JPS6241649A - 核磁化分布測定方法及び装置 - Google Patents
核磁化分布測定方法及び装置Info
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- JPS6241649A JPS6241649A JP61135107A JP13510786A JPS6241649A JP S6241649 A JPS6241649 A JP S6241649A JP 61135107 A JP61135107 A JP 61135107A JP 13510786 A JP13510786 A JP 13510786A JP S6241649 A JPS6241649 A JP S6241649A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N24/00—Investigating or analyzing materials by the use of nuclear magnetic resonance, electron paramagnetic resonance or other spin effects
- G01N24/08—Investigating or analyzing materials by the use of nuclear magnetic resonance, electron paramagnetic resonance or other spin effects by using nuclear magnetic resonance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/54—Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
- G01R33/56—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
- G01R33/561—Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution by reduction of the scanning time, i.e. fast acquiring systems, e.g. using echo-planar pulse sequences
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は発生させられた均一な静磁界内に置かれた物体
の一領域内の核磁化分布を求めるために、下記のステッ
プａ） 、 ｂ）及びＣ）、即ち、ａ＞ Ｏ＜α〈９０
°としてα°パルスを含む高周波電磁パルスにより物体
の選択された領域内の核スピンに影響し、α°パルスが
この領域内の核スピンの磁化方向を角度α°回転させる
ステップと、 ｂ）準備期間時に準備勾配磁界をかけるステップと、Ｃ
）測定期間時に共鳴信号をサンプリングするステップと を含むサイクルを構成し、 ｄ）ステップｂ）で規定された勾配磁界の時間積分の値
を毎回変えてステップａ） 、 ｂ）及びＣ）から成る
測定サイクルを繰り返す核磁化分布測定方法に関するも
のである。
の一領域内の核磁化分布を求めるために、下記のステッ
プａ） 、 ｂ）及びＣ）、即ち、ａ＞ Ｏ＜α〈９０
°としてα°パルスを含む高周波電磁パルスにより物体
の選択された領域内の核スピンに影響し、α°パルスが
この領域内の核スピンの磁化方向を角度α°回転させる
ステップと、 ｂ）準備期間時に準備勾配磁界をかけるステップと、Ｃ
）測定期間時に共鳴信号をサンプリングするステップと を含むサイクルを構成し、 ｄ）ステップｂ）で規定された勾配磁界の時間積分の値
を毎回変えてステップａ） 、 ｂ）及びＣ）から成る
測定サイクルを繰り返す核磁化分布測定方法に関するも
のである。
本発明はまた物体の領域内の核磁化分布を求めるために
１ 、）均一な静磁界を発生する手段と、 ｂ）高周波電磁励起パルスを発生ずる手段と、。）準備
期間時に準備勾配磁界を発生する手段と、ｄ）段Ｃ）で
規定された手段により発生させられた勾配磁界の中で準
備期間時に共鳴信号を整えた後、測定期間において、段
ａ）及びｂ）で規定された手段により発生させられた共
鳴信号のサンプルをとるサンプリング手段と、 ｅ）上記サンプリング手段により供給される信号を処理
する処理手段と、 ｆ）複数個の共鳴信号を発生させ、整のえ、サンプリン
グし、処理するための段ｂ）ないしｅ）で規定された手
段を制御する制御手段と を具え、各共鳴信号を準備期間において不変的に整え、
制御手段が段Ｃ）で規定された手段に勾配磁界の強さ及
び持続時間又はそのいずれか一方を調整するための制御
信号を供給し、勾配磁界の持続時間に亘る強さの積分を
サイクルの繰り返し毎に変え、制御手段が高周波電磁パ
ルスを発生する手段に対する制御信号を発生し、与える
プログラムされたコンピュータ手段を具える核磁化分布
測定装置に関するものである。
１ 、）均一な静磁界を発生する手段と、 ｂ）高周波電磁励起パルスを発生ずる手段と、。）準備
期間時に準備勾配磁界を発生する手段と、ｄ）段Ｃ）で
規定された手段により発生させられた勾配磁界の中で準
備期間時に共鳴信号を整えた後、測定期間において、段
ａ）及びｂ）で規定された手段により発生させられた共
鳴信号のサンプルをとるサンプリング手段と、 ｅ）上記サンプリング手段により供給される信号を処理
する処理手段と、 ｆ）複数個の共鳴信号を発生させ、整のえ、サンプリン
グし、処理するための段ｂ）ないしｅ）で規定された手
段を制御する制御手段と を具え、各共鳴信号を準備期間において不変的に整え、
制御手段が段Ｃ）で規定された手段に勾配磁界の強さ及
び持続時間又はそのいずれか一方を調整するための制御
信号を供給し、勾配磁界の持続時間に亘る強さの積分を
サイクルの繰り返し毎に変え、制御手段が高周波電磁パ
ルスを発生する手段に対する制御信号を発生し、与える
プログラムされたコンピュータ手段を具える核磁化分布
測定装置に関するものである。
このような方法は、ＥＰｏ、 １３７，４２０号から既
知である。
知である。
物体の一領域内の核磁化分布を求める装置及びこのよう
な装置の動作原理は、例えば、「フィリップス テクニ
カル レビュー」第４１巻、１９８３年／８４年、第３
号、第７３〜８８頁に所収の論文「プロトン エヌエム
アール トモグラフィー」から既知である。構造と原理
の説明についてはこの論文を参照されたい。
な装置の動作原理は、例えば、「フィリップス テクニ
カル レビュー」第４１巻、１９８３年／８４年、第３
号、第７３〜８８頁に所収の論文「プロトン エヌエム
アール トモグラフィー」から既知である。構造と原理
の説明についてはこの論文を参照されたい。
ＥＰｏ、 １３７，４２０号に記載ささている方法では
、被検体を方向が、例えば、デカルト（ｘ、ｙ、ｚ）座
標系の２軸と一致する強い、均一な静磁界Ｂ。にさらす
。そうすると静磁界Ｂ０は被検体内の核スピンを軽く分
極し、この静磁界Ｂ０の方向を中心として核スピンが歳
差運動をできるようにする。静磁界Ｂ０をかけた後選択
勾配として働らく勾配磁界をかけ、同時に選択された断
層内の核の磁化方向を角度α°だけ回転させるα°高周
波パルスを発生させる。α°パルスの終了後、核スピン
は静磁界Ｂ０の場の方向を中心として歳差運動を行ない
、斯くして共鳴信号（ＦＨＪ信号）が発生する。α°パ
ルスの後、場の方向が静磁界Ｂ。の場の方向と一致し、
勾配の方向が夫々、ｙ、ｘ及び２方向である勾配磁界Ｇ
ｙ 、 Ｇｘ及びＧｚを同時にかける。これらの勾配磁
界Ｇｘ 、 Ｇｙ及びＧｚは、夫々、ｘ、 ｙ及び２
方向で核スピンをリフェーズ（ｒｅｐｈａｓｅ） Ｌ、
符号化するのに役立つ。これらの３個の勾配磁界の終了
層及び１８０６エコーパルスの印加後、勾配磁界Ｇｘを
かけると元のＦＩＤ信号のエコー共鳴信号がサンプリン
グされる。
、被検体を方向が、例えば、デカルト（ｘ、ｙ、ｚ）座
標系の２軸と一致する強い、均一な静磁界Ｂ。にさらす
。そうすると静磁界Ｂ０は被検体内の核スピンを軽く分
極し、この静磁界Ｂ０の方向を中心として核スピンが歳
差運動をできるようにする。静磁界Ｂ０をかけた後選択
勾配として働らく勾配磁界をかけ、同時に選択された断
層内の核の磁化方向を角度α°だけ回転させるα°高周
波パルスを発生させる。α°パルスの終了後、核スピン
は静磁界Ｂ０の場の方向を中心として歳差運動を行ない
、斯くして共鳴信号（ＦＨＪ信号）が発生する。α°パ
ルスの後、場の方向が静磁界Ｂ。の場の方向と一致し、
勾配の方向が夫々、ｙ、ｘ及び２方向である勾配磁界Ｇ
ｙ 、 Ｇｘ及びＧｚを同時にかける。これらの勾配磁
界Ｇｘ 、 Ｇｙ及びＧｚは、夫々、ｘ、 ｙ及び２
方向で核スピンをリフェーズ（ｒｅｐｈａｓｅ） Ｌ、
符号化するのに役立つ。これらの３個の勾配磁界の終了
層及び１８０６エコーパルスの印加後、勾配磁界Ｇｘを
かけると元のＦＩＤ信号のエコー共鳴信号がサンプリン
グされる。
選択された領域の一枚の画像を得るためには、各サイク
ル毎に勾配磁界Ｇｙ及びＧｚ又はそのいずれか一方の時
間積分の値を変えて測定サイクルを何回か繰り返す。一
方では勾配磁界Ｇｘ、他方では勾配磁界Ｇｚの時間積分
の値が大きくなるに従って共鳴信号をフーリエ変換し、
これらの値をｙ方向に、次いで２方向にフーリエ変換す
ることにより、Ｘ。
ル毎に勾配磁界Ｇｙ及びＧｚ又はそのいずれか一方の時
間積分の値を変えて測定サイクルを何回か繰り返す。一
方では勾配磁界Ｇｘ、他方では勾配磁界Ｇｚの時間積分
の値が大きくなるに従って共鳴信号をフーリエ変換し、
これらの値をｙ方向に、次いで２方向にフーリエ変換す
ることにより、Ｘ。
ｙ及び２の関数としてスピン密度分布が得られる。
欧州特許願第ＥＰ０．１３７．４２０号に開示されてい
る方法によれば、準備と測定の間で１８０ °エコー
パルスを発生し、共鳴信号を発生させ、これにより核ス
ピンエコーを発生させる。しかし、この既知の方法には
欠点があって、測定サイクルの比較的短時間に１８０
°パルスをかけねばならず、高周波負荷が生じ、これが
、例えば、被検体及び高周波パルス送信機の双方に都合
が悪い。もう一つの欠点は、準備期間と測定期間の間に
１８０ °パルスを用いるため順次のサイクルの間に待
ち時間が入り、このため不必要に長い検査時間がかかり
、この待ち時間中は何の作用も行なわれないから、例え
ば、被検体の運動により、画像にアーチファクトが入る
危険があることである。
る方法によれば、準備と測定の間で１８０ °エコー
パルスを発生し、共鳴信号を発生させ、これにより核ス
ピンエコーを発生させる。しかし、この既知の方法には
欠点があって、測定サイクルの比較的短時間に１８０
°パルスをかけねばならず、高周波負荷が生じ、これが
、例えば、被検体及び高周波パルス送信機の双方に都合
が悪い。もう一つの欠点は、準備期間と測定期間の間に
１８０ °パルスを用いるため順次のサイクルの間に待
ち時間が入り、このため不必要に長い検査時間がかかり
、この待ち時間中は何の作用も行なわれないから、例え
ば、被検体の運動により、画像にアーチファクトが入る
危険があることである。
本発明の目的は、２個の順次のサイクル間の待ち時間を
完全に又はほぼ完全に省き、従って、例えば、反転回復
法に比較して高速度でスピン密度分布又は長手方向緩和
時間Ｔ、を求め得ると共に、同時に被検体及び装置の両
方のために高周波負荷を除いたＮＭＲ像の形成を可能に
する方法および装置を提供するにある。本発明にはもう
一つの利点があって、画像周波数の高い部分を増幅でき
、従って画像の縁が一層鮮明になるか又はこの高周波部
を付加的に濾波し、Ｓ／Ｎ比を大きくできる。
完全に又はほぼ完全に省き、従って、例えば、反転回復
法に比較して高速度でスピン密度分布又は長手方向緩和
時間Ｔ、を求め得ると共に、同時に被検体及び装置の両
方のために高周波負荷を除いたＮＭＲ像の形成を可能に
する方法および装置を提供するにある。本発明にはもう
一つの利点があって、画像周波数の高い部分を増幅でき
、従って画像の縁が一層鮮明になるか又はこの高周波部
を付加的に濾波し、Ｓ／Ｎ比を大きくできる。
本発明に係る冒頭に述べた種類の方法は、使用される電
磁パルスを専らα°パルスの形態の励起パルスとし、順
次の測定サイクルを直接又はほぼ直接続けて行ない、準
（１ｍ期間時にかけられた勾配磁界に対し反転させられ
ている勾配磁界により核スピンをリフェーズすることを
特徴とする。
磁パルスを専らα°パルスの形態の励起パルスとし、順
次の測定サイクルを直接又はほぼ直接続けて行ない、準
（１ｍ期間時にかけられた勾配磁界に対し反転させられ
ている勾配磁界により核スピンをリフェーズすることを
特徴とする。
０＜α＜９０として高周波電磁α°パルスを発生させる
ため、磁化Ｍは均一な静磁界Ｂ０の方向を中心として角
度αで歳差運動を行なう。従って、究局的に得られる共
鳴信号は磁化Ｍの構成分Ｍｔに比例する。この構成分肌
は共鳴信号の後少し経つと消える。蓋し、一方では測定
期間時に存在する勾配磁界が測定方向を更にデフェーズ
（ｄｅｐｈａｓｅ） シ、他方ではこの成分の大きさが
、Ｔ ２１１ｊｔ和により小さくなるからである。その
間しかし、磁化Ｍの長手成分旧はＴ１緩和のため元の大
きさ迄増大する。測定期間が終了したら掻く短い待ち時
間（測定期間の大きさのオーダー又はゼロ）をおいて類
似の測定サイクルを繰り返すことができる。第２のα°
パルスの影響の下で、元来筒１のα°パルスの影響の下
で均一な静磁界Ｂ０の方向を中心として角度α°で歳差
運動を行なっていた磁化Ｍの長手成分旧が今度は同じ方
向を中心として角度α°で歳差運動を行なう。究局的に
得られる測定信号は磁化Ｍの元の長手成分旧の構成分に
比例する。
ため、磁化Ｍは均一な静磁界Ｂ０の方向を中心として角
度αで歳差運動を行なう。従って、究局的に得られる共
鳴信号は磁化Ｍの構成分Ｍｔに比例する。この構成分肌
は共鳴信号の後少し経つと消える。蓋し、一方では測定
期間時に存在する勾配磁界が測定方向を更にデフェーズ
（ｄｅｐｈａｓｅ） シ、他方ではこの成分の大きさが
、Ｔ ２１１ｊｔ和により小さくなるからである。その
間しかし、磁化Ｍの長手成分旧はＴ１緩和のため元の大
きさ迄増大する。測定期間が終了したら掻く短い待ち時
間（測定期間の大きさのオーダー又はゼロ）をおいて類
似の測定サイクルを繰り返すことができる。第２のα°
パルスの影響の下で、元来筒１のα°パルスの影響の下
で均一な静磁界Ｂ０の方向を中心として角度α°で歳差
運動を行なっていた磁化Ｍの長手成分旧が今度は同じ方
向を中心として角度α°で歳差運動を行なう。究局的に
得られる測定信号は磁化Ｍの元の長手成分旧の構成分に
比例する。
本発明方法の一つの好適な実施例は、励起パルスの強さ
及び順次の励起パルスの間隔期間ＴＲＯ値又はそのいず
れか一方を変えていくつかのサイクルから成る１個又は
複数個の系列を行なうことを特徴とする。画素当りの画
像の強さは、励起された断層内の局所的なプロトン密度
Ｐ、長手方向緩和時間Ｔ、及び横方向緩和時間Ｔ２に依
存する。これらの量は大雑把に云ってその断層内の核磁
化分布の３個の構成要素である。この好適な実施例を用
いると、選択さた断層の２個以上の画像が得られるが、
そこでは異なるタイプの組成状態が良好に認識できる。
及び順次の励起パルスの間隔期間ＴＲＯ値又はそのいず
れか一方を変えていくつかのサイクルから成る１個又は
複数個の系列を行なうことを特徴とする。画素当りの画
像の強さは、励起された断層内の局所的なプロトン密度
Ｐ、長手方向緩和時間Ｔ、及び横方向緩和時間Ｔ２に依
存する。これらの量は大雑把に云ってその断層内の核磁
化分布の３個の構成要素である。この好適な実施例を用
いると、選択さた断層の２個以上の画像が得られるが、
そこでは異なるタイプの組成状態が良好に認識できる。
蓋し、これらの像はプロトン密度Ｐ並びに緩和時間Ｔ、
及びＴ２に合わせ得るからである。
及びＴ２に合わせ得るからである。
もう一つの実施例は、Ｎ個の順次の測定期間時に一測定
サイクル当りＮ個の共鳴信号をサンプリングし、一測定
期間時に存在する勾配磁界の勾配の方向を次の測定期間
時では何時も反転することを特徴とする。この態様で１
サイクル当り２個以上の共鳴信号を発生させると、−サ
イクル内の時間の関数として共鳴信号の振幅の対数を介
してラインから横方向緩和時間Ｔ２を既知の計算で出せ
る。
サイクル当りＮ個の共鳴信号をサンプリングし、一測定
期間時に存在する勾配磁界の勾配の方向を次の測定期間
時では何時も反転することを特徴とする。この態様で１
サイクル当り２個以上の共鳴信号を発生させると、−サ
イクル内の時間の関数として共鳴信号の振幅の対数を介
してラインから横方向緩和時間Ｔ２を既知の計算で出せ
る。
一実施例は、準備期間の途中で振幅を一定にしたまま準
備勾配磁界を反転し、準備勾配磁界と、準備期間の途中
で反転させられた勾配磁界が占める期間１．、１２とを
、これらの期間の和１．＋ １２を準備期間に等しくし
つつ可変とすることを特徴とする。勾配波形の一定な部
分がディジタル形態で蓄えられ、勾配の値がパラメータ
Ｌ、及び１ｔだけにより−サイクルからもう一つのサイ
クルへ変わり得る場合は、２個のサイクル間で必要なコ
ンピュータ転送時間は、核サイクルの開始前に全く新し
い勾配波形をロードしなければならない場合よりも短い
。
備勾配磁界を反転し、準備勾配磁界と、準備期間の途中
で反転させられた勾配磁界が占める期間１．、１２とを
、これらの期間の和１．＋ １２を準備期間に等しくし
つつ可変とすることを特徴とする。勾配波形の一定な部
分がディジタル形態で蓄えられ、勾配の値がパラメータ
Ｌ、及び１ｔだけにより−サイクルからもう一つのサイ
クルへ変わり得る場合は、２個のサイクル間で必要なコ
ンピュータ転送時間は、核サイクルの開始前に全く新し
い勾配波形をロードしなければならない場合よりも短い
。
もう一つの実施例は、測定方向での磁化の不所望な成分
をデフェーズするために、測定すべき共鳴信号の直後の
測定期間においてかけられる勾配磁界を一測定期間の経
過直后しばらく保ち、−サイクル中のα°パルスの発生
前にしばらく勾配磁界をかけるか又はそのうちの一方を
行なうことを特徴とする。
をデフェーズするために、測定すべき共鳴信号の直後の
測定期間においてかけられる勾配磁界を一測定期間の経
過直后しばらく保ち、−サイクル中のα°パルスの発生
前にしばらく勾配磁界をかけるか又はそのうちの一方を
行なうことを特徴とする。
もう一つの実施例は、被検体の運動の１周期中に発生す
る複数個の共鳴信号をこの被検体の運動の周期の種々の
相に対応させ、これらの共鳴信号を処理して時系列的に
表示できる画像を形成することを特徴とする。所謂多相
トリガード画像は物体（例えば、心臓）の運動期間の複
数個の相の完全な像の時系列的表示を作る。
る複数個の共鳴信号をこの被検体の運動の周期の種々の
相に対応させ、これらの共鳴信号を処理して時系列的に
表示できる画像を形成することを特徴とする。所謂多相
トリガード画像は物体（例えば、心臓）の運動期間の複
数個の相の完全な像の時系列的表示を作る。
もう一つの実施例は、体積要素当りの長手方向緩和時間
Ｔ、を、角度α及び２個の順次のα°パルス間の繰り返
し時間ＴＲ又はそのいずれか一方の点で互いに異なる少
なくとも２サイクルから得られた一個の画像内の複数個
の体積要素の強さから計算することを特徴とする。
Ｔ、を、角度α及び２個の順次のα°パルス間の繰り返
し時間ＴＲ又はそのいずれか一方の点で互いに異なる少
なくとも２サイクルから得られた一個の画像内の複数個
の体積要素の強さから計算することを特徴とする。
もう一つの実施例は、■、を体積要素Ｐの強さとし、α
を角度αとし、ＴＲを繰り返し時間ＴＲとし、ＴＩを長
手方向緩和時間Ｔ、とし、Ｃをα、ＴＲ又はＴ１に依存
しない定数として式 ことを特徴とする。一つの画像内の複数個の体積要素の
強さが、角度α及び繰り返し時間ＴＲ又はそのいずれか
一方の点で異なる少なくとも２個のサイクルから測定さ
れる場合は、２個の未知数（即ち、■１．α＋ ＴＲは
既知で、ＣおよびＴ、が未知数）を含む少なくとも２個
の方程式から上記式を用いて体積要素当りの長手方向緩
和時間Ｔ１を計算できる。
を角度αとし、ＴＲを繰り返し時間ＴＲとし、ＴＩを長
手方向緩和時間Ｔ、とし、Ｃをα、ＴＲ又はＴ１に依存
しない定数として式 ことを特徴とする。一つの画像内の複数個の体積要素の
強さが、角度α及び繰り返し時間ＴＲ又はそのいずれか
一方の点で異なる少なくとも２個のサイクルから測定さ
れる場合は、２個の未知数（即ち、■１．α＋ ＴＲは
既知で、ＣおよびＴ、が未知数）を含む少なくとも２個
の方程式から上記式を用いて体積要素当りの長手方向緩
和時間Ｔ１を計算できる。
もう一つの実施例は、準備期間時にかけられる勾配磁界
が２個の互に垂直な勾配磁界の一時結合を含むことを特
徴とする。こうすると、核スピンは２個の互に垂直な方
向で符号化され、従って、励起された断層の三次元像が
得られる。
が２個の互に垂直な勾配磁界の一時結合を含むことを特
徴とする。こうすると、核スピンは２個の互に垂直な方
向で符号化され、従って、励起された断層の三次元像が
得られる。
もう一つの実施例は、準備勾配磁界の時間積分の値の点
で異なる複数個のサイクルの共鳴信号を時間積分の絶対
値が増す方向又は減る方向でサンプリングすることを特
徴とする。こうすると、画像周波数の高い部分が増幅さ
れ、画像の縁が一層鮮明になるか又は画像周波数の高い
部分が付加的に濾波され、Ｓ／Ｎ比が高くなる。
で異なる複数個のサイクルの共鳴信号を時間積分の絶対
値が増す方向又は減る方向でサンプリングすることを特
徴とする。こうすると、画像周波数の高い部分が増幅さ
れ、画像の縁が一層鮮明になるか又は画像周波数の高い
部分が付加的に濾波され、Ｓ／Ｎ比が高くなる。
もう一つの好適な実施例は、θを任意の値として間隔を
おいて準備高周波電磁θパルスを発生させる測定を行な
い、ステップａ） 、 ｂ）及びＣ）を含む測定サイク
ルを高周波電磁θパルスを発生させた瞬時からの時間間
隔の点で異なるに個の瞬時においてに回繰り返し、その
際毎回準備勾配磁界の持続時間に亘る強さの時間積分の
一つの値を用いることを特徴とする。
おいて準備高周波電磁θパルスを発生させる測定を行な
い、ステップａ） 、 ｂ）及びＣ）を含む測定サイク
ルを高周波電磁θパルスを発生させた瞬時からの時間間
隔の点で異なるに個の瞬時においてに回繰り返し、その
際毎回準備勾配磁界の持続時間に亘る強さの時間積分の
一つの値を用いることを特徴とする。
後に示すように、物体の励起された領域内の異なる化学
成分の長手方向緩和時間Ｔ、についての情報は、長手方
向緩和過程中の異なる瞬時に、測定サイクル中に存在す
る高周波電磁パルスによる影響のため横方向平面内を向
いている瞬時磁化エコー共鳴信号の形態で測定すること
により得られる。
成分の長手方向緩和時間Ｔ、についての情報は、長手方
向緩和過程中の異なる瞬時に、測定サイクル中に存在す
る高周波電磁パルスによる影響のため横方向平面内を向
いている瞬時磁化エコー共鳴信号の形態で測定すること
により得られる。
毎回準備勾配磁界の持続時間に亘る強さの時間積分の一
つの値を用いて測定サイクルをに回繰り返すもう一つの
好適な実施例は、毎回準備勾配磁界の持続時間に亘る強
さの時間積分の値を変えて何回か測定を繰り返すことを
特徴とする。こうすると、長手方向緩和過程中の任意の
所望の瞬時で画像を構成できる。
つの値を用いて測定サイクルをに回繰り返すもう一つの
好適な実施例は、毎回準備勾配磁界の持続時間に亘る強
さの時間積分の値を変えて何回か測定を繰り返すことを
特徴とする。こうすると、長手方向緩和過程中の任意の
所望の瞬時で画像を構成できる。
もう一つの実施例は、準備電磁θパルスを高周波電磁１
８０ °パルスとすることを特徴とする。
８０ °パルスとすることを特徴とする。
本発明に係る装置は制御手段をＯ〈α＜９０として専ら
α°パルスを発生し、準備期間又は測定期間において勾
配磁界を反転させるようにプログラムすることを特徴と
する。
α°パルスを発生し、準備期間又は測定期間において勾
配磁界を反転させるようにプログラムすることを特徴と
する。
本発明装置の一つの好適な実施例は、時間積分の絶対値
が減る一方か又は増す一方の系列での準備勾配磁界の時
間積分の値の点で異なる複数個のサイクルの共鳴信号を
サンプリング手段がサンプリングすることを特徴とする
。
が減る一方か又は増す一方の系列での準備勾配磁界の時
間積分の値の点で異なる複数個のサイクルの共鳴信号を
サンプリング手段がサンプリングすることを特徴とする
。
図面につき本発明の詳細な説明する。
普通の直角座標系は均一な静磁界の方向を２軸にとり、
高周波電磁界の方向をｙ軸にとるものである。夫々、ｘ
、ｙ及び２方向のＧｘ 、 Ｇｙ及びＧｚ勾配を作るた
めのコイルも設ける。患者を水平に寝かせ、患者の長手
方向に対してＺ軸を垂直にし、ｙ軸を水平方向にとる。
高周波電磁界の方向をｙ軸にとるものである。夫々、ｘ
、ｙ及び２方向のＧｘ 、 Ｇｙ及びＧｚ勾配を作るた
めのコイルも設ける。患者を水平に寝かせ、患者の長手
方向に対してＺ軸を垂直にし、ｙ軸を水平方向にとる。
板層、例えば、ｃｙ”のような十−の符号は、夫々、勾
配磁界の場の方向が正であるか、負であるかを示す。
配磁界の場の方向が正であるか、負であるかを示す。
瞬時ｔ＝−ｔａとｔ＝ｔａ とにより限られる第１図の
期間１において、勾配磁界Ｇｙ”をかけ、同時に高周波
電磁α°パルスを発生させる６ （実際には、αは２０
度と８０度の間にある）。この結果、面Ｙ＝Ｙ、内に核
スピンが励起される。これは面Ｙ＝Ｙ０内での核スピン
により生ずる磁化が２軸を中心として角度α°で歳差運
動することを意味する。
期間１において、勾配磁界Ｇｙ”をかけ、同時に高周波
電磁α°パルスを発生させる６ （実際には、αは２０
度と８０度の間にある）。この結果、面Ｙ＝Ｙ、内に核
スピンが励起される。これは面Ｙ＝Ｙ０内での核スピン
により生ずる磁化が２軸を中心として角度α°で歳差運
動することを意味する。
α°パルスには帯域幅があるため、核スピンは面Ｙ＝Ｙ
、内で励起されるだけでなく、その直ぐ近傍でも励起さ
れる。α°パルスの周波数を変えることにより、核スピ
ンは面Ｙ＝Ｙ、に平行な任意の他の面で励起することも
できる。
、内で励起されるだけでなく、その直ぐ近傍でも励起さ
れる。α°パルスの周波数を変えることにより、核スピ
ンは面Ｙ＝Ｙ、に平行な任意の他の面で励起することも
できる。
瞬時ｔ＝ｔａと、ｔ＝ｔｂとにより限られる期間２にお
いて、３個の勾配磁界Ｇｘ−、Ｇｙ−及びＧｚ″をかけ
る。時間を節約するため、これらの３個の勾配磁界は同
し期間にかける。しかし、この期間２においてはα°パ
ルスを発生させないから、勾配磁界の効果は別々に考え
られる。負の勾配ｃｙ−はＸ方向における核スピンの位
相を、面ｙ＝ｙ、内及びその直ぐ近傍で選択的に励起さ
れた核スピンがＸ方向で位相弁別を経験しないようにリ
フェーズする。それ故、近似的に次式が成立する。
いて、３個の勾配磁界Ｇｘ−、Ｇｙ−及びＧｚ″をかけ
る。時間を節約するため、これらの３個の勾配磁界は同
し期間にかける。しかし、この期間２においてはα°パ
ルスを発生させないから、勾配磁界の効果は別々に考え
られる。負の勾配ｃｙ−はＸ方向における核スピンの位
相を、面ｙ＝ｙ、内及びその直ぐ近傍で選択的に励起さ
れた核スピンがＸ方向で位相弁別を経験しないようにリ
フェーズする。それ故、近似的に次式が成立する。
（リフェーズ条件）（１）
（左辺の因子士は、α°パルスが瞬時ｔ−−ｔａとｔ＝
ｔａとにより限られる期間１の半分しか効かないことを
補償する）。従って、究局的に得らるべき信号の値は最
大になる。これは、個々の核スピンの歳差運動が２軸を
中心として位相がはずれていると、究局の測定信号に比
例する磁化の横方向成分がほぼゼロになるであろうが故
である。勾配磁界Ｇｘ−およびＧｘ”は、夫々、Ｘおよ
びＺ方向で核スピンをデフェーズするのに役立つ。斯く
して位相の符号化は後者の方向で得られる。
ｔａとにより限られる期間１の半分しか効かないことを
補償する）。従って、究局的に得らるべき信号の値は最
大になる。これは、個々の核スピンの歳差運動が２軸を
中心として位相がはずれていると、究局の測定信号に比
例する磁化の横方向成分がほぼゼロになるであろうが故
である。勾配磁界Ｇｘ−およびＧｘ”は、夫々、Ｘおよ
びＺ方向で核スピンをデフェーズするのに役立つ。斯く
して位相の符号化は後者の方向で得られる。
瞬時ｔ＝ｔｂとｔ＝ｔｃとで限られる期間３で、正の勾
配磁界Ｇｘ”をかけ、Ｘ方向で核スピンをリフェーズす
る。これらの核スピンはＸ方向での位相弁別が終了する
瞬時において、面Ｙ＝Ｙ、内でスピンエコーを生ずる。
配磁界Ｇｘ”をかけ、Ｘ方向で核スピンをリフェーズす
る。これらの核スピンはＸ方向での位相弁別が終了する
瞬時において、面Ｙ＝Ｙ、内でスピンエコーを生ずる。
この瞬時（ｔ ＝ｔｅ、）は次式から判かる。
（スピンエコー条件）（２）
瞬時ｔ＝ｔｅｌの後、核スピンは勾配磁界Ｇｘ”により
Ｘ方向で再にデフェーズされる。磁化Ｍが２軸を中心と
して角度α°で歳差運動をするため、究局的に得られる
共鳴信号は、磁化Ｍの横方向成分Ｍｔに比例する。少し
時間が経った後、この横方向成分Ｍｔは存在しなくなる
。蓋し、一方では勾配磁界Ｇｘ・が更にデフェーズせし
め、他方では横方向成分Ｍｔの大きさがＴ２緩和により
小さくなるからである。長手方向成分旧はその間Ｔ、緩
和のため太き（なる。
Ｘ方向で再にデフェーズされる。磁化Ｍが２軸を中心と
して角度α°で歳差運動をするため、究局的に得られる
共鳴信号は、磁化Ｍの横方向成分Ｍｔに比例する。少し
時間が経った後、この横方向成分Ｍｔは存在しなくなる
。蓋し、一方では勾配磁界Ｇｘ・が更にデフェーズせし
め、他方では横方向成分Ｍｔの大きさがＴ２緩和により
小さくなるからである。長手方向成分旧はその間Ｔ、緩
和のため太き（なる。
瞬時ｔ＝ｔｃＯ後、待ち時間がな（又はあっても極く短
時間の待ち時間の後、同じサイクルを繰す返せる。この
次のサイクルの高周波電磁パルスは第１のα°パルスの
影響によりｚ軸を中心として角度α°で歳差運動する磁
化Ｍの長手方向成分旧をして角度α°で歳差運動せしめ
る。究局的に得られる信号は次式の横方向磁化Ｍｔ′
に比例する。
時間の待ち時間の後、同じサイクルを繰す返せる。この
次のサイクルの高周波電磁パルスは第１のα°パルスの
影響によりｚ軸を中心として角度α°で歳差運動する磁
化Ｍの長手方向成分旧をして角度α°で歳差運動せしめ
る。究局的に得られる信号は次式の横方向磁化Ｍｔ′
に比例する。
Ｍｔ’ ＝ Ｍｌ ｓｉｎ ｃｘ （３
）長手力向磁化旧′は次のようになる。
）長手力向磁化旧′は次のようになる。
旧′＝旧ＣＯＳ α （４）次のサイクル
においては、成分旧゛がα°パルスにより再び角度α°
だけ回転させられ、究局的に得られる信号が成分旧′の
横方向成分に比例する。成分１′の横方向成分は測定信
号には寄与しない。蓋し、共鳴信号があった後は勾配磁
界Ｇｘ”が更にデフェーズを生じ、新規のサイクルがス
タートする前は横方向（測定）に成分が存在しないから
である。
においては、成分旧゛がα°パルスにより再び角度α°
だけ回転させられ、究局的に得られる信号が成分旧′の
横方向成分に比例する。成分１′の横方向成分は測定信
号には寄与しない。蓋し、共鳴信号があった後は勾配磁
界Ｇｘ”が更にデフェーズを生じ、新規のサイクルがス
タートする前は横方向（測定）に成分が存在しないから
である。
勾配磁界Ｇｚ’は２方向において位相符号を与えるのに
役立つ。これは、瞬時ｔ＝ｔｂにおいて勾配磁界Ｇｚ’
が終了した時、２方向の核が歳差運動相は異なるが、同
じ歳差周波数を有するからである。２方向における位置
に依存して核が経験する位相角の変化は勾配磁界Ｇｚ？
の局所的な強さに比例する。２方向における角の列の全
てのスピンヘクトルの寄与の和Ｎはその核の列の区域に
おける２方向の特定の画像周波数に比例する。この和の
大きさはＧｚ’の大きさに比例する。
役立つ。これは、瞬時ｔ＝ｔｂにおいて勾配磁界Ｇｚ’
が終了した時、２方向の核が歳差運動相は異なるが、同
じ歳差周波数を有するからである。２方向における位置
に依存して核が経験する位相角の変化は勾配磁界Ｇｚ？
の局所的な強さに比例する。２方向における角の列の全
てのスピンヘクトルの寄与の和Ｎはその核の列の区域に
おける２方向の特定の画像周波数に比例する。この和の
大きさはＧｚ’の大きさに比例する。
勾配磁界Ｇｚ“の値を変えて何回か上記サイクルを繰り
返すことにより、ｚ−ｘ面内の選択された断層の完全な
一枚の二次元像が得られる。
返すことにより、ｚ−ｘ面内の選択された断層の完全な
一枚の二次元像が得られる。
瞬時ｔ＝ｔｃの後に新規の測定サイクルをスタートさせ
ることは必ずしも必要ではない。しかし、次の測定期間
において前の測定期間（ｔｂ −ｔｃ）での勾配磁界Ｇ
ｘ”の勾配の方向を反転させると、瞬時ｔ＝ｔｅ２にお
いて第２の共鳴信号が発生し、サンプリングできる。
ることは必ずしも必要ではない。しかし、次の測定期間
において前の測定期間（ｔｂ −ｔｃ）での勾配磁界Ｇ
ｘ”の勾配の方向を反転させると、瞬時ｔ＝ｔｅ２にお
いて第２の共鳴信号が発生し、サンプリングできる。
第２図は、所謂（α°−Ｔｌｌ）Ｎパルス系列、即ち、
時間間隔ＴＲをおいて順次に発生するＮ個のα°パルス
の系列を示す。磁化Ｍの方向が第１のα°パルスに対し
Ｚ軸方向で、横方向磁化Ｍｔがデフエージングと緩和の
ため各α°パルスの直前でほぼゼロに等しい、第Ｎ番目
のα°パルスの直前で横方向磁化１’ｌｔｓに対して次
の関係が良く成立する。
時間間隔ＴＲをおいて順次に発生するＮ個のα°パルス
の系列を示す。磁化Ｍの方向が第１のα°パルスに対し
Ｚ軸方向で、横方向磁化Ｍｔがデフエージングと緩和の
ため各α°パルスの直前でほぼゼロに等しい、第Ｎ番目
のα°パルスの直前で横方向磁化１’ｌｔｓに対して次
の関係が良く成立する。
但し、
Ｍｔｏ＝ Ｍ ｓｉｎ α
（６）τ ＴＲ／Ｔ＋−１ｎ ｃｏｓ ａ：
ここでＴＲは反復周期、Ｔ１は長手方向緩和時間、ト。
（６）τ ＴＲ／Ｔ＋−１ｎ ｃｏｓ ａ：
ここでＴＲは反復周期、Ｔ１は長手方向緩和時間、ト。
はＮ＝Ｏに対する横方向磁化、Ｍｕｓは横方向平均磁化
である。式（５）から明らかなように、横方向磁化Ｌｓ
はＮ個のα°パルスの後横方向平均磁化に近づく。この
効果は「スイフチ オン」効果と呼ばれる。（α’−Ｔ
Ｒ）Ｎパルス系列の各α°パルスの後に、第１図に示し
た実施例で用いられたような勾配磁界により共鳴信号が
発生し、これらの共鳴信号が勾配磁界Ｇｚ’の値が下が
る方向でサンプリングされた時、Ｇｚ’の比較的高い値
に対応する共鳴信号の振幅が式（５）から明らかなよう
に相対的に増幅される。これば高い方の画像周波数が増
幅され、従って画像の縁が一層明確になることを意味す
る。しかし、パルス系列の開始時に測定された信号にこ
の増幅が（Ｔ、の平均又は仮定値に対し）除去されるよ
うな因子（１より小さい）を換算すると、このように明
確な境界はえられない。
である。式（５）から明らかなように、横方向磁化Ｌｓ
はＮ個のα°パルスの後横方向平均磁化に近づく。この
効果は「スイフチ オン」効果と呼ばれる。（α’−Ｔ
Ｒ）Ｎパルス系列の各α°パルスの後に、第１図に示し
た実施例で用いられたような勾配磁界により共鳴信号が
発生し、これらの共鳴信号が勾配磁界Ｇｚ’の値が下が
る方向でサンプリングされた時、Ｇｚ’の比較的高い値
に対応する共鳴信号の振幅が式（５）から明らかなよう
に相対的に増幅される。これば高い方の画像周波数が増
幅され、従って画像の縁が一層明確になることを意味す
る。しかし、パルス系列の開始時に測定された信号にこ
の増幅が（Ｔ、の平均又は仮定値に対し）除去されるよ
うな因子（１より小さい）を換算すると、このように明
確な境界はえられない。
しかし、特にスペクトルの高周波部で著しい画像の雑音
成分は著しく小さくなる。
成分は著しく小さくなる。
第３図が示すパルス系列は１個の準備高周波電磁１８０
°パルスと２個の同一の測定サイクルを含む。（しかし
、実際には１個の１８０°パルスに対し相当多数の測定
サイクルが行なわれる）。このような測定サイクルは既
に第１図につき説明した。
°パルスと２個の同一の測定サイクルを含む。（しかし
、実際には１個の１８０°パルスに対し相当多数の測定
サイクルが行なわれる）。このような測定サイクルは既
に第１図につき説明した。
注意すべきことは、瞬時ｔ−−ｔａとｔ＝ｔａとで限ら
れる期間１において発生させられる準備高周波電磁パル
スは、同時に選択的に勾配磁界をかけた時選択的にスピ
ンを励起できることである。瞬時ｔ＝ｔａとｔ＝ｔｂと
により限られる期間２では１．物体内の種々の化学成分
の励起されたスピンがそれらの夫々の長手方向緩和時間
Ｔ１に依存する速度で均一な静磁界の方向を向く。これ
らの長手方向緩和時間に関する情報は、この緩和仮定中
の種々の瞬時（ｔ ＝ ｔｃ 、 ｔ ＝ Ｌ＋等、に
おいて、高周波電磁パルスα１．α２等（１６時ｔ＝ｔ
ｅｌとｔ＝ｔｅｚ等におけるエコー共鳴信号としての）
の影響により横方向ｘｙ面内に位置する瞬時磁化を測定
することにより得られる。斯くして、任意の瞬時１ ＝
１ｃ、 １ ＝ １ｄ等において、第３図のパルス系
列を繰り返すことにより画像が再構成される。各時間は
準備勾配磁界Ｇｚめ持続時間に亘る強さの時間積分の異
なる値を用いる。この時瞬時１＝１ｃ及び瞬時ｔ＝ｔｄ
に関連する画像は、夫々、瞬時１＝１．及び１＝１．に
おける共鳴信号の緩和時間Ｔ１に依存する強さを表わす
。強さを時間の関数としてプロットしたグラフから、−
画素当りに個の異なるＴ１値及びに個の対応する密度が
求まる。但し、少なくとも２に個の異なる画像が２に個
の異なる瞬時において再構成されている場合である。
れる期間１において発生させられる準備高周波電磁パル
スは、同時に選択的に勾配磁界をかけた時選択的にスピ
ンを励起できることである。瞬時ｔ＝ｔａとｔ＝ｔｂと
により限られる期間２では１．物体内の種々の化学成分
の励起されたスピンがそれらの夫々の長手方向緩和時間
Ｔ１に依存する速度で均一な静磁界の方向を向く。これ
らの長手方向緩和時間に関する情報は、この緩和仮定中
の種々の瞬時（ｔ ＝ ｔｃ 、 ｔ ＝ Ｌ＋等、に
おいて、高周波電磁パルスα１．α２等（１６時ｔ＝ｔ
ｅｌとｔ＝ｔｅｚ等におけるエコー共鳴信号としての）
の影響により横方向ｘｙ面内に位置する瞬時磁化を測定
することにより得られる。斯くして、任意の瞬時１ ＝
１ｃ、 １ ＝ １ｄ等において、第３図のパルス系
列を繰り返すことにより画像が再構成される。各時間は
準備勾配磁界Ｇｚめ持続時間に亘る強さの時間積分の異
なる値を用いる。この時瞬時１＝１ｃ及び瞬時ｔ＝ｔｄ
に関連する画像は、夫々、瞬時１＝１．及び１＝１．に
おける共鳴信号の緩和時間Ｔ１に依存する強さを表わす
。強さを時間の関数としてプロットしたグラフから、−
画素当りに個の異なるＴ１値及びに個の対応する密度が
求まる。但し、少なくとも２に個の異なる画像が２に個
の異なる瞬時において再構成されている場合である。
第４図の符号１は初期化ユニットを示し、ここでは、実
験に先立って、実験中一定であるパラメータの基準値を
導入する。これらの基準値は、例えば、使用される勾配
磁界の振幅、発生すべきエコー共鳴信号の全ての数Ｎ（
例えば、Ｎ＝１２８又は２５６）、エコー共鳴信号番号
ｍ及びサンプリング周波数に関連する。ブロック２では
、番号ｍ＋１の基準値に等しいエコー共鳴信号番号ｍが
決まる。
験に先立って、実験中一定であるパラメータの基準値を
導入する。これらの基準値は、例えば、使用される勾配
磁界の振幅、発生すべきエコー共鳴信号の全ての数Ｎ（
例えば、Ｎ＝１２８又は２５６）、エコー共鳴信号番号
ｍ及びサンプリング周波数に関連する。ブロック２では
、番号ｍ＋１の基準値に等しいエコー共鳴信号番号ｍが
決まる。
次に、ブロック３は勾配磁界ＧＶ”をかけ、α°パルス
を発生させる。次に、ブロック４では勾配磁界Ｇｙ−、
Ｇｘ−及びｍΔＧｚ”を発生させる。次のブロック５で
勾配磁界Ｇｘ”をかけ、共鳴信号をサンプリングする。
を発生させる。次に、ブロック４では勾配磁界Ｇｙ−、
Ｇｘ−及びｍΔＧｚ”を発生させる。次のブロック５で
勾配磁界Ｇｘ”をかけ、共鳴信号をサンプリングする。
−サイクルで２個以上のエコー共鳴信号を発生させ、サ
ンプリングすべきかどうかに依存して、ブロック６て勾
配磁界Ｇｘ”を反転させる。従って、ここでは１個のエ
コー共鳴信号が発生し、サンプリングされる。一枚の画
像を形成するのに適したＮ個の共鳴信号の全部の数が実
験中に発生させられ、サンプリングされた時、換言すれ
ばｍ＜Ｎである時新規のサイクルがスタートする。ｍ＝
Ｈの時実験は終了する。
ンプリングすべきかどうかに依存して、ブロック６て勾
配磁界Ｇｘ”を反転させる。従って、ここでは１個のエ
コー共鳴信号が発生し、サンプリングされる。一枚の画
像を形成するのに適したＮ個の共鳴信号の全部の数が実
験中に発生させられ、サンプリングされた時、換言すれ
ばｍ＜Ｎである時新規のサイクルがスタートする。ｍ＝
Ｈの時実験は終了する。
第１図はパルス系列の一実施例の説明図、第２図は、所
謂（α’ −ＴＲ）Ｎパルス系列の説明図、 第３図はパルス系列の一実施例の説明図、第４図は本発
明方法の流れ図である。 ＧＸ ＋ Ｇｙ ＋ Ｇｚ・・・勾配磁界α・・・高周
波電磁パルス
謂（α’ −ＴＲ）Ｎパルス系列の説明図、 第３図はパルス系列の一実施例の説明図、第４図は本発
明方法の流れ図である。 ＧＸ ＋ Ｇｙ ＋ Ｇｚ・・・勾配磁界α・・・高周
波電磁パルス
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、発生させられた均一な静磁界内に置かれた物体の一
領域内の核磁化分布を求めるために、下記のステップａ
）、ｂ）及びｃ）、即ち、 ａ）０＜α＜９０°としてα°パルスを含む高周波電磁
パルスにより物体の選択された領域内の核スピンに影響
し、α°パルスがこの領域内の核スピンの磁化方向を角
度α°回転させるステップと、 ｂ）準備期間時に準備勾配磁界をかけるステップと、 ｃ）測定期間時に共鳴信号をサンプリングするステップ
とを含むサイクルを構成し、 ｄ）ステップｂ）で規定された勾配磁界の時間積分の値
を毎回変えてステップａ）、ｂ）及びｃ）から成る測定
サイクルを繰り返す核磁化分布測定方法において、使用
される電磁パルスを専らα°パルスの形態の励起パルス
とし、順次の測定サイクルを直接又はほぼ直接続けて行
ない、準備期間時にかけられた勾配磁界に対し反転させ
られている勾配磁界により核スピンをリフェーズするこ
とを特徴とする核磁化分布測定方法。 ２、励起パルスの強さ及び順次の励起パルスの間隔期間
Ｔ＿Ｒの値又はそのいずれか一方を変えていくつかのサ
イクルから成る１個又は複数個の系列を行なうことを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の核磁化分布測定方
法。 ３、Ｎ個の順次の測定期間時に一測定サイクル当りＮ個
の共鳴信号をサンプリングし、一測定期間時に存在する
勾配磁界の勾配の方向を次の測定期間時では何時も反転
することを特徴とする特許請求の範囲前記各項のいずれ
か一項に記載の各磁化分布測定方法。 ４、準備期間の途中で振幅を一定にしたまま準備勾配磁
界を反転し、準備勾配磁界と、準備期間の途中で反転さ
せられた勾配磁界が占める期間ｔ＿１、ｔ＿２とを、こ
れらの期間の和ｔ＿１＋ｔ＿２を準備期間に等しくしつ
つ可変とすることを特徴とする特許請求の範囲前記各項
のいずれか一項に記載の各磁化分布測定方法。 ５、測定方向での磁化の不所望な成分をデフェーズする
ために、測定すべき共鳴信号の直後の測定期間において
かけられる勾配磁界を一測定期間の経過直后しばらく保
ち、−サイクル中のα°パルスの発生前にしばらく勾配
磁界をかけるか又はそのうちの一方を行なうことを特徴
とする特許請求の範囲前記各項のいずれか一項に記載の
核磁化分布測定方法。 ６、被検体の運動の１周期中に発生する複数個の共鳴信
号をこの被検体の運動の周期の種々の相に対応させ、こ
れらの共鳴信号を処理して時系列的に表示できる画像を
形成することを特徴とする特許請求の範囲前記各項のい
ずれか一項に記載の核磁化分布測定方法。 ７、体積要素当りの長手方向緩和時間Ｔ＿１を、角度α
及び２個の順次のα°パルス間の繰り返し時間Ｔ＿Ｒ又
はそのいずれか一方の点で互いに異なる少なくとも２サ
イクルから得られた一個の画像内の複数個の体積要素の
強さから計算することを特徴とする特許請求の範囲前記
各項のいずれか一項に記載の核磁化分布測定方法。 ８、Ｉ＿Ｐを体積要素Ｐの強さとし、αを角度αとし、
Ｔ＿Ｒを繰り返し時間Ｔ＿Ｒとし、Ｔ＿１を長手方向緩
和時間Ｔ＿１とし、Ｃをα、Ｔ＿Ｒ又はＴ＿１に依存し
ない定数として式 Ｉ＿Ｐ＝Ｃｓｉｎα（１−ｅ＾（−Ｔ＿Ｒ／Ｔ＿１））
／（１−ｃｏｓαｅ＾（−Ｔ＿Ｒ／Ｔ＿１））により長
手方向緩和時間Ｔ＿１を計算することを特徴とする特許
請求の範囲第７項記載の核磁化分布測定方法。 ９、準備期間時にかけられる勾配磁界が２個の互に垂直
な勾配磁界の一時結合を含むことを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の核磁化分布測定方法。 １０、準備勾配磁界の時間積分の値の点で異なる複数個
のサイクルの共鳴信号を時間積分の絶対値が増す方向又
は減る方向でサンプリングすることを特徴とする特許請
求の範囲前記各項のいずれか一項に記載の核磁化分布測
定方法。 １１、θを任意の値として間隔をおいて準備高周波電磁
θパルスを発生させる測定を行ない、ステップａ）、ｂ
）及びｃ）を含む測定サイクルを高周波電磁θパルスを
発生させた瞬時からの時間間隔の点で異なるＫ個の瞬時
においてＫ回繰り返し、その際毎回準備勾配磁界の持続
時間に亘る強さの時間積分の一つの値を用いることを特
徴とする特許請求の範囲前記各項のいずれか一項に記載
の核磁化分布測定方法。 １２、毎回準備勾配磁界の持続時間に亘る強さの時間積
分の一つの値を用いてＫ回測定サイクルを繰り返す特許
請求の範囲第１１項記載の核磁化分布測定方法において
、毎回準備勾配磁界の持続時間に亘る強さの時間積分の
値を変えて何回か測定を繰り返すことを特徴とする核磁
化分布測定方法。 １３、準備電磁θパルスを高周波電磁１８０°パルスと
することを特徴とする特許請求の範囲第１１項又は第１
２項記載の核磁化分布測定方法。 １４、物体の領域内の核磁化分布を求めるために、 ａ）均一な静磁界を発生する手段と、 ｂ）高周波電磁励起パルスを発生する手段と、 ｃ）準備期間時に準備勾配磁界を発生する手段と、 ｄ）段ｃ）で規定された手段により発生させられた勾配
磁界の中で準備期間時に共鳴信号を整えた後、測定期間
において、段ａ）及びｂ）で規定された手段により発生
させられた共鳴信号のサンプルをとるサンプリング手段
と、 ｅ）上記サンプリング手段により供給される信号を処理
する処理手段と、 ｆ）複数個の共鳴信号を発生させ、整のえ、サンプリン
グし、処理するための段ｂ）ないしｅ）で規定された手
段を制御する制御手段とを具え、各共鳴信号を準備期間
において不変的に整え、制御手段が段ｃ）で規定された
手段に勾配磁界の強さ及び持続時間又はそのいずれか一
方を調整するための制御信号を供給し、勾配磁界の持続
時間に亘る強さの積分をサイクルの繰り返し毎に変え、
制御手段が高周波電磁パルスを発生する手段に対する制
御信号を発生し、与えるプログラムされたコンピュータ
手段を具える核磁化分布測定装置において、制御手段を
０＜α＜９０として専らα°パルスを発生し、準備期間
又は測定期間において勾配磁界を反転させるようにプロ
グラムすることを特徴とする核磁化分布測定装置。 １５、時間積分の絶対値が減る一方か又は増す一方の系
列での準備勾配磁界の時間積分の値の点で異なる複数個
のサイクルの共鳴信号をサンプリング手段がサンプリン
グすることを特徴とする特許請求の範囲第１４項記載の
核磁化分布測定装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8501685A NL8501685A (nl) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | Kleine hoek spin warp mri. |
| NL8501685 | 1985-06-12 | ||
| NL8502249 | 1985-08-14 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6241649A true JPS6241649A (ja) | 1987-02-23 |
Family
ID=19846128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61135107A Pending JPS6241649A (ja) | 1985-06-12 | 1986-06-12 | 核磁化分布測定方法及び装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6241649A (ja) |
| NL (1) | NL8501685A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06114034A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-26 | Shimadzu Corp | Ｍｒイメージング装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61288849A (ja) * | 1985-02-12 | 1986-12-19 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト・ツ−ル・フエルデルング・デル・ヴイツセンシヤフテン・エ−・フアウ | 客体の局部分解検査のためにスピン共鳴デ−タを迅速に得る方法 |
-
1985
- 1985-06-12 NL NL8501685A patent/NL8501685A/nl not_active Application Discontinuation
-
1986
- 1986-06-12 JP JP61135107A patent/JPS6241649A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61288849A (ja) * | 1985-02-12 | 1986-12-19 | マツクス−プランク−ゲゼルシヤフト・ツ−ル・フエルデルング・デル・ヴイツセンシヤフテン・エ−・フアウ | 客体の局部分解検査のためにスピン共鳴デ−タを迅速に得る方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06114034A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-26 | Shimadzu Corp | Ｍｒイメージング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL8501685A (nl) | 1987-01-02 |
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