JPS6258217A - 導波型光・音響スペクトラムアナライザ - Google Patents

導波型光・音響スペクトラムアナライザ

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JPS6258217A
JPS6258217A JP19998585A JP19998585A JPS6258217A JP S6258217 A JPS6258217 A JP S6258217A JP 19998585 A JP19998585 A JP 19998585A JP 19998585 A JP19998585 A JP 19998585A JP S6258217 A JPS6258217 A JP S6258217A
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JP
Japan
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light
polarized light
plane lens
optical waveguide
plane
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JP19998585A
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English (en)
Inventor
Yutaka Nishimoto
裕 西本
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は導波型光・音響(以下AOという)スペクトラ
ムアナライザに関するものである。
〔従来技術とその問題点〕
弾性表面波による光の偏向を利用した導波型AOスペク
トラムアナライザは、信号の周波数分析を瞬時に行なう
ものである。
この導波型AOスペクトラムアナライザとは、誘電体基
板またはSl基板表面に形成された平面光導波路を伝搬
するコリメート光を弾性表面波により、光の波長λ9弾
性表面波の励振周波数f。
伝搬速□度Vg、平面光導波路の屈折率nを用いて次式
で決まるプラグ角θBの2倍の角(2θB)で偏向し、
この偏向光を平面レンズで集光しアレイ状の光検出器で
検出するものである。
θ、 =sin” (fλ/2nv) すなわち、この偏向角の2θ8は弾性表面波の励振周波
数fに比例するため、弾性表面波の励振周波数fの差異
により偏向光の集光位置も異なる。
従って、この偏向光の集光位置の差異をアレイ状の光検
出器で検出することにより、弾性表面波に印加された信
号の周波数成分を分析することができる。
この導波型AOスペクトラムアナライザの重要な性能の
1つとしてダイナミックレンジがあるが、このダイナミ
ックレンジの向上が望まれている。
このような導波型AOスペクトラムアナライザの形態は
、  [ソ11ティ 才1 ホtトーオ1ティカル  
インストtルjント エンジニア−ス(Society
  of  Pboto、−optical  lns
trumeentEngineers;5PIB)、3
21巻(1982年)134〜140ページの文献、お
よび予稿集r7t−ス インターナシjナル コンファ
レンス オン  インデダレッテイヲF  才1ティク
ス アンド 才1ティカルファイバ  コミュニケーシ
ョン(4th  International  Co
nference  on  Integrated 
 0ptics  and  0pticalFibe
r Communication)Jのテクニカル ダ
イジェスト(1983年)258〜259ページの文献
等に掲載されており、これらによれば、平面光導波路に
2個の平面レンズを用いるものが主であった。
第3図はこのAOスペクトラムアナライザの原理を示す
平面図である。誘電体基板表面、またはSl基板表面等
に設けた平面光導波路11に、その端面より光源12か
ら放射された拡がり角を有する光が導波され、拡がり角
を有しながら伝搬する光24を平面レンズ13によりコ
リメート光17に変換する。
このコリメート光17は、弾性表面波発生用電極18か
ら発生する弾性表面波19によって前述の偏向角(2θ
B)で偏向され、次の平面レンズ14により集光されア
レイ状光検出器22で検出される。この時、偏向光20
aの強度は弾性表面波18によるコリメート光17の偏
向効率で決まり、従って弾性表面波19によって偏向さ
れない非偏向光21も残り、非偏向光21も偏向光20
aと同様に平面レンズ14により集光され出射端面まで
到達する。この非偏向光21は導波型AOスペク1〜ラ
ムアナライザにとっては必要のないものである。
なお、光源12は、例えば半導体レーザからなり、平面
光導波路11は基板がニオブ酸リチウムLiNbO3の
場合は、例えばチタン(’r’+)を基板表面に熱拡散
して形成し、基板がSIの場合には、例えば硫化砒素A
5□SSを堆積して形成する。また、平面レンズ13.
14はフレネルレンズ、チャーブグレーティングレンズ
、ジオデシックレンズ等により構成できる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このような従来の導波型AOスペクトラムアナライザの
ダイナミックレンジは、前述した文献等によれば30d
B程度が限度である。このダイナミックレンジを制限す
るものは、平面光導波路11を伝搬する光から生じる散
乱等による損失である。この損失には、主に伝搬損失と
平面レンズ13.14における散乱損失があり、これら
損失をなくすことは困難であるため、アレイ状光検出器
22の検出信号には前記損失によるノイズ信号も検出さ
れてダイナミックレンジが制限される。また、前記偏向
効率を例えば10%とすれば、平面レンズ14で生じる
散乱等による損失の大部分が導波型AOスペクトラムア
ナライザにとっては必要としない非偏向光21より発生
していることになる。
従って、従来の構造の導波型AOスペクトラムアナライ
ザでは、光源12から平面光導波路11に導波された光
の全てが、前記散乱損失を発生しながらアレイ状検出器
22の設置位置まで到達するので、アレイ状検出器22
の検出信号には、偏向光20a及び非偏向光21から発
生する散乱損失を問わず、全ての前記損失によりノイズ
信号も検出されるためダイナミックレンジの向上が困難
である。
本発明の目的は、このような問題点を解決し、導波型A
Oスペクトラムアナライザでは必要とし=6− ない非偏向光を除去し、高いダイナミックレンジを有す
る導波型AOスペクトラムアナライザを提供することに
ある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の導波型光・音響スペクトラムアナライザの構成
は、基板表面に形成された平面光導波路上にそれぞれ設
けられた第1.第2.第3.第4の平面レンズと、弾性
表面波発生電極と、反射鏡とを含む光回路と;前記光導
波路の一端に設けられた光源と;前記光導波路の他端に
設けられたアレイ状光検出器とを備え;前記光源から前
記平面光導波路に入射した光ビームを前記第1の平面レ
ンズで平行光とし、この平行光を前記電極からの表面弾
性波により偏向させ、この偏向光および偏向されない非
偏向光を前記第2の平面レンズで集光してこれら各光を
前記光導波路で空間的に分離し、この分離された偏向光
を前記反射鏡で前記非偏向光と異る方向に反射し、この
反射光あるいは前記分離した偏向光を前記第3の平面レ
ンズで平行光とし、この平行光を前記第4の平面レンズ
で集光し、前記偏向光のシフト量の前記光検出器により
検出して前記表面弾性波の周波数スペクトラムを得るこ
とを特徴とする。
〔実施例〕
次に図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明によるAOスペクトラムアナライザの第
1の実施例の平面図である。
基板表面に設けた平面光導波路11に、その端面より光
源12から放射された拡がり角を有する光24が導波さ
れ、平面レンズ13によりコリメート光17に変換され
る。この平面光導波路11は、基板がLiNb○、の場
合には、例えばTIを基板表面に熱拡散して形成され、
基板がS、の場合には、例えばAS2S3を基板表面に
堆積して形成される。また、平面レンズ13,14.1
5はフレネルレンズ、ジオデシックレンズ、チャープグ
レーティングレンズ等から構成できる。
コリメート光17は、弾性表面波発生用電極18より発
生する弾性表面波19により偏向され、偏向光20aが
生ずると共に偏向されない非偏向光21も残る。この非
偏向光21は導波型AOスペクトラムアナライザにとっ
ては必要のないものであり、前述のように非偏向光21
から発生する損失により導波型AOスペクトラムアナラ
イザのダイナミックレンジが制限される。
これら偏向光20aと非偏向光21は、平面レンズ14
によりそれぞれ集光され、平面光導波路11において空
間的に分離される。この時点で、偏向光20aのみを反
射鏡23により反射させ、その後偏向光20bは平面レ
ンズ15によりコリメート光に変換され、平面レンズ1
6により集光され、アレイ状光検出器22で検出される
。従って、拡がり角を有する光24の伝搬損失と平面レ
ンズ13で発生する散乱損失および非偏向光21の伝搬
損失と平面レンズ14で発生する散乱損失、および偏向
光20aの反射鏡23までの伝搬損失と平面レンズ14
で発生する散乱損失はアレイ状検出器22がコリメート
光21の光軸に面していないためほとんどアレイ状検出
器22で検出されない。また、平面レンズ15.16で
発生する散乱損失は偏向光のみから生じるため、アレイ
状検出器22上でのノイズ信号が従来構造に比べ大幅に
減少する。例えば、偏向効率を10%とすれば、ノイズ
信号は10分の1に減少する。従って、アレイ状検出器
22で検出するノイズ信号は従来構造に比べ大幅に減少
し、ダイナミックレンジが向上する。
ここで反射鏡23には、例えば基板表面に形成された平
面光導波路11にイオンビームエツチング、反応性イオ
ンビームエツチング、または溶液中における化学反応エ
ツチング等により溝を形成し、平面光導波路11の屈折
率と空気の屈折率の差を利用した光の全反射を用いたも
のや、溝の側面のうち平面光導波路11が面している側
面にA!のような光を反射する薄膜を蒸着等により形成
するものを用いることができる。
第2図は本発明による導波型AOスペクトラムアナライ
ザの第2の実施例の平面図である。平面光導波路11に
、その端面より光源12がら放射された拡がり角を有す
る光を導波し、拡がり角を有する光24は平面レンズ1
3によりコリメート光17に変換される。このコリメー
ト光17は弾性表面波発生電極18から発生する弾性表
面波19により偏向され、偏向光20aを生じると共に
、偏向されない非偏向光21も残る。この非偏向光21
は導波型AOスペクトラムアナライザにとっては不必要
でダイナミックレンジを劣化させるノイズ信号の発生源
となる。
偏向光20aと非偏向光21とは平面レンズ14により
それぞれ集光され、平面光導波路11において空間的に
分離される。この時点で非偏向光21のみを吸収領域ま
たは反射鏡31に入射させ、吸収または反射させる。偏
向光20bは平面レンズ15によりコリメート光32に
変換され後、反射鏡23により反射させ伝搬光軸を変化
され、平面レンズ16により集光されアレイ状検出器2
2で検出される。
反射鏡23のシリメート光17の光軸方向に対する面の
長さは、第1の実施例では、光ビームの集光スポットサ
イズと集光スポットの弾性表面波の周波数変化による移
動距離分を包含する長さに対して、コリメート光32の
ビーム幅とこのコリメート光32の弾性表面波の周波数
変化による移動距離分を包含する長さが必要であるため
、第一の実施例に比べ面の大きさは長くなり、第1の実
施例に比べてノイズ信号を除去する効果は劣るが、第1
の実施例と同様にアレイ状検出器22がコリメート光1
7の光軸に面していないため第1の実施例と同様な効果
が得られ、ノイズ信号は従来構造に比べ減少し、ダイナ
ミックレンジが向上する。
ここで非偏向光21の吸収領域または反射鏡31として
は、反射鏡は第1実施例の反射鏡23と同様のものでよ
く、吸収領域としては、例えば溝に光の吸収材を堆積す
ることにより形成されるものを用いればよい。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したように、導波型AOスペクトラ
ムアナライザの検出信号である偏向光の光軸を平面光導
波路上に形成した反射鏡により変化させることにより、
アレイ状検出器に到達するノイズ信号を低減し、高いダ
イナミックレンジを有する導波型AOスペクトラムアナ
ライザを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の第1および第2の実施例の平
面図、第3図は従来の導波型AOスペクトラムアナライ
ザの一例の平面図である。 11・・・平面光導波路、12・・・光源、13.14
゜15.16・・・平面レンズ、17.32・・・コリ
メート光、18・・・弾性表面波発生電極、19・・・
弾性表面波、20a、20b・・・偏向光、21・・・
非偏向光、22・・・アレイ状検出器、23・・・反射
鏡、24・・・拡り角のある光、31・・・吸収領域ま
たは反射鏡。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板表面に形成された平面光導波路上にそれぞれ設けら
    れた第1、第2、第3、第4の平面レンズと、弾性表面
    波発生電極と、反射鏡とを含む光回路と;前記光導波路
    の一端に設けられた光源と;前記光導波路の他端に設け
    られたアレイ状光検出器とを備え;前記光源から前記平
    面光導波路に入射した光ビームを前記第1の平面レンズ
    で平行光とし、この平行光を前記電極からの表面弾性波
    により偏向させ、この偏向光および偏向されない非偏向
    光を前記第2の平面レンズで集光してこれら各光を前記
    光導波路で空間的に分離し、この分離された偏向光を前
    記反射鏡で前記非偏向光と異る方向に反射し、この反射
    光あるいは前記分離した偏向光を前記第3の平面レンズ
    で平行光とし、この平行光を前記第4の平面レンズで集
    光し、前記偏向光のシフト量を前記光検出器により検出
    して前記表面弾性波の周波数スペクトラムを得ることを
    特徴とする導波型光・音響スペクトラムアナライザ。
JP19998585A 1985-09-09 1985-09-09 導波型光・音響スペクトラムアナライザ Pending JPS6258217A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6064225A (ja) * 1983-09-20 1985-04-12 Nec Corp 音響光学スペクトラム・アナライザ

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6064225A (ja) * 1983-09-20 1985-04-12 Nec Corp 音響光学スペクトラム・アナライザ

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