JPS6255625B2 - - Google Patents
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- JPS6255625B2 JPS6255625B2 JP54038550A JP3855079A JPS6255625B2 JP S6255625 B2 JPS6255625 B2 JP S6255625B2 JP 54038550 A JP54038550 A JP 54038550A JP 3855079 A JP3855079 A JP 3855079A JP S6255625 B2 JPS6255625 B2 JP S6255625B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被探傷材の溶接部を超音波探傷する
場合に、探触子と溶接金属中心線との間の距離
(本明細書においてはこれを探触子距離という)
の変化に応じて、ゲート位置が自動的に決定され
るようになされているゲート位置自動設定機構を
備えた超音波探傷装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a method for ultrasonic flaw detection of a welded part of a material to be flawed. )
The present invention relates to an ultrasonic flaw detection device equipped with an automatic gate position setting mechanism that automatically determines the gate position in accordance with changes in the gate position.
従来、ゲート位置が自動的に設定される超音波
探傷装置に関しては、特公昭52−43597号公報に
より公知である(以下、該公報に記載された超音
波探傷装置を公知装置という)。該公知装置の構
成は、音速に対応した周波数で発振する発振器
と、この発振器からの信号パルスを計数してゲー
トのスタート点を決めるプリセツトカウンターと
を設ける一方、探触子が探傷基準点位置から所定
分量の距離だけ移動するごとに1パルスを出力す
る別の発振器を設け、該発振器の出力パルスを計
数して前記プリセツトカウンターのカウント数を
変化させるシフトレジスターを設け、該シフトレ
ジスターによる探触子の前進後退に伴ない、前記
プリセツトカウンターの計数値を増減させてゲー
トのスタート点を変え、常に溶接部に適合したゲ
ートが自動的に設定できるようにしたものであ
る。 Conventionally, an ultrasonic flaw detection device in which a gate position is automatically set is known from Japanese Patent Publication No. 52-43597 (hereinafter, the ultrasonic flaw detection device described in this publication will be referred to as the known device). The configuration of the known device includes an oscillator that oscillates at a frequency corresponding to the speed of sound, and a preset counter that counts signal pulses from this oscillator to determine the starting point of the gate. Another oscillator is provided which outputs one pulse every time the object moves a predetermined distance from As the contact moves forward and backward, the count value of the preset counter is increased or decreased to change the starting point of the gate, so that a gate suitable for the welding area can always be automatically set.
しかしながら、前記公知装置では、以下のよう
な問題点がある。 However, the known device has the following problems.
(1) 前記公知装置の構成界路は、複雑である。(1) The configuration circuit of the known device is complicated.
(2) 前記公知装置のゲートスタート点を説明する
第1図において、P1点をt/2cosθ(t:板
厚、θ:探触子の屈折角)で設定することにし
ているが、実際の溶接部をみると、溶接金属幅
Lは開先形状その他各種の溶接条件により異な
る。そのため、溶接金属幅が最初の溶接金属幅
よりも広くなれば、最初に設定したゲートのス
タート点P1は第2図に示すごとく溶接金属部内
に入つてしまうことになり、また逆に溶接金属
幅が狭くなれば、ゲートのスタート点P1は第3
図に示すごとく母材内に入つてしまうことにな
り、正しい評価ができなくなる。(2) In Fig. 1 explaining the gate start point of the known device, the P1 point is set at t/2cosθ (t: plate thickness, θ: refraction angle of the probe), but in reality Looking at the welded part, the weld metal width L varies depending on the groove shape and other various welding conditions. Therefore, if the weld metal width becomes wider than the initial weld metal width, the initially set starting point P1 of the gate will enter the weld metal part as shown in Figure 2, and conversely, the weld metal If the width becomes narrower, the starting point P 1 of the gate will be the third
As shown in the figure, it ends up entering the base material, making it impossible to perform a correct evaluation.
(3) 前記公知装置のゲート位置の自動的な設定
は、被探傷材を伝播する音速に対応した周波数
で発振する発振器を用いる。この場合頻繁に溶
接部の材質が異なると、初期のゲート位置設定
条件ではゲート位置に狂いが生ずることにな
る。(3) The automatic setting of the gate position in the known device uses an oscillator that oscillates at a frequency corresponding to the speed of sound propagating through the material to be tested. In this case, if the material of the welded part frequently changes, the initial gate position setting conditions will result in deviations in the gate position.
発明者らは研究の結果、これらの問題点を解決
する装置を開発するに至つた。すなわち本発明の
要点は、探触子の走査移動に伴つて探触子距離が
所定の分量だけ変化するごとにゲートスタート出
力電圧が変化する回路を設け、この電圧変化によ
りゲート位置を自動的に変化させるようにしたと
ころにある。以下第4図により詳述する。 As a result of research, the inventors have developed a device that solves these problems. In other words, the gist of the present invention is to provide a circuit that changes the gate start output voltage every time the probe distance changes by a predetermined amount as the probe moves, and to automatically adjust the gate position based on this voltage change. This is where I tried to change it. This will be explained in detail below with reference to FIG.
第4図は、厚さtの被探傷材2の屈折角θの探
触子1で斜角探傷を行う図である。通常、溶接部
の探傷は、0.5S、1S間の片側または両側の全領
域について探傷する。前記のSとは、超音波が入
射して裏面にあたり反射して表面に達するまでの
距離を表わす。ここで第4図における探触子位置
に関しY1−Y2=Y2とすると、探触子はYの全領
域を移動することになる。そして、Yの全領域を
移動させることにより、溶接部に対する探触子距
離Wは2t/cosθ−t/cosθ=t/cosθと
なり、ゲートスタ
ート点は探傷中にt/cosθから2t/cosθまで
移動するこ
とになる。 FIG. 4 is a diagram in which oblique angle flaw detection is performed using the probe 1 having a refraction angle θ on a material 2 to be tested having a thickness t. Normally, flaw detection of welded parts is carried out over the entire area on one or both sides between 0.5S and 1S. The above-mentioned S represents the distance from which the ultrasonic wave is incident, hits the back surface, is reflected, and reaches the front surface. Here, regarding the probe position in FIG. 4, if Y 1 -Y 2 =Y 2 , the probe will move over the entire Y area. By moving the entire area of Y, the probe distance W to the weld becomes 2t/cosθ - t/cosθ = t/cosθ, and the gate start point moves from t/cosθ to 2t/cosθ during flaw detection. I will do it.
ところで、ゲート幅は常に一定に保つておけば
よいから、ゲートスタート点を決めておけばゲー
トの終点は自動的に決まる。故に、ゲートスター
ト点を探触子距離に応じて自動的に設定可能にす
ることが肝要である。 By the way, the gate width only needs to be kept constant, so if the gate start point is determined, the gate end point is automatically determined. Therefore, it is important to be able to automatically set the gate start point according to the probe distance.
第5図は、本発明装置のゲートスタート点を自
動的に設定するブロツク図である。第5図におい
て、先ず電圧設定器6に探触子の探傷開始基準点
位置での電圧を設定する。 FIG. 5 is a block diagram for automatically setting the gate start point of the apparatus of the present invention. In FIG. 5, first, the voltage at the reference point position of the probe for flaw detection is set in the voltage setting device 6.
次に探触子に付設した探触子位置検出器からの
探触子位置検出信号Aによつて探傷開始基準点か
らの移動距離を測定し、その移動距離に伴う探触
子距離の変化に比例した電圧を出力する分圧器4
を設け、該分圧器4と前記電圧設定器6から出力
される電圧が電圧加算器5によりオフセツトされ
る。例えば第4図で探傷開始基準点をE点とし、
E点からD点の方向に探触子を移動させるものと
する。今E点での電圧設定器6の設定電圧をVa
とし、探触子が1mm移動することにより分圧器4
からVbの電圧が出力されるようになされている
とすれば、探触子がYmm移動したときには電圧加
算器5でVa+YVbの電圧が出力される。そして
該電圧加算器5の電圧は、電圧比較器7に入力さ
れる。電圧比較器7へはまた、探傷器のスイープ
電圧(ブラウン管への表示電圧)がBから入力さ
れるので、ここにおいて前記電圧加算器5からの
入力電圧と前記探傷器からのスイープ電圧が比較
され、前記電圧加算器入力電圧に等しいスイープ
電圧が取り出され、ゲートスタートパルスとして
出力される。 Next, the moving distance from the flaw detection starting reference point is measured using the probe position detection signal A from the probe position detector attached to the probe, and the change in the probe distance due to the moving distance is measured. Voltage divider 4 that outputs a proportional voltage
The voltages output from the voltage divider 4 and the voltage setter 6 are offset by the voltage adder 5. For example, in Figure 4, the flaw detection starting reference point is set to point E,
Assume that the probe is moved in the direction from point E to point D. The set voltage of voltage setting device 6 at point E now is Va
When the probe moves 1 mm, voltage divider 4
Assuming that a voltage of Vb is output from Vb, when the probe moves by Ymm, the voltage adder 5 outputs a voltage of Va+YVb. The voltage of the voltage adder 5 is then input to a voltage comparator 7. The sweep voltage of the flaw detector (the voltage displayed on the cathode ray tube) is also input to the voltage comparator 7 from B, so the input voltage from the voltage adder 5 and the sweep voltage from the flaw detector are compared here. , a sweep voltage equal to the voltage adder input voltage is taken out and output as a gate start pulse.
すなわち、探触子がYmm移動すれば、Va+
YVbに相当するスイープ電圧がゲートスタートパ
ルス出力としてCから取り出される。この動作の
タイムチヤートを第6図に示す。第6図において
はスイープ電圧を示す。は探傷開始基準点E
における電圧設定器の出力電圧、Vは探触子が探
傷開始基準点EからYmm移動したときのゲートス
タートパルス電圧を示す。は探傷開始基準点E
点におけるゲートパルス出力、は探傷開始基準
点Eから探触子がYmm移動したときのゲートスタ
ートパルス出力を示したものであり、このことよ
りゲートスタート点はG1からG2へと移動するこ
とになる。 In other words, if the probe moves Ymm, Va+
A sweep voltage corresponding to YVb is taken out from C as a gate start pulse output. A time chart of this operation is shown in FIG. In FIG. 6, sweep voltages are shown. is the flaw detection starting reference point E
The output voltage of the voltage setting device in , V, indicates the gate start pulse voltage when the probe moves Ymm from the flaw detection start reference point E. is the flaw detection starting reference point E
The gate pulse output at the point shows the gate start pulse output when the probe moves Ymm from the flaw detection start reference point E. From this, the gate start point moves from G 1 to G 2 . become.
なお、前記分圧器4へ提供される探触子位置検
出信号は、探触子に付設したエンコーダ、ポテン
シオメータ等によつて得る。ゲートのスタート位
置は上述した本発明の回路で決まるが、ゲート終
端位置はゲートスタート出力Cに後続してゲート
幅を決める回路を設けることにより自動的に定め
られる。 Note that the probe position detection signal provided to the voltage divider 4 is obtained by an encoder, potentiometer, etc. attached to the probe. The start position of the gate is determined by the circuit of the present invention described above, but the gate end position is automatically determined by providing a circuit following the gate start output C to determine the gate width.
本発明装置の構成は、以上説明したごとくであ
るが、本発明の実施により以下のごとき特有の効
果が得られる。 Although the configuration of the apparatus of the present invention is as described above, the following unique effects can be obtained by implementing the present invention.
(1) 回路構成が非常に簡素化され、そのため保
守、点検、整備が極めて容易であり、正確な探
傷評価に寄与することができる。(1) The circuit configuration is extremely simplified, making maintenance, inspection, and maintenance extremely easy, and can contribute to accurate flaw detection and evaluation.
(2) 被探傷材の中に溶接金属幅の異なるものが入
り混つていても、そのたびごとに探傷開始基準
点を明確にしておけば、自動的に適切なゲート
スタート点が設定できる。(2) Even if the material to be tested contains materials with different weld metal widths, if the reference point for starting flaw detection is clearly defined each time, the appropriate gate start point can be automatically set.
(3) 被探傷材の中に材質の異なるものがあつて音
速が変ることがあつても、事前に求めたスイー
プ電圧(ゲートスタートパルス)の傾きを調整
することにより、ゲート設定位置に誤差が生じ
ないようにすることができる。(3) Even if the sound velocity changes due to different materials being tested, it is possible to eliminate errors in the gate setting position by adjusting the slope of the sweep voltage (gate start pulse) determined in advance. This can be prevented from occurring.
(4) 回路構成の簡素化に伴つて超音波探傷装置全
体を小形軽量化することができ、超音波探傷の
作業性を良好ならしめることができる。(4) With the simplification of the circuit configuration, the entire ultrasonic flaw detection device can be made smaller and lighter, and the workability of ultrasonic flaw detection can be improved.
第1図、第2図及び第3図は公知装置における
ゲートスタート点の定め方の不都合性を説明した
図、第4図は溶接部を探傷する場合の探触子の走
査方法を示した図、第5図は本発明によるゲート
位置自動設定回路を示した図、第6図は本発明に
よる回路の動作を示したタイムチヤートである。
1……探触子、2……被探傷材、3……溶接
部、4……分圧器、5……電圧加算器、6……電
圧設定器、7……電圧比較器。
Figures 1, 2, and 3 are diagrams explaining the inconvenience of determining the gate start point in known devices, and Figure 4 is a diagram illustrating the scanning method of the probe when detecting flaws in welded parts. 5 is a diagram showing an automatic gate position setting circuit according to the present invention, and FIG. 6 is a time chart showing the operation of the circuit according to the present invention. 1... Probe, 2... Material to be tested, 3... Welding section, 4... Voltage divider, 5... Voltage adder, 6... Voltage setting device, 7... Voltage comparator.
Claims (1)
触子距離の変化に伴ないゲート位置が自動的に設
定される超音波探傷装置において、前記探触子距
離の変化に比例した電圧を出力する分圧器と、前
記探触子の探傷開始基準点位置で初期電圧を設定
する電圧設定器と、前記分圧器電圧と電圧設定器
電圧の出力をオフセツトする電圧加算器と、該電
圧加算器から出力される電圧と探傷器からのスイ
ープ電圧を比較しゲートスタートパルスを出力す
る電圧比較器とを設けたことを特徴とする溶接部
の超音波探傷装置。1. In an ultrasonic flaw detection device in which a gate position is automatically set as the probe distance changes when testing a welded part of a material to be flaw-detected, a voltage proportional to the change in the probe distance is output. a voltage divider, a voltage setter that sets an initial voltage at the flaw detection starting reference point position of the probe, a voltage adder that offsets the output of the voltage divider voltage and the voltage setter voltage, and an output from the voltage adder. 1. An ultrasonic flaw detection device for a welded part, comprising a voltage comparator that compares the voltage detected by the flaw detector with the sweep voltage from the flaw detector and outputs a gate start pulse.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3855079A JPS55131765A (en) | 1979-03-30 | 1979-03-30 | Ultrasonic flaw detector for welded part |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3855079A JPS55131765A (en) | 1979-03-30 | 1979-03-30 | Ultrasonic flaw detector for welded part |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS55131765A JPS55131765A (en) | 1980-10-13 |
JPS6255625B2 true JPS6255625B2 (en) | 1987-11-20 |
Family
ID=12528391
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3855079A Granted JPS55131765A (en) | 1979-03-30 | 1979-03-30 | Ultrasonic flaw detector for welded part |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS55131765A (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6078344A (en) * | 1983-10-05 | 1985-05-04 | Tokyo Keiki Co Ltd | Gate circuit of ultrasonic flaw detector |
-
1979
- 1979-03-30 JP JP3855079A patent/JPS55131765A/en active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS55131765A (en) | 1980-10-13 |
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