JPS625336A - X線照射装置 - Google Patents

X線照射装置

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JPS625336A
JPS625336A JP60144240A JP14424085A JPS625336A JP S625336 A JPS625336 A JP S625336A JP 60144240 A JP60144240 A JP 60144240A JP 14424085 A JP14424085 A JP 14424085A JP S625336 A JPS625336 A JP S625336A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
element array
radiation
ray irradiation
circuit
ray
Prior art date
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Pending
Application number
JP60144240A
Other languages
English (en)
Inventor
宏 渡部
希代子 大嶋
博司 筒井
末喜 馬場
理 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP60144240A priority Critical patent/JPS625336A/ja
Publication of JPS625336A publication Critical patent/JPS625336A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、X線診断装置、非破壊検査用X線検査装置等
に用い得るX線照射装置に関するものである。
従来の技術 従来、X線装置にはX線写真が用いられてきたが、感度
、被ばく線量等から放射線感応素子、St、Go、Cd
Te等(以下半導体センサーと呼ぶ)を用いたカンピユ
ータ−トモグラフィー装置が開発されてきている。この
半導体センサーを用いた装置では、X線写真と比べ被ば
く線量は1/1o〜1/100に低減され、コントラス
ト分解能も良好で、今後、微少な病変や患部を識別でき
るものとして期待されている。この様な半導体センサー
を用いた装置としては、第5図に示す様に一列に半導体
センサー41を組み込み、放射線源42のX線焦点3を
中心として、放射線源42と半導体センサー41を一体
的に首振シ動作させる装置や、図示していないが、放射
線源すと半導体センサーをベッドに対し、平行に移動さ
せる装置等がある。
これらはいずれも、半導体センサーを1列に連続的に配
置し、各半導体センサーは、パルス増巾回路やパルスカ
ウンター回路等を有するP板上に設置されている。
発明が解決しようとする問題点 上記の様な装置において、X線像の解像度をあげるため
には、半導体センサーの各素子をできるだけ小さくし、
密度を上げればよいが、素子を小さくすることによシ感
度が低くなることや、P板回路の部品実装密度が高くな
り、現在の実装技術では難しい。
問題点を解決するための手段 本発明は以上の様な問題点を解決するために、放射線に
感応する素子を直線状または曲線弧状に連続的に配設し
てなる素子アレイを2列以上配列し、各列の素子アレイ
で検知した信号を取り込むメモリー回路と、それぞれの
信号を合成する・回路手段を有してなるものである。
作  用 本発明の技術的手段による作用は次の様になる。
すなわち、2列以上の素子アレイのそれぞれの列の信号
をそれぞれのメモリー回路に取り込み、その信号を合成
して1列の検出信号とするため、素子単体の有感面積を
大きくでき、感度があげられ、P板部品の実装も少なく
て簡単−な構成で、高感度の高解像度のX線像が得られ
る。
実施例 本発明の一実施例を第1図〜第4図において説明する。
1.2はそれぞれ放射線に感応する素子を直線状または
曲線弧状に連続的に配設した素子アレイで、P板3,4
に取りつけられ、トレイ5に収納されている。それぞれ
の素子アレイ1,2は1枚のP板3,4に数個の素子を
それぞれ持ち、個々の素子に対応するパルス増巾回路(
図示せず)やパルスカウンター回路(図示せず)がP板
3,4に設けられている。
2列の素子アレイ1,2は、素子位置が千鳥状になる様
に配列され、トレイ5内に挿入しである。
このトレイ5は移動台6に連結され、モーター7により
ポールネジ等で移動する。移動台6と放射線源8は連結
パー9,10,11.12,13゜14で連結されてお
シ、対向した状態で移動する様に構成されている。次に
X線画像を得るための手段は、第3図の如く、素子アレ
イ1,2で検出した信号はそれぞれの列ごとにメモリー
回路21゜22に取りこまれ、この後2画像合成回路2
3によって2列の信号は合成され、1列の信号となる様
構成されている。この様な装置で実際の動作を説明する
と、ペッド15に被写体16が横たわったところで、モ
ーター7を駆動し、移動台6を動かすと、トレイ5と放
射線源8はともに対向しながら被写体16を横切る。こ
の時、前列の素子アレイ1に取り込まれたX線は、電気
信号に変換され、P板内の回路で確実な電気信号となり
、前列用メモリー回路21に取り込まれる。次にトレイ
6が移動し、後列の素子アレイ2が前列と同位置にきた
時、後列用メモリー回路22に取り込む。
その後、画像合成回路23に両メモリー回路21゜22
の信号を合成し、その位置での1列の信号とする。これ
を被写体を横切シながら次々と行ない全体のX線画像と
してブラウン管(図示せず)等に表示する。又、第2の
実施例として、第4図に示すように前列の素子アレイ1
と後列の素子アレイ2をそれぞれ別のトレイ31,32
に挿入し、互いのトレイ31.32は係合しスライド可
能に構成している。この様にしておけば、高密度の解像
度を得たい時には、千鳥状に位置をずらし前記と同じ状
態にでき、又、放射線源の変動や、散乱線の除去にとも
なう補正等に利用する場合は、前記と後列の素子アレイ
1,2を同位置に設定し、どちらかを補正用として取り
扱うこともできる。
すなわち、補正用とした一方の素子アレイにX線量の異
なる照射を行ない、2列の信号比較を行なって、より正
確な情報を得る。又、診断中に素子アレイの一方が故障
した場合でも診断を中断することなく補正用の列の素子
で代役が可能である。
発明の効果 上記の様に本発明によれば素子アレイの素子単体の有効
面積を大きくすることができるため、素子の加工精度も
良く、感度も向上する。又、P板の回路部品実装におい
ても密度的に余裕があるため容易である。更に高解像度
の正確なX線像が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すX線照射装置に用いら
れるトレイ部の斜視図、第2図は同装置の正面図、第3
図は同装置の回路構成を示すブロック図、第4図は本発
明の他の実施例におけるトレイの斜視図、第5図は従来
例の斜視図である。 1.2・・・・・・素子アレイ、21.22・・・・・
・メモリー回路、23・・・・・・画像合成回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第2
図 第3図 第4図 第5図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放射線に感応する素子を直線状または曲線弧状に
    連続的に配設した放射線感応素子アレイに、放射線源か
    ら被写体を透過してその被写体の透過像を含む放射線を
    照射し、この放射線と、前記素子アレイとを相対的に移
    動させて、放射線画像を検知する装置にあって、前記素
    子アレイを2列以上に連続的に配列し、この素子アレイ
    のそれぞれの列の素子アレイで検知した信号を取り込む
    メモリー回路と、それぞれの信号を合成する回路手段を
    有したX線照射装置。
  2. (2)2列以上に配列した素子アレイをスライド可能な
    構成とし、それぞれの素子位置を任意に設定できる移動
    手段を有する特許請求の範囲第1項記載のX線照射装置
JP60144240A 1985-07-01 1985-07-01 X線照射装置 Pending JPS625336A (ja)

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