JPS6267469A - Adaptor for printed wiring board inspecting machine - Google Patents

Adaptor for printed wiring board inspecting machine

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Publication number
JPS6267469A
JPS6267469A JP60209074A JP20907485A JPS6267469A JP S6267469 A JPS6267469 A JP S6267469A JP 60209074 A JP60209074 A JP 60209074A JP 20907485 A JP20907485 A JP 20907485A JP S6267469 A JPS6267469 A JP S6267469A
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JP
Japan
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adapter
board
printed wiring
pin
wiring board
Prior art date
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Pending
Application number
JP60209074A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuaki Takano
和明 高野
Noriyoshi Abe
阿部 法義
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Araco Co Ltd
Kyoei Sangyo KK
Original Assignee
Araco Co Ltd
Kyoei Sangyo KK
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Publication date
Application filed by Araco Co Ltd, Kyoei Sangyo KK filed Critical Araco Co Ltd
Priority to JP60209074A priority Critical patent/JPS6267469A/en
Publication of JPS6267469A publication Critical patent/JPS6267469A/en
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a printed wiring board inspection adaptor which enables quick inspection when the density at an inspection point is high and when the pitch is very fine, by using a dedicated board corresponding to a wiring pattern as adaptor. CONSTITUTION:While a strut 102 is fixed on a dedicated board 19 with a screw 106, an adaptor block 100 can be arranged in a desired area between a mesh board 15 and the dedicated board 19 by inserting an adaptor pin 101 into a through hole 14 of the mesh board 15. A connector 110 is preferably used for the connection of the adaptor pin 101 and a probe pin 105 with a wire 104. A probe pin 105 for a highly dense inspection point can be arranged at any position of the specialty board 19 as required.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、プリント配線板の検査機尾アダプタに関し、
4!!iにフラットパッケージ搭載の基板も検査可能に
した汎用型プリント配線板検査機用アダプタに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to an inspection machine tail adapter for printed wiring boards.
4! ! This invention relates to an adapter for a general-purpose printed wiring board inspection machine that enables the i to inspect boards mounted in flat packages.

従来の技術 プリント配線板検査機は、周知の如く、個々のプリント
配線板毎にそのプリント配線板上の任意のターミナル領
域2点間相互の電気的接続関係、即ち、導通状態にある
か絶縁状態にあるかを検査し、正常な電気的接続関係に
ないものを識別する機能を有するものである。ここで、
検査の対象となるプリント配線板を構成している配線パ
ターンの状態、部ち、ターミナル領域群の配置は多種多
様であり、こna、ターミナル領域を決定する格子間隔
が一定の規格に統一さ几てなく種々の値のものを基準と
して実用化さA%Lかも一橋類のプリント配線板に種々
の格子状ピンチのものが混在していることに起因してい
る。従って、原理的に汀、検査の対象となるプリント配
線板毎に専用のフイクステヤを必要とすることになる。
As is well known, conventional printed wiring board inspection machines check the mutual electrical connection relationship between any two terminal areas on each printed wiring board, that is, whether they are in a conductive state or an insulated state. It has the function of inspecting whether the electrical connections are present and identifying those that are not in a normal electrical connection. here,
The condition, parts, and arrangement of the terminal area groups of the wiring patterns that make up the printed wiring board that is the subject of inspection vary widely. This may be due to the fact that Hitotsubashi's printed wiring boards contain a mixture of various lattice-like pinches. Therefore, in principle, a dedicated fixter is required for each printed wiring board to be inspected.

上記問題点を避ける為に、従来においては、標準となる
例えば、2.54mmピンチの格子点を備えた検査機を
基準として用い、検査の対象となるプリント配線板の種
類毎に用意されたアダプタを選択的に交換使用すること
によって各檀プリント配線板の検査を実行していた。本
出願人と同一出願人の出願に係る特願昭58−1568
75号明a書に記載されたオフグリットアタ”ブタもそ
の一つであり、しかして、検査ポイントが2.54mm
の格子上VCあるプリント配線板を検査する汎用型プリ
ント配線板検査機において、被検査基板の検査ポイント
が2.54mmの格子上VCない場合には、前記明細書
に記載されたオ7グリットアターブタを用いて極めて良
好な操作性を保持して検査可能であった。
In order to avoid the above problems, in the past, a standard inspection machine equipped with, for example, 2.54 mm pinch grid points was used as a reference, and an adapter was prepared for each type of printed wiring board to be inspected. The inspection of each Dan printed wiring board was performed by selectively replacing the board. Patent application No. 58-1568 filed by the same applicant as the present applicant
The off-grit atta "buta" described in No. 75 A is one of them, and the inspection point is 2.54 mm.
In a general-purpose printed wiring board inspection machine that inspects a printed wiring board with a VC on a grid of 2.54 mm, if the inspection point of the board to be inspected is not a VC on a grid of 2.54 mm, the It was possible to test using pigs with extremely good operability.

しかるに、フラットパッケージが搭載さtたプリント配
線板のように、検査ポイントの密度が高い場合、また検
査ポイントのピンチが細かい(例えばQ、13mmピッ
チ等)場合(以下このような場合を総称して高密度の検
査ポイントと呼ぶ)には、前記オフグリッドアタープタ
を用いても検査することは不可能であった。
However, when there is a high density of inspection points, such as a printed wiring board with a flat package mounted on it, or when the inspection points have a small pinch (for example, Q, 13 mm pitch, etc.) (hereinafter, such cases will be collectively referred to as It was impossible to inspect high-density inspection points (referred to as high-density inspection points) even with the off-grid adapter.

そこで、従来においては、上記高密度検査ボ・「ントの
検査VC,信第4図及び第5図に示される方法によって
実行されていた。しかしながら、技術的に不光分であっ
たり、コスト面でも商品化することが困難であった。
Therefore, in the past, inspection of the high-density inspection board was carried out by the method shown in Figures 4 and 5. It was difficult to commercialize it.

発明が解決しようとする問題点 先づ、第4図に示された従来例においては、2枚の専用
ボードでアダプタビ/の先端を垂直に保たせようとして
いるが、下方のフイクスチヤ側の方が図示の如く極めて
析めにしなる。従って、アダプタピンの下側面が均一で
ないために、アダプタピンのプイクステヤ側で接触不良
を惹起しやすい欠点がある。また、アダプタピン自体r
i細くて、さらに先端はスプリングプローブのような溝
造をしているために、非常に高価なものとなる欠点があ
った。さらに、使用上、アダプタピンの下部が極端に#
4斜してメツシュボード等に挿入されるように形成さ几
るので、組立てに<<、一度胆上げると、分解すること
かわずられしくなり、必然的に基板ごとに組立てらnた
ものが必要となり、結果的に非常に高価なものとなって
しまう欠点があった。
Problems to be Solved by the Invention First, in the conventional example shown in Fig. 4, two dedicated boards are used to keep the tip of the adapter tab vertical; As shown in the figure, it becomes extremely dark. Therefore, since the lower surface of the adapter pin is not uniform, there is a drawback that poor contact tends to occur on the bias steer side of the adapter pin. Also, the adapter pin itself
Since it is thin and has a grooved tip like a spring probe, it has the disadvantage of being very expensive. Additionally, in use, the bottom of the adapter pin is extremely
4.Since it is designed to be inserted into a mesh board etc. at an angle, it is difficult to assemble it, and once it is assembled, it becomes difficult to disassemble it, and it is necessary to assemble it separately for each board. However, it had the disadvantage that it ended up being very expensive.

次に第5図に示された先行技術は、本発明者等が開発し
た装置であり、本装置については本出願と同一出願人の
出願に係る特願昭59−160328号明細書に詳aに
開示されている。即ち、高密度検査ポイント、つまシフ
ラットパッケージ形ICバp−ンの部分をアダプタユニ
ットとしてユニット化し、該アダプタユニットの上部ピ
ンボードに高密度検査ポイントに対応するスプリングプ
ロープピンを植設し、該プローブピンとフイクステヤの
プローブピンとを電気的に接続して構成すると共に、該
アダプタユニットをアダプタに着脱自在に装着したもの
である。しかして、高密度検査ポイントハターンの的確
に能率的な検査が可能となった。しかるに、該アダプタ
ユニットを裏作する上で、専用ボードとアダプタユニッ
トの位置関係を定めるのに困難性があること及びアダプ
タユニット自体が高価になるという難点があった。
Next, the prior art shown in FIG. 5 is a device developed by the present inventors, and details of this device can be found in Japanese Patent Application No. 160328/1985 filed by the same applicant as the present application. has been disclosed. That is, the high-density inspection points and the tabular flat package IC bumper parts are unitized as an adapter unit, and spring probe pins corresponding to the high-density inspection points are embedded in the upper pin board of the adapter unit. The probe pin is configured by electrically connecting the probe pin to the probe pin of the fixture, and the adapter unit is detachably attached to the adapter. As a result, accurate and efficient inspection of high-density inspection points has become possible. However, when manufacturing the adapter unit, it is difficult to determine the positional relationship between the dedicated board and the adapter unit, and the adapter unit itself is expensive.

更Kまた、従来のアダプタVCは次のような欠点があっ
た。 FQJち、アダプタに用いらnるアダプタビ/け
、通常水平線に対して傾斜してセントされるために、従
来の第3図(b) VC示される如く、その上端部が専
用ボード上に長く突出していれば、そnだけ専用ボード
の貫通孔の中心よりずnることになり、従って、そnだ
け被検査プリント配線板の検査ポイントとずnて不都合
が生じる欠点があった。
Further, the conventional adapter VC has the following drawbacks. Adapter cables used in FQJ adapters are usually tilted to the horizontal line, so their upper end protrudes long above the dedicated board, as shown in the conventional VC in Figure 3(b). If it were, the inspection point of the printed wiring board to be inspected would be inconvenient because it would be offset by that distance from the center of the through hole of the dedicated board.

本発明は従来の技術に内在する上記諸欠点を克服する為
になされたものであり、従って本発明の目的は、被模査
基板の検査ポイントの@度が高いか又はピッチが極めて
細かい場合においても迅速にして的確な検査を可能とし
、しかも操作性及び経済性に浚nた新規な手段を提供す
ることにある。
The present invention has been made to overcome the above-mentioned drawbacks inherent in the prior art, and therefore, an object of the present invention is to overcome the above-mentioned drawbacks inherent in the prior art. Another object of the present invention is to provide a new means that enables rapid and accurate testing and is highly operable and economical.

問題点を解決するための手段 上記目的を達成する為に、本発明に係るプリント配線板
検査機用アダプタは、検査機のフィクスチャに格子状に
配列され且つ上下に伸縮自在に植設された複数個のプロ
ーブピンに対応して複数個の第1の貫通孔を形成さルた
メツシュボードと、該メツシュボードにスペーサを介し
て平行に固定され且つ被検査プリント配線板の配線パタ
ーンに対応する第2の貫通孔を形成された専用ボードと
、下端に前記プローブピンの頭部に嵌着される穴が形成
さル且つF端に頭部が設けらn前記複数個の第1及び第
2の貫通孔に選択的にしかも着脱自在に挿入されて前記
プローブピンと接触接続名れる複数個のアダプタビンと
、前記メッシュボードに形成された前記第1の貫通孔を
介して前記プローブピンに接触接続名れる複数個の第2
のアダプタピンが植設固定され前記メツシュボード上に
平行に配置されたアダプタブロックと、前記専用ボード
に植設され前記第2のアダプタビンの対応する他端と電
気的に接続された高密度の検査ポイント用箔2のグロー
ブビンとを具備して構成される。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the adapter for a printed wiring board inspection machine according to the present invention is arranged in a grid pattern in a fixture of an inspection machine and is installed vertically and retractably. a mesh board in which a plurality of first through holes are formed to correspond to the plurality of probe pins, and a second mesh board that is fixed in parallel to the mesh board via a spacer and that corresponds to the wiring pattern of the printed wiring board to be inspected. a dedicated board having a through hole formed therein, a hole to be fitted into the head of the probe pin at the lower end, and a head provided at the F end of the plurality of first and second through holes; a plurality of adapter pins that are selectively and removably inserted into the holes and are in contact with the probe pins; and a plurality of adapter pins are in contact with the probe pins through the first through holes formed in the mesh board. multiple second
an adapter block having adapter pins implanted and fixed and arranged in parallel on the mesh board; and a high-density inspection implanted in the dedicated board and electrically connected to the corresponding other end of the second adapter bin. The point foil 2 is provided with a glove bin.

発明の実施例 次に本発明をその好ましい一実施例について図面を参照
しながら具体的に説明する。
Embodiment of the Invention Next, a preferred embodiment of the present invention will be specifically explained with reference to the drawings.

第1図は本発明に係るアダプタの一実施例を示す斜視図
、第2図は本発明に係るアダプタの一実施例を示す概略
断面図である。図において、参照番号11は検査機の上
面に装着されたフイクスチヤを示し、該フイクスチヤ1
1上には、例えば2.54mmの格子点ピッチで複数個
のプローブピン12がマトリックス状にしかも上下方向
に伸縮自在に植設されている。全体として参照番号13
にで示されたアダプタは、フイクスチヤ11上に格子状
に配役された複数個のプローブピン12に対応して複数
個の貫通孔14を穿設されたメッシュボード15と、該
メッシュボード15と複数個のスペーサ16を介して平
行に接続固定され1且つ検査の対象となるプリント配線
板22の配線パターンに対応させて穿設された複数個の
貫通孔18が穿設された専用ボード19と、メッシュボ
ード15の貫通孔14と専用ボード19の貫通孔18に
選択的且つ着脱自在に挿入さ几てフィクスチャ11のプ
ローブピン12と接続される複数個のアダプタピン20
と、メッシュボード15の貫通孔14を介してプローブ
ピン12に接触接続される複数個のアダプタビン101
が植設固定されメツシュボード15上に平行に配置され
たアダプタブロックlOOと、専用ボード19に植設さ
れ対応するアダプタビン101に配線104によりそA
(’ft%気的に接続された高密度の検査ポイント用グ
ローブビン105とを含み構成される。プローブピン1
05Hスプリング性を有し上下動可能に形成されている
。力、21は基板ガイドビンである。
FIG. 1 is a perspective view showing one embodiment of the adapter according to the present invention, and FIG. 2 is a schematic sectional view showing one embodiment of the adapter according to the present invention. In the figure, reference number 11 indicates a fixture mounted on the top surface of the inspection machine, and the fixture 1
1, a plurality of probe pins 12 are implanted in a matrix shape at a lattice point pitch of, for example, 2.54 mm, and are expandable and retractable in the vertical direction. Reference number 13 as a whole
The adapter shown in FIG. a dedicated board 19 that is connected and fixed in parallel via spacers 16 and has a plurality of through holes 18 drilled corresponding to the wiring pattern of a printed wiring board 22 to be inspected; A plurality of adapter pins 20 are selectively and detachably inserted into the through holes 14 of the mesh board 15 and the through holes 18 of the dedicated board 19 and connected to the probe pins 12 of the fixture 11.
and a plurality of adapter bins 101 that are connected to the probe pins 12 through the through holes 14 of the mesh board 15.
An adapter block lOO is implanted and fixed and arranged in parallel on the mesh board 15, and an adapter block A is implanted and fixed in the dedicated board 19 and connected to the corresponding adapter bin 101 by wiring 104.
probe pin 1
It has 05H spring properties and is movable up and down. 21 is a substrate guide bin.

本発明の主要部であるアタ′ブタブロック100は、そ
の支柱102がねじ106により専用ボード19に固定
されると共に、前述した如く、アダプタビン101がメ
ッシュボード15の貫通孔14に挿入さすることによっ
て、メツシュボード15及び専用ボード19間の所望と
する任意の領域に配設することが可能である。アダプタ
ピン101とグローブピ/105cl配線104による
結合Vcはコネクタ110を使用することが望ましい。
The adapter block 100, which is the main part of the present invention, has its support 102 fixed to a dedicated board 19 with a screw 106, and as described above, the adapter bin 101 is inserted into the through hole 14 of the mesh board 15. Therefore, it is possible to arrange it in any desired area between the mesh board 15 and the dedicated board 19. It is desirable to use the connector 110 for the connection Vc between the adapter pin 101 and the globe pin/105cl wiring 104.

湖、103は調整用ねじである。また、高密度検査ポイ
ント用プローブピン105も、必要に応じて専用ボード
19の任意の位置に配役可能である。
Lake 103 is an adjustment screw. Further, the probe pins 105 for high-density inspection points can also be placed at any position on the dedicated board 19 as needed.

本発明の他の特徴は、アダプタ13が全体的に上下動す
ると共に、第3ffl(a)K見らnる如く、アダプタ
ピン20の先端頭部(長さF12mm)20aが専用ボ
ード19に接触するように、つまp、専用ボード19か
らアダプタビン20の先端までの距離が短く構成さ几て
いることである。そのために、フイクスチヤ11とメノ
ンユボード15又はそnVC連結された部材111間に
ばね107が設けらn1アダプタ13の上部には抑圧板
108が備えら几、且つアタープタ13の両11111
IVCは抑圧板108が当接するつき当て枠109が配
設さ几ている。
Another feature of the present invention is that as the entire adapter 13 moves up and down, the tip head (length F12 mm) 20a of the adapter pin 20 comes into contact with the dedicated board 19, as shown in No. 3 ffl(a)K. Therefore, the distance from the dedicated board 19 to the tip of the adapter bin 20 is short. For this purpose, a spring 107 is provided between the fixture 11 and the menonyu board 15 or a member 111 connected thereto, and a suppressing plate 108 is provided on the upper part of the N1 adapter 13.
The IVC is provided with an abutting frame 109 against which a suppressing plate 108 abuts.

第2図(a)は検査前の状!服、Φ)は検査中の状態を
そnぞ几示し、被検査プリント配線板22を検量する際
には、プリント配線板22を基板ガイトビ/21に従っ
て専用ボード19上VC載置する。次に、プリント配線
板22上を押圧板108によって該板108がつき当て
伜109に当接するまで押圧する。その際には、アダプ
タ13がばね107に抗して下方に移動し、第2図(b
)に見らnる状態になって、アダプタピノ20及びプロ
ーブピン105がそn−rnフイクスチヤ11の対応す
るプローブピン12に接触接続されて検査可能となるっ
棟査後に、押圧板108を除去す几ば、アダプタ13は
第2図(a)に示す原位置に復帰する。
Figure 2 (a) is the state before the inspection! Φ) shows the state during inspection, and when weighing the printed wiring board 22 to be inspected, the printed wiring board 22 is placed on the dedicated board 19 by VC according to the board guide 21. Next, the printed wiring board 22 is pressed by the pressing plate 108 until the plate 108 comes into contact with the abutment 109. At that time, the adapter 13 moves downward against the spring 107, and as shown in FIG.
), the adapter pin 20 and the probe pin 105 are connected to the corresponding probe pin 12 of the n-rn fixture 11 and can be inspected. After the inspection, the press plate 108 is removed. Once done, the adapter 13 returns to its original position as shown in FIG. 2(a).

発明の効果 本発明な以上の叩く慣戎され1作用するものであり、本
発明によルば以下に示す如き効果が発生する。
Effects of the Invention The present invention operates in accordance with the above-described hitting practice, and the present invention produces the following effects.

先づ第IK、高密度検査ポイントを有するプリント配線
板をも迅速にして的確に検量でさるという効果が得らn
1汎用性の高いプリント配線板検査機を容易にしかも経
済的に実現することができる。
First of all, it has the effect of quickly and accurately calibrating printed wiring boards with high-density inspection points.
1. A highly versatile printed wiring board inspection machine can be realized easily and economically.

第2として、高密度検査ポイント用スプリング性プロー
ブピン105が、アダプタブロック100 (のアダプ
タピン101)の真上に、つまり対向して配置される必
要がないので、アダプタブロック100とプローブピン
105の装着位置を必要に応じて任意の位置に設定する
ことが可能となり、極めて使用に供しゃすく、しかも裏
作が容易となる。
Second, since the spring probe pins 105 for high-density inspection points do not need to be placed directly above the adapter block 100 (the adapter pins 101 of the adapter block 100), that is, facing each other, the adapter block 100 and the probe pins 105 The mounting position can be set to any position as required, making it extremely easy to use and making it easy to prepare.

第3に、アダプタビン20の先端頭部20aが専用ボー
ド19の表面に接触するように構成さ几ているために、
専用ボードの貫通孔18の中心と頭部20aの先端中心
とは殆んどずnを生ずることがなくなり、従って、被検
査プリント配線板の位置合せが容易V′Cなると共((
、険査ポイントがアメ”ブタビン又(−iグローブピン
と確実に接触することとなるから、デj確にして迅速な
検査e達成することができる。
Thirdly, since the tip head 20a of the adapter bin 20 is configured to come into contact with the surface of the dedicated board 19,
There is almost no gap between the center of the through hole 18 of the dedicated board and the center of the tip of the head 20a, so alignment of the printed wiring board to be inspected is easy and V′C (((
Since the inspection point will surely come into contact with the American glove pin, a precise and rapid inspection can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

瀉llAは本発明:・ζ保るアターグタの一実施例を示
す相硯図、第2図は本発明に光るアダプタの一実施例を
示す概略断面図、第3図(a)、(b)はアダプタピン
の説明図、第4図及び第5図は従来例を示す概略断面図
である。 11・・・フイクスチヤ、12・・拳グローフヒン、1
3・・・アダプタ、14.18.21・・ψ貫通孔、1
5拳・・メンンユボード、16・・響スペーサ、191
1・−専用ボード、2011−・アダプタピン、21ψ
・・基板ガイトビ/、22・・・被険査プリント配線板
、100−・・アダプタブロック、1OIIII111
アダプタピン、102・・・支柱、104・・・配線、
105・・・高缶度快査ポイント用グローブビン、10
7・・・ばね、108・−・押圧板、109・・ψつき
幽て伜、110・・争コネクタ、111・・−a箱部材 (b)               (a)第3鴻
11A is a cross-sectional view showing an embodiment of the adapter that protects the present invention; FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of the adapter according to the present invention; FIGS. 3(a) and (b) 1 is an explanatory diagram of an adapter pin, and FIGS. 4 and 5 are schematic sectional views showing a conventional example. 11... Fixture, 12... Fist Grofhin, 1
3...Adapter, 14.18.21...ψ through hole, 1
5 fists...Menu board, 16...Hibiki spacer, 191
1.-Dedicated board, 2011-.Adapter pin, 21ψ
... Board guide /, 22 ... Inspected printed wiring board, 100 - ... Adapter block, 1OIII111
Adapter pin, 102... Support, 104... Wiring,
105...Glove bin for high-quality inspection points, 10
7...Spring, 108...Press plate, 109...Holding plate with ψ, 110...Connector, 111...-a box member (b) (a) Third hook

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)、検査機のフイクスチヤに格子状に配列され且つ
上下に伸縮自在に植設された複数個のプローブピンに対
応して複数個の第1の貫通孔を形成されたメッシュボー
ドと、該メッシュボードにスペーサを介して平行に固定
され且つ被検査プリント配線板の配線パターンに対応す
る第2の貫通孔を形成された専用ボードと、下端に前記
プローブピンの頭部に吸着される穴が形成され且つ上端
に頭部が設けられ前記複数個の第1及び第2の貫通孔に
選択的にしかも着脱自在に挿入されて前記プローブピン
と接触接続名れる複数個のアダプタピンと、前記メッシ
ュボードに形成された前記第1の貫通孔を介して前記プ
ローブピンに接触接続される複数個の第2のアダプタピ
ンが植設固定され前記メッシュボード上に平行に配置さ
れたアダプタブロックと、前記専用ボードに植設され前
記第2のアダプタピンの対応する他端と電気的に接続さ
れた高密度の検査ポイント用第2のプローブピンとを具
備することを特徴としたプリント配線板検査機用アダプ
タ。
(1) a mesh board in which a plurality of first through-holes are formed corresponding to a plurality of probe pins arranged in a grid pattern in a fixture of an inspection machine and installed vertically and retractably; A dedicated board is fixed in parallel to a mesh board via a spacer and has a second through hole formed therein corresponding to the wiring pattern of the printed wiring board to be inspected, and a hole at the bottom end of which is attached to the head of the probe pin. a plurality of adapter pins formed therein, each having a head at its upper end and selectively and removably inserted into the plurality of first and second through-holes to be in contact with the probe pin; an adapter block in which a plurality of second adapter pins contact-connected to the probe pins through the first through-holes are implanted and fixed and arranged in parallel on the mesh board; and the dedicated board. An adapter for a printed wiring board inspection machine, comprising a second probe pin for a high-density inspection point, which is implanted in the second adapter pin and electrically connected to the corresponding other end of the second adapter pin.
(2)、前記第2のアダプタピンと前記第2のプローブ
ピンとをコネクタを用いて接続したことを更に特徴とす
る特許請求の範囲第(1)項に記載のプリント配線板検
査機用アダプタ。
(2) The adapter for a printed wiring board inspection machine according to claim (1), further characterized in that the second adapter pin and the second probe pin are connected using a connector.
(3)、前記メッシュボード、専用ボード及び前記アダ
プタブロック等を含むアダプタ全体を上下動移動可能に
したことを更に、特徴とする特許請求の範囲第(1)項
又は第(2)項に記載のプリント配線板検査機用アダプ
タ。
(3) Claims (1) or (2) further characterized in that the entire adapter including the mesh board, the dedicated board, the adapter block, etc. is vertically movable. Adapter for printed wiring board inspection machine.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63265180A (en) * 1987-04-23 1988-11-01 Tokyo Electron Ltd Inspection jig of printed circuit board
JPH01143977A (en) * 1987-11-09 1989-06-06 Mania Gmbh & Co Adaptor for electronic inspector of printed circuit board

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JPS63265180A (en) * 1987-04-23 1988-11-01 Tokyo Electron Ltd Inspection jig of printed circuit board
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