JPS6252438A - 積分球式分光反射率測定装置 - Google Patents
積分球式分光反射率測定装置Info
- Publication number
- JPS6252438A JPS6252438A JP19244485A JP19244485A JPS6252438A JP S6252438 A JPS6252438 A JP S6252438A JP 19244485 A JP19244485 A JP 19244485A JP 19244485 A JP19244485 A JP 19244485A JP S6252438 A JPS6252438 A JP S6252438A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrating sphere
- luminous flux
- specimen
- sample
- hole
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は染色布や塗膜などの固体試料の色彩を測定する
ための積分球式分光反射率測定装置に関するものである
。
ための積分球式分光反射率測定装置に関するものである
。
口、従来の技術
この種の分光反射率測定装置は、第６図に示すように、
分光器１から出射された単色光が積分球２の入口窓３を
通って試料窓４に装着されている試料Ｓに照射され、試
料面からの反射光が積分球内面で繰返し反射されて、受
光窓５に入射し、測光部で測定されるようになっている
。試料面に結像する光束スポットの形状は、分光器１と
積分球２との間に介装された光学系６の、試料面と共役
な位置に設けられている透光孔７の形状によって決まる
が、織物の図柄のような試料面の一部分の反射率を測定
したい場合には、上記透光孔７の部分にもっと小さい透
光孔を有するマスク板８を出入自在に挿入して、試料面
の光束スポットの大きさを小さくし、試料面の特定の部
分のみに単色光が照射されるようにしていた。
分光器１から出射された単色光が積分球２の入口窓３を
通って試料窓４に装着されている試料Ｓに照射され、試
料面からの反射光が積分球内面で繰返し反射されて、受
光窓５に入射し、測光部で測定されるようになっている
。試料面に結像する光束スポットの形状は、分光器１と
積分球２との間に介装された光学系６の、試料面と共役
な位置に設けられている透光孔７の形状によって決まる
が、織物の図柄のような試料面の一部分の反射率を測定
したい場合には、上記透光孔７の部分にもっと小さい透
光孔を有するマスク板８を出入自在に挿入して、試料面
の光束スポットの大きさを小さくし、試料面の特定の部
分のみに単色光が照射されるようにしていた。
ハ８発明が解決しようとする問題点
上記の従来構成においては、マスク板の出し入れを外部
からコントロールする機構が複雑で高価である上に、マ
スク板８の透光孔の形状も決まっていて形状を任意に選
択することができないので、マスク板８を挿入した場合
に試料面に照射される光束が必要以上に絞られて光量が
少な（、そのために受光量も少なくなって測定のＳ／Ｎ
比が悪（なるという欠点があった。本発明は、試料を部
分的に照射する場合にも、マスク板の出入機構のような
ものを不要にし、できるだけ照射光量を多（してＳ／Ｎ
比を向上することを目的とするものである。
からコントロールする機構が複雑で高価である上に、マ
スク板８の透光孔の形状も決まっていて形状を任意に選
択することができないので、マスク板８を挿入した場合
に試料面に照射される光束が必要以上に絞られて光量が
少な（、そのために受光量も少なくなって測定のＳ／Ｎ
比が悪（なるという欠点があった。本発明は、試料を部
分的に照射する場合にも、マスク板の出入機構のような
ものを不要にし、できるだけ照射光量を多（してＳ／Ｎ
比を向上することを目的とするものである。
二０問題点解決のための手段
上記の目的を達成するために本発明は、積分球を用いた
分光反射率測定装置において、積分球の試料窓の外側面
に光束絞り具を装着し、光束絞り具の外側面に密着して
試料を装着したものである。
分光反射率測定装置において、積分球の試料窓の外側面
に光束絞り具を装着し、光束絞り具の外側面に密着して
試料を装着したものである。
ホ０作用
上記の構成によれば、光学系とは関係なく光束絞り具の
着脱交換が可能であり、光束絞り具が試料に密着してい
るので、透孔を測定したい領域の輪郭に合わせて作成す
るのも容易であり、そのために受光量が増加し、測定の
Ｓ／Ｎ比を向上させることができる。
着脱交換が可能であり、光束絞り具が試料に密着してい
るので、透孔を測定したい領域の輪郭に合わせて作成す
るのも容易であり、そのために受光量が増加し、測定の
Ｓ／Ｎ比を向上させることができる。
へ、実施例
第１図および第２図は本発明装置の一実施例を示したも
ので、２は積分球、３は積分球の光入口窓、４は同じく
試料窓である。積分球２の試料窓４の外側面に光束絞り
具９を装着し、光束絞°り具９の外側面に密着して試料
Ｓを装着したものである。本実施例では、光束絞り具９
は第２図に示すように、黒色の艶消し表面処理を施した
燐青銅Ｊ板１０に透孔１１を設けたものを固定金具１２
にビス１４で固定したもので、固定ねじ１３によって積
分球２の上面のねじ孔１５に固定される。この燐青銅薄
板１０に異なった形状寸法の透孔１］を設けたものを多
種類準備しておけば、試料面の測定したい領域の輪郭に
合わせて燐青銅薄板１０を選択することができる。また
試料に合わせて任意の形状寸法の透孔１１を加工するの
も容易である。
ので、２は積分球、３は積分球の光入口窓、４は同じく
試料窓である。積分球２の試料窓４の外側面に光束絞り
具９を装着し、光束絞°り具９の外側面に密着して試料
Ｓを装着したものである。本実施例では、光束絞り具９
は第２図に示すように、黒色の艶消し表面処理を施した
燐青銅Ｊ板１０に透孔１１を設けたものを固定金具１２
にビス１４で固定したもので、固定ねじ１３によって積
分球２の上面のねじ孔１５に固定される。この燐青銅薄
板１０に異なった形状寸法の透孔１］を設けたものを多
種類準備しておけば、試料面の測定したい領域の輪郭に
合わせて燐青銅薄板１０を選択することができる。また
試料に合わせて任意の形状寸法の透孔１１を加工するの
も容易である。
第３図は試料面の測定したい領域Ｔに対する光束断りと
光束絞り具９の透孔１１との関係を示したもので、ａは
第６図の従来例におけるマスク板８がない場合の光束ス
ポットＬと測定したい領域Ｔとの関係を示したものであ
り、ｂは従来例においてマスク板８の透光孔によって絞
られた光束スポットＬ゛と領域Ｔとの関係を示したもの
であり、Ｃは本発明による光束絞り具９の透孔１１と領
域Ｔの関係を示したものである。
光束絞り具９の透孔１１との関係を示したもので、ａは
第６図の従来例におけるマスク板８がない場合の光束ス
ポットＬと測定したい領域Ｔとの関係を示したものであ
り、ｂは従来例においてマスク板８の透光孔によって絞
られた光束スポットＬ゛と領域Ｔとの関係を示したもの
であり、Ｃは本発明による光束絞り具９の透孔１１と領
域Ｔの関係を示したものである。
第４図は本発明装置を用いた反射率測定の手順を示した
もので、先ずイにおいて光束絞り具９の透孔１１に反射
率の基準とする白色の標準試料を装着して測定を行うと
、標準試料からの反射光Ｒと光束絞り具９の黒色艶消し
面からの反射光りとの和（Ｒ＋Ｄ）が得られ、測定波長
域にわたって（Ｒ＋Ｄ）のデータをメモリに格納する。
もので、先ずイにおいて光束絞り具９の透孔１１に反射
率の基準とする白色の標準試料を装着して測定を行うと
、標準試料からの反射光Ｒと光束絞り具９の黒色艶消し
面からの反射光りとの和（Ｒ＋Ｄ）が得られ、測定波長
域にわたって（Ｒ＋Ｄ）のデータをメモリに格納する。
同様に口において試料を装着せずに光束絞り具９のみに
して絞り具９の黒色艶消し面のみの反射光りを測定し、
結果をメモリに格納する。次にハにおいて被検試料を光
束絞り具９に装着し、被検試料からの反射光Ｓと光束絞
り具９からの反射光りとの和（Ｓ＋Ｄ）を測定し、結果
をメモリに格納する。
して絞り具９の黒色艶消し面のみの反射光りを測定し、
結果をメモリに格納する。次にハにおいて被検試料を光
束絞り具９に装着し、被検試料からの反射光Ｓと光束絞
り具９からの反射光りとの和（Ｓ＋Ｄ）を測定し、結果
をメモリに格納する。
こうして得られた３つの測定値（Ｒ＋Ｄ）、Ｄ。
（Ｓ＋Ｄ）のデータから、（Ｓ＋Ｄ）−Ｄ及び（Ｒ＋Ｄ
）−Ｄを算出して両者の比を計算すれば相対反射率Ｓ／
Ｒが求められる。
）−Ｄを算出して両者の比を計算すれば相対反射率Ｓ／
Ｒが求められる。
第５図は実際の測定結果を示したものである。
標準試料としてはＢａＳＯ４粉末塗装板を使用し、被検
試料として全面赤紫色の色紙を使用した。また光束スポ
ットの寸法は幅４．！５ｍｍＸ高さ７．５ｍｎ＋、光束
絞り具には第２図と同一形状で厚さ０．３鴫の燐青銅薄
板に直径３ ｍｍの円孔を設けたものを使用し、各スペ
クトルについて測定した。この測定結果Ａを光束絞り具
を使用せず光束スポットのみで測定した結果Ｂと比較す
ると、最大誤差１．５％（７００〜８００ｎｍ付近）で
きわめてよ（一致している。
試料として全面赤紫色の色紙を使用した。また光束スポ
ットの寸法は幅４．！５ｍｍＸ高さ７．５ｍｎ＋、光束
絞り具には第２図と同一形状で厚さ０．３鴫の燐青銅薄
板に直径３ ｍｍの円孔を設けたものを使用し、各スペ
クトルについて測定した。この測定結果Ａを光束絞り具
を使用せず光束スポットのみで測定した結果Ｂと比較す
ると、最大誤差１．５％（７００〜８００ｎｍ付近）で
きわめてよ（一致している。
ト、効果
本発明は上述のように、積分球の試料窓の外側に光束絞
り具を配設したものであるから、従来のように分光器と
積分球との間め光学系に光束絞り用マスク板を出し入れ
する必要がなく、従ってマスク板を外部から操作するた
めの複雑な機構が不要であるという利点があり、また光
束絞り具と試料とが密着するので、遠方から光スポット
を投射する場合のような光のスポットと試料の測定領域
とのずれが生ずるおそれがなく、試料面の模様などに適
合した光束絞り具を容易にかつ安価に作成できるという
利点があり、それによって測光部へ導入される光量を増
しＳ／Ｎ比を向上し得るという利点がある。
り具を配設したものであるから、従来のように分光器と
積分球との間め光学系に光束絞り用マスク板を出し入れ
する必要がなく、従ってマスク板を外部から操作するた
めの複雑な機構が不要であるという利点があり、また光
束絞り具と試料とが密着するので、遠方から光スポット
を投射する場合のような光のスポットと試料の測定領域
とのずれが生ずるおそれがなく、試料面の模様などに適
合した光束絞り具を容易にかつ安価に作成できるという
利点があり、それによって測光部へ導入される光量を増
しＳ／Ｎ比を向上し得るという利点がある。
第１図は本発明装置の一実施例を示す平面断面図、第２
図は同上の分解斜視図、第３図ａおよびｂは従来例の試
料窓部の正面図、同図Ｃは本発明による試料窓部の一例
を示す正面図、第４図は本発明装置による測定方法の一
例を示すツム−チャート、第５図は本発明装置による測
定結果の一例を示すグラフ、第６図は従来例を示す側面
断面図である。 １・・・分光器、２・・・積分球、３・・・入口窓、４
・・・試料窓、５・・・受光窓、６・・・光学系、７・
・・透光孔、８・・・マスク板ミ９・・・光束絞り具、
１０・・・燐青銅薄板、１１・・・透孔、１２・・・固
定金具、１３・・・固定ねじ、１４・・・ビス、１５・
・・ねじ孔、Ｓ・・・試料。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第１図
図は同上の分解斜視図、第３図ａおよびｂは従来例の試
料窓部の正面図、同図Ｃは本発明による試料窓部の一例
を示す正面図、第４図は本発明装置による測定方法の一
例を示すツム−チャート、第５図は本発明装置による測
定結果の一例を示すグラフ、第６図は従来例を示す側面
断面図である。 １・・・分光器、２・・・積分球、３・・・入口窓、４
・・・試料窓、５・・・受光窓、６・・・光学系、７・
・・透光孔、８・・・マスク板ミ９・・・光束絞り具、
１０・・・燐青銅薄板、１１・・・透孔、１２・・・固
定金具、１３・・・固定ねじ、１４・・・ビス、１５・
・・ねじ孔、Ｓ・・・試料。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第１図
Claims (1)
- 積分球の試料窓の外側面に光束絞り具を装着し、光束絞
り具の外側面に密着して試料を装着して成る積分球式分
光反射率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19244485A JPS6252438A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 積分球式分光反射率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19244485A JPS6252438A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 積分球式分光反射率測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6252438A true JPS6252438A (ja) | 1987-03-07 |
Family
ID=16291405
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19244485A Pending JPS6252438A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 積分球式分光反射率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6252438A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5868644A (ja) * | 1981-09-30 | 1983-04-23 | ベ−リンガ−・マンハイム・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 基準面の反射能を反射測光により測定する装置 |
| JPS60165825A (ja) * | 1984-01-23 | 1985-08-29 | アールシーエー ライセンシング コーポレーシヨン | 信号探査同調装置 |
-
1985
- 1985-08-30 JP JP19244485A patent/JPS6252438A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5868644A (ja) * | 1981-09-30 | 1983-04-23 | ベ−リンガ−・マンハイム・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 基準面の反射能を反射測光により測定する装置 |
| JPS60165825A (ja) * | 1984-01-23 | 1985-08-29 | アールシーエー ライセンシング コーポレーシヨン | 信号探査同調装置 |
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