JPS626106A - 厚さ測定方法および測定装置 - Google Patents

厚さ測定方法および測定装置

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JPS626106A
JPS626106A JP14609985A JP14609985A JPS626106A JP S626106 A JPS626106 A JP S626106A JP 14609985 A JP14609985 A JP 14609985A JP 14609985 A JP14609985 A JP 14609985A JP S626106 A JPS626106 A JP S626106A
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JP
Japan
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measuring
microscope
height
microscopes
thickness
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JP14609985A
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English (en)
Inventor
Kazuo Shimada
四万田 和雄
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は無接触で厚さを測定する用に使う厚さ測定装置
(:関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の厚さ測定装置はなかった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
抑々、業界では被測定物g二於ける被測定個所の上面(
−も下面にも測定装置が接触しないで同個所の厚さを測
定できる厚さ測定方法および装置は要求されている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明はミクロン高さ深さ測定機(たとえば日商精密光
学株式会社製のもの)を利用して上記の要求C;応える
ものである。
〔実施例〕
図C二示す実施例は台筐(1)の上面の後方C;支柱(
2)を立設し、この支柱(2)(二車側アーム(4)お
よび下側アーム(5)を取付け、上側アーム(4)を1
下動自在として当該上側アーム(4) t:テレビモニ
ター(6)付き高さ深さ測定用、顕微鏡(7)を下向き
状態として装備し、また下側アーム(5)を上下および
左j右前後に移動自在として当該下側アーム(5)に被
測定物(イ)を其の被測定個所の上面および下面が露呈
した状態で保持する枠状のステージ(8)を設けると共
に上記の台筐(1)の中にテレビモニター(9)付きの
高さ深さ測定用顕微鏡αQを上向きの固定状態として装
入し、更に上記の上下両方の高さ深さ測定用顕微鏡(力
(IIに加えられる基準合せ操作l二よる基準点の移動
距離差を同各顕微鏡(7)四に連動して表示するグー1
7(11)を具備したものである。
尚、上記の実施例は日商精密光学株式会社(東京部品用
区中延2−16−6)製のものを使用してなしたもので
ある。
尚、本発明は下側の高さ深さ測定用顕微鏡α呻も上下動
自在としたり、上側の高さ深さ測定用顕微鏡(7)を固
定状態としたりして実施することは自由である。
〔作 用〕
本発明は上記のような構成であるので1例え (ば缶容
器のプルトップ(pull−toP)付き天蓋に於ける
プルトップ用切筋の谷に残っている部分の厚さを測定す
るには、先ず天蓋形成用板(被測定物)l()をステー
ジ(8)に固定し、このステージ(8)を上下左右前後
方向に適宜に動して同大蓋形成用板(イjのプルトップ
用切筋の谷(被測定個所)部5−於ける下面を下側の高
さ深さ測定用顕微鏡α・の基準にテレビモニター(9)
を見学ら合せ、然るのち上側の高さ深さ測定用顕微、l
i!(7)を操作して其の基準点をプルトップ用切筋の
谷の深い部分1:テレビモニター(9)を見学ら合せ、
次いでゲージ(11)に表示された上記の基準点合せ操
作C;よる基準点の移動距離差を読み取ればよいもので
ある。
]発明の効果〕 本発明は上記の通りであるので無接触で厚さを測定する
ことが可能であり特に測定個所が凹んでいる所でも可能
であるものであって、所期の目的を完全に達成すること
ができる優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
図は本発明厚さ測定方法および測定装置の実施例を示す
ものであって、第1図は全体を示す正面略図、第2図は
同じく左側面略図である。 (1)・・・台筐、(2)・・・支柱、(4) (5)
・・・アーム、(6)(9)・・・モニター、(力(1
1・・・顕微鏡、(8)・・・ステージ、俣υ・・・ゲ
ージ、(イト・・被測定物。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、上下一対の高さ深さ測定用顕微鏡の間に被測定物を
    装入し、この被測定物に於ける被測定個所の上面に上側
    の高さ深さ測定用顕微鏡の基準を同じく下面に下側の高
    さ深さ測定用顕微鏡の基準を夫々合せると共に当該高さ
    深さ測定顕微鏡の基準合せ操作による基準点移動距離差
    を上下両側の高さ深さ測定顕微鏡と連動するゲージで知
    ることを特徴とする厚さ測定方法。 2、被測定物を其の被測定個所の上面および下面ぶ露呈
    した状態で保持する上下および左右前後に移動自在のス
    テージと、このステージの上方に下向き状態として装備
    した上側の高さ深さ測定用顕微鏡および下方に上向き状
    態として装備した下側の高さ深さ測定用顕微鏡と、各顕
    微鏡の基準合せ操作による基準点の移動距離差を同各顕
    微鏡に連動して表示するゲージとを備えたことを特徴と
    する測定装置。 3、上側の高さ深さ測定用顕微鏡および下側の高さ深さ
    測定用顕微鏡のどちらか一方の基準点を上下動しない固
    定点としたことを特徴とする特許請求の範囲の記載1の
    厚さ測定装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0511008U (ja) * 1991-07-25 1993-02-12 京セラ株式会社 自動寸法測定装置
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CN103673902A (zh) * 2013-11-29 2014-03-26 天津麦世科尔科技咨询有限公司 一种可对红外测头追行精密调整位置装置

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