JPS62195566A - 導波型光音響スペクトラムアナライザ - Google Patents
導波型光音響スペクトラムアナライザInfo
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- JPS62195566A JPS62195566A JP3761486A JP3761486A JPS62195566A JP S62195566 A JPS62195566 A JP S62195566A JP 3761486 A JP3761486 A JP 3761486A JP 3761486 A JP3761486 A JP 3761486A JP S62195566 A JPS62195566 A JP S62195566A
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- waveguide
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- acoustic wave
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、導波型光音響(AO)スペクトラムアナライ
ザ(以下、導波型AOスペクトラムアナライザと略称す
る)に関する。
ザ(以下、導波型AOスペクトラムアナライザと略称す
る)に関する。
(従来の技術)
弾性表面波による光の回折を利用した導波型AOスペク
トラムアナライザは、信号の周波数分析を瞬時に行う装
置である。
トラムアナライザは、信号の周波数分析を瞬時に行う装
置である。
導波型AOスペクトラムアナライザとは、誘電体基板ま
たは81基板表面に形成された薄膜光導波路の端面より
入射した拡がり角を有する光を平面レンズによりコリメ
ート光に変換し、このコリメート光を弾性表面波により
光の波長(λ0)、弾性表面波の励振層a数(f)及び
伝搬速度(Vs)と平面光導波路の屈折率(n)で央ま
るプラグ角θB(θ1t=fλo / 2n VS )
の2倍の角度(2θ!1)で偏向し、この偏向光を
平面レンズで集光しアレイ状の光検出器で検出するもの
である。
たは81基板表面に形成された薄膜光導波路の端面より
入射した拡がり角を有する光を平面レンズによりコリメ
ート光に変換し、このコリメート光を弾性表面波により
光の波長(λ0)、弾性表面波の励振層a数(f)及び
伝搬速度(Vs)と平面光導波路の屈折率(n)で央ま
るプラグ角θB(θ1t=fλo / 2n VS )
の2倍の角度(2θ!1)で偏向し、この偏向光を
平面レンズで集光しアレイ状の光検出器で検出するもの
である。
すなわち、前述した如く偏向角(2θ!l)は弾性表面
波の励振周波数(f)に比例するから、弾性表面波の励
振周波数(f)の差異により偏向光の集光位置も異なる
。従って、この偏向光の集光位置の差異をアレイ状の光
検出器で検出することにより弾性表百波に印加された信
号の周波数成分を分析することができる。
波の励振周波数(f)に比例するから、弾性表面波の励
振周波数(f)の差異により偏向光の集光位置も異なる
。従って、この偏向光の集光位置の差異をアレイ状の光
検出器で検出することにより弾性表百波に印加された信
号の周波数成分を分析することができる。
この導波型AOスペクトラムアナライザの直装な性能の
1つとしてダイナミックレンジがあり、現在その向上が
1まれている。
1つとしてダイナミックレンジがあり、現在その向上が
1まれている。
現在、導波型AOスペクトラムアナライザの形態は、ソ
サエティ オプ ホオトーオプテイカルインストウルメ
ント エンジニアース(spxg)321巻1982年
134〜140 ページの文献、及び、フォース イン
ターナショナル コンファレンス オン インテグレツ
テイツド オプティカル アンド オプティカル ファ
イバ コミュニケーションのテクニカル ダイジエス)
1983年258〜259ページの文献等に掲載さ
れており、これによれば、平面光導波路に2個の平面レ
ンズを用いるものが王である。
サエティ オプ ホオトーオプテイカルインストウルメ
ント エンジニアース(spxg)321巻1982年
134〜140 ページの文献、及び、フォース イン
ターナショナル コンファレンス オン インテグレツ
テイツド オプティカル アンド オプティカル ファ
イバ コミュニケーションのテクニカル ダイジエス)
1983年258〜259ページの文献等に掲載さ
れており、これによれば、平面光導波路に2個の平面レ
ンズを用いるものが王である。
第4図が、その原理を示す平面図である。
基板表面に設けた平面光導波路51に、その端面より光
源52かも放射された、拡がり角を有する光が導波され
、拡がり角を有しながら伝搬する光56t一平面レンズ
53によりコリメート光60に変換する。
源52かも放射された、拡がり角を有する光が導波され
、拡がり角を有しながら伝搬する光56t一平面レンズ
53によりコリメート光60に変換する。
コリメート光60は、弾性表面波発生用覗嘱62より発
生する弾性表面波64により前述した偏向角(20B)
でI向され、平面レンズ54により集光されたアレイ状
光漬出器63で検出される。この時、偏向光58の強度
は弾性表面波64によるコリメート光60の1扁向効率
で決まり、従って、弾性表面波64によって+4向され
ない非偏向光59も残り、非偏向光59も偏向光58と
同様に平面レンズ54により集光され出射端面まで到達
する。この非偏向光59は導波型AOスペクトラムアナ
ライザにとっては必要のないものである。
生する弾性表面波64により前述した偏向角(20B)
でI向され、平面レンズ54により集光されたアレイ状
光漬出器63で検出される。この時、偏向光58の強度
は弾性表面波64によるコリメート光60の1扁向効率
で決まり、従って、弾性表面波64によって+4向され
ない非偏向光59も残り、非偏向光59も偏向光58と
同様に平面レンズ54により集光され出射端面まで到達
する。この非偏向光59は導波型AOスペクトラムアナ
ライザにとっては必要のないものである。
光源52は例えば半導体レーザからなり、平面光導波路
51は基板がニオブ酸リチウム(LINbo、 )の
場合は、例えばチタン(T1)を基板表面に熱拡散して
形成し、基板が81の場合には、例えば硫化砒素(As
tsm)を堆積して形成する。
51は基板がニオブ酸リチウム(LINbo、 )の
場合は、例えばチタン(T1)を基板表面に熱拡散して
形成し、基板が81の場合には、例えば硫化砒素(As
tsm)を堆積して形成する。
また平面レンズ53.54はフレネルレンズ、ジオデシ
ックレンズ等からなる。
ックレンズ等からなる。
(発明が解決しようとする問題点)
第4図に示した導波型AOスペクトラムアナライザのダ
イナミックレンジは、前述した文献等によれば30dB
4度が限度である。このダイナミックレンジを制限する
ものは、平面光導波路51を伝搬する光から生じる散乱
等【よる損失である。
イナミックレンジは、前述した文献等によれば30dB
4度が限度である。このダイナミックレンジを制限する
ものは、平面光導波路51を伝搬する光から生じる散乱
等【よる損失である。
この損失には主に伝搬損失と平面レンズ53154部に
おける散乱損失があり、これら損失をなくすことは困唯
であり、アレイ状光検出′rjr63の検出信号には前
記損失によるノイズ信号も検出されるから、ダイナミッ
クレンジが制限される。また前記偏向効率を例えば10
チとすれば、平面レンズ54で生じる散乱等による損失
の大部分は、導波型AOスペクトラムアナライザにとっ
ては必要としない非偏向光59より発生していることに
なる。
おける散乱損失があり、これら損失をなくすことは困唯
であり、アレイ状光検出′rjr63の検出信号には前
記損失によるノイズ信号も検出されるから、ダイナミッ
クレンジが制限される。また前記偏向効率を例えば10
チとすれば、平面レンズ54で生じる散乱等による損失
の大部分は、導波型AOスペクトラムアナライザにとっ
ては必要としない非偏向光59より発生していることに
なる。
このように第4図に示した構造の導波型AOスペクト2
ムアナライザでは、光源52より平面光導波路51に導
波された光のすべてが、前記散乱損失を発生しなからア
レイ状検出器63の設置位置まで到達し、アレイ状検出
器63の検出信号には、偏向光5B及び非偏向光59か
ら発生する眞記散乱損失を問わず、すべての前記損失に
よるノイズ信号も検出されるからダイナミックレンジの
向上は内錐である。
ムアナライザでは、光源52より平面光導波路51に導
波された光のすべてが、前記散乱損失を発生しなからア
レイ状検出器63の設置位置まで到達し、アレイ状検出
器63の検出信号には、偏向光5B及び非偏向光59か
ら発生する眞記散乱損失を問わず、すべての前記損失に
よるノイズ信号も検出されるからダイナミックレンジの
向上は内錐である。
そこで、本発明の目的は、ダイナミックレンジが広い導
波型AOスペクトラムアナライザの提供にある。
波型AOスペクトラムアナライザの提供にある。
(問題点を解決するための手段)
前述の問題点を解決するために本発明が提供する手段は
、基板の表面に形成された平面光導波路を伝搬する光ビ
ームを弾性表面波により偏向させ、偏向光を平1fiレ
ンズで集束して光検出器により検出する導波型光音響ス
ペクトラムアナライザであって、前記基板表面Ki貿っ
て光源の光を導き前記平面光導波路にその光を前記光ビ
ームとして出射する三次元光導波路と、前記弾性表面波
により偏向されないで前記平面レンズを通過しない非偏
向光を吸収または反射させる領域とが設けてあり、前記
三次元光導波路は前記基板の表面に、また前記領域は前
記平面光導波路にそれぞれ形成してあることを特徴とす
る。
、基板の表面に形成された平面光導波路を伝搬する光ビ
ームを弾性表面波により偏向させ、偏向光を平1fiレ
ンズで集束して光検出器により検出する導波型光音響ス
ペクトラムアナライザであって、前記基板表面Ki貿っ
て光源の光を導き前記平面光導波路にその光を前記光ビ
ームとして出射する三次元光導波路と、前記弾性表面波
により偏向されないで前記平面レンズを通過しない非偏
向光を吸収または反射させる領域とが設けてあり、前記
三次元光導波路は前記基板の表面に、また前記領域は前
記平面光導波路にそれぞれ形成してあることを特徴とす
る。
(実施例)
欠に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明による導波型光音響(AO)スペクト
ラムアナライザの一実施例の構成を示す漢式的な平面図
である。
ラムアナライザの一実施例の構成を示す漢式的な平面図
である。
この実施例では、基板表面に設けた三次元光導波路11
に光源12より放射された光が導波され三次元光導波路
11を伝搬し、さらにその光は三次元導波路11に接続
した平面光導波路13を伝搬する。平面光導波路13を
伝搬する光23は光源の波長(λ。p)と三次元光導波
路11を伝搬中の光のビーム幅2ω。及び光導波路13
の屈折率nでほぼ決まる回路角θd(θd=λop/n
πω。)を有しながら伝搬するが、回折角θdが小さい
領域では、平面光導波路13を伝搬する光23はほぼコ
リメート光とみなせる。三次元光導波路11及び平面光
導波路13は、基板がLi Nt) O、の場合はT1
を基板表面に熱拡散して形成し、基板が81の場合には
、例えばAs1S1を堆積して形成する。
に光源12より放射された光が導波され三次元光導波路
11を伝搬し、さらにその光は三次元導波路11に接続
した平面光導波路13を伝搬する。平面光導波路13を
伝搬する光23は光源の波長(λ。p)と三次元光導波
路11を伝搬中の光のビーム幅2ω。及び光導波路13
の屈折率nでほぼ決まる回路角θd(θd=λop/n
πω。)を有しながら伝搬するが、回折角θdが小さい
領域では、平面光導波路13を伝搬する光23はほぼコ
リメート光とみなせる。三次元光導波路11及び平面光
導波路13は、基板がLi Nt) O、の場合はT1
を基板表面に熱拡散して形成し、基板が81の場合には
、例えばAs1S1を堆積して形成する。
光23は、弾性波発生用電櫃18より発生する弾性表面
波19により偏向され、偏向光1Gと非偏向光17とに
分かれる。この非偏向光17は導波型AOスペクトラム
アナライザにとっては不要なものである。偏向光16と
非偏向光17とは、光の波長λ。、弾性表面波19の励
振周波数f及び伝搬速度vs、平面光導波路13の屈折
率nで決まるプラグ角θb(θB = 5in−’ (
1゜f/2n’/s)) の2倍の角2θ3 をなし
て伝搬するから、偏向光16と非偏向光17は平面光導
波路13内で空間的に分離される。この後非偏向光17
は反射材または吸収材21により平面光導波路13より
除去され、偏向光16のみが平面レンズL4により集光
され、信号光検出端面22に到達し、アレイ状検出52
0により検出される。その平面レンズ14は、7レネル
レンズ、チャープグレーティングレンズ等からなる。ま
た、非偏向光17の反射材または吸収材には、例えば平
面光導波路13に反応性イオンエツチングまたはイオン
ビームエツチング等により溝を掘り、非偏向光17が入
射する面にAI等を蒸着することKより反射材を形成す
るか、溝に光の波長に対応した吸収材を埋め込むことに
より形成される。
波19により偏向され、偏向光1Gと非偏向光17とに
分かれる。この非偏向光17は導波型AOスペクトラム
アナライザにとっては不要なものである。偏向光16と
非偏向光17とは、光の波長λ。、弾性表面波19の励
振周波数f及び伝搬速度vs、平面光導波路13の屈折
率nで決まるプラグ角θb(θB = 5in−’ (
1゜f/2n’/s)) の2倍の角2θ3 をなし
て伝搬するから、偏向光16と非偏向光17は平面光導
波路13内で空間的に分離される。この後非偏向光17
は反射材または吸収材21により平面光導波路13より
除去され、偏向光16のみが平面レンズL4により集光
され、信号光検出端面22に到達し、アレイ状検出52
0により検出される。その平面レンズ14は、7レネル
レンズ、チャープグレーティングレンズ等からなる。ま
た、非偏向光17の反射材または吸収材には、例えば平
面光導波路13に反応性イオンエツチングまたはイオン
ビームエツチング等により溝を掘り、非偏向光17が入
射する面にAI等を蒸着することKより反射材を形成す
るか、溝に光の波長に対応した吸収材を埋め込むことに
より形成される。
第1図に示す構造では、平面レンズが1つであるから、
第4図の従来構造に比べて平面レンズで発生する散乱損
失が減少する。また、非偏向光17による平面レンズ1
4で発生する散乱損失及び平面レンズ14かも信号光検
出端面22までに発生する伝搬損失がなくなるから、ア
レイ状検出器20で検出するノイズ信号は従来構造に比
べ大幅に減少し、ダイナミックレンジが向上する。例え
ば、従来構造における2個の平面レンズの散乱損失を同
一とし、偏向効率を10%とすれば、損失は従来構造に
比べ20分の1程度になる。
第4図の従来構造に比べて平面レンズで発生する散乱損
失が減少する。また、非偏向光17による平面レンズ1
4で発生する散乱損失及び平面レンズ14かも信号光検
出端面22までに発生する伝搬損失がなくなるから、ア
レイ状検出器20で検出するノイズ信号は従来構造に比
べ大幅に減少し、ダイナミックレンジが向上する。例え
ば、従来構造における2個の平面レンズの散乱損失を同
一とし、偏向効率を10%とすれば、損失は従来構造に
比べ20分の1程度になる。
ここで、光源12を波長0.89μmの半導体レーザと
して三次元光導波路11と平面光導波路13を熱拡散し
て形成したものとする。
して三次元光導波路11と平面光導波路13を熱拡散し
て形成したものとする。
第2図は、三次元光導波路11での光ビーム幅2ω。と
平面光導波路13での光ビーム幅2ωの三次元光導波路
itから弾性表面波19で偏向されるまでの距離lに対
する関係である。弾性表面波19のビーム幅は数百μm
で用いるから、光ビーム幅2ω。が20μm程度以上で
あれば、弾性表面波19に偏向される光23はほぼコリ
メート光とみなすことができる。
平面光導波路13での光ビーム幅2ωの三次元光導波路
itから弾性表面波19で偏向されるまでの距離lに対
する関係である。弾性表面波19のビーム幅は数百μm
で用いるから、光ビーム幅2ω。が20μm程度以上で
あれば、弾性表面波19に偏向される光23はほぼコリ
メート光とみなすことができる。
第3図は、三次元光導波路11での光ビーム幅2ω。を
有する光ビームの平面光導波路13における回折角θd
を示している。ここで、弾性表面波19の励振周波数を
500 MHzとすればプラグ角は約1.3度であるか
ら、第3図より弾性表面波19の励振周波数を500
MHz以上にすれば、光ビーム幅2ω。が2μ口程度以
上あれば、偏向光16と非偏向光17とを空間的に平面
光導波路13内で充分分離可能であり、従来型に比ベダ
イナミックレンジを向上させる導波型AOスペクトラム
アナライザを実現できる。
有する光ビームの平面光導波路13における回折角θd
を示している。ここで、弾性表面波19の励振周波数を
500 MHzとすればプラグ角は約1.3度であるか
ら、第3図より弾性表面波19の励振周波数を500
MHz以上にすれば、光ビーム幅2ω。が2μ口程度以
上あれば、偏向光16と非偏向光17とを空間的に平面
光導波路13内で充分分離可能であり、従来型に比ベダ
イナミックレンジを向上させる導波型AOスペクトラム
アナライザを実現できる。
(発明の効果)
本発明の導波型AOスペクトラムアナライザでは、以上
に説明したように、弾性表面波によって偏向されない非
偏向光と信号成分である偏向光とを平面光導波路内で空
間的に分離し、非偏向光を平面光導波路から除去するか
ら、ダイナミックレンジが広く、シかも平面レンズが1
個で足りる。
に説明したように、弾性表面波によって偏向されない非
偏向光と信号成分である偏向光とを平面光導波路内で空
間的に分離し、非偏向光を平面光導波路から除去するか
ら、ダイナミックレンジが広く、シかも平面レンズが1
個で足りる。
このように、本発明によれば、ダイナミックレンジが広
く、シかも構成が簡単に導波型AOスペクトラムアナラ
イザが提供できる。
く、シかも構成が簡単に導波型AOスペクトラムアナラ
イザが提供できる。
第1図は本発明の一実施例の構成を示す模式的な平面図
、′s2図及び第3図は第1図実施例の特性図、第4図
は従来の導波型AOスペクトラムアナライザの構成を示
す模式的な平面図である。 11・・・三次元光導波路、13951・・・平面光導
波路、12t52・・・光源、14,53,54・・・
平面レンズ、16.58・・・偏向光、1L59・・・
非偏向光、19.64・・・弾性表面波、20,63・
・・アレイ状検出器、21・・・反射材または吸収材、
22・・・信号光検出端面、23・・・平面光導波路を
伝搬する光、56・・・拡がり角を有する光。 代理人 弁理士 本 庄 伸 介 21・・・反射材ぢ険はC床収梱゛ 14−・平面レンズ 11−・二人むし導戚蛤 16・−、#1句L +7.、−昨偵iルL 第1図 第2図 so +o。 (1)o(um) 第3図 53.54−−・−f−面レンズ゛ 58−偏向光7 59・−一虐1イ匈−61L
、′s2図及び第3図は第1図実施例の特性図、第4図
は従来の導波型AOスペクトラムアナライザの構成を示
す模式的な平面図である。 11・・・三次元光導波路、13951・・・平面光導
波路、12t52・・・光源、14,53,54・・・
平面レンズ、16.58・・・偏向光、1L59・・・
非偏向光、19.64・・・弾性表面波、20,63・
・・アレイ状検出器、21・・・反射材または吸収材、
22・・・信号光検出端面、23・・・平面光導波路を
伝搬する光、56・・・拡がり角を有する光。 代理人 弁理士 本 庄 伸 介 21・・・反射材ぢ険はC床収梱゛ 14−・平面レンズ 11−・二人むし導戚蛤 16・−、#1句L +7.、−昨偵iルL 第1図 第2図 so +o。 (1)o(um) 第3図 53.54−−・−f−面レンズ゛ 58−偏向光7 59・−一虐1イ匈−61L
Claims (1)
- 基板の表面に形成された平面光導波路を伝搬する光ビー
ムを弾性表面波により偏向させ、偏向光を平面レンズで
集束して光検出器により検出する導波型光音響スペクト
ラムアナライザにおいて、前記基板表面に沿つて光源の
光を導き前記平面光導波路にその光を前記光ビームとし
て出射する三次元光導波路と、前記弾性表面波により偏
向されないで前記平面レンズを通過しない非偏向光を吸
収または反射させる領域とが設けてあり、前記三次元光
導波路は前記基板の表面に、また前記領域は前記平面光
導波路にそれぞれ形成してあることを特徴とする導波型
光音響スペクトラムアナライザ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3761486A JPS62195566A (ja) | 1986-02-22 | 1986-02-22 | 導波型光音響スペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3761486A JPS62195566A (ja) | 1986-02-22 | 1986-02-22 | 導波型光音響スペクトラムアナライザ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62195566A true JPS62195566A (ja) | 1987-08-28 |
Family
ID=12502492
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3761486A Pending JPS62195566A (ja) | 1986-02-22 | 1986-02-22 | 導波型光音響スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62195566A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5580062A (en) * | 1978-12-12 | 1980-06-16 | Ricoh Co Ltd | Frequency analysis |
-
1986
- 1986-02-22 JP JP3761486A patent/JPS62195566A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5580062A (en) * | 1978-12-12 | 1980-06-16 | Ricoh Co Ltd | Frequency analysis |
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