JPS62258277A - 弁開度検出装置 - Google Patents
弁開度検出装置Info
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- JPS62258277A JPS62258277A JP9970886A JP9970886A JPS62258277A JP S62258277 A JPS62258277 A JP S62258277A JP 9970886 A JP9970886 A JP 9970886A JP 9970886 A JP9970886 A JP 9970886A JP S62258277 A JPS62258277 A JP S62258277A
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Landscapes
- Indication Of The Valve Opening Or Closing Status (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は弁開度を光電的に検出する弁開度検出装置に関
する。
する。
発電プラントには蒸気弁や調整弁などの非常に多数に弁
が使用されており、これらの弁は、その開度、例えば全
開、中間開度、全rll状態が検出され、その開度表示
やプラント機器のインター「コック等の1IlIIlに
使用されている。この弁開度検出装置は、これまで種々
のタイプのものが提案されている。しかしながら従来の
弁開度検出装置は必ずしも誤動作がなくかつ長期間の使
用に耐えるという条件即ち高信頼性と高耐久性とを十分
満足するものではなかった。そこで本出願人はこの条件
を満足するものとして光電スイッチを用い非接触で弁開
度を検出する弁開度検出板δを特願昭60−85809
9号として出願する。
が使用されており、これらの弁は、その開度、例えば全
開、中間開度、全rll状態が検出され、その開度表示
やプラント機器のインター「コック等の1IlIIlに
使用されている。この弁開度検出装置は、これまで種々
のタイプのものが提案されている。しかしながら従来の
弁開度検出装置は必ずしも誤動作がなくかつ長期間の使
用に耐えるという条件即ち高信頼性と高耐久性とを十分
満足するものではなかった。そこで本出願人はこの条件
を満足するものとして光電スイッチを用い非接触で弁開
度を検出する弁開度検出板δを特願昭60−85809
9号として出願する。
第3図はこの先願に係る弁開度検出装置を示したもので
、弁を開閉駆動する油筒1は、図示を省略された弁本体
に固定されており、油筒用ロッド2は弁棒の間閉勅作に
連続して上下動する。このロッド2にはスイッチアーム
3と接続金具4とを介してスイッチ用ロッド5が連結さ
れている。このスイッチ用ロッド5は、油fi11に固
定されたスイッチボックス6を貫通してこのスイッチボ
ックス6内の変量度検出板7に固着されている。この弁
開度検出板7には、上下方向に4列の綱長いスリット8
a、8b、8c、8dが穿孔されている。
、弁を開閉駆動する油筒1は、図示を省略された弁本体
に固定されており、油筒用ロッド2は弁棒の間閉勅作に
連続して上下動する。このロッド2にはスイッチアーム
3と接続金具4とを介してスイッチ用ロッド5が連結さ
れている。このスイッチ用ロッド5は、油fi11に固
定されたスイッチボックス6を貫通してこのスイッチボ
ックス6内の変量度検出板7に固着されている。この弁
開度検出板7には、上下方向に4列の綱長いスリット8
a、8b、8c、8dが穿孔されている。
弁開度検出板7を取囲む素子取付用ブロック9は、ボル
ト穴9a、9bによってスイッチボックス6にボルト締
めされている。このブロック9には、第4図に示された
ように、投光素子10と受光素子11との対が4対、弁
開度検出板7をはさんで取付けられている。対10aと
11aは、スリット8aを検出できるように、同様に対
10bと11b、10Gと11G、10dと11dはそ
れぞれスリット8b、8c、8dを検出できるように配
置されでいる。各投光素子そし108〜10dは光ファ
イバー12を介して投光回路13に、また、各受光素子
11a〜11dは光ファイバー14を介して受光スイッ
チ回路15に・それぞれ接続されている。これらの投光
素子10a〜10dと受光素子118〜lidと、光フ
ァイバー12.14と投光回路13と受光回路15とに
よって光電スイッチを構成している。
ト穴9a、9bによってスイッチボックス6にボルト締
めされている。このブロック9には、第4図に示された
ように、投光素子10と受光素子11との対が4対、弁
開度検出板7をはさんで取付けられている。対10aと
11aは、スリット8aを検出できるように、同様に対
10bと11b、10Gと11G、10dと11dはそ
れぞれスリット8b、8c、8dを検出できるように配
置されでいる。各投光素子そし108〜10dは光ファ
イバー12を介して投光回路13に、また、各受光素子
11a〜11dは光ファイバー14を介して受光スイッ
チ回路15に・それぞれ接続されている。これらの投光
素子10a〜10dと受光素子118〜lidと、光フ
ァイバー12.14と投光回路13と受光回路15とに
よって光電スイッチを構成している。
弁開度が変化するにつれて、油筒用ロッド2が上下動し
、これに伴いスイッチアーム3、スイッチ用ロッド5を
介して弁開度検出板7が上下動する。弁開度検出板7は
例えば開弁動作に応じて上昇し閉弁動作に応じて下降す
る。光電スイッチ10a〜10d、11a〜11d、1
2〜15は、投光素子と受光素子との間にスリット8a
〜8dが存在するか否かを検出することにより弁間度検
出板7の上下方向位置を判別し弁開度を検出する。
、これに伴いスイッチアーム3、スイッチ用ロッド5を
介して弁開度検出板7が上下動する。弁開度検出板7は
例えば開弁動作に応じて上昇し閉弁動作に応じて下降す
る。光電スイッチ10a〜10d、11a〜11d、1
2〜15は、投光素子と受光素子との間にスリット8a
〜8dが存在するか否かを検出することにより弁間度検
出板7の上下方向位置を判別し弁開度を検出する。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、発電プラントなどでは通常運転時および補修
工事時に多量のゴミやホコリなどの異物が発生しこの異
物が弁開度検出板7のスリット8a〜8dに付着したり
また投光素子10a〜10dや受光素子11a〜11d
に付着する恐れがある。このような異物の付着は投光素
子から受光素子に至る検出光路を一部又は完全に遮断す
ることになり、充電スイッチの誤動作を招来し弁開度検
出精度を低下させるという問題があった。
工事時に多量のゴミやホコリなどの異物が発生しこの異
物が弁開度検出板7のスリット8a〜8dに付着したり
また投光素子10a〜10dや受光素子11a〜11d
に付着する恐れがある。このような異物の付着は投光素
子から受光素子に至る検出光路を一部又は完全に遮断す
ることになり、充電スイッチの誤動作を招来し弁開度検
出精度を低下させるという問題があった。
そこで、本発明の目的は、ゴミやホコリ等の異物の付着
を自動的に検出し、その除去を行なうことのできる弁開
度検出装置を提供することにある。
を自動的に検出し、その除去を行なうことのできる弁開
度検出装置を提供することにある。
(問題点を解消するための手段)
本発明は、弁開度に応じて移動し、入射した光と出射し
た光との光量差を光の入射位置に応じ変化させる移動体
と、この移動体に向けて光を投光する第1投光部とこの
移動体から出射した光を受光しこの受光量に応じた光電
出力を発生する第1受光部とを有しこの光電出力に基づ
き弁開度を検出する弁開度光電検出手段と、第2発光部
とこれからの光を受光する第2受光部とを有し、この第
2受光部の光電出力に基づき上記第1招光部と第1受光
部との間の光路およびその周囲に異物が存在することを
検出する異物光電検出手段と、この異物充電検出手段の
出力に基づき上記異物を検出する遺物除去装置とを具備
する。上記第2発光部と上記第2受光部とは、この第2
受光部の受光量が上記移動体の移動には無関係であるが
上記異物の発生量に依存するように上記異物の発生量に
依存するように上記移動体に対して配置されている。
た光との光量差を光の入射位置に応じ変化させる移動体
と、この移動体に向けて光を投光する第1投光部とこの
移動体から出射した光を受光しこの受光量に応じた光電
出力を発生する第1受光部とを有しこの光電出力に基づ
き弁開度を検出する弁開度光電検出手段と、第2発光部
とこれからの光を受光する第2受光部とを有し、この第
2受光部の光電出力に基づき上記第1招光部と第1受光
部との間の光路およびその周囲に異物が存在することを
検出する異物光電検出手段と、この異物充電検出手段の
出力に基づき上記異物を検出する遺物除去装置とを具備
する。上記第2発光部と上記第2受光部とは、この第2
受光部の受光量が上記移動体の移動には無関係であるが
上記異物の発生量に依存するように上記異物の発生量に
依存するように上記移動体に対して配置されている。
(作 用)
弁開度の変化に応じて移動体が移動すると、弁開度光電
検出手段は、それに伴う受光量の変化から弁開度を検出
する。他方、異物光電検出手段は、異物が実質的に発生
していない時には移動体が移動しても実質的に受光mが
変化しないが異物が発生するとこれに伴い受光量が変化
するので、これにより異物発生を検出する。異物除去装
置は、異物充電検出手段が異物発生を検出すると、異物
除去動作を行う。
検出手段は、それに伴う受光量の変化から弁開度を検出
する。他方、異物光電検出手段は、異物が実質的に発生
していない時には移動体が移動しても実質的に受光mが
変化しないが異物が発生するとこれに伴い受光量が変化
するので、これにより異物発生を検出する。異物除去装
置は、異物充電検出手段が異物発生を検出すると、異物
除去動作を行う。
以下に本発明による弁開度検出装置の一実施例を第3図
および第4図と同部分には同一符号を付して示した第1
図および第2図を参照して説明する。
および第4図と同部分には同一符号を付して示した第1
図および第2図を参照して説明する。
第1図と第2図において、不透明な弁開度検出板7は、
図示が省略された弁の弁開度変化に応じてスイッチ用ロ
ッド5を介して上下動される。具体的には開弁動作に応
じて上昇され、閉弁動作に応じて降下される。この弁開
度検出板7には、上下方向に延びた弁開度検出用スリッ
ト8eと同様に上下方向に延びた異物検出用スリット1
6とが互に並列に穿孔されている。この弁開度検出用ス
リット8eは弁開度検出板7の上端付近にのみ延在して
いるが、異物検出用スリット16は弁IFllrt1検
出板7の上下方向のほぼ全長にわたって延在している。
図示が省略された弁の弁開度変化に応じてスイッチ用ロ
ッド5を介して上下動される。具体的には開弁動作に応
じて上昇され、閉弁動作に応じて降下される。この弁開
度検出板7には、上下方向に延びた弁開度検出用スリッ
ト8eと同様に上下方向に延びた異物検出用スリット1
6とが互に並列に穿孔されている。この弁開度検出用ス
リット8eは弁開度検出板7の上端付近にのみ延在して
いるが、異物検出用スリット16は弁IFllrt1検
出板7の上下方向のほぼ全長にわたって延在している。
素子取付用ブロック9は、弁開度検出板7を取囲み、こ
の板7の上下動を案内している。
の板7の上下動を案内している。
このブロック9には、第2図に明示したように弁開度検
出用投光素子10eと弁開度検出用受光素子11eとが
弁開度検出板7をはさんで互に対向するようにとりつけ
られている。これらの画素子10e、11eの取付位置
は、弁開度検出用スリット8eが弁開度検出板7の移動
時にこの画素子の間を通過するように定められている。
出用投光素子10eと弁開度検出用受光素子11eとが
弁開度検出板7をはさんで互に対向するようにとりつけ
られている。これらの画素子10e、11eの取付位置
は、弁開度検出用スリット8eが弁開度検出板7の移動
時にこの画素子の間を通過するように定められている。
また同様にブロック9には、異物検出用投光素子17と
異物検出用受光素子18とが弁開度検出&7をはさんで
互に対内するように取付られ、これらの画素子17.1
8の取付位置は異物検出用スリット16が画素子17.
18の間に位置するように定められている。
異物検出用受光素子18とが弁開度検出&7をはさんで
互に対内するように取付られ、これらの画素子17.1
8の取付位置は異物検出用スリット16が画素子17.
18の間に位置するように定められている。
こうして弁間度検出用投光素子10eと弁開度検出用受
光素子11eとは、光透過率が100%のスリット8e
の部分とこれ以上の光透過率が0%の部分とから成る第
1領域を、弁lFi度検出板7の移動時に走査する。他
方、異物検出用投光素子17と異物検出用受光素子18
とは、光透過率が100%のスリット16のみから成る
第2fa域を、弁開度検出板7の移動時に走査する。
光素子11eとは、光透過率が100%のスリット8e
の部分とこれ以上の光透過率が0%の部分とから成る第
1領域を、弁lFi度検出板7の移動時に走査する。他
方、異物検出用投光素子17と異物検出用受光素子18
とは、光透過率が100%のスリット16のみから成る
第2fa域を、弁開度検出板7の移動時に走査する。
弁開度検出用投光素子10eと弁開度検出用受光素子1
1eはそれぞれ光ファイバー12.14を介して投光回
路13と受光スイッチ回路15とに接続され、この投光
回路13は、光ファイバー12を介して投光素子11e
に光を送り、受光スイッチ回路15は受光素子11eが
ら光ファイバー14を介して送られてきた光信号を光電
変換して弁間度検出信号を作成する。これらの弁開度検
出用投光素子10eと受光素子11eと投光回路13と
受光スイッチ回路15とから弁開度光電検出手段を構成
する。
1eはそれぞれ光ファイバー12.14を介して投光回
路13と受光スイッチ回路15とに接続され、この投光
回路13は、光ファイバー12を介して投光素子11e
に光を送り、受光スイッチ回路15は受光素子11eが
ら光ファイバー14を介して送られてきた光信号を光電
変換して弁間度検出信号を作成する。これらの弁開度検
出用投光素子10eと受光素子11eと投光回路13と
受光スイッチ回路15とから弁開度光電検出手段を構成
する。
異物検出用投光素子17と異物検出用受光素子18はそ
れぞれ光ファイバー19.20を介して光電センサ21
に接続されている。この光1センサ21は光源と光電変
換部とを有し、光ファイバー19を介して異物検出用投
光素子17に光を送出するとともに、異物検出用受光素
子18から光ファイバー20を介して送られてきた光信
号を線形に光電変換し受光量に直線的に対応したリニア
出力を発生する。このリニア出力は設定器22に送られ
、この設定器22はこのリニア出力が所定値以下のとき
異物検出信号を、それを越えているとき正常信号をそれ
ぞれ出力する。これらの異物検出用投光素子17と受光
素子18と充電セン1ノ゛21と設定器22から異物光
電検出手段を構成する。
れぞれ光ファイバー19.20を介して光電センサ21
に接続されている。この光1センサ21は光源と光電変
換部とを有し、光ファイバー19を介して異物検出用投
光素子17に光を送出するとともに、異物検出用受光素
子18から光ファイバー20を介して送られてきた光信
号を線形に光電変換し受光量に直線的に対応したリニア
出力を発生する。このリニア出力は設定器22に送られ
、この設定器22はこのリニア出力が所定値以下のとき
異物検出信号を、それを越えているとき正常信号をそれ
ぞれ出力する。これらの異物検出用投光素子17と受光
素子18と充電セン1ノ゛21と設定器22から異物光
電検出手段を構成する。
また、ブロック9にはさらに圧縮空気噴出ノズル23a
、23b、23c、23d (第1図にt;Lノズル2
3dの図示が省略されている。)が取付けられ、これら
の噴出ノズル23aと23bは弁開度検出用の投光素子
10eと受光素子11eとの間に存在する検出板7の領
域、即ち検出面およびその周囲に圧縮空気を噴出できる
ようにまた噴出ノズル23Cと23dは異物検出用の投
光素子17と受光素子18との間に存在する検出板7の
領域即ち検出面およびその周囲に圧縮空気を噴出できる
ように、それぞれ傾斜して取付tプられている。各噴射
ノズル23a〜23dは配管24を介して発電プラント
の計装用圧縮空気系に接続されている。この配管24の
途中には電磁弁25が設けられ、この電磁弁25は設定
器22からの異物検出信号に応じて全問され、正常信号
に応じて全閉する。その他の構成は第3図および第4図
と同一である。
、23b、23c、23d (第1図にt;Lノズル2
3dの図示が省略されている。)が取付けられ、これら
の噴出ノズル23aと23bは弁開度検出用の投光素子
10eと受光素子11eとの間に存在する検出板7の領
域、即ち検出面およびその周囲に圧縮空気を噴出できる
ようにまた噴出ノズル23Cと23dは異物検出用の投
光素子17と受光素子18との間に存在する検出板7の
領域即ち検出面およびその周囲に圧縮空気を噴出できる
ように、それぞれ傾斜して取付tプられている。各噴射
ノズル23a〜23dは配管24を介して発電プラント
の計装用圧縮空気系に接続されている。この配管24の
途中には電磁弁25が設けられ、この電磁弁25は設定
器22からの異物検出信号に応じて全問され、正常信号
に応じて全閉する。その他の構成は第3図および第4図
と同一である。
次にこの作用を訳明する。
弁開度の変化に応じてスイッヂ用ロッド5を介して弁開
度検出板7が上F動し、これに応じて弁開度検出用素子
10eから投光された光が遮断され、また受光索子11
−8に入射し、受光スイッチ回路15は弁開度を検出し
弁開度検出信号を発生する。具体的には弁開度検出用ス
リット8eは、弁開度がほぼ全閉またはその付近にある
時に投光素子10eと受光索子11eとの間に位冒し、
このときのみ投光素子10eからの光は受光素子11e
に入射するので、受光スイッチ回路15は、弁が全閉も
しくはその付近か否かを表わす弁[fH[&検出用信号
を出力する。
度検出板7が上F動し、これに応じて弁開度検出用素子
10eから投光された光が遮断され、また受光索子11
−8に入射し、受光スイッチ回路15は弁開度を検出し
弁開度検出信号を発生する。具体的には弁開度検出用ス
リット8eは、弁開度がほぼ全閉またはその付近にある
時に投光素子10eと受光索子11eとの間に位冒し、
このときのみ投光素子10eからの光は受光素子11e
に入射するので、受光スイッチ回路15は、弁が全閉も
しくはその付近か否かを表わす弁[fH[&検出用信号
を出力する。
他方、異物検出用スリット16は弁開度検出板7がどこ
に移動しても必ず異物検出用投光素子17と受光素子1
8との間に位置しているので受光素子18は常に一定m
の光を受光し、これに応じて光電センサ21は一定のリ
ニア出力を設定器22に送出し、この設定器22は正常
信号を電磁弁25に送り、それを閉弁さける。
に移動しても必ず異物検出用投光素子17と受光素子1
8との間に位置しているので受光素子18は常に一定m
の光を受光し、これに応じて光電センサ21は一定のリ
ニア出力を設定器22に送出し、この設定器22は正常
信号を電磁弁25に送り、それを閉弁さける。
もし、発電プラントの通常運転中または補侮工事終了後
にゴミやホコリなどの異物が多aに発生した場合には、
これらの異物は弁開度検出板7や投光素子10e、17
ヤ受光素子11e、18の付近に付近し、投光10e、
17と受光索子11e、18との間の光路を一部又は完
全に遮断する。すると受光素子18の受光聞は減少しこ
れに応じて光電センサ21のリニア出力も低下する。
にゴミやホコリなどの異物が多aに発生した場合には、
これらの異物は弁開度検出板7や投光素子10e、17
ヤ受光素子11e、18の付近に付近し、投光10e、
17と受光索子11e、18との間の光路を一部又は完
全に遮断する。すると受光素子18の受光聞は減少しこ
れに応じて光電センサ21のリニア出力も低下する。
設定f5!22はこのリニア出力が予め定めた所定値以
下になると、異物検出信号を出力しこの異物検出出力信
号は電磁弁25を開弁する。これにより圧縮空気が、配
管24を介して圧縮空気噴出ノズル23a〜23dから
噴出され投光素子10e。
下になると、異物検出信号を出力しこの異物検出出力信
号は電磁弁25を開弁する。これにより圧縮空気が、配
管24を介して圧縮空気噴出ノズル23a〜23dから
噴出され投光素子10e。
17や受光素子11(3,18やその付近の弁間度検出
板7からゴミやホコリ等の異物を吹き飛ばす。
板7からゴミやホコリ等の異物を吹き飛ばす。
こうして異物が除去されてふたび光電センナ21のリニ
ア出力が上昇すると設定器22は正常信号を発生し電磁
弁25を閉弁する。
ア出力が上昇すると設定器22は正常信号を発生し電磁
弁25を閉弁する。
なお、本実施例では、弁開度検出用スリットは、簡単の
ためにスリット10eのみであったが、もらろん第1図
のように複数本のスリット10a〜10dを用いてもよ
い。
ためにスリット10eのみであったが、もらろん第1図
のように複数本のスリット10a〜10dを用いてもよ
い。
また本実施例では、異物を除去する圧縮空気を発電プラ
ントの計装用圧縮空気系から得ているので、専用の圧縮
空気供給源を不要とできる利点があるが、本発明として
は、これに限るものでなく専用の圧縮空気供給源を設け
てもよいし、さらには、異物除去のために圧縮空気の噴
出の代りにバキュームラインにより異物を真空吸入する
ようにしてもよい。
ントの計装用圧縮空気系から得ているので、専用の圧縮
空気供給源を不要とできる利点があるが、本発明として
は、これに限るものでなく専用の圧縮空気供給源を設け
てもよいし、さらには、異物除去のために圧縮空気の噴
出の代りにバキュームラインにより異物を真空吸入する
ようにしてもよい。
圧縮空気噴出ノズルは、上記実施例のように顔料させる
ことにより、目標位置により効果的に圧縮空気を噴出で
きるが、必ずしもこのように傾斜させなくてもよく、さ
らに素子取付用ブロック9に取付けずに専用の取付部材
に取付けるようにすることもできる。
ことにより、目標位置により効果的に圧縮空気を噴出で
きるが、必ずしもこのように傾斜させなくてもよく、さ
らに素子取付用ブロック9に取付けずに専用の取付部材
に取付けるようにすることもできる。
さらに本実施例では、投光素子と受光素子とを弁開度検
出板をはさんで対向させ、スリッ;−透過光を受光する
ようにしたが、投光素子と受光素子とを弁開度検出板の
同一面側に配置し、受光素子が弁開度検出板からの反射
光を受光するようにすることもできる。この場合には、
弁開度検出板には、当然その移動方向に沿って反射率の
異なる領域を設4Jることが必要となる。
出板をはさんで対向させ、スリッ;−透過光を受光する
ようにしたが、投光素子と受光素子とを弁開度検出板の
同一面側に配置し、受光素子が弁開度検出板からの反射
光を受光するようにすることもできる。この場合には、
弁開度検出板には、当然その移動方向に沿って反射率の
異なる領域を設4Jることが必要となる。
また、投光素子として例えば発光ダイオードなどの光源
を、また受光素子としてフォトダイオードなどの光電変
換素子を使用し、光ファイバーの代りにリード線を用い
るようにしてもよい。
を、また受光素子としてフォトダイオードなどの光電変
換素子を使用し、光ファイバーの代りにリード線を用い
るようにしてもよい。
以上の説明から明らかなように、本発明によると異物光
電検出手段が弁開度光電検出手段の光路中またはその周
囲に存在するゴミやホコリなどの異物を検出し、この検
出に応じて異物除去手段を除去するため、異物の発生に
伴う光電的弁開度検出の誤動作を自動的に防止でき、弁
開度検出装置の信頼性と耐久性を向上することができる
。
電検出手段が弁開度光電検出手段の光路中またはその周
囲に存在するゴミやホコリなどの異物を検出し、この検
出に応じて異物除去手段を除去するため、異物の発生に
伴う光電的弁開度検出の誤動作を自動的に防止でき、弁
開度検出装置の信頼性と耐久性を向上することができる
。
第1図は、本発明による弁開度検出板Vの一実施例の要
部を示した斜視図、第2図は第1図の■−II線に沿っ
た断面図、第3図は本出願人の先願に係る弁開度検出装
置を示した斜視図、第4図は第3図のIV −IV線に
沿った断面図である。 7・・・移動体(弁開度検出板)、8・・・スリット、
10・・・弁開度検出用投光素子、13・・・投光回路
、15・・・受光スイッチ回路、10.11.13゜1
5・・・弁開度光電検出手段、17・・・異物検出用投
光素子、18・・・異物検出用受光素子、21・・・光
電センサ、22・・・設定器、17.18.21.22
・・・異物光電検出手段、23・・・圧縮空気噴出ノズ
ル、24・・・配管、25・・・電磁弁、23〜25・
・・異物除去手段。 出願人代理人 佐 藤 −雄 第1面 殆2図 第4図
部を示した斜視図、第2図は第1図の■−II線に沿っ
た断面図、第3図は本出願人の先願に係る弁開度検出装
置を示した斜視図、第4図は第3図のIV −IV線に
沿った断面図である。 7・・・移動体(弁開度検出板)、8・・・スリット、
10・・・弁開度検出用投光素子、13・・・投光回路
、15・・・受光スイッチ回路、10.11.13゜1
5・・・弁開度光電検出手段、17・・・異物検出用投
光素子、18・・・異物検出用受光素子、21・・・光
電センサ、22・・・設定器、17.18.21.22
・・・異物光電検出手段、23・・・圧縮空気噴出ノズ
ル、24・・・配管、25・・・電磁弁、23〜25・
・・異物除去手段。 出願人代理人 佐 藤 −雄 第1面 殆2図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 弁開度に応じて移動し、入射した光と出射した光と
の光量差を光の入射位置に応じて変化させる移動体と、
この移動体に向けて光を透孔する第1投光部とこの移動
体から出射した光を受光しこの受光量に応じた光電出力
を発生する第1受光部とを有しこの光電出力に基づき弁
開度を検出する弁開度光電検出手段と、第2発光部とこ
れからの光を受光する第2受光部とを有し、この第2受
光部の光電出力に基づき上記第1投光部と第1受光部と
の間の光路およびその周囲に異物が存在することを検出
する異物光電検出手段と、この異物光電検出手段の出力
に基づき上記異物を除去する異物除去手段とを具備し、
上記第2発光部と上記第2受光部とは、この第2受光部
の受光量が上記移動体の移動には無関係であるが上記異
物の発生量に依存するように、上記移動体に対して配置
されていることを特徴とする弁開度検出装置。 2、上記移動体はその移動方向に沿って光透過率が変化
する第1領域と、光透過率がほぼ同一である第2領域と
を有し、上記第1投光部と上記第1受光部とは上記移動
体の上記第1領域をはさんで互に対向し、上記第2投光
部と上記第2受光部は上記移動体の上記第2領域をはさ
んで互に対向していることを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載の弁開度検出装置。 3、上記移動体は不透明な板であり、上記第1領域は領
域の一部にスリットを有し、上記第2領域は、領域全体
がスリットで形成されていることを特徴とする特許請求
の範囲第2項記載の弁開度検出装置。 4、上記異物除去手段は、上記移動体に向けて圧縮空気
を噴出する圧縮空気噴出ノズルとこの噴出ノズルに圧縮
空気を供給する配管と、この配管に設けられ、異物を検
出したときの上記異物光電検出手段の出力に応じて開弁
される弁手段とを有することを特徴とする特許請求の範
囲第1項、第2項又は第3項に記載の弁開度検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9970886A JPS62258277A (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | 弁開度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9970886A JPS62258277A (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | 弁開度検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62258277A true JPS62258277A (ja) | 1987-11-10 |
Family
ID=14254567
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9970886A Pending JPS62258277A (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | 弁開度検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62258277A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0430383U (ja) * | 1990-07-03 | 1992-03-11 | ||
DE19742062A1 (de) * | 1997-09-24 | 1999-04-08 | Geise Dietmar Dipl Ing | Wasserversorgungsanlage und Volumenstromsensor |
-
1986
- 1986-04-30 JP JP9970886A patent/JPS62258277A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0430383U (ja) * | 1990-07-03 | 1992-03-11 | ||
DE19742062A1 (de) * | 1997-09-24 | 1999-04-08 | Geise Dietmar Dipl Ing | Wasserversorgungsanlage und Volumenstromsensor |
DE19742062C2 (de) * | 1997-09-24 | 1999-09-30 | Dietmar Geise | Wasserversorgungsanlage und Volumenstromsensor |
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