JPS6249428A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JPS6249428A
JPS6249428A JP60191003A JP19100385A JPS6249428A JP S6249428 A JPS6249428 A JP S6249428A JP 60191003 A JP60191003 A JP 60191003A JP 19100385 A JP19100385 A JP 19100385A JP S6249428 A JPS6249428 A JP S6249428A
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Japan
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clock
phase
function block
delay
small
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JP60191003A
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Tetsuya Matsumura
哲哉 松村
Masahiko Yoshimoto
雅彦 吉本
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/156Arrangements in which a continuous pulse train is transformed into a train having a desired pattern
    • H03K5/1565Arrangements in which a continuous pulse train is transformed into a train having a desired pattern the output pulses having a constant duty cycle

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  • Nonlinear Science (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent the overlap of a two-phase clock by installing a clock generator for generating the multiphases clock of non-overlap from a fundamental clock at every function block and supplying the fundamental clock in accordance with the sequence of a data processing. CONSTITUTION:The sequence of a data processing in a signal processing LSI is executed in order of function blocks A-F, ad the wiring of a fundamental clock phiM is also performed in order of the function blocks A-F. With respect to the function blocks A-F, clock generators 10A-10F are installed, and each clock generator 10A-10F has a sufficient driving capacity against each function block A-F. Also, in said each function block A-F, a data is inputted by a two-phase block phi1, and a data is outputted by phi2 in the same way. In this way, the delay of the fundamental clock phiM in, for instance, the function block C and D is determined by a small wiring capacity and a small wiring resistance between the function block C and D, a delay between adjacent function blocks of the fundamental clock phiM is small, and the delay of two-phase clocks phi1, phi2 is also small.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路に係り、特に信号処理に用
いられるクロンク発生装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to semiconductor integrated circuits, and particularly to a clock generator used for signal processing.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、シーケンシャルに配置された複数の機能ブロック
よりデータを処理する信号処理半導体集積回路(以下、
信号処理LSIという)においては、第4図に示すよう
に基本クロックφ、よりノンオーバラップの2相クロッ
クφ1.φ2を発生するクロックジェネレータ10はチ
ップ内に1個設置されていた。なお、A−Fは各機能ブ
ロックと示す。
Traditionally, signal processing semiconductor integrated circuits (hereinafter referred to as
(referred to as a signal processing LSI), as shown in FIG. 4, a basic clock φ, a non-overlapping two-phase clock φ1 . One clock generator 10 that generates φ2 was installed in the chip. Note that A-F indicates each functional block.

第5図はクロックジェネレータ100回路を示し、クロ
ックジェネレータ10はインバータ11と%2つのNo
几回路12.13より構成される。
FIG. 5 shows a clock generator 100 circuit, in which the clock generator 10 is connected to an inverter 11 and two No.
It is composed of 12 and 13 circuits.

第6図は上記ターンクジエネレータ10に与える基本ク
ロックφつと、出力された2相りaツクφ1.φ、のタ
イミングチャートを表す。2相クロックφ1.φ、の片
方の立ち下がり後に、もう一方のクロックが立ち上がる
ので、2相クロツクφ1゜φ2はオーバランプしない。
FIG. 6 shows the basic clock φ supplied to the turn generator 10 and the output two-phase a clock φ1. A timing chart of φ is shown. 2-phase clock φ1. After one of the clocks φ falls, the other clock rises, so the two-phase clocks φ1 and φ2 do not overlap.

次に第4図の(fi号処理LSIの動作を説明する。Next, the operation of the (fi processing LSI) shown in FIG. 4 will be explained.

信号処理LSIK設置された1つのクロンクジエネレー
タ10は外部より基本クロックφ舅を受け、ノンオーバ
ラップの2相クロックφ1.φ、を発生する。この2相
クロックφ1.φ、は信号処理LSI内のノンオーバラ
ップ2相クロンクを必要とする各機能ブロックA−Fの
丁べてに与えられる。
One clock generator 10 installed with a signal processing LSIK receives a basic clock φ1 from the outside, and receives a non-overlapping two-phase clock φ1. φ, is generated. This two-phase clock φ1. φ is given to each of the functional blocks A to F that require a non-overlapping two-phase clock in the signal processing LSI.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来の半導体集積回路は、2相クロックφ1.
φ2の遅延によりオーバランプするなどの問題がある。
The conventional semiconductor integrated circuit described above uses a two-phase clock φ1.
There are problems such as overramping due to the delay of φ2.

例えば、第7図に示すように少ない配線容量、配線抵抗
しか有しない機能ノロツクAにクロックジェネレータ1
0から供給される2相クロンクφ1.φ2は、第8図の
実線の波形のよう罠なまりがなく、オーバラップしない
(観測点p。
For example, as shown in FIG.
Two-phase clock φ1. φ2 does not have trap accents and does not overlap like the solid line waveform in Fig. 8 (observation point p).

q)、しかし、大ぎな配梅谷童、配線抵抗を有する機能
フロックFにおいては供給される2相クロンクφ8.φ
2には、破線の波形のようになまりが生じ(観測点r、
s)、オーバランプする口■馳性があるなどの問題点が
あった。
q), However, in the functional block F with a large wiring resistance, the supplied two-phase clock φ8. φ
2, there is an accent like the waveform of the broken line (observation point r,
s), there were problems such as over-ramping.

この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、2相クロックφ1.φ、のオーバランプを
防ぐことができるクロック発生装置を得ることを目的と
する。
This invention was made to solve the above-mentioned problems, and includes two-phase clocks φ1. An object of the present invention is to obtain a clock generation device that can prevent overramping of φ.

〔間i@点を解決するための手段〕[Means for solving the interval i@ point]

この発明に係るり0ツク発生装置は、基本クロックより
ノンオーバラップの多相りρツクを発生するクロックジ
ェネレータを各機能ブロックごとに設置し、基本タロツ
クをデータ処理のシーケンスに応じて供給する構成とし
たものである。
The clock generator according to the present invention has a configuration in which a clock generator that generates a non-overlapping multiphase clock from a basic clock is installed in each functional block, and the basic clock is supplied according to the sequence of data processing. That is.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、各機能ブロックごとに多相タロツ
クを発生するクロックジェネレータを配置し、狭い機能
フロック内で基本クロックよりノンオーバラップの多相
りpツクを発生させることにより、配線容量および配線
抵抗による2相りpツクの波形のなまりが減少し、オー
バラップが防止される。
In this invention, by arranging a clock generator that generates a multiphase tarlock in each functional block and generating a non-overlapping multiphase tarlock from the basic clock within a narrow functional block, wiring capacitance and wiring resistance can be reduced. The rounding of the waveform of the two-phase p-c is reduced, and overlap is prevented.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの発明の一実施例を示すものである。 FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.

この発明においては、1つの信号処理LSI内の各機能
ブロックASFごとにクロックジェネレータ10A〜1
0Fを設置したものである@上記信号処理LSI内での
データ処理のシーケンスは、機能ブロックA−Fの順に
行われ、基本りpツクφ舅の配線もe&能ブロックA−
Fの順に施されている。
In this invention, clock generators 10A to 1 are provided for each functional block ASF in one signal processing LSI.
The sequence of data processing within the above signal processing LSI, which is installed with 0F, is performed in the order of functional blocks A-F, and the wiring of the basic blocks φ and E & function blocks A-
They are applied in the order of F.

この半導体集積回路内のfiI能ブロックA−Fに対し
てクロックジェネレータ10A〜10Fが設置され、こ
れらの各クロックジェネレータIOA〜IOFは、各機
能ブロックA−FK対して十分な駆動能力をもつ。
Clock generators 10A to 10F are installed for fiI functional blocks A to F in this semiconductor integrated circuit, and each of these clock generators IOA to IOF has sufficient driving ability for each of functional blocks A to FK.

またこの各機能ブロックA〜Fにおいては、2相クロツ
クφ1によってデータをとり込み、同じくφ2によって
データを出方するものとする。
It is also assumed that in each of the functional blocks A to F, data is taken in by a two-phase clock φ1, and data is outputted by a two-phase clock φ2.

第2図はデータ処理のシーケンスと基本り。ツクφ、の
配線の方法を示したもので、データ処理の順と基本クロ
ックφ4の供給順序が等しいものである。
Figure 2 shows the sequence and basics of data processing. This figure shows the wiring method for the clock φ4, in which the order of data processing and the order of supplying the basic clock φ4 are the same.

この構成によれば、となりあうふたつの機能ブロック、
例えば機能ブロックCとDにおける基本クロックφヨの
遅延は機能ブロックCと0の間の小さい配線容量および
小さい配線抵抗で決定され、基本クロックφうのとなり
あう徳化7°ロック間での遅延は少なく、従って2相ク
ロックφ4.φ2の遅延も少ない。
According to this configuration, two functional blocks next to each other,
For example, the delay of the basic clock φ in functional blocks C and D is determined by the small wiring capacitance and small wiring resistance between the functional blocks C and 0, and the delay between the basic clock φ and the mutual Deka 7° lock is Therefore, the two-phase clock φ4. The delay of φ2 is also small.

第3図は機能ブロックC1機能ブロックDの各りqツク
ジェネレータ10.C,10Dの2相クロックφlc、
φ2c、φlD+φ2Dのタイミングチャートを示した
ものである。機能ブロックC,Dでは、機能ブロックC
が2相クロンクφ、Cの″′H″期間で出力したデータ
を、機能ブロックDが2相クロツクφ1Dの″H′″期
間で受けとるが、基本り一ツクφ輩の遅延が少ないため
2相クロツクφ?0とφ1Dはオーバラップを生じさせ
ないための十分なマージンをとることができ、データの
受は渡し九は問題ない。
FIG. 3 shows the qtsq generator 10 for each of the functional blocks C1 and D. C, 10D two-phase clock φlc,
A timing chart of φ2c, φlD+φ2D is shown. In function blocks C and D, function block C
The functional block D receives the data output during the "H" period of the two-phase clock φ, C during the "H" period of the two-phase clock φ1D. Clockφ? 0 and φ1D can have a sufficient margin to prevent overlap, and there is no problem in receiving and passing data.

また各機能ブロックA〜Fにおけるターンクジエネレー
タ10A〜IOFは各ブロックの容量に厄じて、ドライ
ブ能力を調整するので、2相クロンクφ1.φ、はオー
バラップしない。
Further, since the drive capacity of the turn generators 10A to IOF in each functional block A to F is adjusted depending on the capacity of each block, the two-phase clock generators 10A to IOF have their drive capacities adjusted depending on the capacity of each block. φ does not overlap.

なお、上記実施例では、ノンオーバラップの2相クロッ
ク発生装置について説明したが、ノンオーバラップクロ
ックを必要と丁Zクロック発生装置なら何相の多相でも
よく、上記実施例と同様の効果を奏する。
In the above embodiment, a non-overlapping two-phase clock generator was described, but if a non-overlapping clock is required, a multi-phase clock generator with any number of phases may be used, and the same effects as in the above embodiment can be obtained. play.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明は以上説明したように、ノンオーバラップ多相
タロツクを必要とする谷+!iWQグロックにクロック
ジェネレータをそれぞれ設置し、基本クロックをデータ
処理のシーケンスに応じて与えるように構成したので、
オーバラップしない安定したクロックが得られる効果が
ある。
As explained above, this invention requires valley +! I installed a clock generator in each iWQ Glock and configured it to give the basic clock according to the data processing sequence.
This has the effect of providing stable clocks that do not overlap.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例によるクロック発生装置を
設置した半導体集積回路の構成図、第2図は第1図の一
実施例におけるデータ処理とφ。 の配縁の流れを示す図、第3図は同じくとなりあう機能
ブロックの2相クロツクのタイミングチャートを表わし
た図、第4図は従来のクロック発生方式を用いた信号処
理LSIの構成図、第5図は一般のりpツクジェネレー
タの回路図、第6図は上記クロンクジエネレータに入力
する基本クロックと得られたノンオーバラップの2相ク
ロツクのタイミング千ヤード、第7図、第8図は第4図
の従来例の動作説明のための等価回路と波形図である。 図において、A〜Fは+A能ズブロック10A〜10F
はりpツクジエネV−タ、φMは基本りpツク、φ4.
φ2は2相りpツクである。 なお、各図中の同一符号は1nJ−または相当部分を示
す。 代理人 大岩 増雄 (外2名) 第1図 ”       10A−10F: 9゜、2.ッ、オ
、−2φM:、基本クロック ψ1.φ2:2aりOツク 第2図 第3図 Φ20 第4図 ψ− 第5図 第6図 第7図 第8図
FIG. 1 is a block diagram of a semiconductor integrated circuit equipped with a clock generator according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows data processing and φ in the embodiment of FIG. 3 is a diagram showing the timing chart of two-phase clocks of adjacent functional blocks. FIG. 4 is a diagram showing the configuration of a signal processing LSI using the conventional clock generation method. Figure 5 is a circuit diagram of a general clock generator, Figure 6 is a timing diagram of the basic clock input to the clock generator and the obtained non-overlapping two-phase clock, and Figures 7 and 8 are diagrams. FIG. 4 is an equivalent circuit and waveform diagram for explaining the operation of the conventional example shown in FIG. 4; In the figure, A to F are +A function blocks 10A to 10F.
Beam ptsukjieneta, φM is basically beam ptsuk, φ4.
φ2 is a two-phase p-c. Note that the same reference numerals in each figure indicate 1nJ- or equivalent parts. Agent Masuo Oiwa (2 others) Figure 1 10A-10F: 9゜, 2.゜, -2φM:, Basic clock ψ1.φ2: 2a R Otsuk Figure 2 Figure 3 Φ20 Figure 4 ψ− Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] シーケンシヤルに配置された複数の機能ブロックにより
データを処理する信号処理半導体集積回路において、基
本クロックを受けてノンオーバラップ多相クロックを出
力するクロックジェネレータを前記各機能ブロック毎に
設置し、さらに、前記基本クロックをデータ処理のシー
ケンスの順に前記機能ブロックに供給する構成としたこ
とを特徴とする半導体集積回路。
In a signal processing semiconductor integrated circuit that processes data using a plurality of sequentially arranged functional blocks, a clock generator that receives a basic clock and outputs a non-overlapping multiphase clock is installed in each of the functional blocks; A semiconductor integrated circuit characterized in that a basic clock is supplied to the functional blocks in the order of a data processing sequence.
JP60191003A 1985-08-28 1985-08-28 Semiconductor integrated circuit Granted JPS6249428A (en)

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WO1991010176A1 (en) * 1989-12-27 1991-07-11 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Device for preventing erroneous operation when the clock is interrupted in a controller

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