JPS6256898A - 中性子束較正装置 - Google Patents
中性子束較正装置Info
- Publication number
- JPS6256898A JPS6256898A JP60195921A JP19592185A JPS6256898A JP S6256898 A JPS6256898 A JP S6256898A JP 60195921 A JP60195921 A JP 60195921A JP 19592185 A JP19592185 A JP 19592185A JP S6256898 A JPS6256898 A JP S6256898A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- neutron flux
- lprm
- value
- calibration
- gain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は中性子計装較正装置に係り、特に原子炉炉心外
にあって、中性子束の照射を長時間に渡って受けない検
出器の計測値と、常に炉心内にあって、長時間中性子束
の照射を受ける検出器の計測値との比較により、ゲイン
調整量を計算することを特徴とする中性子計装較正装置
に関する。
にあって、中性子束の照射を長時間に渡って受けない検
出器の計測値と、常に炉心内にあって、長時間中性子束
の照射を受ける検出器の計測値との比較により、ゲイン
調整量を計算することを特徴とする中性子計装較正装置
に関する。
局所中性子束検出器（以下ＬＰＲＭと略す）は、中性子
束の照射により第１図に示した様な感度劣化を生じる。
束の照射により第１図に示した様な感度劣化を生じる。
係る劣化を補正するため、Ｔ、、 Ｐ ＲＭ照射量の増
分値が規定値に達し、た時に、較正する必要がある。
分値が規定値に達し、た時に、較正する必要がある。
ＬＰＲＭのゲイン調整は第２図に示す如く、モードスイ
ッチ３を検出器１より試験電流源２に切換えた後、試験
電流値を入力し、該入力電流値に依って指示すべき読み
に指示計５がなるよう増幅器４のゲインを調整すること
によって行う。
ッチ３を検出器１より試験電流源２に切換えた後、試験
電流値を入力し、該入力電流値に依って指示すべき読み
に指示計５がなるよう増幅器４のゲインを調整すること
によって行う。
従来のＬＰＲＭ較正手順は次に示す二方法のいずれかで
行っている。
行っている。
第１の方法を次に示す。
（１） Ｌ Ｐ ＲＭ較正を行った時の、走行型中性子
束検出器（以下ＴＩＰと略す）の計測値による軸方向中
性子束分布をもとにして計算されるゲイン調整係数に第
１図に示される様なＬ Ｐ ＲＭ照射に対するＬＰＲＭ
感度劣化の度合を考慮して、現時点のゲイン、１ｉ重量
を求める。
束検出器（以下ＴＩＰと略す）の計測値による軸方向中
性子束分布をもとにして計算されるゲイン調整係数に第
１図に示される様なＬ Ｐ ＲＭ照射に対するＬＰＲＭ
感度劣化の度合を考慮して、現時点のゲイン、１ｉ重量
を求める。
（２）上記（１）により求められたゲイン、１１整量に
より、ＬＰＲＭの増幅器のゲインを調整する。
より、ＬＰＲＭの増幅器のゲインを調整する。
（３）ＴＩＰにより全ＬＰＲＭの走査を行い、各ＬＰＲ
Ｍ位置でのＴＩＰの計測値により、各ＬＰＲＭの較正定
数を決定する。
Ｍ位置でのＴＩＰの計測値により、各ＬＰＲＭの較正定
数を決定する。
（４）次回のＬＰＲＭ較正までのＬＰＲＭ感度劣化の基
準となるゲイン調整係数を計算する。
準となるゲイン調整係数を計算する。
この様な方法の欠点は、第１図に於ける感度劣化の評価
精度が良くない点にある。つまり、第１図の曲線は、必
ずしも感度劣化の履歴を示さない点にある。
精度が良くない点にある。つまり、第１図の曲線は、必
ずしも感度劣化の履歴を示さない点にある。
第２の方法を次に示す。
（１）先ず、ＴＩＰによる全ＬＰＲＭの走査を行い、各
ＬＰＲＭ位置でのＴＩＰの計測値を求める。
ＬＰＲＭ位置でのＴＩＰの計測値を求める。
（２）ＴＩＰの計測値より、各ＬＰＲＭ位置でのＬＰＲ
Ｍの理論的指示値をモデル計算により求め、この理論値
よりゲイン調整係数を計算する。
Ｍの理論的指示値をモデル計算により求め、この理論値
よりゲイン調整係数を計算する。
（３） （２）で求められたゲイン調整係数に合うよう
にＬＰＲＭのゲインが調整されるものと仮定し、試験電
流値、較正データを計算する。
にＬＰＲＭのゲインが調整されるものと仮定し、試験電
流値、較正データを計算する。
（４） （３）で求めた試験電流値と（２）で求めたＬ
ＰＲＭの理論値より、ＬＰＲＭの増幅器のゲインを調整
する。
ＰＲＭの理論値より、ＬＰＲＭの増幅器のゲインを調整
する。
この様な方法の欠点は、ＬＰＲＭの理論値の計算に膨大
な計算量を用し、計算実行に電子計算機を必要とし、ま
た、理論値計算のもととなっている中性子束分布計算に
モデル誤差が含まれ、このモデル誤差がプラントの運転
サイクルごとに変化するという点にある。
な計算量を用し、計算実行に電子計算機を必要とし、ま
た、理論値計算のもととなっている中性子束分布計算に
モデル誤差が含まれ、このモデル誤差がプラントの運転
サイクルごとに変化するという点にある。
ＬＰＲＭの較正装置の例として、出願番号５１−１３６
３２５、モデル計算の例として、出願番号５５−４３０
３３がある。
３２５、モデル計算の例として、出願番号５５−４３０
３３がある。
本発明の目的は、上記した様な従来技術の欠点をなくし
、精度のよいＬＰＲＭ較正結果を計測値に基づき、コン
パクトな装置で提供することにある。
、精度のよいＬＰＲＭ較正結果を計測値に基づき、コン
パクトな装置で提供することにある。
本発明の要点は、ＴＩＰ計測値静ＬＰＲＭの理論値と考
え、較正したいＬＰＲＭの計測値との比較により、ゲイ
ン調整係数と、試験電流値と、較正定数を計算する点に
ある。
え、較正したいＬＰＲＭの計測値との比較により、ゲイ
ン調整係数と、試験電流値と、較正定数を計算する点に
ある。
以下、本発明の一実施例を第３図により説明する。本実
施例では、中性子束較正装置３０は、ＴＩＰ計測値記憶
装置１６．ＬＰＲＭ］ｉｌ！！Ｉ値記憶装置１７．演算
装置１８．及びゲインａ重量記憶装置１９から構成され
ている。ＴＩＰ計測値記憶装置１６はＴＩＰが炉内を移
動し、中性子束を走査した値を記憶する。ＬＰＲＭ計測
値記憶装置１７はＴＩＰがＬＰＲＭ位置に達した時のＬ
ＰＲＭ計測値を記憶する。演算装置１８は平均中性子束
検出器２１の計測値とＴＩＰ計測記憶装置１６゜ＬＰＲ
Ｍ計測値記憶装置１７．ゲイン７Ａ整量記憶装置１９の
記憶のデータにより、新しいゲイン調整量を計算する。
施例では、中性子束較正装置３０は、ＴＩＰ計測値記憶
装置１６．ＬＰＲＭ］ｉｌ！！Ｉ値記憶装置１７．演算
装置１８．及びゲインａ重量記憶装置１９から構成され
ている。ＴＩＰ計測値記憶装置１６はＴＩＰが炉内を移
動し、中性子束を走査した値を記憶する。ＬＰＲＭ計測
値記憶装置１７はＴＩＰがＬＰＲＭ位置に達した時のＬ
ＰＲＭ計測値を記憶する。演算装置１８は平均中性子束
検出器２１の計測値とＴＩＰ計測記憶装置１６゜ＬＰＲ
Ｍ計測値記憶装置１７．ゲイン７Ａ整量記憶装置１９の
記憶のデータにより、新しいゲイン調整量を計算する。
計算した新しいゲイン調整量はゲイン調整量記憶装置１
９に次回の較正のために記憶する。計算するゲイン調整
量としては、試験電流値、ゲイン調整係数、較正定数が
ある。以下に演算アルゴリズム例を示す。
９に次回の較正のために記憶する。計算するゲイン調整
量としては、試験電流値、ゲイン調整係数、較正定数が
ある。以下に演算アルゴリズム例を示す。
Ｇｚ ＝ ＲｚＮ／ Ｒｚ ・＝
（１）Ｉｚ＝Ｉｚ”Ｇｚ ・＝
（２）。ｚ＝ｃｚｏ、Ｇｚ −（
３）ＲｚＮ＝ＱＣ−ＴＰｉｘ／ＴＰＡＶ”ＡＭｉ −
（４）但し ４ΣＴ Ｐ Ａ ｒ ＴＰＡＬ＝□φＴ Ｐ ＬＸ ｄ Ｚ ・・・（
６）＝Ｌ （ｉ＝１） Ｑ Ｃ＝ＡｖＦＲＰ−ＲＡＴＣＴＰ・（１，０−ＰＲＭ
ＴＡ）−１０”／ＡＣ・・・（８） なお、 Ｇｚ ニゲインＷｊ４ｖ１１係数 ■Ｚ ：試験電流 ＣＺ ：較正定数 Ｒｚ”：ＬＰＲＭの新しい規準値 Ｒｚ：ＬＰＲＭの計測値 Ｉｚｏ：旧い試験電流値 ＣＺＯ：旧い較正定数 ＴＰＡ＋ｚ：チェンバｉのＺ軸方向のＴＩＰ計測値 Ｔ Ｐ Ａ ｉ ：チェンバｉの規格化したＴＩＰ計
測値 ＡＭＩ ：チェンバｉのＴＩＰ規格化係数ＲＡＴＣＴ
Ｐ ：定格炉心熱出力 ＰＲＭＴＡ ：核分裂以外によって発生する熱の割合 ＡＣ：伝熱面積 ＡＶＦＲＰ ：平均中性子束検出器２１の計測値ＮＢＵ
Ｎ ：燃料集合体本数 （１）〜（８）式により計算した試験電流値を試験電流
源２に与え、増幅器４のゲインを調整することによって
、指示計５が（４）式で求めた値になることを確認すれ
ば、ＬＰＲＭの較正が完了する。
（１）Ｉｚ＝Ｉｚ”Ｇｚ ・＝
（２）。ｚ＝ｃｚｏ、Ｇｚ −（
３）ＲｚＮ＝ＱＣ−ＴＰｉｘ／ＴＰＡＶ”ＡＭｉ −
（４）但し ４ΣＴ Ｐ Ａ ｒ ＴＰＡＬ＝□φＴ Ｐ ＬＸ ｄ Ｚ ・・・（
６）＝Ｌ （ｉ＝１） Ｑ Ｃ＝ＡｖＦＲＰ−ＲＡＴＣＴＰ・（１，０−ＰＲＭ
ＴＡ）−１０”／ＡＣ・・・（８） なお、 Ｇｚ ニゲインＷｊ４ｖ１１係数 ■Ｚ ：試験電流 ＣＺ ：較正定数 Ｒｚ”：ＬＰＲＭの新しい規準値 Ｒｚ：ＬＰＲＭの計測値 Ｉｚｏ：旧い試験電流値 ＣＺＯ：旧い較正定数 ＴＰＡ＋ｚ：チェンバｉのＺ軸方向のＴＩＰ計測値 Ｔ Ｐ Ａ ｉ ：チェンバｉの規格化したＴＩＰ計
測値 ＡＭＩ ：チェンバｉのＴＩＰ規格化係数ＲＡＴＣＴ
Ｐ ：定格炉心熱出力 ＰＲＭＴＡ ：核分裂以外によって発生する熱の割合 ＡＣ：伝熱面積 ＡＶＦＲＰ ：平均中性子束検出器２１の計測値ＮＢＵ
Ｎ ：燃料集合体本数 （１）〜（８）式により計算した試験電流値を試験電流
源２に与え、増幅器４のゲインを調整することによって
、指示計５が（４）式で求めた値になることを確認すれ
ば、ＬＰＲＭの較正が完了する。
第３図に示した各装置のデータを取り出し、（１）〜（
４）式に代入すれば、容易に試験電流値の計算ができ、
演算装置１８等が故障したときに人間によるバックアッ
プが行え、また本装置で計算したゲイン調整量でＬＰＲ
Ｍを調整すると、他の方法に比べて、平均中性子束検出
器、中間領域中性子束検出器等のゲイン調整量との一致
性が良いという効果がある。
４）式に代入すれば、容易に試験電流値の計算ができ、
演算装置１８等が故障したときに人間によるバックアッ
プが行え、また本装置で計算したゲイン調整量でＬＰＲ
Ｍを調整すると、他の方法に比べて、平均中性子束検出
器、中間領域中性子束検出器等のゲイン調整量との一致
性が良いという効果がある。
第１図はＬＰＲＭ照射量と感度劣化の相関関係図、第２
図はＬＰＲＭのゲイン調整を行う場合のモード切換え例
を示す図、第３図は本発明の装置例を示す図である。 １・・・検出器、２・・・試験電流源、３・・・モード
スイッチ、４・・・増幅器、５・・・指示計、１５・・
・走行型中性子束検出器、１６・・・ＴＩＰ計測値記憶
装置、】７・・・ＬＰＲＭ計測記憶装置、１８・・・演
算装置、１９・・・ゲインａｉｅｖｌＩ量記憶装置、２
０・・・中性子束検出器、２１・・・平均中性子束検出
器、３０・・・中性子束較正装置。
図はＬＰＲＭのゲイン調整を行う場合のモード切換え例
を示す図、第３図は本発明の装置例を示す図である。 １・・・検出器、２・・・試験電流源、３・・・モード
スイッチ、４・・・増幅器、５・・・指示計、１５・・
・走行型中性子束検出器、１６・・・ＴＩＰ計測値記憶
装置、】７・・・ＬＰＲＭ計測記憶装置、１８・・・演
算装置、１９・・・ゲインａｉｅｖｌＩ量記憶装置、２
０・・・中性子束検出器、２１・・・平均中性子束検出
器、３０・・・中性子束較正装置。
Claims (1)
- １、局所中性子束検出器の計測値を記憶する装置と、走
行型中性子束検出装置の計測値を記憶する装置と、前回
較正時のゲイン調整量を記憶する装置と、これら記憶デ
ータを計算する演算装置からなり、計測値そのものによ
りゲイン調整量を計算することを特徴とする中性子束較
正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60195921A JPS6256898A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | 中性子束較正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60195921A JPS6256898A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | 中性子束較正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6256898A true JPS6256898A (ja) | 1987-03-12 |
Family
ID=16349195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60195921A Pending JPS6256898A (ja) | 1985-09-06 | 1985-09-06 | 中性子束較正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6256898A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013002973A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-01-07 | Toshiba Corp | Ｔｉｐシステムおよびｔｉｐ監視制御装置 |
| WO2017042876A1 (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 三菱電機株式会社 | 炉内核計装装置 |
-
1985
- 1985-09-06 JP JP60195921A patent/JPS6256898A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013002973A (ja) * | 2011-06-17 | 2013-01-07 | Toshiba Corp | Ｔｉｐシステムおよびｔｉｐ監視制御装置 |
| US9305670B2 (en) | 2011-06-17 | 2016-04-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | TIP system and TIP monitoring control equipment |
| WO2017042876A1 (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 三菱電機株式会社 | 炉内核計装装置 |
| JPWO2017042876A1 (ja) * | 2015-09-08 | 2018-03-29 | 三菱電機株式会社 | 炉内核計装装置 |
| US11081244B2 (en) | 2015-09-08 | 2021-08-03 | Mitsubishi Electric Corporation | Incore nuclear instrumentation system |
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