JPS62288536A - Spectrophotometor - Google Patents

Spectrophotometor

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JPS62288536A
JPS62288536A JP13183686A JP13183686A JPS62288536A JP S62288536 A JPS62288536 A JP S62288536A JP 13183686 A JP13183686 A JP 13183686A JP 13183686 A JP13183686 A JP 13183686A JP S62288536 A JPS62288536 A JP S62288536A
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JP
Japan
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light
slit
monochromator
diffraction grating
luminous flux
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Application number
JP13183686A
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Japanese (ja)
Inventor
Hironori Kachi
弘典 加地
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To increase the quantity of beam and to reduce noise, by making it possible to emit zero-order light from one of two monochromators. CONSTITUTION:The light emitted from a light source 1 passes through a slit 2 to be incident to a first monochromator 101 and is dispersed by a first diffraction lattice 3 to form a spectrum on a slit 4. The monochromatic light issued from the slit 4 enters a second monochrometor 102 to be dispersed by a second diffraction lattice 5 and monochromatic light reduced in stray light is emitted from a slit 6. This monochromatic light is reflected by a mirror 7 to be separated into specimen side luminous flux and reference side luminous flux by a chopper 8 and the specimen side luminous flux reaches a light detector 16 through mirrors 10, 11, 13, 15 while the reference side luminous flux reaches said detector 16 through mirrors 9, 12, 14. By this constitution, both of the measurement of low stray light and measurement at a low noise level can be performed corresponding to a measuring object.

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明はダブルモノクロ分光光度計に係り、特にノイズ
の小さな分光光度計に関するものである。
Detailed Description of the Invention 3. Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a double monochrome spectrophotometer, and particularly to a spectrophotometer with low noise.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

分光光度計では、光源から出た白色光を分光器に単色光
にする。この単色光を試料に当て、透過或いは反射した
単色光のエネルギーを測定する。
In a spectrophotometer, white light from a light source is converted into monochromatic light by a spectrometer. This monochromatic light is applied to the sample, and the energy of the transmitted or reflected monochromatic light is measured.

一般に分光光度計に用いられる分光器はシングルモノク
ロメータとダブルモノクロメータに分類される。シング
ルモノクロメータは、分散子を1つ使用して単色光を得
るものであるが、モノクロメータが1つであるため迷光
が多い。迷光というのは、自分が欲しい波長以外の光で
あるから測定の妨げになる。特に、迷光が多いと高濃度
の試料を聞定する場合の測定誤差が大きくなってしまう
Spectrometers used in spectrophotometers are generally classified into single monochromators and double monochromators. A single monochromator uses one dispersion element to obtain monochromatic light, but since there is only one monochromator, there is a lot of stray light. Stray light is light with a wavelength other than the one you want, so it interferes with measurements. In particular, if there is a lot of stray light, measurement errors will become large when measuring a highly concentrated sample.

これに対し、ダブルモノクロメータは、2つのモノクロ
メータを直列に配している。第一モノクロメータから出
た光をもう一度モノクロメータにより分光することによ
り低迷光の分光器とすることができる。しかし、ダブル
モノクロメータでは2回分光することになるので光の強
度が弱くなってしまうために、光を電気信号に変換した
後の信号にはノイズが多くなってしまう。
On the other hand, a double monochromator has two monochromators arranged in series. By separating the light emitted from the first monochromator once again using the monochromator, it is possible to obtain a spectrometer for low stray light. However, since the double monochromator separates the light twice, the intensity of the light becomes weaker, and the signal after converting the light into an electrical signal contains a lot of noise.

従来は、シングルモノクロメータの分光光度計とダブル
モノクロメータの分光光度計を2台用意して、測定する
試料に合わせて使い分けなければならなかった0例えば
、低濃度の試料を測定する場合は、シングルモノクロメ
ータの分光光度計を使用してノイズを少なくシ、高濃度
の試料を測定する場合は、ダブルモノクロメータの分光
光度計を使用して誤差を少なくして測定しなければなら
なかった。
Previously, it was necessary to prepare two spectrophotometers, one with a single monochromator and one with a double monochromator, and use them depending on the sample to be measured.For example, when measuring a low concentration sample, A spectrophotometer with a single monochromator was used to reduce noise, and when measuring a highly concentrated sample, a spectrophotometer with a double monochromator had to be used to reduce the error.

本発明は、1台の分光光度計をシングルモノクロメータ
とダブルモノクロメータを切り換えて使用できるように
するための手段である。
The present invention is a means for enabling one spectrophotometer to be used by switching between a single monochromator and a double monochromator.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

一般に分光光度計のモノクロメータは、回折格子によっ
て光を分散し、その分散された光の一部をスリットに通
すことにより単色光を得ている。
In general, a monochromator in a spectrophotometer disperses light using a diffraction grating and passes a portion of the dispersed light through a slit to obtain monochromatic light.

ダブルモノクロ分光光度計では、このモノクロメータを
直列に配置して、迷光を少なくしている。
In a double monochrome spectrophotometer, these monochromators are arranged in series to reduce stray light.

ところが、測定対象物によっては、迷光を少なくするよ
りもノイズを小さくすることを優先して測定したい場合
がある。
However, depending on the object to be measured, it may be desirable to give priority to reducing noise rather than reducing stray light.

本発明の目的は、上記のようなノイズを小さくしたい場
合には、光量を多くして、小ノイズで測定ができる分光
光度計を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a spectrophotometer that can increase the amount of light and perform measurements with low noise when it is desired to reduce the noise as described above.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

ダブルモノクロ分光光度計でノイズが増大する原因は、
前記のようにモノクロメータを直列に配することにより
、光量が少なくなり、光を電気信号に変換するときにノ
イズが発生するためである。
The reason for the increase in noise in a double monochrome spectrophotometer is
This is because arranging monochromators in series as described above reduces the amount of light and generates noise when converting light into electrical signals.

ところで、回折格子からは零次光として、分散していな
い光が反射している。この光の強度は分散した単色光よ
りも強い。
Incidentally, undispersed light is reflected from the diffraction grating as zero-order light. The intensity of this light is stronger than that of dispersed monochromatic light.

本発明は、2つあるモノクロメータのうちの一つからこ
の零次光を出射できるようにして、光量を多くシ、ノイ
ズを減少させたものである。
The present invention allows this zero-order light to be emitted from one of two monochromators to increase the amount of light and reduce noise.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の一実施例を図面によって説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図に本発明の一実施例の光学系統図を示す。FIG. 1 shows an optical system diagram of an embodiment of the present invention.

光源1から出た光は、スリット2を通って第一モノクロ
メータ101に入る。この光は、第一回折格子3によっ
て分散されスリット4上にスペクトルを作る。スリット
4から出た単色光は、第二モノクロメータ102に入り
、第二回折格子5によって分散され、スリット6から迷
光の少ない単色光が出てくる。この単色光は1li7で
反射した後、チョッパ8によって試料側光束と対照側光
束に分離され、試料側光束は鏡10,11,13,15
、対照側光束は鏡9,12.14を経て光検知器16に
到達する。
Light emitted from the light source 1 passes through the slit 2 and enters the first monochromator 101. This light is dispersed by the first diffraction grating 3 and forms a spectrum on the slit 4. The monochromatic light emitted from the slit 4 enters the second monochromator 102, is dispersed by the second diffraction grating 5, and monochromatic light with less stray light comes out from the slit 6. After this monochromatic light is reflected by 1li7, it is separated by a chopper 8 into a sample-side light beam and a contrast-side light beam, and the sample-side light beam is
, the contrast side light beam reaches the photodetector 16 via the mirrors 9, 12, 14.

ここで、第一回折格子は第2図に示すような機構で回転
駆動される。通常の動作では、第一回折格子3の回転軸
に固定されたアーム201は実線で示す位置にある。こ
のアーム201はバネ202でスライダ203に押し付
けられている。
Here, the first diffraction grating is rotationally driven by a mechanism as shown in FIG. In normal operation, the arm 201 fixed to the rotation axis of the first diffraction grating 3 is in the position shown by the solid line. This arm 201 is pressed against a slider 203 by a spring 202.

スライダ203は、モータ204によって回転する送り
ネジ205によって移動し、第一回折格子3を回転させ
る。第一回折格子3の角度によって。
The slider 203 is moved by a feed screw 205 rotated by a motor 204 to rotate the first diffraction grating 3 . By the angle of the first diffraction grating 3.

第一モノクロメータから出射する単色光の波長が変化す
る。
The wavelength of the monochromatic light emitted from the first monochromator changes.

さて、以上がダブルモノクロ分光光度計としての動作で
あるが、第一モノクロメータから出てくる光の光量が少
ないためにノイズが多い。そこで透過率が低い試料や、
小さなノイズで測定しなければならない試料を測定する
場合には、次のようにして、第一モノクロメータでは分
光されてない零次光を出射するようにする。
Now, the above is the operation of the double monochrome spectrophotometer, but since the amount of light coming out from the first monochromator is small, there is a lot of noise. Therefore, samples with low transmittance,
When measuring a sample that must be measured with small noise, the first monochromator emits zero-order light that has not been spectrally separated as follows.

零次光とは、分光されてない光で回折格子から反射して
くる。回折格子の入射光と反射光の関係を第3図に示す
。回折格子の一般式は次式で与えられる。
Zero-order light is unsplit light that is reflected from the diffraction grating. FIG. 3 shows the relationship between incident light and reflected light on the diffraction grating. The general formula of the diffraction grating is given by the following equation.

mλ=d(sinθ±sinψ) ここで m:回折次数±1.±2.±3・・・・・・λ
:波長 d:格子間隔 θ:入射角 ψ:出射角 この式から分かるように出射角に応じて特定の波長が得
られる。
mλ=d(sinθ±sinψ) where m: diffraction order ±1. ±2. ±3...λ
: Wavelength d: Grid spacing θ: Incident angle ψ: Output angle As can be seen from this equation, a specific wavelength can be obtained depending on the output angle.

ところで、反射角ψがθと同じである場合には、分散さ
れない光が反射する。この光は一般に零次光と呼ばれて
おり、光の強度は分散された光より強い。この零次光を
利用しするのが本発明例である。
By the way, when the reflection angle ψ is the same as θ, undispersed light is reflected. This light is generally called zero-order light, and its intensity is stronger than that of dispersed light. The example of the present invention utilizes this zero-order light.

零次光を出射するための一例を第2図によって説明する
。零次光を出射する場合には、電磁石211でアーム2
01を押して、ストッパ212まで移動させ、第一回折
格子3を回転させる。アーム201がストッパ212に
当ったときに零次光がスリット4から構成される装置に
ストッパ212は固定しである。第一モノクロメータか
ら零次光が出ているときには、光量が多いのでノイズの
少ない測定結果が得られる。
An example for emitting zero-order light will be explained with reference to FIG. 2. When emitting zero-order light, the arm 2 is
01 to move it to the stopper 212 and rotate the first diffraction grating 3. The stopper 212 is fixed to a device constituted by the slit 4 so that when the arm 201 hits the stopper 212, the zero-order light is emitted. When zero-order light is emitted from the first monochromator, the amount of light is large, so measurement results with less noise can be obtained.

第2図で送りネジ205を長くすれば、モータを定めら
れた回転数だけ余分に回転することにより、零次光を得
ることができる。
If the feed screw 205 in FIG. 2 is made longer, the motor can be rotated an extra predetermined number of revolutions to obtain zero-order light.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、測定対象物に応じて、低迷光の測定と
低ノイズでの測定の両方の測定が可能になる。
According to the present invention, it is possible to perform both low stray light measurement and low noise measurement depending on the object to be measured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の光学系統図、第2図は第一
回折格子の回転駆動部の詳細図、第3図は入射光と反射
光の関係を示す図である。 1・・・光源、2・・・スリット、3・・・第一回折格
子、4・・・スリット、5・・・第二回折格子、6・・
・スリット、7.9,10,11,12,13,14.
15・・・鏡、8・・・チョッパ、16・・・検知器、
1o1・・・第一モノクロメータ、102・・・第二モ
ノクロメータ、201・・・アーム、202・・・バネ
、203・・・スライダ、204・・・モータ、205
・・・送りネジ、211・・・電磁石、212・・・ス
ットパ。 、、、□い、−741,1、□:一夕 第1I2]
FIG. 1 is an optical system diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed diagram of a rotation driving section of a first diffraction grating, and FIG. 3 is a diagram showing the relationship between incident light and reflected light. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Light source, 2... Slit, 3... First diffraction grating, 4... Slit, 5... Second diffraction grating, 6...
・Slit, 7.9, 10, 11, 12, 13, 14.
15...Mirror, 8...Chopper, 16...Detector,
1o1...First monochromator, 102...Second monochromator, 201...Arm, 202...Spring, 203...Slider, 204...Motor, 205
...Feed screw, 211...Electromagnet, 212...Stopper. ,,,□I, -741,1,□: Ichiya 1I2]

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、回折格子を使用して光を分散し、この分散した光が
作るスペクトル上に配置したスリットによつて単色光を
得るモノクロメータと、もう一つ別のモノクロメータを
直列に配したダブルモノクロ分光光度計において、前記
回折格子を使用しているモノクロメータのスリットから
回折格子の零次光を出射して測定することを特徴とする
分光光度計。
1. A double monochromator that uses a diffraction grating to disperse light and obtains monochromatic light through slits placed on the spectrum created by this dispersed light, and another monochromator arranged in series. A spectrophotometer, characterized in that zero-order light of a diffraction grating is emitted from a slit of a monochromator using the diffraction grating for measurement.
JP13183686A 1986-06-09 1986-06-09 Spectrophotometor Pending JPS62288536A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13183686A JPS62288536A (en) 1986-06-09 1986-06-09 Spectrophotometor

Applications Claiming Priority (1)

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JP13183686A JPS62288536A (en) 1986-06-09 1986-06-09 Spectrophotometor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62288536A true JPS62288536A (en) 1987-12-15

Family

ID=15067234

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13183686A Pending JPS62288536A (en) 1986-06-09 1986-06-09 Spectrophotometor

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JP (1) JPS62288536A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02120039U (en) * 1989-03-15 1990-09-27

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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