JPS62279835A

JPS62279835A - 連続造粒装置の粒径制御装置

Info

Publication number: JPS62279835A
Application number: JP12143386A
Authority: JP
Inventors: Akira Kodera; 彰小寺; Takashi Ito; 崇伊藤; Masaaki Okawara; 正明大川原
Original assignee: OOGAWARA KAKOKI KK
Current assignee: OOGAWARA KAKOKI KK
Priority date: 1986-05-27
Filing date: 1986-05-27
Publication date: 1987-12-04

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】３、発明の詳細な説明［産業上の利用分野コ本発明は連続造粒装置の粒径制御装置、特に粒子の粒径
を自動的に測定、制御して粒径の揃った粉粒体を製造す
るための連続造粒装置の粒径制御装置に関するものであ
る。

［従来の技術］従来、例えばアルミナ等のセラミックス、医薬品、食料
品等の粉末製品等を連続的に製造する連続造粒装置とし
て、噴霧乾燥装置と連続流動造粒装置が知られている。

噴霧乾燥装置としては、例えば、第１図に示すように、
装置本体１内に排風温度を一定にするように制御された
原液Ｆと、一定温度に制御された熱風か、それぞれライ
ン２及びライン３を介して導入され、原液は熱風によっ
て瞬時に乾燥して粉粒体とされる。モして粉粒体は大部
分装置本体１の底部の出口４から製品として取り出され
、一部かガスとともにサイクロン５に同伴されている。

一方１．第２図に示す連続流動造粒装置においては、装
置本体１内に導入された原粉Ａはその下部で、圧縮空気
Ｂによりスプレーされるバインター掖Ｃと原粉Ａの動き
によって混合造粒され乾燥冷却器６に移送される。この
乾燥冷却器６においてその表面をバインダーて湿らされ
た造粒粉Ａ′は乾燥後冷却されて製品Ｐとして取り出さ
れる。

［発明が解決しようとする問題点］しかしながら、第１図に示す噴霧乾燥装置にあっては、
外気温の変化や熱風量の変化によって、また原液タンク
のレベルの変化によって、原液の流量が変化したり、原
液の濃度あるいは粘度が変化することか通常あり、その
ために製品粒径にバラツキが生じていた。このバラツキ
を防止するため、従来は定期的に、例えば１日に数回、
通常は２回、人手によりサンプリングを行って粒径を測
定後、その結果に基いてアトマイザ−の回転調整等を行
っていた。

また、第２図に示す連続流動造粒装置にあっても、魚粉
Ａの粒度、含水量が変化するほか、魚粉の流動性、粉体
圧縮特性等により魚粉の供給量が変化するために製品粒
径にバラツキか生じていた。この場合も前記噴霧乾燥装
置と同様に人手によるサンプリングを用い、バインダー
液の流量、流動化ガス温度等の調整等を行っていた。

以上のように、従来は製品粒径の制御は人手を介して行
われており、測定結果に基〈制御に時間かかかること、
誤差があること、良品率の低い製品が多量に出る危険が
あること等の欠点があった［問題点を解決するための手
段］従って本発明の目的は、製品粒径のバラツキを迅速且つ
自動的に測定し、それに基いて迅速且つ的確に被制御対
象（アトマイザ−の回転数、原液濃度、バインダー液の
流量、噴霧時間等）を制御する連続造粒装置の粒径Ｆ！
ｊｌ　ｍ装置を提供することにある。

かかる目的は本発明によれば、連続造粒装置からの造粒
製品の一部をサンプリングするサンプリング手段と、該
サンプリング製品の平均粒径及び粒度分布を測定する測
定手段と、その測定結果を受け、前記連続造粒装置に特
有な特性式による演算結果を算出し、これに基すいて被
制御対象を制御する演算・制御手段とから成る、連続造
粒装置の粒径制御装置が提供される。

本発明においては、噴霧乾燥装置や連続流動造粒装置等
の連続造粒装置における使用原料、魚粉、バインダー液
及び装置等の特性をバッチ試験等で予め測定して演算の
因子及び特性式を決定しておき、それに基き制御対象と
なる連続造粒装置を制御するものである。

〔作用〕

次に本発明に係る連続造粒装置の粒径□制御装置の作用
を説明する。

まず、連続造粒装置から一部の製品粒子をサンプリング
し、該粒子の平均粒径及び粒度分布を測定する。次いで
、この測定結果を演算装置に入力して設定値と比較し、
例えば、回転円盤を用いる噴霧乾燥装置の場合には、平
均粒径Ｄｐ（Ｘ：Ｎ”’（ここて、Ｎは回転数）の関係
があるので、測定値か設定値の±１０％以内であれば、
上記特性式に基いて演算装置が演算し、回転円盤の回転
数の調整を行って粒子の粒径の制御を行う。

そして、通常１５〜３０分間隔てサンプリング、測定、
＠算、調整を行う。

［実施例コ以下、本発明を実施例に基き更に詳細に説明する。

第１図は噴霧乾燥装置に本発明の粒径制御装置を組み込
んだ例を示す。装置本体１の出口４からサンプリンク器
７により造粒製品の一部がサンプリングされ、測定装置
８に送入される。他の大部分の造粒製品はサンプリング
器７を介して振動篩９に送られ、ここて製品Ｐとされる
一定の粒径範囲を有する粒子か篩分けされて取り出され
る。

測定装置８に送入された造粒製品の一部は、そこて各篩
（２段以上）で篩分けされた重量が測定され、その測定
結果は演算装置１０に入力される。演算装置１０ては、
平均粒径（ＤＰ　）とその粒度分布が計算され、予め決
定された特性式に基いて該測定結果から設定値に近ずけ
るのに必要な演算を行い、被制御対象である回転円盤の
回転数及び／あるいは原液の濃度を変化させて制御する
。

一方、第２図に示す連続流動造粒装ｍにおいても、製品
Ｐとして取り出された以降の制御工程は前記した第１図
の噴霧乾燥装置に場合と同様であるが、ただ演算装置Ｉ
Ｏにより制御される被制御対象は、バインター液Ｃの流
量及び噴霧時間となる点で相違する。

次に、制御方式の一例を具体的に説明する。

第１図に示す噴霧乾燥装置に粒径制御装置を組み込んだ
場合、平均粒径Ｄｐ戊Ｎ０６の関係かある。従って、こ
の特性式に基き、演算、調整するわけであるが、この場
合の制御方式としては、例えば以下のような方式か考え
られる。

■設定値の±１０％以内てあれば、Ｄ　ｐ　ｏｃ　Ｎ　
’・６で演算して、回転円盤の回転数を調整する。

■設定値の±５％を超えた場合、第１ｇ報を発する。

■設定値の±ｌＯ％を超えた場合、第２ｇ報を発する。

■設定値の±ｌＯ％を続けて２度超えた場合、原液供給
をストップする。

■設定値の±２０％を超えた場合、原液供給をストップ
する。

更に具体的に、アルミナ超微粒子の乾燥、造粒に対して
本発明の制御装置を適用した例を、従来例と比較して説
明する。

尚、使用装置、条件は次の通りである。

連続造粒装置・・・スプレードライヤー装置径（塔径）
・・・７．２ｍ熱風入口温度・・・３００°Ｃ乾燥造粒品量・・・４００ｋｇ良製品粒子径・・・４４〜１４９ｇｍ平均粒子径　・・・８０鉢ｍ（従来例）従来の人手による３回／日のサンプリングによる補正運
転を２４時間行ったところ、次の結果が得られた。

良製品比率・・・９２％平均粒子径の変化・・・１回目　２回目　３回目８０ｇ
Ｉ！１８１ｐｍ　　８５ｐｍなお、この間に原料タンクの原料は８０％から３０％に
減少していた。

（実施例）本発明の制御装置により、２０分間隔てサンプリング、
回転数の自動修正運転を２４時間行ったところ１次の結
果が得られた。

良製品比率・・・９６％平均粒子径の変化・・・８０ｐｍ±３ｐｍとなり、不良
品の割合は８％から４％へ半減したまた、第２図に示す
連続流動造粒装置の場合には、所定範囲内において造粒
粒子径とバインダー液供給量との間には、ＤＰｃＸ：、
Ｌｎ　（ｎは物品によって定まる定数で、一般には１〜
２の値をとる）という関係かあり、実際には上記特性式
（特にｎの値）は実験により決定される。そして、これ
に基いて演算、調整を行うことになる。

［発明の効果コ以上説明したように、本発明の連続造粒装置の粒径制御
装置によれば、製品粒子の粒径を自動的に測定して製品
粒子粒径のバラツキを検知し、それに基き回転円盤の回
転数等の被制御対象を制御することにより、粒径の揃っ
た粉粒体を製造することができるという優れた利点を有
する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の粒径制御装置を噴霧乾燥装置に適用し
た場合の一実施例を示す概略説明図、第２図は連続流動
造粒装置を示す概略説明図である１・・・連続造粒装着
本体、４・・・出口、５・・・サイクロン、６・・・乾
燥冷却器、７・・・サンプリング器、８・・・測定装置
、９・・・振動篩、１０・・・ｖｒ算装置。

Claims

【特許請求の範囲】

連続造粒装置からの造粒製品の一部をサンプリングする
サンプリング手段と、該サンプリング製品の平均粒径及
び粒度分布を測定する測定手段と、その測定結果を受け
、前記連続造粒装置に特有な特性式による演算結果を算
出し、これに基ずいて被制御対象を制御する演算・制御
手段とから成ることを特徴とする、連続造粒装置の粒径
制御装置。