JPS6249202A - 光学式測定装置 - Google Patents
光学式測定装置Info
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- JPS6249202A JPS6249202A JP18889185A JP18889185A JPS6249202A JP S6249202 A JPS6249202 A JP S6249202A JP 18889185 A JP18889185 A JP 18889185A JP 18889185 A JP18889185 A JP 18889185A JP S6249202 A JPS6249202 A JP S6249202A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【産朶十のIIJ用分野1
この発明は光17式測定装首に係り、特に、平t)走査
光線ビームを利用して被測定物のA1法等をa(11定
づる光学式測定装置の改良に関Jる3、[従来の技術] 従来、回転走査ビーム(レーク゛じ−ム)−8二Jリメ
ータレンズによりこの=1リメータレンズと集光レンズ
間を通る平行走査ビームに′J!c″換し、該二)リメ
ータレンズと集光レンズの間に被測定物をir′ii!
、この被測定物によって前記平行走査ビームが辿られて
生じる1111部又は明部の時間の長さから被測定物の
寸法を測定Jる光学式測定装置があつI、:。 これは、例えば第6図に示す如く、レーザ仇10 tr
〜らレーク“ビーム12を固定ミラー17′Iに向()
て発振し、この固定ミラー14により反射されたレーザ
ビーム12を多角形回転ミラー1Gによって回転走査ビ
ーl\17に′t!2換し、この走査ビーム17を=1
リメータレンズ18によって平行走査じ一ム20に変換
し、この平行走査ビーム20によりコリメータレンズ1
Bと集光lノンズ22の間に配置しlJ被測定物二24
4高辻」二査し、fの旧m 1(ill定物24によっ
て生じる11′1部又は明部の11′i間σ月、さから
、被測定物24の走査I)向(1・y)向)て1法を測
定づるもの−Cある。、即0、重(j走査l−′−ム7
)0の明111’、1は、集光レンズ21?の焦f気位
置にある受光素子26の出ノ) rHD−の変化ど本、
って検出さ壜1゜該・受光幸12)6からの伏目は、プ
リノ′ンブ?ε3 f二人力され、ここで増幅された後
、1ごツノメン1−選択回路30に送られる4、このし
フタメン1−選択回路30は、受光素子2Gの出力電F
1−から被測定物2/Iが走jづ1−さ4′1ている1
)、y間tの間だ1フグ−1−回路32を聞くための電
圧Vを介([(〕て、〕グー1回路32に出力覆るよう
にされ−ている。このグー1−回路32には、り[1ツ
クパルス発振器34からりし]ツクパルスCPが入力さ
れ一τいるのて゛、グー1−回路32から(,1被測定
物24の走査1)向)1法(例え(、を外径)にλ1応
した時間11=り41;i6するり[1ツクパルスI〕
を泪数回路36に入力1jる。泪数回i1’i’f 3
6LL、このりDツクパルスP 庖ii1数し7で、j
゛ジタル表小器38に旧数仁号を出力し、−iジタル表
示器38= 3− は被alll定物2/Iの走査方向Nl法即ち外径をデ
ジタル表示することに7361、一方、前記多角形回転
ミラー16は、rWt記クロックパルス発振器34出力
と同期して正弦波を発生づる同期正弦波発振器40及び
パワーアンプ42の出力により同期駆動されている同期
を一タ/′I4により、前記り[lツクパルス発振器3
1出力のクロックパルスCPと同期して回転され、X1
ll定粕度を紐持するようにされている。 このような高速度走査型レーク“測長はは、移動する物
体、高温物体のI(さ、厚み等を非接触C高精度に測定
できるので広く利用されつつある。 ここで、例えばUSP3,765.774号に開示され
るように、前Weの多角形回転ミラーを平面鏡として、
光源からのビームを該回転平面ミラーの、回転中心軸上
の一点で常に反則して、]リメータレンズへの入q・1
光を一定とし、この結果として平行走査ビームを安定さ
せるようにしたものがある。 しかしながら、このJ:うに平面鏡を回転させる場合は
、平行51−査ビーl\のA′査右方向i14!II1
.’ /1′N制限されて、中イ◇11!f間当りの測
定回数が少なくイ〔るために、測定軸度を白土覆ること
が−(〜さび、又、平行走査ビームに速度変化/)り牛
じて、これによっても測定粘度を一定以上向上さi!る
ことがでさないという問題点がある。 これに対して、例えばLJSP3,961,838に開
示されるように、コリメータlノノズへの入QJ角Oに
r、トじて、平行走査ビームの中心光軸からの高さ11
−にθとなる」:)に1ノで、平行走査ビームの速度一
定どなるようにしたものがある。 しかしながら、この場合においても、光源り目)のビー
ムを反射するための手段として平面lAを使う場合は前
述の如く測定粘度白土に限Wがあり、又、第6図に示さ
れるように多角形間中ムミラーを利用した場合は、その
反射面が]リメータlノンズの光軸上で前後り向に周期
的に変化するために、11111定誤差が生じるという
問題点がある。 これにλjしては14願昭59−17971¥口こよっ
て142案されるように、一定の11面周差を備えたr
θしノンズを用いたものがある。 [発明が解決し」、うと−づる問題点]しかしながら、
更に測定の高精度化が東京される勺1]−(゛は、−1
’−、gL!の王者においても、測定1’+’i川向十
に限界があるという問題点がある。 即ち、いりJ1の場合−(・あっても、回転ミラー、ゴ
1リメータレンズ舌の要素を高粘ru (゛製造づるご
どが必要どイfす、イの製造]ストが大幅(J増大づる
ど共に、′8要素間の位置決め、調整によって、測定オ
^磨を向干さしるには限界がある1、更に、」l記のJ
:うな多角形回転ミラーを駆動づる同期゛[−夕は、一
般的にlJ、!i、0周期の変動(一回転以内の変動)
及びI(周期の変4リノがあり、前古(、(フライホイ
ールをff1iQ 4J’ ?、>ことiこにり除去づ
ることが容易であるが、後者の長周期の変動を除去−づ
ることは出力1であった。 こ41に対しτは、ヒステリシスシンク11ナス[−タ
1’) T L l−制御によるDCモータを使用−す
ることも考えらねるが、この場合は]ス1〜が大幅に1
(゛)大してしJ、うという問題点がある。 これに処1しl、第6図に示され?)ように、)(’
?−i走査ビーム20の中に一対のピン21.21 (
!:1jijfi シ、この 夕・1のピン21.21
の間の実i!l’l (iri尺ひ測定値の比から、■
−夕の回転をしニタし・でされを補正する」、うにしL
:()のがある。 又、第6図におい−(’ 2 aj鎖綿C示j’4れる
ように、回lI!/I走査ビーム17の走査方向両端)
バ傍位置(、ニ一対の光電変換器23.23を設け、I
−れらの光電変換器から出カイ11月の立らlがり父は
vIら1・かり間の時間に基づく測定値ど、これらの光
電変換器間の実測伯どのILからt−タの回転4[ニタ
L・て測定値を補正づる」、うにしたものがある。 しかしながら、これら(,1い一#’ 11も、jI:
”hビームの径が人さい個所て゛走査ビームが一部・1
のピン21.21あるい(、L−月の光市′!に″換器
233.23を走査ηろようにイ」つているために、こ
れらの−1−ツジ検出精度がイバく、このため測定回数
を多クシ−(重均化による測定粕瓜の向−1をbIらざ
る” i’j <:>いという問題点がある。 又、一対の光電変換器を利用lノた場合は、これら−タ
1の光電変換%;の感瓜のドリフ1−及び)7ンブ系の
ドリフ]・が測定粕1寝を悪化させるという問題点があ
る。 【発明の[1的] この発明は上記(、Y来の問題点に鑑み−て<7された
ものであって、回転ミラー、レンズ゛等の刈ン人精石及
び組立て粕mを極端に高くしたり、測定回数を増大した
りすることなく、測定精jαを白土さVることがでさる
ようにしIご〉■学式測定装置を提供することを目的と
づる。 [問題点を解決づるための手段) この発明は、ビーム光牛器からの入射ビームを反射して
回転走査ビームとする多角形回転ミラー、該回転走査ビ
ームを平行走査ビームとづるコリメータレンズ、を含む
平行走査ビーム発生装置と、被測定物を通過したMQ記
平行走査ビームの明暗を検出づる光電変換器と、一定周
波数の基準信号を発生するL11信号発生器と、を右し
、前記平行走査ビーム光中装置と前記光電変換器の間に
配置しまた被測定物によって前記平行走査ビームの一部
が一8= 遮られ−(生じる11+′i部又は明部のn、’i間の
1(さを、該光電変換器の出力11b間に対応1する基
I′X!、 (i−弓iE牛器す日らのl↓ギイパ号4
4数して被測定物の走古方向マ1法を求めるようにした
光学式測定装置(、:おい′(、前記多角形回転ミラー
と前記被測定物との間のイ1″I買に、前記回転走査ビ
ーム及び重(j走査ビームの一方苓検出4べく配置され
、受光(J、対応して信号を出力Jる第2の光電変換器
と、この第2の光電変換器及び前記光電変換器の出力信
号に早づき、該第2の光電変換器の位置を基titどし
−C1被測定物の庄査問始Di点及び走査柊了峙点J、
での間、イれぞt目こ対応して第1及び第2の(;Z
弓’&出力する回路ど、これら第1及び第2の信gが出
力されでいる間の前配基1Il(ii号発生器からの出
力信gをhIPJ7Jる第1及び第2のカウンタと、前
記第2の光電変換器の信号の出力聞始口)にお(」る前
記走査ビームの位置を原点どした走査範囲をト分づるイ
r意の複数位置までのA−置時間に対応する前記N13
捏(5i月の数、及び、前記原点から前記複数のイひi
Mでの前記平行走査ビーム発生装置の光学的1右差に対
応−、di5)前記基)((信号の数の補正値を記憶(
]ている611憶装置と、へr1記第1及び第2のカウ
ンタでの計数liI′tを、前記記1ハ装置〜(こ后1
(1彦されたン市1王(1「口、二より7山正4る補正
回路と、この補正回路(ζ−より補正さ11゜I、=前
記第1及び第2のカウンタの計数値の差をδq樟“づる
演C)器ど、4設けることにより1−記目的を達成1−
ろものである。 【作用l ごの弁明において、第2の光電変換器を一原貞どする基
ハj信号の))ラント・数に対応1、ノて、予め\P行
走査ビームの)1′、学系にi13ける誤差がh〔1憶
装置に配憶されていて、第2の光7h変換器から被測定
物の走査開始時点及び走査開始時点1:対応するカウン
タのカラン1へ伯を、前記記憶された光学系の誤差に基
づき補正り−るので、回転ミラーヤ9−’1リメークレ
ンズの寸法粘磨及び取イ]け精fvYの如何に拘4つら
ず、それ7)” nK容範囲内であるならば、測定fi
rfを補正して、測定精J印の向−1を図ることができ
る。 【実加例】 以下本発明の実施例を図面を参照lノT説明する。 この″J:′施例は、第11ン1枝(f第r2図(Jホ
されと)よう(、〜、じ−ム光牛器50か5.の入(1
・Jビー1.Sf’i丁)5]=IQ cl’i ジノ
T 回転A4 ’(’i L’−ム54 L: s、、
tコ)多角形回転ミラーb(L該回転屯占じ〜ム5−・
Iを平行圭Nじム58どすイ)−1リメー!I L’
ンl 60、を含ム’ir−を1走1〜ビーム芹生l(
置と、被測定物62 k ’h:η過しjこ前記平行走
査ビームの明+1+N症検出31イ)光11イ変換:#
:04ど、一定周波数のり[lツイ!パル−スCPを阜
1X+−信号を発生りるり1−1ツクパルス発111■
器66ど、を右(〕、〕前記n11−杏ビー11発生装
置!前ム]1光電乃:1条:脅6/1の間(こb1シ冒
1. k打し1川定1先!I 6 ::”りに、10:
)’(J −Mi+古1コ甲行平行V杏ビーム巳)4の
一部/〕り遮ら口了生じる1111部又は明部の旧聞の
1(さを、該)11社イ変換器6・1の出力l)間にり
J’ 1.t、; 1jるり目ツイ・パルス計l肢器6
6からのり「lツクパルス0[)合hI数]、・−r7
伎J川定ルノ62のI=、 * 1j向寸法を求めるよ
−)i;: lyた光学式測定装置に143い−(丁、
1)fl記−1リメーク1.ノンズ60 A=被i(1
’i定1々+62との間の位置に、前記平行上沓1コ゛
−ム5Bを検出すべく Pii!置され、受光lJ対応
しで信号り出力する第7?の光電変換器68ど、J二の
第1)の光、電変IQ器68及び前記光電変換器6・1
の出力信号に基づき、該第2の光電変換器68の位置を
t!準とジノで、被測定物62の走査開始時点及び走査
終了時点までの間、イれぞれに対応]ノて第゛1及び第
2の信号G1及びG2を出力する回路70ど、これら第
1及び第2の信号G+、G2が出りされている間の前記
り[−]ツクパルス発振器66かI)のり11ツクパル
スCPを計数する第1及び第2のカラ〕/り72.74
と、iiQ記第2の光電変換器68の信号の出力開始時
における平行走査ビーム58の位置を原点ど(Jた走査
範囲を区分する任意の複数イひ匿までのり1−1ツクパ
ルスCPの数、及び前記原点から前記複数の位置での、
前記平行走査ビーム発生装置の光学的誤差に対応する前
記りI−1ツクパルスCPの数の補正値を記憶しでいる
記憶装H76と、前記第1及び第2のカウンタ72.7
/lて・の計数値を、前記記憶装置7Gに記憶された補
正値により補正する補正回路78と、この補正回路78
により補正された前記第1及び第2のカウンタ72.7
/lのh4数値の差を演算リ−る演粋器80と、設置た
i) /7) C・ある3、 第1図の符脣51 Itビーム光牛器5)0に」、り発
生されムー人q・Jビーム52を多角形回転ミーラニー
56方向に反りII aる固定ミラー、(3゛1は1光
レンズを示す。 前記光電変tri器04及び第2の光電ゆ換器0ε3か
らの出力信号を処理!Vイ> AQ記回路7 Ole!
次のように(する成されている。。 回路70は第1及び第2の−7リツプノ1]゛ン1回路
(以]マ「F回路)F〕2.84ど、−」ンバー77−
86と、9 イマ−8B と、A N D ’i”−h
90 ト、を備えている。 前記光?17変換器64の出力側はアン/92及び前記
:]ンバータ・−86を介して第′1の[=[回路82
にi3けるリセッ1へ側に接続され、ヌ、アンプ92を
介1)で前記AN[]グー1−〇〇に接続されでいる。 前記第20光電変換器68の出力側はアン/゛94を介
して前記第1及び第2の「1回路82.84のセラ1〜
側に接続されている。 又、該1イ)2の光′小身換器68はアンプ94を一/
1しCifn l:lt3 夕4 ”;’−881J:
接続e n C<1’ 6゜このクイマー88の出力
側は前記へ谷用〕ゲー 1−901J、t31−Jる他
、7J0) Oに1子に接続され(いる。 ここで11tj記クイマー8E);よ、第2の光電変換
器68から7′ン79=1を経で出力さl’Lる信号S
?を口、)間−1−だ()保持し・でこれをANDゲ〜
l−90に出力づる、にうにされ7いる3、 このANDゲー1〜901.tタイ−ノー811からの
出力13号ローレベル(゛、口つ光電変換器64からの
出カイ3号がパイ1ノベルのときに前nQ第2の1−F
回路8/IのりL′ツ1−側に信′;′Jを出力するよ
うにされでいる。 前記第1及び第2 (D F +−二回路82.84は
それぞれ対応する第1及び第2のAN 1〕ゲー[・9
6及び9Bにゲ〜1へIi4号G1及び02を−f4’
ンぞね出ツノ−rjるにうにされている。 これら第1及び第2のAN Dゲート90及び98は、
前記り「」ツクパルス発振器6Gからのり[lツクパル
スCPが入1)され、グー1−信号G+、BσG 2が
入力さ1シ(いるどさ゛(1T1ぞのil:’n間だ(
1間7+L41、クロックパル[べCPを第1及(ド第
2のカウンター72及げ74(J−14′)ぞ4′箋5
出力Aるよ′))、〜さねでいる。。 又、前記り[]ツクパルス光徹器661XU同1υI+
1弦波光1に9;慝′100及びt〜・り1−ラーイバ
1024杼イ゛、1)η記多角形回転ミラー5Gを回φ
l:駆動り−るI、−めの同期モータ104に接続さ4
1Cいる。、第1 図(1) ijJ Y’r i O
61,t、 1ijj I>7 器80 (7) IJ
l>1lIi 9d l1lI′)測定値を表示づる
ための人示器yE、1りt il次に一1記第1図に示
される実副倒の作用を第2図を参照しノ?−説、明する
。 平行走査ビーム]58が被測定物62を走査5するどき
、まず前記第2の光電′免]条:幇60Q)泣in G
iにWt Ly−(から、被イill置物(i2を走査
−する、。 イボのとき、第2の光電変1!!!器68が平行走査じ
一ム58を受光することによって出力−づる信号81シ
は第2図(13)に示(されるようにイCる。 又、被測定物62を走査する(−ど[よつC明部及び明
部が1した平行走査1′−ム:S 8+、t、光電変−
1 !5− 換器C37Iに到達11−ることによって、該光電変1
a−器6=1の出力部V3 SI Lま第2図(A)に
示されるようにイrる5゜ 第2の光電変換器68の出力信号S/はアンプ91によ
つC増幅され六−後(,7、第1笈ひ第2の[「回路8
2.8/Iのセラ1−側にイれぞ41人力i−きれる。 祥つ゛にれら第1及び第2のF「回路82.81の出力
信シうG I及びG 2 it第2図に示されるにうに
信号$2の立−1りに同期してX′1」−る、。 平行走査ビーノ、58が第2の光電変換器68の位貿を
通過−リ゛るど、該第2の光電変1りy)闘08の出力
信号S?が☆下り、同期に光゛小女換器64小出力仏号
S1が立上・:5゜ このどき、出力部すSlは=]ンバークー86を介して
第1の[[回111882のリセツ1〜側に接続されC
いるので、信′;3S、h<’h土ってt)第1の1−
「回路82がリセットさ11.ることがない。 従つC出力4?、 舅G +がハイレベルに相持される
ことに右”る。 q O− ヌ、出力部”j S IはAト用]グー1・9 (1’
) f、1人力、きれるが、このとさ、タイマー88の
時間“1−を、第2図に示される、1次うに、第2の光
′小女換868の立上りから☆トリに至るh間より4:
) fJ:H<設定し−C11月Jば、該It、′1i
il−1’−の間はA N Dゲ−1・90が間かれる
ことがイtい、1 従って第2f7)F F回路84がリセッ1へさ′11
ることかなく、出力信号02はハイ[ノベルに七N6さ
れる。 平行走査じ−へ558が被測定物の(−!’2置に忙り
イの走査を開始7る時貞で、光電変換器64は餡の状態
とイノ゛るため(こ出力信号S1が〜“r下イ)1゜こ
の出力信号531の立下りはコンパ、−ター86を−介
しノ″(第1の「「回路82のり1′・ツトfllll
に入力されるために、該第1の[゛[回路82がリセッ
1−されてイの出力信号G、は日−用ノベルどなる。 又、第2のF F”回路84側はt[1力信号S1がX
γ下がっTもなlし、らり1=ツ1−され?)こと(−
1ない。 次1J1平行メ[査ビーム58が被より置物02の走査
を終了し)s or;点になるど、光電変換器641a
明どなり、その出h I:”=号S1が立トロ。 出力4a号S1が立トリハイレベルとなるどき、タイマ
ーε38(ま既に時間−「を」−分に経過しているので
、出力(バ号がD−レベルとなり、且っ△N DグーI
・90に反転しC入力され(ハイレベル)るため、AN
Dグー1〜90が開がl’L C1(J−弓が第2の「
[回路8/Iのリレン1〜側に入力される。 このため、該第2の「[回路84の出り信号G2がロー
レベルとなる。。 前記第1及び第2のA N Dグー 1〜9G及び98
はぞれぞれに入)Eされる1吉号G1及び02がハイレ
ベルのときに聞かれて、クロックパルス発信器66かl
う出力されるクロックパルスCPを第1のカウンター7
2及び第2のカウンター71にぞれぞれ出力することに
なる。 第1及び第2のカウンター72.74は人ツノされたク
ロックパルスCI〕の数A、及び△2をそれぞれ61放
して補正II!1路78に出力づる。 補iE @ !1g78は、記憶装置76にJ3いてY
め記1ハされl、:、パルス数△1、△2に対応する、
前記jF行シ3玉査ビーム光牛装置における光学系の誤
;ζ苓読取つ(、λ1j正11Ma、及びa2により、
前記回数1irj A + 、△2に加(伏L7て、)
+li tTE後の歇1iI′i Ii + 、 D2
を演悼器80に出力する。 iUi n m 80はB 2−B +を演Ht、、
”’c、ぞ(7) ’j’、”: ”:’結束を表示器
10Gに出力する。 なJ3、ここで補正回路78においては、第1及び第2
のカウンター 72.74 F O)ム1故!tftタ
所定の回数lご
光線ビームを利用して被測定物のA1法等をa(11定
づる光学式測定装置の改良に関Jる3、[従来の技術] 従来、回転走査ビーム(レーク゛じ−ム)−8二Jリメ
ータレンズによりこの=1リメータレンズと集光レンズ
間を通る平行走査ビームに′J!c″換し、該二)リメ
ータレンズと集光レンズの間に被測定物をir′ii!
、この被測定物によって前記平行走査ビームが辿られて
生じる1111部又は明部の時間の長さから被測定物の
寸法を測定Jる光学式測定装置があつI、:。 これは、例えば第6図に示す如く、レーザ仇10 tr
〜らレーク“ビーム12を固定ミラー17′Iに向()
て発振し、この固定ミラー14により反射されたレーザ
ビーム12を多角形回転ミラー1Gによって回転走査ビ
ーl\17に′t!2換し、この走査ビーム17を=1
リメータレンズ18によって平行走査じ一ム20に変換
し、この平行走査ビーム20によりコリメータレンズ1
Bと集光lノンズ22の間に配置しlJ被測定物二24
4高辻」二査し、fの旧m 1(ill定物24によっ
て生じる11′1部又は明部の11′i間σ月、さから
、被測定物24の走査I)向(1・y)向)て1法を測
定づるもの−Cある。、即0、重(j走査l−′−ム7
)0の明111’、1は、集光レンズ21?の焦f気位
置にある受光素子26の出ノ) rHD−の変化ど本、
って検出さ壜1゜該・受光幸12)6からの伏目は、プ
リノ′ンブ?ε3 f二人力され、ここで増幅された後
、1ごツノメン1−選択回路30に送られる4、このし
フタメン1−選択回路30は、受光素子2Gの出力電F
1−から被測定物2/Iが走jづ1−さ4′1ている1
)、y間tの間だ1フグ−1−回路32を聞くための電
圧Vを介([(〕て、〕グー1回路32に出力覆るよう
にされ−ている。このグー1−回路32には、り[1ツ
クパルス発振器34からりし]ツクパルスCPが入力さ
れ一τいるのて゛、グー1−回路32から(,1被測定
物24の走査1)向)1法(例え(、を外径)にλ1応
した時間11=り41;i6するり[1ツクパルスI〕
を泪数回路36に入力1jる。泪数回i1’i’f 3
6LL、このりDツクパルスP 庖ii1数し7で、j
゛ジタル表小器38に旧数仁号を出力し、−iジタル表
示器38= 3− は被alll定物2/Iの走査方向Nl法即ち外径をデ
ジタル表示することに7361、一方、前記多角形回転
ミラー16は、rWt記クロックパルス発振器34出力
と同期して正弦波を発生づる同期正弦波発振器40及び
パワーアンプ42の出力により同期駆動されている同期
を一タ/′I4により、前記り[lツクパルス発振器3
1出力のクロックパルスCPと同期して回転され、X1
ll定粕度を紐持するようにされている。 このような高速度走査型レーク“測長はは、移動する物
体、高温物体のI(さ、厚み等を非接触C高精度に測定
できるので広く利用されつつある。 ここで、例えばUSP3,765.774号に開示され
るように、前Weの多角形回転ミラーを平面鏡として、
光源からのビームを該回転平面ミラーの、回転中心軸上
の一点で常に反則して、]リメータレンズへの入q・1
光を一定とし、この結果として平行走査ビームを安定さ
せるようにしたものがある。 しかしながら、このJ:うに平面鏡を回転させる場合は
、平行51−査ビーl\のA′査右方向i14!II1
.’ /1′N制限されて、中イ◇11!f間当りの測
定回数が少なくイ〔るために、測定軸度を白土覆ること
が−(〜さび、又、平行走査ビームに速度変化/)り牛
じて、これによっても測定粘度を一定以上向上さi!る
ことがでさないという問題点がある。 これに対して、例えばLJSP3,961,838に開
示されるように、コリメータlノノズへの入QJ角Oに
r、トじて、平行走査ビームの中心光軸からの高さ11
−にθとなる」:)に1ノで、平行走査ビームの速度一
定どなるようにしたものがある。 しかしながら、この場合においても、光源り目)のビー
ムを反射するための手段として平面lAを使う場合は前
述の如く測定粘度白土に限Wがあり、又、第6図に示さ
れるように多角形間中ムミラーを利用した場合は、その
反射面が]リメータlノンズの光軸上で前後り向に周期
的に変化するために、11111定誤差が生じるという
問題点がある。 これにλjしては14願昭59−17971¥口こよっ
て142案されるように、一定の11面周差を備えたr
θしノンズを用いたものがある。 [発明が解決し」、うと−づる問題点]しかしながら、
更に測定の高精度化が東京される勺1]−(゛は、−1
’−、gL!の王者においても、測定1’+’i川向十
に限界があるという問題点がある。 即ち、いりJ1の場合−(・あっても、回転ミラー、ゴ
1リメータレンズ舌の要素を高粘ru (゛製造づるご
どが必要どイfす、イの製造]ストが大幅(J増大づる
ど共に、′8要素間の位置決め、調整によって、測定オ
^磨を向干さしるには限界がある1、更に、」l記のJ
:うな多角形回転ミラーを駆動づる同期゛[−夕は、一
般的にlJ、!i、0周期の変動(一回転以内の変動)
及びI(周期の変4リノがあり、前古(、(フライホイ
ールをff1iQ 4J’ ?、>ことiこにり除去づ
ることが容易であるが、後者の長周期の変動を除去−づ
ることは出力1であった。 こ41に対しτは、ヒステリシスシンク11ナス[−タ
1’) T L l−制御によるDCモータを使用−す
ることも考えらねるが、この場合は]ス1〜が大幅に1
(゛)大してしJ、うという問題点がある。 これに処1しl、第6図に示され?)ように、)(’
?−i走査ビーム20の中に一対のピン21.21 (
!:1jijfi シ、この 夕・1のピン21.21
の間の実i!l’l (iri尺ひ測定値の比から、■
−夕の回転をしニタし・でされを補正する」、うにしL
:()のがある。 又、第6図におい−(’ 2 aj鎖綿C示j’4れる
ように、回lI!/I走査ビーム17の走査方向両端)
バ傍位置(、ニ一対の光電変換器23.23を設け、I
−れらの光電変換器から出カイ11月の立らlがり父は
vIら1・かり間の時間に基づく測定値ど、これらの光
電変換器間の実測伯どのILからt−タの回転4[ニタ
L・て測定値を補正づる」、うにしたものがある。 しかしながら、これら(,1い一#’ 11も、jI:
”hビームの径が人さい個所て゛走査ビームが一部・1
のピン21.21あるい(、L−月の光市′!に″換器
233.23を走査ηろようにイ」つているために、こ
れらの−1−ツジ検出精度がイバく、このため測定回数
を多クシ−(重均化による測定粕瓜の向−1をbIらざ
る” i’j <:>いという問題点がある。 又、一対の光電変換器を利用lノた場合は、これら−タ
1の光電変換%;の感瓜のドリフ1−及び)7ンブ系の
ドリフ]・が測定粕1寝を悪化させるという問題点があ
る。 【発明の[1的] この発明は上記(、Y来の問題点に鑑み−て<7された
ものであって、回転ミラー、レンズ゛等の刈ン人精石及
び組立て粕mを極端に高くしたり、測定回数を増大した
りすることなく、測定精jαを白土さVることがでさる
ようにしIご〉■学式測定装置を提供することを目的と
づる。 [問題点を解決づるための手段) この発明は、ビーム光牛器からの入射ビームを反射して
回転走査ビームとする多角形回転ミラー、該回転走査ビ
ームを平行走査ビームとづるコリメータレンズ、を含む
平行走査ビーム発生装置と、被測定物を通過したMQ記
平行走査ビームの明暗を検出づる光電変換器と、一定周
波数の基準信号を発生するL11信号発生器と、を右し
、前記平行走査ビーム光中装置と前記光電変換器の間に
配置しまた被測定物によって前記平行走査ビームの一部
が一8= 遮られ−(生じる11+′i部又は明部のn、’i間の
1(さを、該光電変換器の出力11b間に対応1する基
I′X!、 (i−弓iE牛器す日らのl↓ギイパ号4
4数して被測定物の走古方向マ1法を求めるようにした
光学式測定装置(、:おい′(、前記多角形回転ミラー
と前記被測定物との間のイ1″I買に、前記回転走査ビ
ーム及び重(j走査ビームの一方苓検出4べく配置され
、受光(J、対応して信号を出力Jる第2の光電変換器
と、この第2の光電変換器及び前記光電変換器の出力信
号に早づき、該第2の光電変換器の位置を基titどし
−C1被測定物の庄査問始Di点及び走査柊了峙点J、
での間、イれぞt目こ対応して第1及び第2の(;Z
弓’&出力する回路ど、これら第1及び第2の信gが出
力されでいる間の前配基1Il(ii号発生器からの出
力信gをhIPJ7Jる第1及び第2のカウンタと、前
記第2の光電変換器の信号の出力聞始口)にお(」る前
記走査ビームの位置を原点どした走査範囲をト分づるイ
r意の複数位置までのA−置時間に対応する前記N13
捏(5i月の数、及び、前記原点から前記複数のイひi
Mでの前記平行走査ビーム発生装置の光学的1右差に対
応−、di5)前記基)((信号の数の補正値を記憶(
]ている611憶装置と、へr1記第1及び第2のカウ
ンタでの計数liI′tを、前記記1ハ装置〜(こ后1
(1彦されたン市1王(1「口、二より7山正4る補正
回路と、この補正回路(ζ−より補正さ11゜I、=前
記第1及び第2のカウンタの計数値の差をδq樟“づる
演C)器ど、4設けることにより1−記目的を達成1−
ろものである。 【作用l ごの弁明において、第2の光電変換器を一原貞どする基
ハj信号の))ラント・数に対応1、ノて、予め\P行
走査ビームの)1′、学系にi13ける誤差がh〔1憶
装置に配憶されていて、第2の光7h変換器から被測定
物の走査開始時点及び走査開始時点1:対応するカウン
タのカラン1へ伯を、前記記憶された光学系の誤差に基
づき補正り−るので、回転ミラーヤ9−’1リメークレ
ンズの寸法粘磨及び取イ]け精fvYの如何に拘4つら
ず、それ7)” nK容範囲内であるならば、測定fi
rfを補正して、測定精J印の向−1を図ることができ
る。 【実加例】 以下本発明の実施例を図面を参照lノT説明する。 この″J:′施例は、第11ン1枝(f第r2図(Jホ
されと)よう(、〜、じ−ム光牛器50か5.の入(1
・Jビー1.Sf’i丁)5]=IQ cl’i ジノ
T 回転A4 ’(’i L’−ム54 L: s、、
tコ)多角形回転ミラーb(L該回転屯占じ〜ム5−・
Iを平行圭Nじム58どすイ)−1リメー!I L’
ンl 60、を含ム’ir−を1走1〜ビーム芹生l(
置と、被測定物62 k ’h:η過しjこ前記平行走
査ビームの明+1+N症検出31イ)光11イ変換:#
:04ど、一定周波数のり[lツイ!パル−スCPを阜
1X+−信号を発生りるり1−1ツクパルス発111■
器66ど、を右(〕、〕前記n11−杏ビー11発生装
置!前ム]1光電乃:1条:脅6/1の間(こb1シ冒
1. k打し1川定1先!I 6 ::”りに、10:
)’(J −Mi+古1コ甲行平行V杏ビーム巳)4の
一部/〕り遮ら口了生じる1111部又は明部の旧聞の
1(さを、該)11社イ変換器6・1の出力l)間にり
J’ 1.t、; 1jるり目ツイ・パルス計l肢器6
6からのり「lツクパルス0[)合hI数]、・−r7
伎J川定ルノ62のI=、 * 1j向寸法を求めるよ
−)i;: lyた光学式測定装置に143い−(丁、
1)fl記−1リメーク1.ノンズ60 A=被i(1
’i定1々+62との間の位置に、前記平行上沓1コ゛
−ム5Bを検出すべく Pii!置され、受光lJ対応
しで信号り出力する第7?の光電変換器68ど、J二の
第1)の光、電変IQ器68及び前記光電変換器6・1
の出力信号に基づき、該第2の光電変換器68の位置を
t!準とジノで、被測定物62の走査開始時点及び走査
終了時点までの間、イれぞれに対応]ノて第゛1及び第
2の信号G1及びG2を出力する回路70ど、これら第
1及び第2の信号G+、G2が出りされている間の前記
り[−]ツクパルス発振器66かI)のり11ツクパル
スCPを計数する第1及び第2のカラ〕/り72.74
と、iiQ記第2の光電変換器68の信号の出力開始時
における平行走査ビーム58の位置を原点ど(Jた走査
範囲を区分する任意の複数イひ匿までのり1−1ツクパ
ルスCPの数、及び前記原点から前記複数の位置での、
前記平行走査ビーム発生装置の光学的誤差に対応する前
記りI−1ツクパルスCPの数の補正値を記憶しでいる
記憶装H76と、前記第1及び第2のカウンタ72.7
/lて・の計数値を、前記記憶装置7Gに記憶された補
正値により補正する補正回路78と、この補正回路78
により補正された前記第1及び第2のカウンタ72.7
/lのh4数値の差を演算リ−る演粋器80と、設置た
i) /7) C・ある3、 第1図の符脣51 Itビーム光牛器5)0に」、り発
生されムー人q・Jビーム52を多角形回転ミーラニー
56方向に反りII aる固定ミラー、(3゛1は1光
レンズを示す。 前記光電変tri器04及び第2の光電ゆ換器0ε3か
らの出力信号を処理!Vイ> AQ記回路7 Ole!
次のように(する成されている。。 回路70は第1及び第2の−7リツプノ1]゛ン1回路
(以]マ「F回路)F〕2.84ど、−」ンバー77−
86と、9 イマ−8B と、A N D ’i”−h
90 ト、を備えている。 前記光?17変換器64の出力側はアン/92及び前記
:]ンバータ・−86を介して第′1の[=[回路82
にi3けるリセッ1へ側に接続され、ヌ、アンプ92を
介1)で前記AN[]グー1−〇〇に接続されでいる。 前記第20光電変換器68の出力側はアン/゛94を介
して前記第1及び第2の「1回路82.84のセラ1〜
側に接続されている。 又、該1イ)2の光′小身換器68はアンプ94を一/
1しCifn l:lt3 夕4 ”;’−881J:
接続e n C<1’ 6゜このクイマー88の出力
側は前記へ谷用〕ゲー 1−901J、t31−Jる他
、7J0) Oに1子に接続され(いる。 ここで11tj記クイマー8E);よ、第2の光電変換
器68から7′ン79=1を経で出力さl’Lる信号S
?を口、)間−1−だ()保持し・でこれをANDゲ〜
l−90に出力づる、にうにされ7いる3、 このANDゲー1〜901.tタイ−ノー811からの
出力13号ローレベル(゛、口つ光電変換器64からの
出カイ3号がパイ1ノベルのときに前nQ第2の1−F
回路8/IのりL′ツ1−側に信′;′Jを出力するよ
うにされでいる。 前記第1及び第2 (D F +−二回路82.84は
それぞれ対応する第1及び第2のAN 1〕ゲー[・9
6及び9Bにゲ〜1へIi4号G1及び02を−f4’
ンぞね出ツノ−rjるにうにされている。 これら第1及び第2のAN Dゲート90及び98は、
前記り「」ツクパルス発振器6Gからのり[lツクパル
スCPが入1)され、グー1−信号G+、BσG 2が
入力さ1シ(いるどさ゛(1T1ぞのil:’n間だ(
1間7+L41、クロックパル[べCPを第1及(ド第
2のカウンター72及げ74(J−14′)ぞ4′箋5
出力Aるよ′))、〜さねでいる。。 又、前記り[]ツクパルス光徹器661XU同1υI+
1弦波光1に9;慝′100及びt〜・り1−ラーイバ
1024杼イ゛、1)η記多角形回転ミラー5Gを回φ
l:駆動り−るI、−めの同期モータ104に接続さ4
1Cいる。、第1 図(1) ijJ Y’r i O
61,t、 1ijj I>7 器80 (7) IJ
l>1lIi 9d l1lI′)測定値を表示づる
ための人示器yE、1りt il次に一1記第1図に示
される実副倒の作用を第2図を参照しノ?−説、明する
。 平行走査ビーム]58が被測定物62を走査5するどき
、まず前記第2の光電′免]条:幇60Q)泣in G
iにWt Ly−(から、被イill置物(i2を走査
−する、。 イボのとき、第2の光電変1!!!器68が平行走査じ
一ム58を受光することによって出力−づる信号81シ
は第2図(13)に示(されるようにイCる。 又、被測定物62を走査する(−ど[よつC明部及び明
部が1した平行走査1′−ム:S 8+、t、光電変−
1 !5− 換器C37Iに到達11−ることによって、該光電変1
a−器6=1の出力部V3 SI Lま第2図(A)に
示されるようにイrる5゜ 第2の光電変換器68の出力信号S/はアンプ91によ
つC増幅され六−後(,7、第1笈ひ第2の[「回路8
2.8/Iのセラ1−側にイれぞ41人力i−きれる。 祥つ゛にれら第1及び第2のF「回路82.81の出力
信シうG I及びG 2 it第2図に示されるにうに
信号$2の立−1りに同期してX′1」−る、。 平行走査ビーノ、58が第2の光電変換器68の位貿を
通過−リ゛るど、該第2の光電変1りy)闘08の出力
信号S?が☆下り、同期に光゛小女換器64小出力仏号
S1が立上・:5゜ このどき、出力部すSlは=]ンバークー86を介して
第1の[[回111882のリセツ1〜側に接続されC
いるので、信′;3S、h<’h土ってt)第1の1−
「回路82がリセットさ11.ることがない。 従つC出力4?、 舅G +がハイレベルに相持される
ことに右”る。 q O− ヌ、出力部”j S IはAト用]グー1・9 (1’
) f、1人力、きれるが、このとさ、タイマー88の
時間“1−を、第2図に示される、1次うに、第2の光
′小女換868の立上りから☆トリに至るh間より4:
) fJ:H<設定し−C11月Jば、該It、′1i
il−1’−の間はA N Dゲ−1・90が間かれる
ことがイtい、1 従って第2f7)F F回路84がリセッ1へさ′11
ることかなく、出力信号02はハイ[ノベルに七N6さ
れる。 平行走査じ−へ558が被測定物の(−!’2置に忙り
イの走査を開始7る時貞で、光電変換器64は餡の状態
とイノ゛るため(こ出力信号S1が〜“r下イ)1゜こ
の出力信号531の立下りはコンパ、−ター86を−介
しノ″(第1の「「回路82のり1′・ツトfllll
に入力されるために、該第1の[゛[回路82がリセッ
1−されてイの出力信号G、は日−用ノベルどなる。 又、第2のF F”回路84側はt[1力信号S1がX
γ下がっTもなlし、らり1=ツ1−され?)こと(−
1ない。 次1J1平行メ[査ビーム58が被より置物02の走査
を終了し)s or;点になるど、光電変換器641a
明どなり、その出h I:”=号S1が立トロ。 出力4a号S1が立トリハイレベルとなるどき、タイマ
ーε38(ま既に時間−「を」−分に経過しているので
、出力(バ号がD−レベルとなり、且っ△N DグーI
・90に反転しC入力され(ハイレベル)るため、AN
Dグー1〜90が開がl’L C1(J−弓が第2の「
[回路8/Iのリレン1〜側に入力される。 このため、該第2の「[回路84の出り信号G2がロー
レベルとなる。。 前記第1及び第2のA N Dグー 1〜9G及び98
はぞれぞれに入)Eされる1吉号G1及び02がハイレ
ベルのときに聞かれて、クロックパルス発信器66かl
う出力されるクロックパルスCPを第1のカウンター7
2及び第2のカウンター71にぞれぞれ出力することに
なる。 第1及び第2のカウンター72.74は人ツノされたク
ロックパルスCI〕の数A、及び△2をそれぞれ61放
して補正II!1路78に出力づる。 補iE @ !1g78は、記憶装置76にJ3いてY
め記1ハされl、:、パルス数△1、△2に対応する、
前記jF行シ3玉査ビーム光牛装置における光学系の誤
;ζ苓読取つ(、λ1j正11Ma、及びa2により、
前記回数1irj A + 、△2に加(伏L7て、)
+li tTE後の歇1iI′i Ii + 、 D2
を演悼器80に出力する。 iUi n m 80はB 2−B +を演Ht、、
”’c、ぞ(7) ’j’、”: ”:’結束を表示器
10Gに出力する。 なJ3、ここで補正回路78においては、第1及び第2
のカウンター 72.74 F O)ム1故!tftタ
所定の回数lご
【プ積綿)ノでての後積算偵を回数に、
1こり甲1勺(にした数(Inを62霧冬11勺に取込
ん−(・、翫34へ′技1行16による111i正伯に
よつで補正する」;うにするど、処理時間を短縮できろ
とJ先に、測定値の精Iσを向上、′51!にどがCき
る。 次に第ご3図及び第4図(J−示されb本発明の第2実
施例につき説明する。 この第2実施例は第3図及び第・1図に示されるように
、V記のよう4≧光学式測定装置におい−C1前記多色
形回転ミラー536と前記被測定物62どの間の(rl
置に、Mt記平行メ[査ビームりと3に一:1.4〉走
査方向に離間し−C配置され、1つl1i−行走査ビー
ム55Bを同−貞に向けC反DJするように+lfi
iJられた2個の反0]鏡68A、68Bを設置J1第
2の光電′&換器6Bを前記同一点に、該2周の反04
鏡68△、68Bからの反身J光を受光する位置に配直
し、且つ前記第2のカウンタ74を前記第2の光電変換
器68の出力信号に1Jづき、前記2個の反射鏡68△
、68 Bの距随に対応した参照データをとるようにす
゛ると共に、irf記2個の反射鏡68A、68B間の
平行走査ビーム58の走査方向の実測距1作に基づくキ
ルフリブレーションデータと前記第20カウンタ74で
1qられた参照データとの比かIう、前記光電変換器6
/Iにより第1のカウンタ72で19られた計測データ
を修正する補正手段108を設けたものである。 前記第2の光電変換器68は、前記2個の反q]鏡68
Δ、68Bを経由しての前記コリメータレンズ60から
の光学的距離が、該コリメータレンズ60の焦点距離「
と等価の位置に配置されている。 又、前記2個の反射鏡68Δ、68Bの走査ビー 2〇
− 一ム進行方向のす11置は、前1]e]リメータ1ノン
ズ60ど被測定物62どの間とされでいる。 前記光電変換器61及び第2の光電変換器68からの出
力信号を処理すく)回1i’l’l 7 ’1は次の、
J、うに(14成されている。 まず、光電変換器61の出力側はアンプ92を介1)で
エツジ検出回路′110に)fl続され、このエツジ検
出回路1100出カ側はセグメント選択回路112を介
L/ ”C第1 (7) A N D ’y”−b 9
6 ニ接続されている。 この第1のANDゲー ト96の出力側は前記第1のカ
ウンタ72企介して演算装置(CPLJ)114に接続
されている。 又、前記第2の光電変換器68の出力側も、光電変換器
64ど同様に、アンプ94、エツジ検出回路116、U
クメン1〜選択回路11B、第2のANDグー1−〇8
を介して前記第2のカウンタ74に接続されている。 この第2のカウンタ72は前記演亦装向118に)と続
されている。 ここぐ前記■−ツジ険出回路110は、光電変換器04
の出力鎖目S+から、平行走査11−ム558ツバ被測
定物02をよ21寸ご)どき−のIIi部とイヱろ■ツ
レ4検出1ノて;−t’tをレグメン1〜蹴択回路11
2に出力づイ)ようにされ−(いご)。 セグメントiTt !Ie回路112は、Tツジ検出回
路110からの■ツジ検出信号の間、即ち被測定物62
によって生じる単数叉は複数の子め現定されたn1部に
相当−リ゛る時間tの間第1の7〜N +)グー1へ9
6を聞く信シ〕り出力するようにされている。 又、前記エツジ検出回路116は、11t]走査ピ′−
ム1Bが反口」鏡68Aを照OJシ、目つ68Rを照射
することによって、生じる第2の光電変換器6と3の出
力信E5 S 2の2つの立らトがりを検出し、こF′
LをtごグメンI−選沢(〔j回路11Bに出カーケる
ちのである1゜ Lグメント)ハ択回路′11Bはエツジ検出回路11G
からの1回[1の八゛Iら−11がり信号と2回目の立
ら+がり信′lJとの間のnr4間の間だけ第2の八N
f’)グー(へ9Bをffi1<へ二めの(4号を発
生しにれを第2のANDゲーグー98に出力4−に)よ
うにされている。 前記第1及び第2のAN Dグー1−06反び9Bは、
対応するレグメント;パ択回路1」2及び118からグ
ーI−信月が出力され−Cいる間、クロックパルス発振
器06からのり1】ツクパルスCI)をり・11.75
′8j6カウンタ72及び第2 (7) ))ウンタ7
・1に出ツノするbのて゛ある。 これらカウンタ72及び第2のカウンタ7・1は第1及
び第2のA N l)グーt−96及び9ε3が間か4
1でいる間り[]ツクパルス発振器6Gからのパルス信
号の数をカラン+= L、 Tこれを1)す開演rl装
置114に出カリ−る。 第3図のI′Jシー3120A及び120 B iqt
タイミング用光電変換器を示し、これらi:、tJリメ
ータレンズ60の両件側に接近し−C配冒され、=1リ
メータレンス60に入射する回転走11ビーl\55□
1の阜端技び終端を検出することによつ−C、タイミン
グ信号R” I 、R32を出力し、演睦艮1M114
の作動りづミンクをδ9定!、lるものであ6 +1こ
の演鈴↓!;ft”(114は、前記補正手段108を
含み、該補正手段′108は前記一対の反射鏡68△、
68B間の平tl’走査ビーム58の走査方向の距11
!t (キ17リグレーシで1ンγ−夕)を130、測
定にJ、′)で、第2のカウンタ74によつ(1!1ら
れた、前記一対の反射鏡68Δ、6813間の測定値を
81第1のカウンタ72によつ−C得られた被測定物6
2の走査方向の(J−仏を△とした場合、測定値Aを補
正して、被測定物62の真の寸法Δ′を次の(1)式に
よっで演itご)よ)にされている。 △′−△・(B/Bo) ・・・(1)ここ
で第4図の符号122は第2の光電変換器68の表面に
設置ノられたナイフェツジを示L2、このナイフェツジ
122は第2の光電変換器68の端部が一定でイrい場
合に、反射鏡68△、6813から入射する走査ビーム
による出力信号の立ち上がりを安定さけるためのもので
ある。 土泥実施例にa3いては、多角形回転ミラー56の1つ
の反Ω」面による1回の平行走査ビーム58による走査
毎に、光電変換器64で得られた信号にMづ゛く第1の
1)ウンタ72のカラン1−1直△を、第2の光電変換
器68−C: iEiられk(八′PJt:l:!、t
づく第2のカウンタ7・1のカラン1−(直F3及びY
め3Q定さ4″しているB oによつ−C補正されlこ
測定(イlへ′が出力されるので、多角形回転ミラー5
5Gを駆EJ]rるための同期七−夕+04の’)、*
1111及び長期の変fJノによっても、測定値に影
響を受!」に)ことが<ffiい。 更に、J−記実施例においては、第2の光?1:i変換
器68の、コリメータレンズ60に対づ”る光学的釦頭
は、該−」リメータレンズ60の焦点距111i1 f
に等しい位置どされているので・、該第2の光電変換器
6Bに入目」引る平行走査ビーム158の径は最小とな
り、測定精度が向1−される。 ’3 A3上記実施例において、反射鏡68△、08B
はコリメータレンズ60と被測定物62の間の位置に配
置されているが、本発明はこれに限定されるものでなく
、例えば回転走査ビーム54の走査域に配置するにうに
してもJ、い。 更に、上記実施例は、第2の光電変換器68の表面にナ
イフェツジ122を設()、これに」:つて該第2光7
Jj変換器68の受光端部をit” 9+1さしするc
lうにしているが、これは、ナ・イフ[ツジでナク−(
も、受光部が一定の直線トにイ【るイー〉のであればよ
い。 又、上記実施例(−1、反q」鏡68A、6E3Bから
直]うに第2の光電変換器68にSF t’i走査ビー
ム15Bが入射ηるようにしたものて゛あるが、これは
他のミラーを介して入射さ′41.るJ:うにし−(も
よい。 この実施例においては、2つの反射鏡から1゛)の第2
の光電変換器に平行走査ビームを反q・11ノで入q」
さt!るj;うにしたので、光電変換器の感度ドリフ[
〜及びアンプ系のドリフhが生じても、2つの反釦鏡間
の時間的幅に変化が生じるJ、とがなく、従って、該ド
リフI−によって測定精度を低壬することを防1−でき
る。 (発明の効果) この発明は、上記のように(7,i成したので、平行走
査ビーム発生装防における多角影回転ミラー、コリメー
タレンズ等の司法粘度、組立でriilfjを一人幅に
高めたりすることなく、又、被測定物の平行i(1,査
ビーム1.:l: J、る走査回数を494人し1.X
り寸゛イ> (m、 Lなり、1J法測定稍麿の向−1
を図るイーとが7−さる、。 14に、回転走査ビームを甲1]走査ビーb t’2.
変換するし〕/ズに特殊Cc t/ 〕/ス合用いたり
することイiく測定精度を向ト、−\Uることが7゛さ
る、。 46図面の曲111イ劣説明 第1図【−1本発明に係る)1−学式i1+!l定装置
の実施例を示すブ[1ツ乙7図、第2図(よ同大1if
i)間装ft’f i;おける信局処理の過程を承り線
図、第3図は本発明の第2実施例を示!丁第1図ど同様
のブ[」ツク図、第4図は同突fiili例における反
q・I &Nど第2の光電変換器との関係を示寸正面図
、第5]図(1間実施例装置における信’i % l!
IIの過程を示り−)4に図、第6図は従来の光学式測
定!A買を示4ブ[1ツク図C″あイ)。 50・・・L′−へ発生器、 J 2・・・入射じ−lい り4・・・回転走査ピ゛−ム、 Ei 6・・多角JEニ回転ミラー、 58 ・平行走査ビーム、 60・・・コリメータレンズ、 62・・・被測定物、 64・・・光電変換器、 06・・・り[]ツクパルス発振器(V型悟号光q−器
)、68・・・第20光電変換器、 −10,71・・・回路、 72・・・第10カウンタ、 74・・・第20カウンタ、 76・・・記憶装置、 78・・・補正回路、 80・・・演樟器、 82・・・第1のフリップクロップ回路、8/1・・・
第2の7リツプク[1ツブ回路。 代理人 松 山 圭 佑 高 矢 論
1こり甲1勺(にした数(Inを62霧冬11勺に取込
ん−(・、翫34へ′技1行16による111i正伯に
よつで補正する」;うにするど、処理時間を短縮できろ
とJ先に、測定値の精Iσを向上、′51!にどがCき
る。 次に第ご3図及び第4図(J−示されb本発明の第2実
施例につき説明する。 この第2実施例は第3図及び第・1図に示されるように
、V記のよう4≧光学式測定装置におい−C1前記多色
形回転ミラー536と前記被測定物62どの間の(rl
置に、Mt記平行メ[査ビームりと3に一:1.4〉走
査方向に離間し−C配置され、1つl1i−行走査ビー
ム55Bを同−貞に向けC反DJするように+lfi
iJられた2個の反0]鏡68A、68Bを設置J1第
2の光電′&換器6Bを前記同一点に、該2周の反04
鏡68△、68Bからの反身J光を受光する位置に配直
し、且つ前記第2のカウンタ74を前記第2の光電変換
器68の出力信号に1Jづき、前記2個の反射鏡68△
、68 Bの距随に対応した参照データをとるようにす
゛ると共に、irf記2個の反射鏡68A、68B間の
平行走査ビーム58の走査方向の実測距1作に基づくキ
ルフリブレーションデータと前記第20カウンタ74で
1qられた参照データとの比かIう、前記光電変換器6
/Iにより第1のカウンタ72で19られた計測データ
を修正する補正手段108を設けたものである。 前記第2の光電変換器68は、前記2個の反q]鏡68
Δ、68Bを経由しての前記コリメータレンズ60から
の光学的距離が、該コリメータレンズ60の焦点距離「
と等価の位置に配置されている。 又、前記2個の反射鏡68Δ、68Bの走査ビー 2〇
− 一ム進行方向のす11置は、前1]e]リメータ1ノン
ズ60ど被測定物62どの間とされでいる。 前記光電変換器61及び第2の光電変換器68からの出
力信号を処理すく)回1i’l’l 7 ’1は次の、
J、うに(14成されている。 まず、光電変換器61の出力側はアンプ92を介1)で
エツジ検出回路′110に)fl続され、このエツジ検
出回路1100出カ側はセグメント選択回路112を介
L/ ”C第1 (7) A N D ’y”−b 9
6 ニ接続されている。 この第1のANDゲー ト96の出力側は前記第1のカ
ウンタ72企介して演算装置(CPLJ)114に接続
されている。 又、前記第2の光電変換器68の出力側も、光電変換器
64ど同様に、アンプ94、エツジ検出回路116、U
クメン1〜選択回路11B、第2のANDグー1−〇8
を介して前記第2のカウンタ74に接続されている。 この第2のカウンタ72は前記演亦装向118に)と続
されている。 ここぐ前記■−ツジ険出回路110は、光電変換器04
の出力鎖目S+から、平行走査11−ム558ツバ被測
定物02をよ21寸ご)どき−のIIi部とイヱろ■ツ
レ4検出1ノて;−t’tをレグメン1〜蹴択回路11
2に出力づイ)ようにされ−(いご)。 セグメントiTt !Ie回路112は、Tツジ検出回
路110からの■ツジ検出信号の間、即ち被測定物62
によって生じる単数叉は複数の子め現定されたn1部に
相当−リ゛る時間tの間第1の7〜N +)グー1へ9
6を聞く信シ〕り出力するようにされている。 又、前記エツジ検出回路116は、11t]走査ピ′−
ム1Bが反口」鏡68Aを照OJシ、目つ68Rを照射
することによって、生じる第2の光電変換器6と3の出
力信E5 S 2の2つの立らトがりを検出し、こF′
LをtごグメンI−選沢(〔j回路11Bに出カーケる
ちのである1゜ Lグメント)ハ択回路′11Bはエツジ検出回路11G
からの1回[1の八゛Iら−11がり信号と2回目の立
ら+がり信′lJとの間のnr4間の間だけ第2の八N
f’)グー(へ9Bをffi1<へ二めの(4号を発
生しにれを第2のANDゲーグー98に出力4−に)よ
うにされている。 前記第1及び第2のAN Dグー1−06反び9Bは、
対応するレグメント;パ択回路1」2及び118からグ
ーI−信月が出力され−Cいる間、クロックパルス発振
器06からのり1】ツクパルスCI)をり・11.75
′8j6カウンタ72及び第2 (7) ))ウンタ7
・1に出ツノするbのて゛ある。 これらカウンタ72及び第2のカウンタ7・1は第1及
び第2のA N l)グーt−96及び9ε3が間か4
1でいる間り[]ツクパルス発振器6Gからのパルス信
号の数をカラン+= L、 Tこれを1)す開演rl装
置114に出カリ−る。 第3図のI′Jシー3120A及び120 B iqt
タイミング用光電変換器を示し、これらi:、tJリメ
ータレンズ60の両件側に接近し−C配冒され、=1リ
メータレンス60に入射する回転走11ビーl\55□
1の阜端技び終端を検出することによつ−C、タイミン
グ信号R” I 、R32を出力し、演睦艮1M114
の作動りづミンクをδ9定!、lるものであ6 +1こ
の演鈴↓!;ft”(114は、前記補正手段108を
含み、該補正手段′108は前記一対の反射鏡68△、
68B間の平tl’走査ビーム58の走査方向の距11
!t (キ17リグレーシで1ンγ−夕)を130、測
定にJ、′)で、第2のカウンタ74によつ(1!1ら
れた、前記一対の反射鏡68Δ、6813間の測定値を
81第1のカウンタ72によつ−C得られた被測定物6
2の走査方向の(J−仏を△とした場合、測定値Aを補
正して、被測定物62の真の寸法Δ′を次の(1)式に
よっで演itご)よ)にされている。 △′−△・(B/Bo) ・・・(1)ここ
で第4図の符号122は第2の光電変換器68の表面に
設置ノられたナイフェツジを示L2、このナイフェツジ
122は第2の光電変換器68の端部が一定でイrい場
合に、反射鏡68△、6813から入射する走査ビーム
による出力信号の立ち上がりを安定さけるためのもので
ある。 土泥実施例にa3いては、多角形回転ミラー56の1つ
の反Ω」面による1回の平行走査ビーム58による走査
毎に、光電変換器64で得られた信号にMづ゛く第1の
1)ウンタ72のカラン1−1直△を、第2の光電変換
器68−C: iEiられk(八′PJt:l:!、t
づく第2のカウンタ7・1のカラン1−(直F3及びY
め3Q定さ4″しているB oによつ−C補正されlこ
測定(イlへ′が出力されるので、多角形回転ミラー5
5Gを駆EJ]rるための同期七−夕+04の’)、*
1111及び長期の変fJノによっても、測定値に影
響を受!」に)ことが<ffiい。 更に、J−記実施例においては、第2の光?1:i変換
器68の、コリメータレンズ60に対づ”る光学的釦頭
は、該−」リメータレンズ60の焦点距111i1 f
に等しい位置どされているので・、該第2の光電変換器
6Bに入目」引る平行走査ビーム158の径は最小とな
り、測定精度が向1−される。 ’3 A3上記実施例において、反射鏡68△、08B
はコリメータレンズ60と被測定物62の間の位置に配
置されているが、本発明はこれに限定されるものでなく
、例えば回転走査ビーム54の走査域に配置するにうに
してもJ、い。 更に、上記実施例は、第2の光電変換器68の表面にナ
イフェツジ122を設()、これに」:つて該第2光7
Jj変換器68の受光端部をit” 9+1さしするc
lうにしているが、これは、ナ・イフ[ツジでナク−(
も、受光部が一定の直線トにイ【るイー〉のであればよ
い。 又、上記実施例(−1、反q」鏡68A、6E3Bから
直]うに第2の光電変換器68にSF t’i走査ビー
ム15Bが入射ηるようにしたものて゛あるが、これは
他のミラーを介して入射さ′41.るJ:うにし−(も
よい。 この実施例においては、2つの反射鏡から1゛)の第2
の光電変換器に平行走査ビームを反q・11ノで入q」
さt!るj;うにしたので、光電変換器の感度ドリフ[
〜及びアンプ系のドリフhが生じても、2つの反釦鏡間
の時間的幅に変化が生じるJ、とがなく、従って、該ド
リフI−によって測定精度を低壬することを防1−でき
る。 (発明の効果) この発明は、上記のように(7,i成したので、平行走
査ビーム発生装防における多角影回転ミラー、コリメー
タレンズ等の司法粘度、組立でriilfjを一人幅に
高めたりすることなく、又、被測定物の平行i(1,査
ビーム1.:l: J、る走査回数を494人し1.X
り寸゛イ> (m、 Lなり、1J法測定稍麿の向−1
を図るイーとが7−さる、。 14に、回転走査ビームを甲1]走査ビーb t’2.
変換するし〕/ズに特殊Cc t/ 〕/ス合用いたり
することイiく測定精度を向ト、−\Uることが7゛さ
る、。 46図面の曲111イ劣説明 第1図【−1本発明に係る)1−学式i1+!l定装置
の実施例を示すブ[1ツ乙7図、第2図(よ同大1if
i)間装ft’f i;おける信局処理の過程を承り線
図、第3図は本発明の第2実施例を示!丁第1図ど同様
のブ[」ツク図、第4図は同突fiili例における反
q・I &Nど第2の光電変換器との関係を示寸正面図
、第5]図(1間実施例装置における信’i % l!
IIの過程を示り−)4に図、第6図は従来の光学式測
定!A買を示4ブ[1ツク図C″あイ)。 50・・・L′−へ発生器、 J 2・・・入射じ−lい り4・・・回転走査ピ゛−ム、 Ei 6・・多角JEニ回転ミラー、 58 ・平行走査ビーム、 60・・・コリメータレンズ、 62・・・被測定物、 64・・・光電変換器、 06・・・り[]ツクパルス発振器(V型悟号光q−器
)、68・・・第20光電変換器、 −10,71・・・回路、 72・・・第10カウンタ、 74・・・第20カウンタ、 76・・・記憶装置、 78・・・補正回路、 80・・・演樟器、 82・・・第1のフリップクロップ回路、8/1・・・
第2の7リツプク[1ツブ回路。 代理人 松 山 圭 佑 高 矢 論
Claims (1)
- (1)ビーム発生器からの入射ビームを反射して回転走
査ビームとする多角形回転ミラー、該回転走査ビームを
平行走査ビームとするコリメータレンズ、を含む平行走
査ビーム発生装置と、被測定物を通過した前記平行走査
ビームの明暗を検出する光電変換器と、一定周波数の基
準信号を発生する基準信号発生器と、を有し、前記平行
走査ビーム発生装置と前記光電変換器の間に配置した被
測定物によって前記平行走査ビームの一部が遮られて生
じる暗部又は明部の時間の長さを、該光電変換器の出力
時間に対応する基準信号発生器からの基準信号を計数し
て被測定物の走査方向寸法を求めるようにした光学式測
定装置において、前記多角形回転ミラーと前記被測定物
との間の位置に、前記回転走査ビーム及び平行走査ビー
ムの一方を検出すべく配置され、受光に対応して信号を
出力する第2の光電変換器と、この第2の光電変換器及
び前記光電変換器の出力信号に基づき、該第2の光電変
換器の位置を基準として、被測定物の走査開始時点及び
走査終了時点までの間、それぞれに対応して第1及び第
2の信号を出力する回路と、これら第1及び第2の信号
が出力されている間の前記基準信号発生器からの出力信
号を計数する第1及び第2のカウンタと、前記第2の光
電変換器の信号の出力開始時における前記走査ビームの
位置を原点とした走査範囲を区分する任意の複数位置ま
での走査時間に対応する前記基準信号の数、及び、前記
原点から前記複数の位置での、前記平行走査ビーム発生
装置の光学的誤差に対応する前記基準信号の数の補正値
を記憶している記憶装置と、前記第1及び第2のカウン
タでの計数値を、前記記憶装置に記憶された補正値によ
り補正する補正回路と、この補正回路により補正された
前記第1及び第2のカウンタの計数値の差を演算する演
算器と、を有してなる光学式測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18889185A JPS6249202A (ja) | 1985-08-28 | 1985-08-28 | 光学式測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18889185A JPS6249202A (ja) | 1985-08-28 | 1985-08-28 | 光学式測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6249202A true JPS6249202A (ja) | 1987-03-03 |
JPH0371044B2 JPH0371044B2 (ja) | 1991-11-11 |
Family
ID=16231690
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18889185A Granted JPS6249202A (ja) | 1985-08-28 | 1985-08-28 | 光学式測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6249202A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0290010A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-29 | Fujitsu Ltd | 高さ計測装置 |
JPH02110303A (ja) * | 1988-06-07 | 1990-04-23 | Contrologic Inc | 非接触光学ゲージ |
JPH0534128A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Horiba Ltd | 異物検査装置 |
JP2016170168A (ja) * | 2015-03-12 | 2016-09-23 | プロトン プロダクツ インターナショナル リミテッド | 押出技術により製造された工業製品の測定 |
JP2021021587A (ja) * | 2019-07-25 | 2021-02-18 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56150302A (en) * | 1980-03-25 | 1981-11-20 | Zumbach Electronic Automatic | Contactless method of and apparatus for measuring dimensions |
JPS57155406U (ja) * | 1981-03-26 | 1982-09-30 |
-
1985
- 1985-08-28 JP JP18889185A patent/JPS6249202A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56150302A (en) * | 1980-03-25 | 1981-11-20 | Zumbach Electronic Automatic | Contactless method of and apparatus for measuring dimensions |
JPS57155406U (ja) * | 1981-03-26 | 1982-09-30 |
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JPH0534128A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Horiba Ltd | 異物検査装置 |
JP2016170168A (ja) * | 2015-03-12 | 2016-09-23 | プロトン プロダクツ インターナショナル リミテッド | 押出技術により製造された工業製品の測定 |
JP2021021587A (ja) * | 2019-07-25 | 2021-02-18 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0371044B2 (ja) | 1991-11-11 |
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