JPS622689A - Formation of wiring pattern - Google Patents

Formation of wiring pattern

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JPS622689A
JPS622689A JP14168885A JP14168885A JPS622689A JP S622689 A JPS622689 A JP S622689A JP 14168885 A JP14168885 A JP 14168885A JP 14168885 A JP14168885 A JP 14168885A JP S622689 A JPS622689 A JP S622689A
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JP
Japan
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layer
wiring pattern
aromatic
film
polyimide film
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JP14168885A
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Japanese (ja)
Inventor
中野 常朝
中島 紘平
安野 弘
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Ube Corp
Original Assignee
Ube Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、感光基を有する耐熱性の芳香族ポリマーの溶
液を用い、基体である芳香族ポリイミドフィルム上に、
配線パターンに相当する部分が取り除かれている上記芳
香族ポリマーの光硬化層を形成した後、この光硬化層を
利用して、蒸着又はスパッタリングによって導電性の金
属の薄層配線からなる配線パターンを、上記芳香族ポリ
イミドフィルム上に形成する方法に関するものであり、
種々の電子材料部品の製造に適用することができる。
Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field] The present invention uses a solution of a heat-resistant aromatic polymer having a photosensitive group to coat an aromatic polyimide film as a substrate.
After forming the photo-cured layer of the aromatic polymer from which the portion corresponding to the wiring pattern has been removed, this photo-cured layer is used to form a wiring pattern consisting of thin conductive metal wiring by vapor deposition or sputtering. , relates to a method of forming on the aromatic polyimide film,
It can be applied to the production of various electronic material parts.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、絶縁支持基板又はフィルムの上に、導電性の金属
配線パターンを形成する方法(パターニフグ法)として
は、種々の方法が知られているが、最近、絶縁支持基線
又はフィルム等の基体上に、配線パターン部分の切り抜
かれたマスクを密接に重ね合わせて、その基体表面に、
メッキ、スパックリング、蒸着等を行い、その後、前記
マスクの剥離等でマスク層及びマスク層上の金属層を取
り除くことによって、導電性の金属配線パターンを形成
するバターニング法が提案されている。
Conventionally, various methods have been known for forming a conductive metal wiring pattern on an insulating support base line or film (patterning method), but recently, methods for forming conductive metal wiring patterns on an insulating support base line or film, etc. have been known. , by closely overlapping the cut-out masks of the wiring pattern parts, on the surface of the substrate,
A buttering method has been proposed in which a conductive metal wiring pattern is formed by performing plating, spuckling, vapor deposition, etc., and then removing the mask layer and the metal layer on the mask layer by peeling off the mask or the like.

また、フィルム上に茎着させたCu等の金属層の上に更
に、感光性ポリマーからなる感光性膜を積層し、次いで
、上記感光性膜に光を照射して配線パターンに相当する
部分の感光性膜を光硬化し、現像して、配線パターンに
相当する部分を光硬化層で覆い、配線パターンに相当す
る部分以外の感光性膜を除去し金属層を露出させた後、
露出した部分の金属層をエツチングにより除去し、次い
で上記光硬化層を除去することによって、導電性の金属
配線パターンを形成する方法も提案されている。
Furthermore, a photosensitive film made of a photosensitive polymer is further laminated on a metal layer such as Cu attached to the film, and then the photosensitive film is irradiated with light to form a portion corresponding to a wiring pattern. After photocuring and developing the photosensitive film, covering the portion corresponding to the wiring pattern with a photocuring layer, and removing the photosensitive film other than the portion corresponding to the wiring pattern to expose the metal layer,
A method has also been proposed in which a conductive metal wiring pattern is formed by removing the exposed portion of the metal layer by etching and then removing the photocured layer.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

前記のマスクを使用する方法では、耐熱性のマスクとし
て、金属板やガラス板からエツチング等の複雑な工程に
よって製造された配線パターンの切り抜かれている高価
なマスクが使用されているが、それらのマスクでは、特
に細密な配線パターンを再現性よく多数形成することが
極めて困難であり、また、それらのマスクがかなりの厚
さを有し剛性を有するものであるため、それらのマスク
を前記の絶縁支持基板等に密着して固定することが困難
であり、スパッタリング、蒸着等のバターニング工程に
おいて精密な配線パターンを形成することが困難であっ
た。更に、上記のマスクは、製造工程が複雑で高価であ
るので、バターニングの際に再使用する必要があり、そ
の再使用のためにマスク上に付着した金属層を除去して
再生させる工程が必要であり、その工程における種々の
問題も生じていた。
In the method using a mask, an expensive mask with a wiring pattern cut out of a metal plate or glass plate by a complicated process such as etching is used as a heat-resistant mask. With masks, it is extremely difficult to form a large number of particularly fine wiring patterns with good reproducibility, and since these masks are quite thick and rigid, they are It is difficult to fix the wire in close contact with a support substrate, etc., and it is difficult to form a precise wiring pattern in a patterning process such as sputtering or vapor deposition. Furthermore, since the manufacturing process of the above mask is complicated and expensive, it is necessary to reuse it during patterning, and in order to reuse it, a process of removing the metal layer attached to the mask and regenerating it is necessary. However, various problems have arisen in the process.

また、前記の感光性ポリマーからなる感光性膜を積層す
る方法では、工程が複雑である上、金属層のエツチング
に使用される溶媒が強いものであるため基体のフィルム
が侵される惧れがあり、またエツチングが煩雑で面倒で
ある等の問題があった。
Furthermore, in the method of laminating photosensitive films made of photosensitive polymers, the process is complicated, and the solvent used for etching the metal layer is strong, so there is a risk that the base film may be attacked. Furthermore, there were other problems such as etching being complicated and troublesome.

従って、本発明の目的は、上述のような問題が生じるこ
となく、フィルム上に導電性の金属の薄層配線からなる
細密な配線パターンを容易に形成することができる方法
を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a method that can easily form a fine wiring pattern made of thin conductive metal wiring on a film without causing the above-mentioned problems. .

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明者等は、上記目的を達成すべく種〜研究を重ねた
結果、感光基を有する耐熱性の芳香族ポリマーの溶液を
用い、基体である芳香族ポリイミドフィルム上に、配線
パターンに相当する部分が取り除かれている上記芳香族
ポリマーの光硬化層を形成した後、該ポリイミドフィル
ムの表面に対して金属を蒸着又はスパッタリングし、次
いで上記光硬化層及びその上の41属層を除去すること
によって、上記芳香族ポリイミドフィルム上に細密な配
線パターンが極めて再現性よく容易に形成し得ることを
知見した。
As a result of repeated research to achieve the above object, the present inventors used a solution of a heat-resistant aromatic polymer having a photosensitive group to form a pattern corresponding to a wiring pattern on an aromatic polyimide film as a substrate. After forming the photocured layer of the aromatic polymer from which portions have been removed, depositing or sputtering a metal onto the surface of the polyimide film, and then removing the photocured layer and the Group 41 layer thereon. It was discovered that a fine wiring pattern can be easily formed on the aromatic polyimide film with extremely good reproducibility.

本発明は、上記知見に基づきなされたもので、感光基を
有する耐熱性の芳香族ポリマーの溶液を、芳香族ポリイ
ミドフィルムに塗布し、乾燥して、該ポリイミドフィル
ム上に上記芳香族ポリマーからなる感光性層が形成され
ている積層フィルムを作成し、 次いで、上記積層フィルムの感光性層に、配線パターン
に相当する部分が不透明化されているポジフィルムを通
して光を照射し、上記配線パターンに相当する部分を除
いて上記感光性層を光硬化し、 続いて、上記感光性層を現像することによって該感光性
層の未光硬化部分を除去し、配線パターンに相当する部
分以外が光硬化層で覆われ、配線パターンに相当する部
分が露出している、部分被覆ポリイミドフィルムとなし
、 然る後、上記部分被覆ポリイミドフィルムに対して芸着
又はスパッタリングして金属の薄膜を上記部分被覆ポリ
イミドフィルム上に形成し、最後に、上記光硬化層及び
その光硬化層上の金属層を除去すること を特徴とする配線パターンの形成方法を提供するもので
ある。
The present invention was made based on the above findings, and involves coating an aromatic polyimide film with a solution of a heat-resistant aromatic polymer having a photosensitive group, drying the solution, and applying the above-mentioned aromatic polymer onto the polyimide film. A laminated film on which a photosensitive layer is formed is created, and then light is irradiated onto the photosensitive layer of the laminated film through a positive film in which the portion corresponding to the wiring pattern is made opaque, thereby forming a layer corresponding to the wiring pattern. The above-mentioned photosensitive layer is photocured except for the portions corresponding to the wiring pattern, and then the unphotocured portions of the photosensitive layer are removed by developing the photosensitive layer, and the portions other than those corresponding to the wiring pattern are photocured. Then, the partially covered polyimide film is covered with a metal thin film by sputtering or sputtering to form a thin metal film on the partially covered polyimide film. The present invention provides a method for forming a wiring pattern, characterized in that the photocured layer and the metal layer on the photocured layer are removed.

以下に本発明の配線パターンの形成方法について詳述す
る。
The method for forming a wiring pattern according to the present invention will be described in detail below.

本発明で用いられる感光基を有する耐熱性の芳香族ポリ
マーは、エネルギー線(光線)の照射によって光架橋(
光硬化)する、炭素−炭素不飽和基を含有している感光
基をポリマー主鎖に有し、使用温度の上限が約200℃
、好ましくは250℃以上である耐熱性を有している有
機溶媒可溶性の芳香族ポリマーであり、かかる芳香族ポ
リマーの好ましい例としては、下記の芳香族ポリアミド
及び芳香族ポリイミドが挙げられる。
The heat-resistant aromatic polymer having a photosensitive group used in the present invention can be photocrosslinked by irradiation with energy rays (light rays).
The polymer main chain has a photosensitive group containing a carbon-carbon unsaturated group that undergoes photocuring, and the upper limit of the operating temperature is approximately 200°C.
It is an organic solvent-soluble aromatic polymer having heat resistance, preferably 250° C. or higher, and preferred examples of such an aromatic polymer include the following aromatic polyamides and aromatic polyimides.

芳香族ジカルボン酸類を約70モル%以上含有するジカ
ルボン酸成分と、感光基を有する芳香族ジアミン化合物
を少なくとも30モル%、好ましくは40モル%以上含
有する芳香族ジアミン成分とを、有機極性溶媒中で重合
して得られるホモ重合体又は共重合体からなる、感光基
を有する有機溶媒可溶性の芳香族ポリアミド。
A dicarboxylic acid component containing about 70 mol% or more of aromatic dicarboxylic acids and an aromatic diamine component containing at least 30 mol%, preferably 40 mol% or more of an aromatic diamine compound having a photosensitive group in an organic polar solvent. An organic solvent-soluble aromatic polyamide having a photosensitive group and consisting of a homopolymer or copolymer obtained by polymerizing with.

芳香族テトラカルボン酸類を約70モル%以上含有する
テトラカルボン酸成分と、上記芳香族ポリアミドの製造
に用いられる芳香族ジアミン成分と同様の芳香族ジアミ
ン成分とを、有機極性溶媒中で重合して得られるホモ重
合体又は共重合体からなる、感光基を有する有機溶媒可
溶性の芳香族ポリイミド。
A tetracarboxylic acid component containing about 70 mol% or more of aromatic tetracarboxylic acids and an aromatic diamine component similar to the aromatic diamine component used in the production of the aromatic polyamide are polymerized in an organic polar solvent. An organic solvent-soluble aromatic polyimide having a photosensitive group and consisting of the resulting homopolymer or copolymer.

上記芳香族ポリアミドについて更に詳しく説明すると、
芳香族ジカルボン酸類としては、例えば、テレフタル酸
、イソフタル酸、4.4°−ジカルボキシ−ビフェニル
、4,4゛−ジカルボキシ−ジフェニルメタン、4,4
°−ジカルボキシ−ジフェニルエーテル等の芳香族ジカ
ルボン酸と、それらの酸ハロゲシ化物(特に酸塩化物)
を好適に挙げることができる。
To explain the above aromatic polyamide in more detail,
Examples of aromatic dicarboxylic acids include terephthalic acid, isophthalic acid, 4.4°-dicarboxy-biphenyl, 4,4°-dicarboxy-diphenylmethane, 4,4
Aromatic dicarboxylic acids such as °-dicarboxy-diphenyl ether and their acid halides (especially acid chlorides)
can be preferably mentioned.

上記芳香族ポリアミドの製造に用いられるジカルボン酸
成分は、上記の芳香族ジカルボン酸類の他に、例えば、
脂環族又は脂肪族ジカルボン酸類が一部併用されていて
もよい。
In addition to the above-mentioned aromatic dicarboxylic acids, the dicarboxylic acid component used in the production of the aromatic polyamide includes, for example,
A part of alicyclic or aliphatic dicarboxylic acids may be used in combination.

また、感光基を存する芳香族ジアミン化合物としては、
例えば、3,5−ジアミノ安息香酸エチル(メタ)アク
リル酸エステル、2.4−ジアミノ安息香酸エチル(メ
タ)アクリル酸エステル、3.5−ジアミノ安息香酸グ
リシジル(メタ)アクリレートエステル、2.4−ジア
ミノ安息香酸グリシジル(メタ)アクリレートエステル
、3゜5−ジアミノ安息香酸ケイ皮エステル、2,4−
ジアミノ安息香酸ケイ皮エステル等の安息香酸エステル
li;3.5−ジアミノベンジル(メタ)アクリレート
等のベンジルアクリレ−814−アクリルアミド−3,
4°−ジアミノジフェニルエーテル、2−アクリルアミ
ド−3,4°−ジアミノジフェニルエーテル、4−シン
ナムアミド−3゜4″−ジアミノジフェニルエーテル、
3.4’−ジアクリルアミド−3゛、4−ジアミノジフ
ェニルエーテル、3,4”−ジシンナムアミド−3゛。
In addition, aromatic diamine compounds containing a photosensitive group include:
For example, 3,5-diaminobenzoic acid ethyl (meth)acrylate, 2,4-diaminobenzoic acid ethyl (meth)acrylate, 3,5-diaminobenzoic acid glycidyl (meth)acrylate, 2.4- Diaminobenzoic acid glycidyl (meth)acrylate ester, 3゜5-diaminobenzoic acid cinnamic ester, 2,4-
benzoic acid esters such as diaminobenzoic acid cinnamic ester; benzyl acrylate-814-acrylamide-3 such as 3,5-diaminobenzyl (meth)acrylate;
4°-diaminodiphenyl ether, 2-acrylamide-3,4°-diaminodiphenyl ether, 4-cinnamamide-3°4″-diaminodiphenyl ether,
3.4'-diacrylamide-3', 4-diaminodiphenyl ether, 3,4''-dicinnamamide-3'.

4−ジアミノジフェニルエーテル、4−メチル−2゛−
カルボキシエチルメタクリル酸エステル−3,4”−ジ
アミノジフェニルエーテル等のジフェニルエーテル類;
及び4.4゛−ジアミノカルコン、3,3°−ジアミノ
カルコン、4°−メチル−3° 、4−ジアミノカルコ
ン、4”−メトキシ−3′、4−ジアミノカルコン、3
゛−メチル−3,5−ジアミノカルコン等のカルコン類
を挙げることができる。
4-diaminodiphenyl ether, 4-methyl-2゛-
diphenyl ethers such as carboxyethyl methacrylate ester-3,4''-diaminodiphenyl ether;
and 4.4'-diaminochalcone, 3,3'-diaminochalcone, 4'-methyl-3', 4-diaminochalcone, 4'-methoxy-3', 4-diaminochalcone, 3
Chalcone such as ゛-methyl-3,5-diaminochalcone can be mentioned.

上記芳香族ポリアミドの製造に用いられる芳香族ジアミ
ン成分は、上記の感光基を有する芳香族ジアミン化合物
の他に、感光基を有していない芳香族ジアミン化合物を
含有していてもよい。
The aromatic diamine component used in the production of the aromatic polyamide may contain, in addition to the above-mentioned aromatic diamine compound having a photosensitive group, an aromatic diamine compound having no photosensitive group.

この感光基を有していない芳香族ジアミン化合物として
は、例えば、バラフェニレンジアミン、メタフェニレン
ジアミン、2.4−ジアミノトルエン、4.4°−ジア
ミノジフェニルエーテル、4.4”−ジアミノジフェニ
ルメタン、0−トリジン、1.4−ビス(4−アミノフ
ェノキシ)ベンゼン、2,2″−ビス(4−アミノフェ
ノキシフェニル)プロパン、0−)リジンスルホン等の
ジアミン化合物、及び9.9−ビス(4−アミノフェニ
ル)−10−アンスロン、1.5−ジアミノアントラキ
ノン、3.3°−ジアミノヘンシフエノン、1−ジメチ
ルアミノ−4−(5,5−ジアミノヘンジイル)−ナフ
タレン等のケトン基を存するジアミン化合物を挙げるこ
とができる。これらのうちでも特に、ケトン基を有する
芳香族ジアミン化合物は、増感性能を有するため、この
ケトン基を有する芳香族ジアミン成分から得られたポリ
アミドは光照射によって光硬化膜を形成する際の光に対
する感度が向上するので好ましい。
Examples of aromatic diamine compounds that do not have this photosensitive group include phenylenediamine, metaphenylenediamine, 2.4-diaminotoluene, 4.4°-diaminodiphenyl ether, 4.4''-diaminodiphenylmethane, 0- Diamine compounds such as tolidine, 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene, 2,2″-bis(4-aminophenoxyphenyl)propane, 0-)lysine sulfone, and 9,9-bis(4-amino Diamine compounds containing a ketone group such as phenyl)-10-anthrone, 1,5-diaminoanthraquinone, 3.3°-diaminohensiphenone, and 1-dimethylamino-4-(5,5-diaminohendiyl)-naphthalene. can be mentioned. Among these, aromatic diamine compounds having ketone groups in particular have sensitizing properties, so polyamides obtained from aromatic diamine components having ketone groups can be This is preferable because the sensitivity to

上記芳香族ポリアミドは、上記のジカルボン酸成分と、
上記の芳香族ジアミン成分とを、大略等モル使用して、
公知の重合方法と同様の重合条件(例えば、有機極性溶
媒中、約100 ’C以下の重合温度、約0.1〜50
時間の重合時間等)で、重合して得られる。
The aromatic polyamide contains the dicarboxylic acid component and
Using approximately equal moles of the above aromatic diamine component,
Polymerization conditions similar to known polymerization methods (e.g., in an organic polar solvent, a polymerization temperature of about 100' C or less, about 0.1 to 50
(polymerization time, etc.).

上記芳香族ポリアミドは、対数粘度〔濃度;0゜5g/
100m1  (N−メチル−2−ピロリドン;NMP
)、11定温度;30℃の温度で測定〕が、約0.1〜
4.0、特に0.2〜3,0程度の範囲内にあるものが
好ましい。
The aromatic polyamide has a logarithmic viscosity [concentration; 0°5 g/
100ml (N-methyl-2-pyrrolidone; NMP
), 11 constant temperature; measured at a temperature of 30°C] is about 0.1 to
4.0, particularly preferably within the range of about 0.2 to 3.0.

次に、上記芳香族ポリイミドについて更に詳しく説明す
ると、芳香族テトラカルボン酸類としては、2.3.3
’ 、4”−又は3.3°、4,4′−ビフェニルテト
ラカルボン酸、3.3’ 、4゜4′−ヘンシフエノン
テトラカルボン酸等の芳香族テトラカルボン酸又はその
酸二無水物等が挙げられ、上記芳香族テトラカルボン酸
のエステル化物、塩等でもよい。
Next, to explain the aromatic polyimide in more detail, the aromatic tetracarboxylic acids include 2.3.3
Aromatic tetracarboxylic acids such as ', 4''- or 3.3°, 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid, 3.3', 4°4'-hensiphenotetracarboxylic acid, or acid dianhydrides thereof etc., and esters, salts, etc. of the above-mentioned aromatic tetracarboxylic acids may also be used.

上記芳香族ポリイミドは、テトラカルボン酸成分と芳香
族ジアミン成分とを大略等モル使用して、上記芳香族ポ
リアミドの場合と略同様の重合方法及び重合条件で、重
合して得られる。
The above-mentioned aromatic polyimide is obtained by polymerizing the tetracarboxylic acid component and the aromatic diamine component using approximately equal moles and using substantially the same polymerization method and polymerization conditions as in the case of the above-mentioned aromatic polyamide.

上記芳香族ポリイミドは、対数粘度〔濃度;0゜5g/
100m1  (N−メチル−2−ピロリドン;NMP
) 、測定温度:30℃の温度でρり定〕が、約0.0
8〜2、特に0,15〜1.0程度の範囲内にあるもの
が好ましい。
The aromatic polyimide has a logarithmic viscosity [concentration; 0°5 g/
100ml (N-methyl-2-pyrrolidone; NMP
), measurement temperature: 30℃] is approximately 0.0
It is preferably within the range of about 8 to 2, particularly about 0.15 to 1.0.

前記の芳香族ポリアミド及び芳香族ポリイミドは、例え
ば、N、N−ジメチルホルムアミド、N。
Examples of the aromatic polyamide and aromatic polyimide include N,N-dimethylformamide and N.

N−ジメチルアセ1アミド、N−メチル−2−ピロリド
ン、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチレンホスホルア
ミド、ジグライム等の有機溶媒に可溶であり、該有機溶
媒に約1〜40市量%程度の濃度で均一に熔解させるこ
とができる。
It is soluble in organic solvents such as N-dimethylaceamide, N-methyl-2-pyrrolidone, dimethyl sulfoxide, hexamethylene phosphoramide, and diglyme, and is uniformly dissolved in the organic solvent at a concentration of about 1 to 40% by market weight. It can be melted into

また、本発明で基体として用いられる芳香族ポリイミド
フィルムは、例えば、2.3.3″、4゛−文は3,3
′、4,4“−ビフェニルテトラカルボン酸、3.3’
 、4.4″−ベンゾフェノンテトラカルボン酸等の芳
香族テトラカルボン酸又はその酸二無水物と、感光基を
有していない芳香族ジアミン化合物とを、を機熔媒中で
重合して得られる、感光基を有していない有機溶媒不溶
性の芳香族ポリイミドからなるものである。また、その
厚さは特に制限されないが、通常、1〜200μm、好
ましくは5〜150μmのものが用いられる。
Further, the aromatic polyimide film used as the substrate in the present invention is, for example, 2.3.3", 4" - 3.3".
', 4,4"-biphenyltetracarboxylic acid, 3.3'
, obtained by polymerizing an aromatic tetracarboxylic acid such as 4.4″-benzophenonetetracarboxylic acid or its acid dianhydride and an aromatic diamine compound that does not have a photosensitive group in a medium. It is made of an organic solvent-insoluble aromatic polyimide that does not have a photosensitive group.Although its thickness is not particularly limited, it is usually 1 to 200 μm, preferably 5 to 150 μm.

次に、本発明の配線パターンの形成方法の好ましい実施
態様について説明する。
Next, a preferred embodiment of the wiring pattern forming method of the present invention will be described.

先ず、前記の感光基を有する耐熱性の芳香族ポリマーの
有機溶媒溶液を調製し、この溶液を、前記の基体である
芳香族ポリイミドフィルムに塗布し、乾燥して、該ポリ
イミドフィルム上に上記芳香族ポリマーからなる感光性
層が形成されている積層フィルムを作成する。
First, an organic solvent solution of the above-mentioned heat-resistant aromatic polymer having a photosensitive group is prepared, and this solution is applied to the above-mentioned aromatic polyimide film as the substrate, dried, and the above-mentioned aromatic polymer is applied onto the polyimide film. A laminated film on which a photosensitive layer made of a group polymer is formed is prepared.

上記芳香族ポリマーの溶液の調製は、例えば、前記の感
光基を有する有機溶媒可溶性の、芳香族ポリアミド又は
芳香族ポリイミドを、N、N−ジメチルホルムアミド、
N、N〜ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロ
リドン、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチレンホスホ
ルアミド、ジグライム等のを機溶媒に、約1〜40市量
%、好ましくは3〜30重量%の濃度で熔解させればよ
い。また、この芳香族ポリマーの溶液の回転粘度(25
℃)は約0.5〜1000ボイズ、特に1〜500ボイ
ズ程度にすることが好ましい。
The solution of the aromatic polymer can be prepared by, for example, adding the organic solvent-soluble aromatic polyamide or aromatic polyimide having a photosensitive group to N,N-dimethylformamide,
N,N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, dimethyl sulfoxide, hexamethylene phosphoramide, diglyme, etc. in a solvent at a concentration of about 1 to 40% by weight, preferably 3 to 30% by weight. All you have to do is melt it. Also, the rotational viscosity (25
C) is preferably about 0.5 to 1000 voids, particularly about 1 to 500 voids.

上記芳香族ポリマーの溶液には、例えば、ミヒラーズケ
トン、ヘンジイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンツ
インエチルエーテル、2−ターツヤリーブチルアントラ
キノン、1,2−ベンゾ−9,10−−アントラキノン
、4,4“−ビス (ジエチル?ミノ)ベンゾフェノン
、アセトフェノン、ベンゾフェノン、チオキサントン、
メチルチオキサントン、クロルチオキサントン、1.5
−アセナフテン、ヘンシルケタール、アントラニル酸ツ
メチルアミノベンゾエート等の光重合開始剤を配合する
ことが好ましく、また、ヒドロキシ基を有するモノ (
メタ)アクリレート系化合物、ポリ (メタ)アクリレ
ート系化合物、N−ビニル−2−一ピロリドン等の光重
合性単量体、又は、ハイドロキノン、2,6−ジターシ
ャリ−ブチル−4−メチルフェノール(BHT)、メチ
ルエーテルハイドロキノン、ベンゾエート、ベンゾキノ
ン、4−ヒドロキシメチル−2,6−ジターシャリ−ブ
チルフェノール等の熱重合防止剤、更に、N、N−ジメ
チルアントラニル酸メチル、オルソ−又はバラーN、N
−ジメチル安息香酸エチル等の増感剤が配合されていて
もよい。
Examples of the aromatic polymer solution include Michler's ketone, hengeine, benzoin methyl ether, benzine ethyl ether, 2-tert-butylanthraquinone, 1,2-benzo-9,10-anthraquinone, 4,4"- Bis(diethyl?mino)benzophenone, acetophenone, benzophenone, thioxanthone,
Methylthioxanthone, chlorthioxanthone, 1.5
- It is preferable to incorporate a photopolymerization initiator such as acenaphthene, hensyl ketal, and anthranilic acid trimethylaminobenzoate, and monomers having a hydroxy group (
Photopolymerizable monomers such as meth)acrylate compounds, poly(meth)acrylate compounds, N-vinyl-2-1pyrrolidone, or hydroquinone, 2,6-ditertiary-butyl-4-methylphenol (BHT) , methyl ether hydroquinone, benzoate, benzoquinone, 4-hydroxymethyl-2,6-ditertiary-butylphenol, and other thermal polymerization inhibitors, as well as methyl N,N-dimethylanthranilate, ortho- or var.
- A sensitizer such as ethyl dimethylbenzoate may be blended.

上記芳香族ポリマーのf6液には、芳香族ポリマー10
0電量部に対して、約0.5〜150重量部程重量先程
合性単量体、約0.01〜5重量部程度の熱重合防止剤
、或いは約0.01〜15iliff1部程度の光重合
開始剤が配合されていることが好ましい。
The above aromatic polymer f6 liquid contains aromatic polymer 10
With respect to 0 part of electric charge, about 0.5 to 150 parts by weight of the previously combined monomer, about 0.01 to 5 parts by weight of thermal polymerization inhibitor, or about 0.01 to 15 parts of light It is preferable that a polymerization initiator is blended.

上記芳香族ポリマーの溶液の基体への塗布は、例えば回
転塗布機等で行うことができる。塗布膜の乾燥は、熱風
乾燥器等により100℃以下で1〜60分間、特に10
〜30分間程度行うことが好ましい。この際減圧ばして
もしなくてもよし一感光性層(乾燥後の塗布膜)の厚さ
は、約1〜150μm、特に2〜100μmであるのが
好ましい。
The solution of the aromatic polymer can be applied to the substrate using, for example, a spin coating machine. The coating film is dried using a hot air dryer or the like at 100°C or less for 1 to 60 minutes, especially for 10 minutes.
It is preferable to carry out the treatment for about 30 minutes. At this time, the thickness of the photosensitive layer (coated film after drying) is preferably about 1 to 150 .mu.m, particularly preferably 2 to 100 .mu.m.

次いで、上記の如くして形成した積層フィルムの上記感
光性層に、配線パターンに相当する部分が不透明化され
ているポジフィルムを密着し、該ポジフィルムを通して
、可視光線、紫外線、電子線、X線等のエネルギ・−線
(光線)を照射し、F記配線パターンに相当する部分を
除いて上記感光性層を光硬化(架橋)し不溶化へする。
Next, a positive film whose portion corresponding to the wiring pattern is made opaque is closely attached to the photosensitive layer of the laminated film formed as described above, and visible light, ultraviolet rays, electron beams, and X-rays are transmitted through the positive film. The photosensitive layer is photocured (crosslinked) and made insolubilized by irradiating it with an energy beam (light beam) such as a wire, except for the portion corresponding to the wiring pattern F.

続いて、上記感光性層を適当な現像液に約O・〜100
℃の温度下に浸漬する等して現像することによって該感
光性層の未光硬化部分を溶出し、除去する。
Subsequently, the photosensitive layer was heated to about 0.~100% in a suitable developer.
The uncured portion of the photosensitive layer is eluted and removed by development, such as by immersion at a temperature of .degree.

上記現像液としては、上記芳香族ポリマーの溶液の調製
に用いられるを機熔媒として例示したものの他に、1.
1.1−トリクロルエタン、メチルセロソルブ、T−ブ
チロラクトン、シクロヘキサノン等の溶媒を使用するこ
ともできる。
Examples of the above-mentioned developing solution include those exemplified as the solvent used for preparing the solution of the aromatic polymer, as well as 1.
Solvents such as 1.1-trichloroethane, methyl cellosolve, T-butyrolactone, and cyclohexanone can also be used.

また、上記現像の際には、現像液に超音波を作用させる
ことが適当である。
Further, during the development, it is appropriate to apply ultrasonic waves to the developer.

次いで、このフィルムを熱オーブン中で約100〜40
0℃、特に150〜300°C下に10〜120分間熱
処理することが好ましい。
This film is then heated in a hot oven for approximately 100 to 40
It is preferable to heat-treat at 0°C, particularly at 150-300°C for 10-120 minutes.

かくして、配線パターンに相当する部分以外が光硬化層
(上記感光性層の光硬化部分)で覆われ、配線パターン
に相当する部分が露出している、部分被覆ポリイミドフ
ィルムが得られる。
In this way, a partially covered polyimide film is obtained in which the portion other than the portion corresponding to the wiring pattern is covered with the photocured layer (the photocured portion of the photosensitive layer), and the portion corresponding to the wiring pattern is exposed.

然る後、上記部分被覆ポリイミドフィルムに対して、好
ましくは約200℃以上の温度、特に好ましくは250
〜400℃の温度で、導電性の金属(合金も含む)を蒸
着又はスバソタリュ/グしで、厚さが好ましくは約1〜
150μm、特に好ましくは2〜100μmである上記
金属の薄膜を上記部分被覆ポリイミドフィルム上に形成
する。
Thereafter, the partially coated polyimide film is preferably heated to a temperature of about 200° C. or higher, particularly preferably about 250° C.
Conductive metals (including alloys) are deposited or coated at a temperature of ~400°C, preferably with a thickness of approximately 1~400°C.
A thin film of the metal of 150 .mu.m, particularly preferably 2 to 100 .mu.m, is formed on the partially coated polyimide film.

上記の蒸着又はスパッタリングにおいては、上記部分被
覆ポリイミドフィルムを構成する上記芳香族ポリマーの
光硬化層及び上記芳香族ポリイミドフィルムが柔軟性及
び耐熱性等を好適に有しているので、従来公知の方法又
は装置をそのまま採用することができる。
In the above vapor deposition or sputtering, since the photocured layer of the aromatic polymer constituting the partially covered polyimide film and the aromatic polyimide film suitably have flexibility, heat resistance, etc., conventionally known methods can be used. Alternatively, the device can be used as is.

最後に、溶媒等による溶解・洗浄操作によって上記部分
被覆ポリイミドフィルムの光硬化層を溶出し、該光硬化
層と共にその上の金gS層を除去し、上記芳香族ポリイ
ミドフィルム上に形成された、上記金属の薄層配線から
なる配線パターンを得る。
Finally, the photocured layer of the partially covered polyimide film is eluted by dissolving and washing with a solvent or the like, and the gold gS layer thereon is removed together with the photocured layer, and the aromatic polyimide film formed on the aromatic polyimide film is A wiring pattern consisting of the thin layer wiring of the above metal is obtained.

上記光硬化層の溶出に使用される溶媒としては、アルカ
リ水溶液等のアルカリ溶液、前記芳香族ポリマー溶液の
調製に用いられる有機溶媒、ヒドラジン、及びトリメチ
ルアミン、トリエチルアミン、ピリジン、エタノールア
ミン等の有機アミン、或いはこれらの混合物等が挙げら
れる。
The solvent used for elution of the photocured layer includes an alkaline solution such as an aqueous alkaline solution, an organic solvent used for preparing the aromatic polymer solution, hydrazine, and an organic amine such as trimethylamine, triethylamine, pyridine, and ethanolamine. Alternatively, a mixture thereof can be mentioned.

〔実施例〕〔Example〕

実施例1 (感光性の芳香族ポリアミドの製造) 三つロフラスコに乾燥した窒素ガスを通してフラスコ内
のガスを置換した後、塩化リチウム3gと、3,5−ジ
アミノ安息香酸エチルメタクリル酸エステル31.71
4gとを入れ、これにN−メチル−2−ピロリドン(N
MP)240mlを加えて熔解した。溶解後、3℃に冷
却し攪拌しながらテレフタル酸ジクロライド24.36
4gを加えた。
Example 1 (Production of photosensitive aromatic polyamide) After replacing the gas in the flask by passing dry nitrogen gas into a three-neck flask, 3 g of lithium chloride and 31.71 g of 3,5-diaminobenzoic acid ethyl methacrylate were added.
4g of N-methyl-2-pyrrolidone (N
240 ml of MP) was added and melted. After dissolving, cool to 3°C and add 24.36 terephthalic acid dichloride while stirring.
Added 4g.

この時発熱があり、溶液の温度が34℃まで上昇した。At this time, heat generation occurred and the temperature of the solution rose to 34°C.

これを30分間、氷水中で攪拌した後、室温で1時間攪
拌を続け、重合反応をさせた。
After stirring this in ice water for 30 minutes, stirring was continued for 1 hour at room temperature to cause a polymerization reaction.

次いで、反応液にNMP300mlを加え、希釈した後
、これをメタノール6fと水61との混合液に加え、芳
香族ポリアミドを析出させた。
Next, 300 ml of NMP was added to the reaction solution to dilute it, and then added to a mixed solution of 6 f methanol and 61 l water to precipitate aromatic polyamide.

その析出物を濾過して回収し、乾燥し、白色の芳香族ポ
リアミド粉末42.01gを得た。
The precipitate was collected by filtration and dried to obtain 42.01 g of white aromatic polyamide powder.

この芳香族ポリアミド粉末の対数粘度(濃度;0、5 
g / 100m1溶媒、溶媒、NMP、測定温度;3
0℃)は、1.73であった。
Logarithmic viscosity (concentration; 0, 5
g/100ml solvent, solvent, NMP, measurement temperature; 3
0°C) was 1.73.

(芳香族ポリマーの溶液の調製) 前述のようにして得られた芳香族ポリアミド粉末30g
に、有機溶媒としてNMP150g、光重合開始剤とし
てミヒラーズケトン1.2g、及び熱重合防止剤として
ハイドロキノン0.15 gとメチルエーテルハイドロ
キノン0.15 gとを加え、よく攪拌し均一な粘稠な
溶液とした後、加圧下に濾過して微細なゴミ等を除去し
、150ボイズの感光性の芳香族ポリアミドの溶液を調
製した。
(Preparation of aromatic polymer solution) 30 g of aromatic polyamide powder obtained as described above
To the solution were added 150 g of NMP as an organic solvent, 1.2 g of Michler's ketone as a photopolymerization initiator, and 0.15 g of hydroquinone and 0.15 g of methyl ether hydroquinone as thermal polymerization inhibitors, and stirred well to form a uniform viscous solution. After that, the mixture was filtered under pressure to remove fine dust and the like, thereby preparing a photosensitive aromatic polyamide solution with 150 voids.

(パターニング) 厚さ30μ−の芳香族ポリイミドフィルム(3゜3’ 
、4.4°−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物と4
,4°−ジアミノジフェニルエーテルとを重合して得ら
れたもの)の上の周縁に沿って、約250μmの高さの
外枠(スペーサー)を設け、これに前述のようにして調
製した感光性の芳香族ポリアミドの溶液を流し込み、バ
ーコーターを用いて均一な厚さに塗布し、平均厚さが約
250μ糟の薄膜を形成し、その薄膜を70℃の熱風乾
燥器内で2時間乾燥して、上記芳香族ポリイミドフィル
ム上に厚さ30μmの感光性層が形成されている積層フ
ィルムを作成した。
(Patterning) 30μ-thick aromatic polyimide film (3゜3'
, 4.4°-biphenyltetracarboxylic dianhydride and 4
An outer frame (spacer) with a height of about 250 μm was provided along the upper periphery of the 4°-diaminodiphenyl ether (obtained by polymerizing 4°-diaminodiphenyl ether and Pour the aromatic polyamide solution and apply it to a uniform thickness using a bar coater to form a thin film with an average thickness of about 250 μm, and dry the thin film in a hot air dryer at 70°C for 2 hours. A laminated film was prepared in which a 30 μm thick photosensitive layer was formed on the aromatic polyimide film.

上記積層フィルムの感光性層の上に、線幅0.1mm、
長さ21の線が0.5mmの間隔で5回往復して描かれ
ている配線パターンを有するポジフィルムを重ね合わせ
て密着し、その上に配置された超高圧水銀灯の光源を使
用して、上記ポジフィルムを通して感光性層にIJ/c
sAの強さの光を照射し、上記感光性層を光硬化して配
線パターンに相当する未光硬化部分を有する光硬化フィ
ルムを作成した。
On the photosensitive layer of the above laminated film, a line width of 0.1 mm,
Using a positive film with a wiring pattern in which lines of length 21 are drawn back and forth five times at intervals of 0.5 mm, the film is overlaid and closely adhered, and a light source of an ultra-high pressure mercury lamp placed on top of the film is used. IJ/c is applied to the photosensitive layer through the above positive film.
The photosensitive layer was photocured by irradiating light with an intensity of sA to produce a photocured film having an uncured portion corresponding to a wiring pattern.

次いで、上記光硬化フィルムを、NMP熔媒中で超音波
をかけながら、3分間の現像処理を行うことによって、
未光硬化部分(配線パターンに相当する部分)を溶出し
、除去した後、150℃で30分間後加熱して、配線パ
ターンに相当する部分以外が上記芳香族ポリアミドの光
硬化層(熱分解開始温度;300℃以上)で覆われ、配
線バ多−ンに相当する部分が露出している、部分被覆ポ
リイミドフィルムを得た。
Next, the photocured film was developed in an NMP solvent for 3 minutes while applying ultrasonic waves.
After eluating and removing the non-photocured portion (portion corresponding to the wiring pattern), the portions other than the portion corresponding to the wiring pattern are heated at 150°C for 30 minutes to form a photocured layer of the aromatic polyamide (thermal decomposition starts). A partially covered polyimide film was obtained in which the polyimide film was covered at a temperature of 300° C. or higher, and the portion corresponding to the wiring board was exposed.

然る後、上記部分被覆ポリイミドフィルムを、マグネッ
トロン方式スパッタリング装置(日型アネルバ■製、5
PF−312型)の所定の位置に配置し、約300℃で
、アルゴン雰囲気下、及び減圧下に、アルミニウムのス
パッタリングを行って、アルミニウム層を上記部分被覆
ポリイミドフィルム上に形成し、最後に、そのアルミニ
ウム層の形成されたフィルムをスパッタリング装置から
取り出し、上記光硬化層をアルカリ水溶液で溶出するこ
とによって、該光硬化層及びその上のアルミニウム層を
除去し、上記芳香族ポリイミドフィルム上に形成された
、厚さ約1μMのアルミニウム薄層配線からなる配線パ
ターンを得た。
After that, the partially covered polyimide film was applied using a magnetron sputtering device (manufactured by Nikkei Anelva ■, 5
PF-312 type) at a predetermined position, and sputtering of aluminum is performed at about 300° C. under an argon atmosphere and under reduced pressure to form an aluminum layer on the partially covered polyimide film, and finally, The film with the aluminum layer formed thereon is taken out from the sputtering device, and the photocured layer and the aluminum layer thereon are removed by eluting the photocured layer with an alkaline aqueous solution, and the aluminum layer formed on the aromatic polyimide film is removed. In addition, a wiring pattern consisting of aluminum thin layer wiring with a thickness of about 1 μM was obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の配線パターンの形成方法は、感光基を有する耐
熱性の芳香族ポリマーの溶液を用い、基体である芳香族
ポリイミドフィルム上に、配線パターンに相当する部分
が取り除かれている上記芳香族ポリマーの光硬化層を形
成した後、この光硬化層を利用して、蒸着又はスパッタ
リングによって導電性の金属の薄層配線からなる配線パ
ターンを、上記芳香族ポリイミドフィルム上に形成する
もので、基体上に形成した光硬化層がマスクとして機能
するため、別個にマスクを製造し、マスクを基体に重ね
合わせたりすることが不要であり、且つ上記光硬化層が
、極めて優れた耐熱性を有すると共に優れた耐薬品性、
機械的強度、柔軟性を有しているので、かなり高温の加
熱下に行われる蒸着又はスパッタリング等のバターニン
グ工程を何等の問題を生じさせることなく行え、細密な
配線パターンを極めて再現性よく容易に形成することが
でき、しかも、配線パターン部分以外の金属層の除去は
上記光硬化層を溶媒で溶出することによって簡単に行え
、金属層のエツチング等の煩雑で面倒な工程が不要であ
る上、光硬化層の溶出に使用される溶媒は金属層のエツ
チングに通常使用される溶媒に比して弱いものであるた
め基体のフィルムを侵す惧れかない等、種々の優れた効
果を奏するものである。
The method for forming a wiring pattern of the present invention uses a solution of a heat-resistant aromatic polymer having a photosensitive group, and applies the above-mentioned aromatic polymer onto an aromatic polyimide film as a base, from which a portion corresponding to the wiring pattern has been removed. After forming a photo-cured layer, a wiring pattern consisting of a thin layer of conductive metal is formed on the aromatic polyimide film by vapor deposition or sputtering using this photo-cured layer. Since the photo-cured layer formed on the substrate functions as a mask, it is not necessary to separately manufacture a mask and overlay the mask on the substrate, and the photo-cured layer has extremely excellent heat resistance and chemical resistance,
Because of its mechanical strength and flexibility, patterning processes such as vapor deposition or sputtering, which are performed under heating at fairly high temperatures, can be performed without any problems, making it easy to create detailed wiring patterns with excellent reproducibility. Furthermore, the metal layer other than the wiring pattern portion can be easily removed by dissolving the photocured layer with a solvent, eliminating the need for complicated and troublesome processes such as etching the metal layer. The solvent used to elute the photocured layer is weaker than the solvent normally used for etching metal layers, so there is no danger of it corroding the base film, and it has various excellent effects. be.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  感光基を有する耐熱性の芳香族ポリマーの溶液を、芳
香族ポリイミドフィルムに塗布し、乾燥して、該ポリイ
ミドフィルム上に上記芳香族ポリマーからなる感光性層
が形成されている積層フィルムを作成し、 次いで、上記積層フィルムの感光性層に、配線パターン
に相当する部分が不透明化されているポジフィルムを通
して光を照射し、上記配線パターンに相当する部分を除
いて上記感光性層を光硬化し、 続いて、上記感光性層を現像することによって該感光性
層の未光硬化部分を除去し、配線パターンに相当する部
分以外が光硬化層で覆われ、配線パターンに相当する部
分が露出している、部分被覆ポリイミドフィルムとなし
、 然る後、上記部分被覆ポリイミドフィルムに対して蒸着
又はスパッタリングして金属の薄膜を上記部分被覆ポリ
イミドフィルム上に形成し、最後に、上記光硬化層及び
その光硬化層上の金属層を除去すること を特徴とする配線パターンの形成方法。
[Scope of Claims] A solution of a heat-resistant aromatic polymer having a photosensitive group is applied to an aromatic polyimide film and dried to form a photosensitive layer made of the aromatic polymer on the polyimide film. Next, the photosensitive layer of the laminated film is irradiated with light through a positive film in which the portion corresponding to the wiring pattern is made opaque, and the photosensitive layer is opaque except for the portion corresponding to the wiring pattern. The photosensitive layer is photocured, and then the photosensitive layer is developed to remove the unphotocured portion of the photosensitive layer, so that the photocured layer covers areas other than the portions corresponding to the wiring pattern, and the wiring pattern is covered with the photocured layer. forming a partially covered polyimide film with the corresponding portion exposed; then vapor depositing or sputtering on the partially covered polyimide film to form a thin metal film on the partially covered polyimide film; and finally, A method for forming a wiring pattern, comprising removing the photocured layer and the metal layer on the photocured layer.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0469328U (en) * 1990-10-29 1992-06-19

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