JPS62268172A - 光周波数マ−カ - Google Patents
光周波数マ−カInfo
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- JPS62268172A JPS62268172A JP11193486A JP11193486A JPS62268172A JP S62268172 A JPS62268172 A JP S62268172A JP 11193486 A JP11193486 A JP 11193486A JP 11193486 A JP11193486 A JP 11193486A JP S62268172 A JPS62268172 A JP S62268172A
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- optical frequency
- beams
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- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/0007—Applications not otherwise provided for
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Combustion & Propulsion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光スペクトラム・アナライザ等に用いる光周
波数マーカの実現に関する。
波数マーカの実現に関する。
（従来の技術）
従来、光スペクトル・アナライザとして回折格子やプリ
ズムを分光器として用いたものがある。
ズムを分光器として用いたものがある。
例えば、入射した被測定光は回折格子で波長に対応した
回折角で回折され、枚物面鏡で集光して光検出器アレイ
に入射する。
回折角で回折され、枚物面鏡で集光して光検出器アレイ
に入射する。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、このような構成の光スペクトル・アナラ
イザで波長と個々の検出素子の位置を対応づけようとし
て、Ｈｅ Ｎｅレーザ等波良が明らかな光源を用いて
、一点または数点の校正を行うが、波長と検出素子の位
置は比例関係にないため、校正点付近から離れたところ
では誤差が大きくなってしまう。このためアナライザ出
力として直読できる光周波数マーカが必要になるが、簡
易なものがない。
イザで波長と個々の検出素子の位置を対応づけようとし
て、Ｈｅ Ｎｅレーザ等波良が明らかな光源を用いて
、一点または数点の校正を行うが、波長と検出素子の位
置は比例関係にないため、校正点付近から離れたところ
では誤差が大きくなってしまう。このためアナライザ出
力として直読できる光周波数マーカが必要になるが、簡
易なものがない。
本発明はこのような問題点を解決するためになされたも
ので、簡易な光周波数マーカを実現することを目的とす
る。
ので、簡易な光周波数マーカを実現することを目的とす
る。
（問題点を解決するための手段）
本発明に係る光周波数マーカは連続スペクトルを有する
光源と、この光源の出力光を入射するファブリ・ベロー
共振器とを備え、ファブリ・べ口−共振器から所定の波
長間隔でピークを有する光出力を発生することを特徴と
する。
光源と、この光源の出力光を入射するファブリ・ベロー
共振器とを備え、ファブリ・べ口−共振器から所定の波
長間隔でピークを有する光出力を発生することを特徴と
する。
（実施例）
以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。
第１図は本発明に係る光周波数マーカの一実施例を示す
構成ブロック図である。光周波数マーカ１０ａにおいて
、１はしＥＤやキセノン・ランプ等の連続したスペクト
ルをもつ光源、２はこの光源１の出力光を平行光にする
レンズ、３はこのレンズ２の出力光を入射するファブリ
・ペロー共振器で、３１．３２はこの共振器３を構成す
る半透過ミラーである。
構成ブロック図である。光周波数マーカ１０ａにおいて
、１はしＥＤやキセノン・ランプ等の連続したスペクト
ルをもつ光源、２はこの光源１の出力光を平行光にする
レンズ、３はこのレンズ２の出力光を入射するファブリ
・ペロー共振器で、３１．３２はこの共振器３を構成す
る半透過ミラーである。
上記のような構成の光周波数マーカの動作を第２図の特
性曲線図を用いて以下に説明する。光源１は第２図（Ａ
＞のような広いスペクトル幅の光を出力する。光源１か
ら出力された光はレンズ２で平行光となり、ファブリ・
ペロー共振器３に入射して半透過ミラー３１．３２の間
で共振する。
性曲線図を用いて以下に説明する。光源１は第２図（Ａ
＞のような広いスペクトル幅の光を出力する。光源１か
ら出力された光はレンズ２で平行光となり、ファブリ・
ペロー共振器３に入射して半透過ミラー３１．３２の間
で共振する。
共振器長く半透過ミラー３１．３２の距１１１）をＬ１
光速をＣ１屈折率をｎとすると、ファブリ・ペロー共振
器の透過率は第２図＜８＞に示すようにＣ／ ２ ｎ
Ｌごとに急峻なピークを有する。その結果半透過ミラー
３２から出力される光は第２図（Ｃ）のようになる。
光速をＣ１屈折率をｎとすると、ファブリ・ペロー共振
器の透過率は第２図＜８＞に示すようにＣ／ ２ ｎ
Ｌごとに急峻なピークを有する。その結果半透過ミラー
３２から出力される光は第２図（Ｃ）のようになる。
このような構成の光周波数マーカによれば、簡単な構成
の周波数基準マーカを容易に実現できる。
の周波数基準マーカを容易に実現できる。
第３図は本発明に係る光周波数マーカ光源の他の実施例
で第１図装置に電気光学素子を挿入して共振器長を変化
するように構成したものを示す構成ブロック図である。
で第１図装置に電気光学素子を挿入して共振器長を変化
するように構成したものを示す構成ブロック図である。
第１図装置との相違点のみを説明すると、光周波数マー
カ光ｖＡ１０ｂにおいて、４は前記ファブリ・ペロー共
振器３の光路内に挿入された電気光学結晶、５はこの電
気光学結晶４の電極４１．４２に接続する制？１１１信
号源である。
カ光ｖＡ１０ｂにおいて、４は前記ファブリ・ペロー共
振器３の光路内に挿入された電気光学結晶、５はこの電
気光学結晶４の電極４１．４２に接続する制？１１１信
号源である。
上記構成の装置において、制御信号［５によって電気光
学結晶４に電界が加えられると、電気光学結晶４の屈折
率が変化し、等側内な共振器長が変化するので、出力光
の波長が変化する。すなわち可変周波数間隔の光周波数
基準マーカを簡単な構成で実現できる。
学結晶４に電界が加えられると、電気光学結晶４の屈折
率が変化し、等側内な共振器長が変化するので、出力光
の波長が変化する。すなわち可変周波数間隔の光周波数
基準マーカを簡単な構成で実現できる。
なお上記各実施例において、ファブリ・ペロー共振器を
恒温槽等に入れて温度制御を行うことにより、安定な周
波ｖ１間隔とすることができる。
恒温槽等に入れて温度制御を行うことにより、安定な周
波ｖ１間隔とすることができる。
第４図は上記の各実施例で示した光周波数マーカを光ス
ペクトラム・アナライザと組合せた応用例を示す構成ブ
ロック図である。１０は上記の各実施例で示したような
光周波数マーカ、６はこの光周波数マーカ１０および被
測定光を異なる方向から入射するハーフミラ−１７はこ
のハーフミラ−６の出力光を入射する光スペクトラム・
アナライザである。光スペクトラム・アナライザ７にお
いて、７１は前記ハーフミラ−６の出力光を入射してこ
れをを絞るスリット、７２はこのスリット７１を通過し
た発散光を反射して集光する放物面をした反射形の回折
格子あるいは収束礪能を持つようにした不等ピッチの反
射形回折格子、７３は前記回折格子７２の廃用光を入側
するＣＣＤアレイ、フォトダイオード・アレイ等から構
成される光検出器アレイである。
ペクトラム・アナライザと組合せた応用例を示す構成ブ
ロック図である。１０は上記の各実施例で示したような
光周波数マーカ、６はこの光周波数マーカ１０および被
測定光を異なる方向から入射するハーフミラ−１７はこ
のハーフミラ−６の出力光を入射する光スペクトラム・
アナライザである。光スペクトラム・アナライザ７にお
いて、７１は前記ハーフミラ−６の出力光を入射してこ
れをを絞るスリット、７２はこのスリット７１を通過し
た発散光を反射して集光する放物面をした反射形の回折
格子あるいは収束礪能を持つようにした不等ピッチの反
射形回折格子、７３は前記回折格子７２の廃用光を入側
するＣＣＤアレイ、フォトダイオード・アレイ等から構
成される光検出器アレイである。
次に、上記のような構成の装置の動作を以下に説明する
。被測定光は光周波数マーカ１０の出力光とともにハー
フミラ−６で合流して光スペクトラム・アナライザ７に
入射し、スリット７１で絞られた後、回折格子７２にお
いて反射するとともに波長に対応した角度で回折する。
。被測定光は光周波数マーカ１０の出力光とともにハー
フミラ−６で合流して光スペクトラム・アナライザ７に
入射し、スリット７１で絞られた後、回折格子７２にお
いて反射するとともに波長に対応した角度で回折する。
この回折光は光検出器アレイ７３で検出される。回折格
子７３では波長により、回折角が異なるので、波長分離
ができ、被測定光のスペクトラム出力上に光周波数基準
マーカを直読できる。
子７３では波長により、回折角が異なるので、波長分離
ができ、被測定光のスペクトラム出力上に光周波数基準
マーカを直読できる。
このように、前記各実施例の光周波数マーカを用いれば
、周波数マーカを直読できる光スペクトラム・アナライ
ザを簡単な構成で実現できる。
、周波数マーカを直読できる光スペクトラム・アナライ
ザを簡単な構成で実現できる。
（発明の効果）
以上述べたように本発明によれば、光スペクトラム・ア
ナライザ等で用いることのできる、簡易な光周波数マー
カを実現することができる。
ナライザ等で用いることのできる、簡易な光周波数マー
カを実現することができる。
第１図は本発明に係る光周波数マーカの一実施例を示す
構成ブロック図、第２因は第１図装置の動作を説明する
ための特性曲線図、第３図は本発明に係る光周波数マー
カの他の実施例を示す構成ブロック図、第４図は本発明
に係る光周波数マーカの一応用例である光スペクトラム
・アナライザを示す構成ブ［１ツク図である。 １・・・光源、３・・・ファブリ・ペロー共ｊ辰器、１
ｏ。 １０ａ、１０ｂ・・・光周波数マーカ。 第３図 耳４図 −）Ｉ−Ｆ：宗 静唄仔Ｈ半か趣−
構成ブロック図、第２因は第１図装置の動作を説明する
ための特性曲線図、第３図は本発明に係る光周波数マー
カの他の実施例を示す構成ブロック図、第４図は本発明
に係る光周波数マーカの一応用例である光スペクトラム
・アナライザを示す構成ブ［１ツク図である。 １・・・光源、３・・・ファブリ・ペロー共ｊ辰器、１
ｏ。 １０ａ、１０ｂ・・・光周波数マーカ。 第３図 耳４図 −）Ｉ−Ｆ：宗 静唄仔Ｈ半か趣−
Claims (2)
- （１）連続スペクトルを有する光源と、この光源の出力
光を入射するファブリ・ペロー共振器とを備え、ファブ
リ・ペロー共振器から所定の波長間隔でピークを有する
光出力を発生することを特徴とする光周波数マーカ。 - （２）ファブリ・ペロー共振器内に電気光学素子を備え
、電気信号により等価的な共振器間隔を変えるように構
成した特許請求の範囲第１項記載の光周波数マーカ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11193486A JPS62268172A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 光周波数マ−カ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11193486A JPS62268172A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 光周波数マ−カ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62268172A true JPS62268172A (ja) | 1987-11-20 |
Family
ID=14573796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11193486A Pending JPS62268172A (ja) | 1986-05-16 | 1986-05-16 | 光周波数マ−カ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62268172A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1220389A1 (en) * | 2001-09-07 | 2002-07-03 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Optical path length variation for laser influencing |
-
1986
- 1986-05-16 JP JP11193486A patent/JPS62268172A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1220389A1 (en) * | 2001-09-07 | 2002-07-03 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Optical path length variation for laser influencing |
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