SU855788A1 - Устройство дл анализа спектра масс в электровакуумном диоде - Google Patents

Устройство дл анализа спектра масс в электровакуумном диоде Download PDF

Info

Publication number
SU855788A1
SU855788A1 SU792774545A SU2774545A SU855788A1 SU 855788 A1 SU855788 A1 SU 855788A1 SU 792774545 A SU792774545 A SU 792774545A SU 2774545 A SU2774545 A SU 2774545A SU 855788 A1 SU855788 A1 SU 855788A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diode
mass spectrum
ions
frequency
analysis
Prior art date
Application number
SU792774545A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Кузьмич Базылев
Владимир Александрович Коротченко
Original Assignee
Рязанский Радиотехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Рязанский Радиотехнический Институт filed Critical Рязанский Радиотехнический Институт
Priority to SU792774545A priority Critical patent/SU855788A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU855788A1 publication Critical patent/SU855788A1/ru

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к вакуумной технике, в частности к анализу спектра масс в отпа нных электровакуумных приборах при помощи собственной электродной системы. Известен трехмерный квалрупольный масс-спектрометр типа ионной ловушки , содержащий генератор высокой час тоты, другие элементы блока питани  регистратор ионного тока, а также датчик с анализатором, выполненным в виде трех гиперболоидов вреицени , обеспечивающий гиперболическое распределение , потенциала в трех направлени х . Принцип разделени   онов основан на том, что при прохождении в электрическом поле с гиперболическим распределением потенциала, измен юще с  во времени, часть ионов может иметь ограниченную амплитуду колеба НИИ, в то врюм  как амплитуда колебаний другой части ионов неограничен но возрастает. За счет выбранного электрического режима в объеме анализа накапливаютс  ионы лишь определенной массы(стабильные ионы). Накопленные ионы выт гивающими импульсами вывод тс  на регистрирующее устройство . Ионы с неограниченной амплитудой колебаний (нестабильные) нейтрализуютс  на электродах анализатора TI Однако при помощи данного устройства невозможно ангшизировать спектр масс в отпа нных вакуумных диодах, так как геометри  и количество электродов отпа нного диода не соответствуют датчику масс-спектрометра и дл  анализа диода необходимо его разрушить с выделением анализируемых газов в камеру анализатора. Наиболее близким к изобретению  вл етс  устройство дл  анализа спектра масс в вакуумном диоде, содержащем анод и катод. Работа прибора основана на принципе циклотронного резонанса . В однородном магнитном поле датчика ионы движутс  по окружности с периодом вращени , завис щим от напр женности магнитного пол  и отношени  массы к зар ду. При нгшожении переменного электрического пол  при совпадении частот колебаний электрического пол  с частотой вращени  ионы определенной массы движутс  по раскручивающейс  траектории и вывод тс  на коллектор. Ионы остальных масс, двига сь по скручиваювде-раскручивгиощимс  траектори м, не попадают на коллектор, т.е. не регистрируютс  t2. Однако масс-спектрометр функционирует со специальным датчиком, и применение его дл  анализа спектра масс в отпа нных диодах невозможноf поскольку геометри  и с0личество электродов отпа нного диода не соответствует датчику масс-спектрометра, ft,также необходимо разрушение диода. Цель изобретени  - анализ спектра масс остаточных газов в отпа нном электровакуумном дкоде при помощи ег собственной электродной системы нера рушающим методом, повышение точности и ускорени  процесса анализа. Цель достигаетс  тем, что в устро стве дл  анализа спектра масс в элек тровакуумном диоДе, содержащем анод и катод, анод диода последовательно соединен с генератором высокой частоты и измерительным устройством, а катод диода соединен с низкочастотным генератором измен ющейс  частоты развертки спектра масс. На фиг.1 показана схема включени  диода; на фиг.2 - график распределе НИН эквивалентного потенциала в диоде , по сн ющий механизм колебани  ионов в межэлектродном промежутке. Устройство (фиг.1) содержит после довательно соединенные схему 1 измерени  среднего тока диода, генератор 2высокой частоты, исследуемый диод 3с катодом 4 и анодом 5, генератор б малого гармонического сигнала низкой частоты, осуществл ющий развертк спектра масс. При изменении частоты напр жени  генератора 6 малого гармонического сигнала измен етс  величина среднего тока диода 3, протекагацего под действием генератора 2 высокой частоты. Иэмерениэ тока производитс  схемой 1 измерени  среднего тока. По зависимости среднего тока диода от частоты малого гармонического сигнала произ водитс  оценка состава атмосферы остаточных газов в диоде. При действии на диодный промежуток высокочастотного гармонического напр жени  с амплитудой , достаточной дл  ионизации газовых молекул, когда в положительную полуволну напр жени  потенциал электрического пол  в промежутке про порционален координате в степениМ/ а в отрица-Гельную распределен линейно , и если изменение координаты иона мало по сравнению с межэлектроднь рассто нием, то средн   за период напр жени  сила, действующа  на ион со стороны электрического пол , мож быть записана в виде следующего выранени  у . 4f iVM f{:p;1 L - -bU) J, -зар д иона; -амплитуда высокочастотног напр жени ; d - межэлектродное рассто ние; X - текуща  координата. Распределение потенциала (фиг.2) оответствуютаего силового пол  в ежэлектродном промежутке выражаетс  ормулой -. - Йто .распределение представл Нет cc6oit динамическую потенцильную  му, наличие которой определ ет возможность длительных колебаний ионов между катодом и анодом. Анализ решени  уравнени  движени  иона, в потенцигильной  ме показывает, что ион колеблетв  в межэлектродном промежутке диода t частотой F , завис щей от параметров электрического режима и массы иона в соответствии с формулой . При воздействии на промежуток малым гармоническим сигналом на частоте колебаний иона последний может быть выведен на один из электродов. Уход ионов определенной массы уменьшает компенсирующее действие пространственного зар да ионов на электронный пространственный эар д, что при- . водит к уменьшению тока в диоде. По зависимости изменени  токадиода от частоты малого гармонического сигнала можно судить о составе атмосферы остаточных газов в отпгшнном электровакуумном диоде. В предлагаемом устройстве используетс  генератор высокой частоты с целью удержани  и накоплени  ионов. Однако, если в известном устройстве удерживаютс  ионы лишь определенной массы, то в предлагаемом потенциальна  дма образуетс  дл  ионов всех масс, поэтому дл  вывода из потенциальной  мы ионов определенной массы принципигшьно необходим генератор напр жени  с частотой , совпадгиощей с частотой колебани  ионов. Таким рбраэом, высокочастотное напр жение в услови х, когда ток в полоз аи гельную полуволну напр жени  ограничен электронным пространственным зар дом, создает динамическую потенциальную  му, обеспечивгшадую колебани  ионов всех масс, а мгшое гармоническое напр жение низкой частожъ обеспечивает увод из промежутка ионов определенной массы. В результате применени  предлагаемого устройства осуществл етс  контроль спектра масс остаточных газов В отпа нных электровакуумных диодах,
что способствует повьшению их качества за счет совершенствовани  технологического процесса их изготовлени  и исключени  из поставок потребителю приборов со скрытыми дефектами.

Claims (2)

1.Сысоев А.А., Чупахин М.С. Введение в масс-спектрометрию. М., Лтетлиздаг , 1977, сД44-14б.
2.Сысобв А.А., Чупахин М.С. Введение в масс-спектрометрию. М., Атомиздат , 1977, с.118-122 (прототип).
f /
Kamef
Д2
SU792774545A 1979-06-01 1979-06-01 Устройство дл анализа спектра масс в электровакуумном диоде SU855788A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792774545A SU855788A1 (ru) 1979-06-01 1979-06-01 Устройство дл анализа спектра масс в электровакуумном диоде

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792774545A SU855788A1 (ru) 1979-06-01 1979-06-01 Устройство дл анализа спектра масс в электровакуумном диоде

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU855788A1 true SU855788A1 (ru) 1981-08-15

Family

ID=20831307

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792774545A SU855788A1 (ru) 1979-06-01 1979-06-01 Устройство дл анализа спектра масс в электровакуумном диоде

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU855788A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3535512A (en) Double resonance ion cyclotron mass spectrometer for studying ion-molecule reactions
US2582216A (en) Mass spectrometer
US3742212A (en) Method and apparatus for pulsed ion cyclotron resonance spectroscopy
US4959543A (en) Method and apparatus for acceleration and detection of ions in an ion cyclotron resonance cell
US6452168B1 (en) Apparatus and methods for continuous beam fourier transform mass spectrometry
US4136280A (en) Positive and negative ion recording system for mass spectrometer
CA1207918A (en) Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap
US3527939A (en) Three-dimensional quadrupole mass spectrometer and gauge
US3953732A (en) Dynamic mass spectrometer
US4066894A (en) Positive and negative ion recording system for mass spectrometer
US4105917A (en) Method and apparatus for mass spectrometric analysis at ultra-low pressures
US3922543A (en) Ion cyclotron resonance spectrometer and method
SU855788A1 (ru) Устройство дл анализа спектра масс в электровакуумном диоде
US3075076A (en) Gas-analyzing method and apparatus
US2694151A (en) Mass spectrometry
US5455418A (en) Micro-fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometer
US3107295A (en) Device for determining the masses of charge carriers
US3390265A (en) Ion cyclotron resonance mass spectrometer having means for detecting the energy absorbed by resonant ions
US4695724A (en) AC-modulation quadrupole mass spectrometer
CN210897193U (zh) 一种用于四极杆质量分析器的离子信号检测装置
CN210897195U (zh) 一种用于离子阱质谱仪的离子信号检测装置
US2698389A (en) Radio frequency mass spectrometer
Heck et al. Dipolar and quadrupolar detection using an FT-ICR MS setup at the MPIK Heidelberg
US2541656A (en) Method and apparatus for analyzing substance by mass spectrometry
SU788226A1 (ru) Магниторазр дный масс-спектрометр