CN220250885U - 一种外锥通用检具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及检具装置领域，公开了一种外锥通用检具，包括推表平板，所述推表平板顶端中部螺纹连接有第一限位螺栓，所述推表平板前端中部固定连接有推表底座，所述推表平板前端中部靠上方位置设置有V型块，所述V型块中部开设有通孔，所述通孔内侧壁设置有芯轴，所述V型块一侧壁开设有限位孔，所述限位孔内侧壁螺纹连接有第二限位螺栓，所述V型块顶端开设有测量孔，所述测量孔底端滑动连接有千分表，所述测量孔底端滑动连接有测量杆，所述第一限位螺栓一端贯穿推表平板上端面与芯轴接触。本实用新型中，提供一种通过设置V型块和底座对零件进行定位，同时利用限位螺栓减少测量误差的外锥通用检具。
Description
技术领域
本实用新型涉及检具装置领域，尤其涉及一种外锥通用检具。
背景技术
在机械加工生产中，有时会加工存在锥度的产品，该种产品的加工可以通过调整机床床身的导轨来实现，而对于其锥面尺寸的测量。
现有技术虽然使用常规的外径千分尺难于准确测量，但是保证不了质量，效率也不高的问题，从而导致测量产生的误差较大，因此，本领域技术人员提供了一种外锥通用检具，以解决上述背景技术中提出的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种外锥通用检具，提供一种通过设置V型块和底座对零件进行定位，同时利用限位螺栓减少测量误差的外锥通用检具。
为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：一种外锥通用检具，包括推表平板，所述推表平板顶端中部螺纹连接有第一限位螺栓，所述推表平板前端中部固定连接有推表底座，所述推表平板前端中部靠上方位置设置有V型块，所述V型块中部开设有通孔，所述通孔内侧壁设置有芯轴，所述V型块一侧壁开设有限位孔，所述限位孔内侧壁螺纹连接有第二限位螺栓，所述V型块顶端开设有测量孔，所述测量孔底端滑动连接有千分表，所述测量孔底端滑动连接有测量杆；
通过上述技术方案，在推表平板的端面设置推表底座和V型块，用于对待测件进行定位，通过V型块和底座对待测件进行固定，可以有效的将待测件固定，防止在测量时零件发生位移，通过千分表和测量杆可以对待测件进行测量，通过转动千分表可以将对零件进行测量，在测量时测量杆向前移动，当测量杆与待测件接触时，千分表则显示出待测件的数值，通过千分表可以更加直观的将数据显示出来，有效的提高装置测量的精确性。
进一步地，所述第一限位螺栓一端贯穿推表平板上端面与芯轴接触；
通过上述技术方案，通过第一限位螺栓，可以根据不同零件的高度对芯轴进行调解，大大提高了装置的实用性。
进一步地，所述第二限位螺栓贯穿限位孔与千分表底端接触；
通过上述技术方案，利用第二限位螺栓可以快速的对千分表进行校准，大大提高测量的准确性，减小误差。
进一步地，所述千分表底端活动端贯穿测量孔和芯轴与测量杆固定连接；
通过上述技术方案，有效的对零件进行测量。
进一步地，所述芯轴依次贯穿通孔与推表平板上端面；
通过上述技术方案，有效的提高装置的稳定性。
进一步地，所述V型块下端面与推表底座位于同一水平面；
通过上述技术方案，有效的减小实验误差。
进一步地，所述推表平板底端呈矩形阵列有四个支撑垫；
通过上述技术方案，有效的保证测量时装置的整体稳定性。
进一步地，所述推表底座侧壁靠上方位置套设有待测件；
通过上述技术方案，简化操作，便于工作人员快速的读出数值。
本实用新型具有如下有益效果：
1、本实用新型中，在推表平板的端面设置推表底座和V型块，用于对待测件进行定位，通过V型块和底座对待测件进行固定，可以有效的将待测件固定，防止在测量时零件发生位移。
2、本实用新型中，通过千分表和测量杆可以对待测件进行测量，通过转动千分表可以将对零件进行测量，在测量时测量杆向前移动，当测量杆与待测件接触时，千分表则显示出待测件的数值，通过千分表可以更加直观的将数据显示出来，有效的提高装置测量的精确性。
3、本实用新型中，在装置中设置两个限位螺栓，通过第一限位螺栓，可以根据不同零件的高度对芯轴进行调解，大大提高了装置的实用性，同时利用第二限位螺栓可以快速的对千分表进行校准，大大提高测量的准确性，减小误差。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种外锥通用检具的正视图；
图2为本实用新型提出的一种外锥通用检具的侧视图；
图3为本实用新型提出的一种外锥通用检具的V型块侧视图；
图4为本实用新型提出的一种外锥通用检具的V型块正视图。
图例说明：
1、推表平板；2、芯轴；3、V型块；4、千分表；5、推表底座；6、测量杆；7、待测件；8、支撑垫；9、第一限位螺栓；10、第二限位螺栓；11、限位孔；12、通孔；13、测量孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
参照图1-4，本实用新型提供的一种实施例：一种外锥通用检具，包括推表平板1，推表平板1顶端中部螺纹连接有第一限位螺栓9，推表平板1前端中部固定连接有推表底座5，推表平板1前端中部靠上方位置设置有V型块3，V型块3中部开设有通孔12，通孔12内侧壁设置有芯轴2，V型块3一侧壁开设有限位孔11，限位孔11内侧壁螺纹连接有第二限位螺栓10，V型块3顶端开设有测量孔13，测量孔13底端滑动连接有千分表4，测量孔13底端滑动连接有测量杆6，在推表平板1的端面设置推表底座5和V型块3，用于对待测件7进行定位，通过V型块3和底座对待测件7进行固定，可以有效的将待测件7固定，防止在测量时零件发生位移，通过千分表4和测量杆6可以对待测件7进行测量，通过转动千分表4可以将对零件进行测量，在测量时测量杆6向前移动，当测量杆6与待测件7接触时，千分表4则显示出待测件7的数值，通过千分表4可以更加直观的将数据显示出来，有效的提高装置测量的精确性。
第一限位螺栓9一端贯穿推表平板1上端面与芯轴2接触，第二限位螺栓10贯穿限位孔11与千分表4底端接触，千分表4底端活动端贯穿测量孔13和芯轴2与测量杆6固定连接，芯轴2依次贯穿通孔12与推表平板1上端面，V型块3下端面与推表底座5位于同一水平面，推表平板1底端呈矩形阵列有四个支撑垫8，推表底座5侧壁靠上方位置套设有待测件7，在装置中设置两个限位螺栓，通过第一限位螺栓9，可以根据不同零件的高度对芯轴2进行调解，大大提高了装置的实用性，同时利用第二限位螺栓10可以快速的对千分表4进行校准，大大提高测量的准确性，减小误差。
工作原理：在推表平板1的端面设置推表底座5和V型块3，用于对待测件7进行定位，通过V型块3和底座对待测件7进行固定，可以有效的将待测件7固定，防止在测量时零件发生位移，通过千分表4和测量杆6可以对待测件7进行测量，通过转动千分表4可以将对零件进行测量，在测量时测量杆6向前移动，当测量杆6与待测件7接触时，千分表4则显示出待测件7的数值，通过千分表4可以更加直观的将数据显示出来，有效的提高装置测量的精确性，在装置中设置两个限位螺栓，通过第一限位螺栓9，可以根据不同零件的高度对芯轴2进行调解，大大提高了装置的实用性，同时利用第二限位螺栓10可以快速的对千分表4进行校准，大大提高测量的准确性，减小误差。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种外锥通用检具，包括推表平板(1)，其特征在于：所述推表平板(1)顶端中部螺纹连接有第一限位螺栓(9)，所述推表平板(1)前端中部固定连接有推表底座(5)，所述推表平板(1)前端中部靠上方位置设置有V型块(3)，所述V型块(3)中部开设有通孔(12)，所述通孔(12)内侧壁设置有芯轴(2)，所述V型块(3)一侧壁开设有限位孔(11)，所述限位孔(11)内侧壁螺纹连接有第二限位螺栓(10)，所述V型块(3)顶端开设有测量孔(13)，所述测量孔(13)底端滑动连接有千分表(4)，所述测量孔(13)底端滑动连接有测量杆(6)。
2.根据权利要求1所述的一种外锥通用检具，其特征在于：所述第一限位螺栓(9)一端贯穿推表平板(1)上端面与芯轴(2)接触。
3.根据权利要求1所述的一种外锥通用检具，其特征在于：所述第二限位螺栓(10)贯穿限位孔(11)与千分表(4)底端接触。
4.根据权利要求1所述的一种外锥通用检具，其特征在于：所述千分表(4)底端活动端贯穿测量孔(13)和芯轴(2)与测量杆(6)固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种外锥通用检具，其特征在于：所述芯轴(2)依次贯穿通孔(12)与推表平板(1)上端面。
6.根据权利要求1所述的一种外锥通用检具，其特征在于：所述V型块(3)下端面与推表底座(5)位于同一水平面。
7.根据权利要求1所述的一种外锥通用检具，其特征在于：所述推表平板(1)底端呈矩形阵列有四个支撑垫(8)。
8.根据权利要求1所述的一种外锥通用检具，其特征在于：所述推表底座(5)侧壁靠上方位置套设有待测件(7)。
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