JPS6244222B2 - - Google Patents

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JPS6244222B2
JPS6244222B2 JP1206874A JP1206874A JPS6244222B2 JP S6244222 B2 JPS6244222 B2 JP S6244222B2 JP 1206874 A JP1206874 A JP 1206874A JP 1206874 A JP1206874 A JP 1206874A JP S6244222 B2 JPS6244222 B2 JP S6244222B2
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JP
Japan
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processing
sample
unit
samples
measurement
Prior art date
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Expired
Application number
JP1206874A
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English (en)
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JPS50106692A (ja
Inventor
Sada Kirimoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP1206874A priority Critical patent/JPS6244222B2/ja
Publication of JPS50106692A publication Critical patent/JPS50106692A/ja
Publication of JPS6244222B2 publication Critical patent/JPS6244222B2/ja
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は各種の分析機器によつて被測定物の分
析を行なう際、被測定物を分析に適した状態に処
理するいわゆる試料の前処理操作を自動的に行な
う装置に関するものである。
一般に試料の前処理操作としては、被測定物か
ら目的成分を抽出し、測定を防害する成分を除き
濃度を調節して測定しやすいようにするという操
作が行なわれる。この前処理過程は、被測定物が
天然物のように単純物質でない場合やまた目的成
分が微量で高精度の測定を要する場合等に特に複
雑になる。公害関係の分析などがその典型であ
る。単純物質を分析する場合を除いて一般に分析
試料の前処理操作は、加熱、冷却、添加、混合、
過、分液、濃縮、遠心分離、かく拌等の物理的
化学的処理操作と、重量測定、温度測定、水素イ
オン濃度測定等の各種計測操作が非常に錯綜して
行なわれ、しかも各処理過程の間に種々の判断を
行なわなければならないので、従来は主に分析化
学者の手作業によつて行なわれている。また従来
の分析試料自動前処理装置は、いずれも特定の分
析機器のための自動前処理装置であるか、あるい
は特定の目的成分のための自動前処理装置であ
り、汎用性がなく、さらにこれらの従来装置はパ
イプで試料の移送を行なう連続フロー方式が多
く、試料間の混合がおきやすい。また動く部分が
多く、かつこれらの部分が散在しており装置が複
雑になるという欠点があつた。
本発明は自動でしかも汎用性を有し、分析試料
の前処理を連続して大量に行なうことのできる分
析用試料の自動前処理装置を提供することを目的
とするものである。
次に図によつて本発明の実施例について説明す
る。第1図は本発明実施例の斜視図である。図に
おいて1は分析試料自動搬送機構であり、固定軸
2、駆動ブロツク3、主腕4、屈曲腕5,6、及
び試料着脱保持機構、たとえばチヤツキング機構
7とから構成されている。駆動ブロツク3は固定
軸2を中心として回動するとともに、固定軸2上
において上下に移動しうるように構成されてい
る。主腕4は駆動ブロツク3に支持されており、
水平方向に移動しうるように構成されている。チ
ヤツキング機構7は、試験管、試薬びん等の試料
処理容器を把持する指部を備えるとともに、この
試料処理容器を少なくとも立体二軸のまわりに傾
動させるように構成される。なおこの自動搬送機
構の各可動部は、パルモータ、油圧シリンダ等を
駆動源とし、後述する制御装置により所定のプロ
グラムに従つて駆動される。図において8〜16
までは、前処理用試薬、溶媒などの化学処理剤を
備えた化学処理ユニツト群、及び遠心分離、濃縮
などの物理処理機能を備えた物理処理ユニツト
群、及びひよう量、水素イオン濃度測定、温度測
定などの計測機能を備えた計測処理ユニツト群で
ある。これらの各ユニツトは操作腕の旋回中心す
なわち固定軸2のまわりの同心円周上に配置され
ている。17及び18は余分のスペースである。
なお各処理ユニツトの数は自動搬送機構1の搬送
範囲内において任意に増やすことができる。
次に各処理ユニツトの具体的構成及び機能を説
明する。8は試料処理用試験管載置ユニツトであ
り、底面の平らな試料処理用試験管19がそれぞ
れ所定の位置に置いてある。試料処理用試験管9
は試料の処理過程において試料用容器として及び
試料搬送用媒体として一貫して使用されるもので
あり、ユニツト8の上には処理前の試料を収容す
る試験管、処理後の試料を収容する試験管、及び
若干の空試験管が載置してある。9は試薬びん載
置ユニツト、10は過ユニツトであり、過ユ
ニツト10にはフイルターを装着した漏斗と過
液収容容器とを一体にしたものが複数個載置して
ある。11は遠心分離ユニツト、12はひよう量
ユニツト、13は集中処理ユニツトでひよう量台
20、液体移送器21、加熱台22、かく拌機2
3、及び水素イオン濃度測定部と感温部とを同一
ヘツドに備えた測定器24とが設けられている。
14は低温灰化ユニツト、15は濃縮ユニツトで
ある。濃縮ユニツト15には濃縮液を収容する試
験管25をその底部に着脱できるように構成され
た濃縮器26が複数個設けられている。16は多
量に使用する溶媒及び洗浄水を供給するととも
に、汚濁容器を収容するユニツトである。27は
制御装置である。この制御装置27は、自動搬送
機構1を微細精密に駆動するための駆動信号、計
測処理ユニツトに計側動作を指示する計測指令信
号、可動部を有する処理ユニツトを制御するため
の制御信号をそれぞれ発信する信号発信回路と、
自動搬送機構1の動きを検出認知し、各種処理動
作の確認及び搬送物の載置位置の確認を行なうと
ともに、各処理ユニツトの動作を確認し、さらに
計測処理ユニツトの計測信号を受信する受信回路
と、各処理ユニツトにおける物品の配置位置及び
操作位置、各処理ユニツトの処理内容及び操作方
法、一つの分析用試料の前処理における全体の操
作手順、諸物質の性質等を記憶するための記憶回
路と、この記憶回路に記憶されている操作手順を
順次取り出して前記信号発信回路及び受信回路等
を制御する制御回路とから構成されている。
第2図は第1図に示した本発明実施例装置によ
つて、原子吸光分析法で重金属を分析する場合の
処理動作を示すフローチヤートである。
以上のように本発明によれば、試料の移送、移
し変え等の動作をすべて自動搬送機構によつて精
度よく行なえるので、多くの複雑な処理動作を全
く自動的に行なうことができる。また試料は個別
に容器に入れて移送されるので、従来の連続フロ
ー方式等のように試料間の混合が起る心配は全く
ない。さらに各処理ユニツトのつまりぐあいなど
を判断しながら処理を進めてゆくので処理効率は
きわめて高い。また処理ユニツトを目的に応じて
適宜追加することによつて多様な前処理操作を行
なわせることができるとともに、操作手順を適当
に組むことによつて複数の目的に応じた前処理操
作を同時に行なうことも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明−実施例の斜視図である。第2
図は第1図の装置によつて、原子吸光分析法で重
金属を分析する場合の処理動作を示すフローチヤ
ートである。 1……自動搬送機構、8……試料処理用試験管
載置ユニツト、9……試薬びん載置ユニツト、1
0……過ユニツト、11……遠心分離ユニツ
ト、12……ひよう量ユニツト、13……集中処
理ユニツト、14……低温灰化ユニツト、15…
…濃縮ユニツト、27……制御装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 先端部に分析試料容器の着脱保持機構をそな
    え、かつ固定軸のまわりの旋回と伸縮ができるよ
    うに構成された操作腕をもつ試料搬送機構と、上
    記固定軸を中心とした操作腕の旋回・伸縮範囲内
    の円周上に適宜配置される複数の種類の試料前処
    理ユニツト群と、試料搬送機構の動作と各処理ユ
    ニツトにおける処理を制御し、かつこれらの結果
    を検出認知する制御装置とを有し、各ユニツトに
    対してそれぞれ試料の移管およびその処理を順次
    実施させることを特徴とした分析用試料の自動前
    処理装置。
JP1206874A 1974-01-29 1974-01-29 Expired JPS6244222B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP1206874A JPS6244222B2 (ja) 1974-01-29 1974-01-29

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JP1206874A JPS6244222B2 (ja) 1974-01-29 1974-01-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS50106692A JPS50106692A (ja) 1975-08-22
JPS6244222B2 true JPS6244222B2 (ja) 1987-09-18

Family

ID=11795273

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JP1206874A Expired JPS6244222B2 (ja) 1974-01-29 1974-01-29

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6191571A (ja) * 1984-10-11 1986-05-09 Kyoto Daiichi Kagaku:Kk 試験片を用いる連続自動分析方法及び装置
JP2650362B2 (ja) * 1987-12-14 1997-09-03 味の素株式会社 自動前処理装置

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Publication number Publication date
JPS50106692A (ja) 1975-08-22

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