出データと上記
隙間とから上記浸透探傷法の欠陥噴出性能を計測するも
のである。
記隙間）を検出する。そして得られた検出データと上記
隙間とから上記浸透探傷法の欠陥噴出性能を計測するも
のである。
［効果］
したがって浸透探傷法の欠陥検出性能を定層的にかつ高
精度で計測することができ、例えばある浸透探傷法によ
ればどの程度の欠陥まで検出することができるといった
情報を高い信頼性で提供することが可能となる。
精度で計測することができ、例えばある浸透探傷法によ
ればどの程度の欠陥まで検出することができるといった
情報を高い信頼性で提供することが可能となる。
［実施例］
以下第１図乃至第７図を参照して本発明の一実施例を説
明する。まず第１図（Ａ）および（Ｂ）を参照してニュ
ートン縞について説明する。図中符号１および２は方形
の高級光学ガラス板であり、これら高級光学ガラス板１
および２の面３および４はオプティカルフラットに仕上
げられている。
明する。まず第１図（Ａ）および（Ｂ）を参照してニュ
ートン縞について説明する。図中符号１および２は方形
の高級光学ガラス板であり、これら高級光学ガラス板１
および２の面３および４はオプティカルフラットに仕上
げられている。
上記高級光学ガラス板１および２の一端５，５を接触さ
せた状態で、他端６．６を光の波Ｓ（λ）の１２から数
倍程度上方に上げる。かかる構成で単色波長の光線（例
えばレーザ光線）８等を照射すると、直線状の干渉縞に
ニュートン縞）９が観察される。これは逆に干渉縞の数
を計数することにより開口の寸法が推定可能であること
を意味する。また波長の短い紫色光線を使用すると０．
４ミクロン程度の隙間を得ることができる。さらに狭い
隙間を得る必要がある場合には、紫外線を使用して干渉
縞を作製する事が考えられ、紫外線の強度を検出可能な
検出器を使用するとよい。
せた状態で、他端６．６を光の波Ｓ（λ）の１２から数
倍程度上方に上げる。かかる構成で単色波長の光線（例
えばレーザ光線）８等を照射すると、直線状の干渉縞に
ニュートン縞）９が観察される。これは逆に干渉縞の数
を計数することにより開口の寸法が推定可能であること
を意味する。また波長の短い紫色光線を使用すると０．
４ミクロン程度の隙間を得ることができる。さらに狭い
隙間を得る必要がある場合には、紫外線を使用して干渉
縞を作製する事が考えられ、紫外線の強度を検出可能な
検出器を使用するとよい。
次に第２図を参照して本実施例による浸透探１党法の欠
陥検出性能測定方法を実施するための隙間作製装置につ
いて説明する。図中符号１１（ちよび１２は方形の高級
光学ガラス板である。これら高級光学ガラス板１１およ
び１２の両端は微少隙間作製装置１３および１４に保持
されている。これら微少隙間作製装置１３および１４の
操作部１５および１６を操作することにより、ミクロン
以下のオーダにて微少隙間（図中符号１７および１８で
示す）を高精度で作製する。尚ニュー１〜ン縞の観察に
支障を来たすことがなければ上記微少隙間袋＠１３およ
び１４の設置箇所は高級光学カラス板１１および１２の
中央近傍でもよい。またその際高級光学ガラス板１１お
よび１２の角部が鋭利な状態で形成されていることが必
要である。すなわち第４図に示すように角部４１が丸味
をおびたように形成されている場合には、仮に隙間１８
を高精度で形成したとしても、結果的に隙間が広がった
ような状態となり（図中符号ａで示す）、信頼性の高い
欠陥検出性能の測定が不可能となるからである。また隙
間作製装置をさらに具体的な構造として第５図および第
６図に示す。尚各部の符号は第２図および第３図と同一
符号で示す。また図中符号１３Ａおよび１４Ａはねじ軸
受であり、符号１３Ｂおよび１４Ｂは隙間調整ねじであ
る。
陥検出性能測定方法を実施するための隙間作製装置につ
いて説明する。図中符号１１（ちよび１２は方形の高級
光学ガラス板である。これら高級光学ガラス板１１およ
び１２の両端は微少隙間作製装置１３および１４に保持
されている。これら微少隙間作製装置１３および１４の
操作部１５および１６を操作することにより、ミクロン
以下のオーダにて微少隙間（図中符号１７および１８で
示す）を高精度で作製する。尚ニュー１〜ン縞の観察に
支障を来たすことがなければ上記微少隙間袋＠１３およ
び１４の設置箇所は高級光学カラス板１１および１２の
中央近傍でもよい。またその際高級光学ガラス板１１お
よび１２の角部が鋭利な状態で形成されていることが必
要である。すなわち第４図に示すように角部４１が丸味
をおびたように形成されている場合には、仮に隙間１８
を高精度で形成したとしても、結果的に隙間が広がった
ような状態となり（図中符号ａで示す）、信頼性の高い
欠陥検出性能の測定が不可能となるからである。また隙
間作製装置をさらに具体的な構造として第５図および第
６図に示す。尚各部の符号は第２図および第３図と同一
符号で示す。また図中符号１３Ａおよび１４Ａはねじ軸
受であり、符号１３Ｂおよび１４Ｂは隙間調整ねじであ
る。
以上の構成を基にその作用を説明する。まず所定の寸法
を有する隙間１８を形成する工程から説明する。第７図
の工程図に示すように、高級光学ガラス板１１および１
２を微少隙間作製装置１３および１４を調整することに
より密着させて隙間１７および１８を共に零とする。し
たがってこのような状態で単色光線２１を照射してもニ
ュートン縞は発生しない。次に微少隙間作製装置１３を
そのままの状態として、微少隙間作製装置１４を操作し
て隙間１８を徐々に拡開していく。その際単色光Ｐｉ！
２１を照射していくと、ニュートン縞が観察できるよう
になる。そしてこのニュートン縞の本数を制御すること
により隙間１８を所望の間隔を有する隙間にする。そし
て所定の寸法の隙間１８が形成されたらその位置で固定
する。尚所定の寸法に調整することができない場合には
上述した操作を再度くりかえす。次に他方の隙間１７を
徐々に拡開していきニュートン縞が消失するのをｌｉｖ
認する。その状態で隙間１７を固定する。以上の操作に
より高級光学ガラス板１１および１２の間に所定の寸法
の隙間（第５図生得号４１で示す）が形成されたことと
なる。所望の間隔を有する隙間４１を作製した後、高級
光学ガラス板１１および１２の而３１および３２に対し
て浸透探１膓を施す。そして浸透探傷を施した結果得ら
れたデータと、隙間４１の間隔とを比較することにより
浸透探傷法による欠陥検出性能を測定する。そして上記
隙間４１の間隔を適宜調整するとにより各種の浸透探傷
法および各種の浸透探傷用材料の欠陥検出性能を広範囲
に亘って測定することができる。
を有する隙間１８を形成する工程から説明する。第７図
の工程図に示すように、高級光学ガラス板１１および１
２を微少隙間作製装置１３および１４を調整することに
より密着させて隙間１７および１８を共に零とする。し
たがってこのような状態で単色光線２１を照射してもニ
ュートン縞は発生しない。次に微少隙間作製装置１３を
そのままの状態として、微少隙間作製装置１４を操作し
て隙間１８を徐々に拡開していく。その際単色光Ｐｉ！
２１を照射していくと、ニュートン縞が観察できるよう
になる。そしてこのニュートン縞の本数を制御すること
により隙間１８を所望の間隔を有する隙間にする。そし
て所定の寸法の隙間１８が形成されたらその位置で固定
する。尚所定の寸法に調整することができない場合には
上述した操作を再度くりかえす。次に他方の隙間１７を
徐々に拡開していきニュートン縞が消失するのをｌｉｖ
認する。その状態で隙間１７を固定する。以上の操作に
より高級光学ガラス板１１および１２の間に所定の寸法
の隙間（第５図生得号４１で示す）が形成されたことと
なる。所望の間隔を有する隙間４１を作製した後、高級
光学ガラス板１１および１２の而３１および３２に対し
て浸透探１膓を施す。そして浸透探傷を施した結果得ら
れたデータと、隙間４１の間隔とを比較することにより
浸透探傷法による欠陥検出性能を測定する。そして上記
隙間４１の間隔を適宜調整するとにより各種の浸透探傷
法および各種の浸透探傷用材料の欠陥検出性能を広範囲
に亘って測定することができる。
以上本実施例によると以下のような効果を奏することが
できる。
できる。
（１）まず本実施例による浸透探ｆｎ法の検出性能測定
方法を採用すれば、ミクロンオーダにて浸透探傷法の欠
陥核性能を定凶的に計測することができる。それによっ
てどの浸透探傷法によれば幅何ミクロンまでの欠陥が検
出可能であるかといった情報を高精度で提供することが
できる。
方法を採用すれば、ミクロンオーダにて浸透探傷法の欠
陥核性能を定凶的に計測することができる。それによっ
てどの浸透探傷法によれば幅何ミクロンまでの欠陥が検
出可能であるかといった情報を高精度で提供することが
できる。
（２）また方形高級光学ガラス板１１および１２は文字
通りガラスであるので、耐食性に優れ、長期の使用に耐
えることができる。
通りガラスであるので、耐食性に優れ、長期の使用に耐
えることができる。
（３）またニュートン縞を観察しなから微少隙間作製装
置１３および１４を操作することにより微少な隙間４１
を任意の幅で正確に作製することができ、その結果精度
の高い欠陥検出性能の測定を行なうことができる。
置１３および１４を操作することにより微少な隙間４１
を任意の幅で正確に作製することができ、その結果精度
の高い欠陥検出性能の測定を行なうことができる。
（４）また隙間４１はもとより測定装置全体についても
清掃が容易であるので、同一条件にあける測定を容易に
再現することかできる。
清掃が容易であるので、同一条件にあける測定を容易に
再現することかできる。
（５〉ざらに熱膨張あるいは熱収縮があっても測定に支
障を来たすことはない。
障を来たすことはない。
第１図乃至第７図は本発明の一実施例を示す図で、第１
図（Ａ）および（Ｂ）はニュートン縞作装の原理を示す
図、第２図は浸透探傷法の欠陥検出性能測定方法を実胎
するための隙間作製装置を示す図、第３図はｗ４２図の
■−■矢視図、第４図は方形高級工学ガラス板の端部の
仕上について説明するための図、第會図は隙間作製装置
をさらに具体的な構造で示す図、第６図は第５図の■−
Ｖｌ矢視図、第７図は所定の隙間を作製するまでの工程
を示す図である。 ９・・・ニュートン縞、１１ 、’ １２・・・方形高
級光学ガラス板、１３．１４・・・微少隙間作製装置、
１４゜１５・・・操作部、１７．１８．４１・・・隙間
。
図（Ａ）および（Ｂ）はニュートン縞作装の原理を示す
図、第２図は浸透探傷法の欠陥検出性能測定方法を実胎
するための隙間作製装置を示す図、第３図はｗ４２図の
■−■矢視図、第４図は方形高級工学ガラス板の端部の
仕上について説明するための図、第會図は隙間作製装置
をさらに具体的な構造で示す図、第６図は第５図の■−
Ｖｌ矢視図、第７図は所定の隙間を作製するまでの工程
を示す図である。 ９・・・ニュートン縞、１１ 、’ １２・・・方形高
級光学ガラス板、１３．１４・・・微少隙間作製装置、
１４゜１５・・・操作部、１７．１８．４１・・・隙間
。
Claims (1)
- 一対の光学ガラス板の一端側を密着させ他端側を拡開し
ていくとともに単色光を照射してニュートン縞を作製し
このニュートン縞の数を計数しなから上記他端側の間隔
を調節して所望の位置に固定する工程と、上記他端側を
所望位置に固定した状態で上記一端側をニュートン縞が
消失するまで拡開してこれを固定し一対の光学ガラス板
間に所定の寸法の隙間を形成する工程と、上記隙間を形
成した状態の一対の光学ガラス板に浸透探傷法を施す工
程と、該探傷により得られたデータと予め所定の寸法で
形成された上記隙間とから上記浸透探傷法の欠陥検出性
能を計測する工程とを具備したことを特徴とする浸透探
傷法の欠陥検出性能測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23036085A JPS6288947A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 浸透探傷法の欠陥検出性能測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23036085A JPS6288947A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 浸透探傷法の欠陥検出性能測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6288947A true JPS6288947A (ja) | 1987-04-23 |
Family
ID=16906636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23036085A Pending JPS6288947A (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 浸透探傷法の欠陥検出性能測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6288947A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109311726A (zh) * | 2016-06-03 | 2019-02-05 | 康宁股份有限公司 | 管理分离挠性玻璃带时裂纹尖端上的机械引发应力的设备和方法 |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP23036085A patent/JPS6288947A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109311726A (zh) * | 2016-06-03 | 2019-02-05 | 康宁股份有限公司 | 管理分离挠性玻璃带时裂纹尖端上的机械引发应力的设备和方法 |
| CN109311726B (zh) * | 2016-06-03 | 2021-10-15 | 康宁股份有限公司 | 管理分离挠性玻璃带时裂纹尖端上的机械引发应力的设备和方法 |
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