JPS62264545A - 質量分析計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

〔産業上の利用分野〕 本発明は質量分析計に関し、特に高ｇｔｌｔ数の試料の
分析に好適な質量分析計に関する。 〔従来の技術〕 従来から知られているように、試料の質量を測定する質
量分析計は、被測定対象の試料をイオン化し、所定速度
に加速されたイオンビームとして出力するイオン源と、
出力されたイオンビームを所定速度範囲に収束させる電
場と、このＷｌ場に対して所定の電場電圧を与えるＮ、
場電源と、前記電場によって速度収束されたイオンビー
ムを質量別のイオンに方向収束させる磁場と、この磁場
に対して掃引電流を与える磁場掃引電源と、磁場によっ
て方向収束されたンオンビームを収束するコレクタと、
収束されたイオンビームの質量分布を測定する測定ＭＩ
Ｚによって構成されている。そして、コレクタに収束す
るイオンビームの質量数Ｍ／Ｚは、イオン質量をＭ、そ
の電荷をＺ、磁場の軌道半径をｒ（ａｓ）、磁場の強度
をＢ（ガウス）、イオン加速電圧をＶ（ボルト）とする
と。 ■ となる関係が知られている。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところが、上記従来の質量分析計で得られる質量数Ｍ／
Ｚは理論上の値であり１例えばペプチドなどの高質量数
の試料を分析するに際して磁場強度を飽和状態近くまで
強くすると、磁場からの漏洩磁界が多くなり、その漏洩
磁界によってイオン軌道が磁場に入射する前に理論軌道
よりも内側に曲げられてしまう、すなわち、軌道半径ｒ
が小さくなり、その結果としてコレクタに収束する質量
数が大きくなったうえ１分解能が低下してしまうという
問題が生じていた。この場合、スペクトル上では磁場漏
洩の少ない低質量域では問題は生じなくても、高質量域
での分解能の低下が著しく、ピーク分離が不可能になる
という問題があった。 本発明の目的は、高質量数の試料でも高分解能でその質
量数を測定することができる質量分析計を提供すること
にある。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、磁場の掃引電流に同期させて磁場に入射する
イオンビームの理論軌道と実軌道との偏差を補正する電
界を当該イオンビームに与える電界付加装置を設けたも
のである。 〔作用〕 磁場に入射するイオンビームは磁場の漏洩磁界によって
その軌道が理論軌道から曲げられるが、電界付加装置か
らの磁場掃引に同期した電界によって理論軌道に戻され
る。

【実施例】

第１１ｉ！Ｉは本発明の一実施例を示すブロック構成図
であり、１はイオン源、２はイオン源１から出力された
イオンビーム３を所定速度範囲に収束させる電場、４は
電場２によって速度収束されたイオンビーム３を質量別
のイオンに方向収束させる磁場、５は磁場掃引電源、６
はコレクタ、７はコレクタ６に収束されたイオンビーム
の質量分布を測定する測定装置、８は磁場４に入射する
イオンビーム３の軌道を補正するためのデフレクタ、９
はこのデフレクタ８に対して磁場掃引電流に同期した電
圧を印加するデフレクタ電源である。この場合、デフレ
クタ８は、イオンビーム３の理論軌道より１１程度外側
に配置した長さ７ｃｍ程度のステンレス鋼板によって構
成されている。 以上の構成において、電場２で速度収束されたイオンビ
ーム３は磁場４で方向収束を受け、質量別のイオンに選
別されてコレクタ６に入射する。 従って、磁場掃引電流をリニアに繰返し変化させれば、
コレクタ６からは低質量域から高’ｉ！ｊ量域までのイ
オンを取出すことができる。このとき、磁場４の掃引に
よる漏洩磁界は、磁場電流を大きくしてゆく程大きくな
るので、イオン軌道も磁場掃引に同期して理論軌道より
内側に曲げられることになる。しかし、デフレクタ８に
対し磁ＶＩｌ掃引に同期した電圧がデフレクタ電ｇ９か
ら印加される。 このため、漏洩磁界によって曲げられたイオン軌道はデ
フレクタ８による電界によって理論軌道に戻される。こ
の結果、分解能を低下させることなく低質量域から高質
量域までの質量分布を測定することができる。 第２図および第３図は試料としてペプチドを用いた時の
測定結果を示すスペクトル図であり、第２図は従来装置
の測定結果、第３図は第１図の実施例の装置の測定結果
を示している。この図から明らかなように、従来装置に
比べＭＺ＝　１９４０付近の質量分布が高感度で得られ
ていることがわかる。この場合、デフレクタ電圧は磁場
が１８０００ガウスになった時に１１■゛となるように
０〜１１Ｖの範囲で磁場掃引に同期させて変化させた。 第４図は本発明の他の実施例を示すブロック構成図であ
る。この実施例は、電場電源１０から電場２に印加する
電場電源を電場掃引電源１１によって磁場掃引電流に同
期させて変化させるように構成したものである。この実
施例によれば、磁場４の漏洩磁界によって曲げられたイ
オン軌道は電場電源が磁場掃引電流に同期して変化する
ことにより理論軌道に修正される。従って、この実施例
においても第１図の実施例と同様の効果が得られたうえ
、デフレクタを特別に設けなくても済むという利点があ
る。 〔発明の効果〕 以上説明したことから明らかなように本発明によれば、
高質量数の試料でも高分解能でその質量数を感度良く測
定することができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック構成図、第２
図は従来装置の測定結果を示すスペクトル図、第３図は
第１図の実施例による測定結果を示すスペクトル図、第
４図は本発明の他の実施例を示すブロック構成図である
。 １・・・イオン源、２・・・電場、４・・・磁場、５・
・・磁場掃引電源、６・・・コレクタ、７・・・測定装
置、８・・・デフレクタ、９・・・デフレクタ電源、１
０・・・電場電源、１１・・・電場掃引電源。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、被測定対象物をイオン化し、所定速度に加速された
   イオンビームとして出力するイオン源と、このイオン源
   から出力されたイオンビームを所定速度範囲に収束させ
   る電場と、この電場に対して所定の電圧を与える電場電
   源と、前記電場によつて速度収束されたイオンビームを
   質量別のイオンに方向収束させる磁場と、この磁場に対
   して掃引電流を与える磁場掃引電源と、前記磁場によつ
   て方向収束されたイオンビームを収束するコレクタと、
   収束されたイオンビームの質量分布を測定する測定装置
   とを備えた質量分析計において、 前記磁場の掃引電流に同期させて磁場に入射するイオン
   ビームの理論軌道と実軌道との偏差を補正する電界を当
   該イオンビームに与える電界付加装置を設けて成ること
   を特徴とする質量分析計。