JPS62221018A - Analog data processor - Google Patents

Analog data processor

Info

Publication number
JPS62221018A
JPS62221018A JP6361986A JP6361986A JPS62221018A JP S62221018 A JPS62221018 A JP S62221018A JP 6361986 A JP6361986 A JP 6361986A JP 6361986 A JP6361986 A JP 6361986A JP S62221018 A JPS62221018 A JP S62221018A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
correction data
signal
signal input
section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6361986A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Mori
修 毛利
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP6361986A priority Critical patent/JPS62221018A/en
Publication of JPS62221018A publication Critical patent/JPS62221018A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To process the analog data at a high speed and with high accuracy without applying the load to a host CPU by providing the signal input parts, a correction data producing part, an adder and a multiplier. CONSTITUTION:The corrected data is obtained just by an analog data processing part including signal input parts 61-6n and a data processing part 25. Therefore the load of a host CPU 81 is reduced. Then a correction circuit 23 which is used to obtain the corrected data can perform an operation faster than that carried out by software because the hardware operation is performed by an adder 21 and a multiplier 22. Furthermore a microprocessor 24 replaces the correction data in a fixed cycle. Thus the highly accurate corrected data is obtained even though the operational amplifiers 2 of the parts 61-6n have variation of their offset levels or gains owing to the temperature change or the change with time.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、各種のセンサ等から取込むアナログデータ
を処理するアナログデータ処理装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to an analog data processing device that processes analog data taken in from various sensors and the like.

(従来の技術) 従来のアナログデータの処理システムを、第5図に示す
。同図において、106はアナログデータ処理装置を示
し、107はホスト側のCPUを示す。アナログデータ
処理装置106の処理結果は、CP U 107へ送出
される。
(Prior Art) A conventional analog data processing system is shown in FIG. In the figure, 106 indicates an analog data processing device, and 107 indicates a CPU on the host side. The processing results of the analog data processing device 106 are sent to the CPU 107.

アナログデータ処理[置106には、半導体スイッチ及
びトランス等からなるスキャニング回路101が設けら
れている。スキャニング回路101の出力信号は、演算
増幅器102へ送出され、ここで所要のゲインで増幅さ
れる。演算増幅器102の出力信号は、サンプリング・
ホールド増幅器103にてサンプリング保持される。サ
ンプリング・ホールド増幅器103の出力信号は、A/
D変換器104にてディジタル化され、制御回路105
へ送出される。制御回路105は、アナログデータ処理
装置106の全体を統括制御するとともに、CP U 
107どの間のインタフェース機能を有する。一方、ス
キャニング回路101の入力部分には、演算増幅器10
2の各ゲインに対応して基準電圧源(その出力が、○V
1.・・・、○Vn ” REFl−・・・、VREF
n)が接続され、また、測定対象信号源(アナログ信号
を得るためのセンサ等で、その出力が、A1゜A2.・
・・、Ao>が接続されている。
A scanning circuit 101 consisting of a semiconductor switch, a transformer, etc. is provided in the analog data processing unit 106 . The output signal of the scanning circuit 101 is sent to the operational amplifier 102, where it is amplified with a required gain. The output signal of the operational amplifier 102 is sampled and
The hold amplifier 103 samples and holds the signal. The output signal of the sampling and hold amplifier 103 is A/
It is digitized by the D converter 104 and then sent to the control circuit 105.
sent to. The control circuit 105 centrally controls the entire analog data processing device 106, and also controls the CPU
It has an interface function between 107 and 107. On the other hand, an operational amplifier 10 is connected to the input part of the scanning circuit 101.
The reference voltage source (its output is ○V) corresponds to each gain of 2.
1. ..., ○Vn" REFl-..., VREF
n) is connected, and the signal source to be measured (a sensor for obtaining an analog signal, etc.) whose output is A1°A2.
..., Ao> are connected.

このようなアナログデータ処理システムにおいては、制
御回路105の制御によってスキャニング回路101の
スイッチの切換えが行われ、所要の基準電圧及び測定対
象信号源のアナログ信号が取込まれるように構成されて
いる。そして、取込まれた信号はΔ/D変換され、その
ままCPU107へ送出される。このため、CP U 
107は、受取ったディジタルデータに関して、演算増
幅器102が有するオフセットやゲインの誤差等の補正
処理を行わねばならなかった。このため、ホストのCP
U107に負荷がかかり、ホストのCP U 107か
他の処理を行えないという欠点があった。また、上記オ
フセラ1〜やゲインの誤差は、時とともに変動するもの
であるから、CP tJ 107はデータの入力毎に補
正を行う基礎となる補正用データを作成する必要があり
、これを怠ると、正確なデータを得られないという欠点
があった。
In such an analog data processing system, the switch of the scanning circuit 101 is switched under the control of the control circuit 105, and the required reference voltage and analog signal of the signal source to be measured are captured. The captured signal is then subjected to Δ/D conversion and sent to the CPU 107 as it is. For this reason, CPU
107 had to perform correction processing for errors in offset and gain of the operational amplifier 102 with respect to the received digital data. Therefore, the host's CP
There is a drawback that the load is placed on the U 107 and the host CPU 107 cannot perform other processing. In addition, since the errors in Offcella 1~ and the gains mentioned above vary over time, it is necessary for the CP tJ 107 to create correction data that becomes the basis for correction every time data is input, and if this is neglected, However, the drawback was that accurate data could not be obtained.

(発明が解決しようとする問題点) このように、従来のアナログデータ処理装置によると、
最終的に精度の良いデータを得るためには、ホストのC
PUが多くの演算処理を行う必ばがあり、ホストのCP
Uの負荷が極めて大きくなるという問題がめったのでお
る。
(Problems to be solved by the invention) As described above, according to the conventional analog data processing device,
In order to finally obtain accurate data, the host C
The PU must perform a lot of calculation processing, and the host CPU
The problem rarely arises that the load on U becomes extremely large.

本発明は、このような問題を解決せんとしてなされたも
ので、その目的は、ホストのCPUに負荷をかけること
なく、高速で高精度でアナログデータを処理し、ホスト
のCPU側で欲するデータを得ることの可能なアナログ
データ処理装置を提供することである。
The present invention was made to solve these problems, and its purpose is to process analog data at high speed and with high accuracy without placing a load on the host CPU, and to allow the host CPU to obtain the desired data. An object of the present invention is to provide an analog data processing device that can be obtained.

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明では、入力信号を増幅する増幅器を含み、基準信
号及び測定対象信号を取込みこれらを増幅しディジタル
化して出力する信号入力部と、この信号入力部から与え
られる上記基準信号のディジタルデータに基づきオフセ
ット補正用データ及びゲイン補正用データを作成する補
正用データ作成部と、この補正用データ作成部により作
成されたデータが格納される補正用データ格納部と、上
記信号入力部から与えられる測定対象信号のディジタル
データに、これと対応するオフセット補正用データを上
記補正用データから取出して加える加算器と、この加算
器の出力に、上記測定対象信号のディジタルデータと対
応するゲイン補正用データを上記補正用データ格納部か
ら取出して掛ける乗算器とを具備させて、アナログデー
タ処理装置を構成し、上記目的を速成したものである。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The present invention includes a signal input section that includes an amplifier that amplifies an input signal, takes in a reference signal and a signal to be measured, amplifies them, digitizes them, and outputs them; a correction data creation section that creates offset correction data and gain correction data based on the digital data of the reference signal given from this signal input section; and a correction data creation section that stores the data created by this correction data creation section. an adder that extracts and adds corresponding offset correction data from the correction data to the digital data of the signal to be measured supplied from the signal input section; The analog data processing device is constructed by including a multiplier that extracts the digital data of the signal to be measured and the corresponding gain correction data from the correction data storage section and multiplies the same, thereby quickly achieving the above object.

(作用) 上記のような構成によると、補正用データ格納部には、
オフセット及びゲインの補正をするためのデータが格納
されているから、このアナログデータ処理装置にて測定
対象信号のディジタルデータについて補正が可能でおり
、がっ、その補正は加算器と乗算器というハードウェア
により実行されるので高速である。また、補正用データ
を作成する周期は短くも長くもできる訳であり、短くす
ればする程、補正された測定対象のディジタルデータの
精度が高くなる。
(Function) According to the above configuration, the correction data storage section includes:
Since the data for offset and gain correction is stored, it is possible to correct the digital data of the signal to be measured using this analog data processing device. It is fast because it is executed by software. Furthermore, the cycle for creating the correction data can be shortened or long, and the shorter it is, the higher the precision of the corrected digital data of the measurement object becomes.

(実施例) 第1図は、本発明の一実施例のブロック図である。同図
において、61.62.・・・、6oは、アナログ信号
を取込みディジタル化して出力する信号入力部を示す。
(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention. In the same figure, 61.62. . . , 6o indicates a signal input section that takes in an analog signal, digitizes it, and outputs it.

これら信号入力部61,62 。These signal input sections 61, 62.

・・・、6nは、データバス7、アドレスバス8、コン
トロールバス9を介してデータ処理部25と接続されて
いる。データ処理部25による処理結果データは、イン
タフェース71を介してホストのCPU81へ送出され
る。
. . , 6n are connected to the data processing section 25 via a data bus 7, an address bus 8, and a control bus 9. Processing result data by the data processing unit 25 is sent to the host CPU 81 via the interface 71.

信号入力部61,62 、・・・、6゜は、同様の構成
であるので、信号入力部61についての説明で、他の説
明に代える。1は半導体スイッチ等で構成されたスキャ
ニング回路を示す。スキャニング回路1は、時分割でス
イッチを開成開放し、基準信号である○V及びVREF
の電圧及び測定対象信号でおるセンサ等の出力電圧A1
.A2 、・・・、A8を、順次に演算増幅器2へ送出
する。演算増幅器2は、予めセットされたゲインで信号
を増幅するもので、各信号入力部毎の演算増幅器2のゲ
インは責なるものでおる。演算増幅器2により増幅され
た信号は、サンプリング・ホールド増幅器3で一時保持
される。ここで保持された信号は、A/D変換器4によ
ってディジタル化され、このディジタルデータは、制御
回路5内のインタフェース51を介してデータ処理部2
5へ送出される。制御回路5は、スキャニング回路1の
スイッチ開成のタイミング制御、サンプリング・ホール
ド増幅器3及びA/D変換器4の動作タイミング制御、
コントロールバス9を介してコントロール信号の送受、
アドレスバス8ヘアドレスデータの送出、インタフェー
ス51のデータをデータバス7へ送出する等の制御を行
う。
Since the signal input units 61, 62, . . . , 6° have similar configurations, the explanation for the signal input unit 61 will replace other explanations. Reference numeral 1 indicates a scanning circuit composed of semiconductor switches and the like. The scanning circuit 1 opens and opens the switches in a time-division manner, and outputs the reference signals ○V and VREF.
Output voltage A1 of the sensor, etc., which is the voltage of the voltage and the signal to be measured
.. A2, . . . , A8 are sequentially sent to the operational amplifier 2. The operational amplifier 2 amplifies the signal with a preset gain, and the gain of the operational amplifier 2 for each signal input section is responsible. The signal amplified by the operational amplifier 2 is temporarily held by the sampling and hold amplifier 3. The signal held here is digitized by the A/D converter 4, and this digital data is sent to the data processing unit 2 via the interface 51 in the control circuit 5.
5. The control circuit 5 controls the timing of opening the switch of the scanning circuit 1, the operation timing of the sampling/hold amplifier 3 and the A/D converter 4,
Sending and receiving control signals via the control bus 9;
It performs control such as sending address data to the address bus 8 and sending data from the interface 51 to the data bus 7.

次に、データ処理部25の構成を説明する。24は、こ
のデータ処理部25全体を制御するマイクロプロセッサ
を示す。10は、各信号入力部61.62、・・・、6
nを制御する信号入力部制御回路を示し、11はタイマ
を示す。信号入力部制御回路10は、マイクロプロセッ
サ24から起動信号を受取ると、タイマ11を起動する
とともに、所要の信号入力部を指定するデータ(アドレ
スデータ)を出力する。
Next, the configuration of the data processing section 25 will be explained. 24 indicates a microprocessor that controls the entire data processing section 25. 10 is each signal input section 61, 62, . . . , 6
11 shows a signal input section control circuit for controlling n, and 11 shows a timer. When the signal input section control circuit 10 receives the activation signal from the microprocessor 24, it activates the timer 11 and outputs data (address data) specifying a desired signal input section.

起動されたタイマ11は、第2図■に示されるように、
所定周期(数m5ec) Tで動作開始信号を送出する
。この動作開始信号は上記で信号入力部制御回路10が
出力したデータにより指定された信号入力部が受取る。
The activated timer 11, as shown in FIG. 2,
The operation start signal is sent at a predetermined period (several m5ec) T. This operation start signal is received by the signal input section designated by the data output by the signal input section control circuit 10 described above.

12はアドレスデコーダを示す。このアドレスデコーダ
12は信号入力部61.62、・・・、6nから出力さ
れたアドレスデータをデコードしてRAM18のアドレ
ス端子AとDMAライト制御回路13へ与える。RAM
18には演算増幅器2のオフセット及びゲインを補正す
るための補正用データが、各信号入力部61.62、・
・・、6o毎に、第3図の如く格納される。第3図にお
いて、ADCGl、ADCG2. ・、ADCGnは、
夫々、入力信号部61.62、・・・6□のゲイン補正
用データを示し、また、ADCOI、ADCO2゜・・
・、ADCOnは、夫々、入力信号部61.62、・・
・、6oのオフセット補正用データを示す。このRAM
18は、マイクロプロセッサ24によってもアクセスさ
れるようになっている。アドレスデコーダ12のアドレ
スデータによって読出されたオフセット補正用データは
レジスタ19ヘセツトされ、また、ゲイン補正用データ
はレジスタ20ヘセツトされる。レジスタ19の出力は
加算器21の一方の入力端子へ与えられ、また、加算器
21の他方の入力端子には、データバス7を介して各信
号入力部によるデータが与えられる。即ち、加算器21
では、信号入力部より出力された測定対象信号のデータ
と、このデータを出力した信号入力部に対応したオフセ
ット補正用データとが加えられ、オフセットが除去され
る。加算器21の出力は、乗算器22の一方の入力端子
へ与えられ、また、乗算器22の他方にはレジスタ20
よりゲイン補正用データが与えられている。乗算器22
では、オフセット補正されたデータとゲイン補正用デー
タとの掛算が行われ、ゲイン補正がなされる。、17は
RAMを示し、このRAM17は、信号入力部61.6
2、・・・、6oから送出される基準信号のデータをそ
のまま(生データを)格納するためと、信号入力部61
.62、・・・、6oより送出された測定対象信号のデ
ータが補正回路23によって補正された結果のデータ(
補正済データ)が格納するために用いられる。この場合
、RAM17のアドレス端子Aには、レジスタ16から
アドレスデータが与えられるが、そのレジスタの最上位
ビット部分にのデータがOであれば、補正済データの領
域が指定され、最上位ビット部分にのデータが1であれ
ば、生データの領域が指定される。このようにして指定
されて、補正済データ及び生データが格納されたRAM
17のメモリマツプが第4図に示されている。同図にお
いて、ADCi (i=1〜n>は、夫々信号入力部6
1に対応するデータの格納領域を示している。また、格
納されテイルデータは、OV、VREF 、Al、A2
、・・・A8と記載されているが、夫々異なる値である
。マイクロプロセッサ24は、RAM17をアクセスす
るときには、バスアビター15に指示を与えて、DMA
ライト制御回路13、DMAリード制御回路14にアド
レスデータの出力を行わせRAM17のバスを管理させ
る。DMAライト制御回路13の出力であるアドレスデ
ータはレジスタ16にセットされる。また、マイクロプ
ロセッサ24は、DMAライト制御回路13、DMAラ
イト制御回路14を介さずにRAM17をアクセスする
ことも可能である。尚、データ処理部25内の33Tは
、3ステー1〜バツフアを示し、この3ステートバツフ
ア38Tはマイクロプロセッサ24の制御下でインピー
ダンスの状態が変化させられる。また、第4図に示され
る生データの領域は、初期動作時に用いるもので、一つ
の信号入力部から16回送出される基準信号OV、vR
EFのデータを、夫々の信号入力部毎に格納する領域と
なっている。
12 indicates an address decoder. The address decoder 12 decodes address data output from the signal input sections 61, 62, . RAM
18 includes correction data for correcting the offset and gain of the operational amplifier 2, and each signal input section 61, 62, .
. . , 6o, as shown in FIG. 3. In FIG. 3, ADCGl, ADCG2.・, ADCGn is
Input signal sections 61, 62, . . . 6□ gain correction data are shown, respectively, and ADCOI, ADCO2゜, . .
, ADCOn are input signal sections 61, 62, . . .
・, 6o offset correction data is shown. This RAM
18 is also accessed by microprocessor 24. The offset correction data read out by the address data of the address decoder 12 is set in the register 19, and the gain correction data is set in the register 20. The output of the register 19 is applied to one input terminal of the adder 21, and the data from each signal input section is applied to the other input terminal of the adder 21 via the data bus 7. That is, adder 21
Then, the data of the signal to be measured outputted from the signal input section and the offset correction data corresponding to the signal input section that outputted this data are added, and the offset is removed. The output of the adder 21 is applied to one input terminal of a multiplier 22, and the other side of the multiplier 22 is provided with a register 20.
Gain correction data is given. Multiplier 22
Then, the offset-corrected data is multiplied by the gain correction data to perform gain correction. , 17 indicates a RAM, and this RAM 17 is connected to the signal input section 61.6.
2,..., 6o to store the data of the reference signal as it is (raw data),
.. 62, ..., 6o, the data of the measurement target signal is corrected by the correction circuit 23 (
corrected data) is used for storage. In this case, address data is given from the register 16 to the address terminal A of the RAM 17, but if the data in the most significant bit part of that register is O, the area of corrected data is specified, and the most significant bit part If the data in is 1, the raw data area is specified. RAM specified in this way and in which corrected data and raw data are stored
17 memory maps are shown in FIG. In the same figure, ADCi (i=1 to n> is the signal input section 6
1 shows a data storage area corresponding to number 1. Also, the stored tail data is OV, VREF, Al, A2
, . . . A8, but they are different values. When accessing the RAM 17, the microprocessor 24 instructs the bus abiter 15 to perform DMA processing.
The write control circuit 13 and DMA read control circuit 14 are caused to output address data and manage the bus of the RAM 17. Address data output from the DMA write control circuit 13 is set in the register 16. Further, the microprocessor 24 can also access the RAM 17 without going through the DMA write control circuit 13 and the DMA write control circuit 14. Note that 33T in the data processing section 25 indicates a 3-state buffer 38T, and the impedance state of this 3-state buffer 38T is changed under the control of the microprocessor 24. The raw data area shown in FIG. 4 is used during initial operation, and the reference signals OV and vR are sent out 16 times from one signal input section.
This is an area for storing EF data for each signal input section.

次に、上記のように構成されたアナログデータ処理装置
の動作を説明する。
Next, the operation of the analog data processing device configured as described above will be explained.

(i)初期動作時 マイクロプロセッサ24は、信号入力部制御回路10へ
指示を与え、信号入力部61から基準信号のデータを取
込むようにさせる。すると、信号入力部制御回路10は
タイマ11を起動するとともに、信号入力部61を指定
するデータをコントロールバス9を介して送出する。す
ると、タイマ11は第2図■に示されるように周期Tで
動作開始信号を送出する。すると信号入力部61はこれ
を受取り、制御回路5が第2図■に示すタイミングでス
イッチを開開し、OV、vREF、A1、A2、・・・
、A8のデータのスキャニングを行う。これらのデータ
はディジタル化されて、データバス7を介してRAM1
7へ送られる。マイクロプロセッサ24は、OV、VR
EF(DデータだけがRAM17に格納されるように、
所定のタイミングでメモリイネーブル信号等をRAM1
7へ与える。尚、RAM17のアドレスは、制御回路5
の出力がアドレスデコーダ12でデコードされたもので
ある。この動作は、ここでは、16回行われる。次に、
マイクロプロセッサ24は信号入力部62乃至6゜に対
しても同様の動作を行わせる。一方、マイクロプロセッ
サ24は、RA M 17 L (i 75 人力部6
1からOV、VREF(Dデータが16回分与えられて
格納されたとき、次の信号入力部6□〜6nからのデー
タ格納の間隙で(例えば、A1〜A8の転送時等)信号
入力部61の演算増幅器2のオフセット補正用データ○
 及びゲイン補正用データGmの作成を行う。
(i) During initial operation, the microprocessor 24 gives an instruction to the signal input section control circuit 10 to cause it to take in the data of the reference signal from the signal input section 61. Then, the signal input section control circuit 10 starts the timer 11 and sends data specifying the signal input section 61 via the control bus 9. Then, the timer 11 sends out an operation start signal at a period T as shown in FIG. Then, the signal input section 61 receives this, and the control circuit 5 opens and opens the switch at the timing shown in FIG. 2, OV, vREF, A1, A2, .
, A8 data is scanned. These data are digitized and sent to RAM1 via data bus 7.
Sent to 7. The microprocessor 24 has OV, VR
EF (so that only D data is stored in RAM 17,
A memory enable signal etc. is sent to RAM1 at a predetermined timing.
Give to 7. Note that the address of the RAM 17 is the address of the control circuit 5.
The output is decoded by the address decoder 12. This operation is performed 16 times here. next,
The microprocessor 24 causes the signal input sections 62 to 6° to perform similar operations. On the other hand, the microprocessor 24 has RAM 17 L (i 75
1 to OV, VREF (When D data is applied and stored 16 times, the signal input section 61 is inputted in the interval for storing data from the next signal input section 6□ to 6n (for example, when transferring A1 to A8). Offset correction data for operational amplifier 2○
and create gain correction data Gm.

即ち、信号入力部61による16回分のOVのデータを
RAM17から読出し、 Qlに10Vk/16・・・・・・・・−(1)の演算
を行い、演算結果のオフセット補正用データ0Illを
RAM18の対応領域(第2図のADCOlの領域)へ
格納する。また、同じく、16回分のVREFのデータ
をRAM17から読出し、の演算を行い、演算結果のゲ
イン補正用データGIIleRAM1Bの対応領域(第
2図のADCGIの領域)へ格納する。上記で、VRE
Fiは、次のようにして決まる。例えば、VREF =
10II、 Vとし、演算増幅器2のゲインを(x 1
00)とし、16ビツトのA/D変換器4(サイン1ビ
ツト+15ビツト)で上記演算増幅器2の出力をディジ
タル化したときの値VREFTを32000に対応させ
る。この後。演算増幅器4のゲインが温度や経時的に変
動したとき、A/D変換器4の出力がVREFiとなる
。その時のゲイン補正用データGIIlが上記(2)式
により得られる。以下、RAM17にデータが揃う毎に
、同様にして、信号入力部162〜16nの演算増幅器
2のオフセット補正用データ及びゲイン補正用データを
作成し、RAM18内の対応領域に格納し、第2図の如
きメモリデータテーブルを作成する。
That is, the data of 16 times of OV by the signal input section 61 is read from the RAM 17, the calculation of 10Vk/16...-(1) is performed on Ql, and the offset correction data 0Ill of the calculation result is stored in the RAM 18. (the area of ADCOl in FIG. 2). Similarly, 16 times of VREF data is read from the RAM 17, the following calculations are performed, and the calculation results are stored in the corresponding area of the gain correction data GIIleRAM1B (ADCGI area in FIG. 2). In the above, VRE
Fi is determined as follows. For example, VREF =
10II, V, and the gain of operational amplifier 2 is (x 1
00), and the value VREFT when the output of the operational amplifier 2 is digitized by the 16-bit A/D converter 4 (sine 1 bit + 15 bits) corresponds to 32,000. After this. When the gain of the operational amplifier 4 changes with temperature or with time, the output of the A/D converter 4 becomes VREFi. The gain correction data GIIl at that time is obtained by the above equation (2). Thereafter, each time data is collected in the RAM 17, offset correction data and gain correction data for the operational amplifiers 2 of the signal input sections 162 to 16n are created in the same manner and stored in the corresponding areas in the RAM 18, as shown in FIG. Create a memory data table like this.

以上で初期動作が終了となる。This completes the initial operation.

(ii)連続動作時。(ii) During continuous operation.

マイクロコンピュータ24の指示により、信号入力部6
1から第2図のようなタイミングで、OV、■REF、
A1、Δ2、・・・A8のデータが送出されるまでの動
作は、上記(i)の場合と同じである。
According to instructions from the microcomputer 24, the signal input section 6
At the timing from 1 to 2, OV, ■REF,
The operations until the data of A1, Δ2, . . . A8 are sent out are the same as in the case (i) above.

ただし、制御回路5は、RAM1Bのアドレスデータと
して第2図の対応するオフセット補正用データADCO
Iの領域とゲイン補正用データADCG1の領域を指示
する。これによって、RAM17からは、オフセット補
正用データADCO1とゲイン補正用データADCG1
とが読出され、夫々、レジスタ19.20へセットされ
る。一方、A1〜八8のディジタルデータは、加算器2
1の一方の入力端子へ与えられ、オフセット補正用デー
タADCO1と加えられて乗算器22へ送出される。乗
算器22では、オフセット補正されたA1〜八8のディ
ジタルデータとゲイン補正用データADCGIとが掛け
られて、補正済データとされる。この補正済データは、
マイクロプロセッサ24の制御の下、RA M 17の
第4図に示した領域に格納される(第2図■)。以下、
信号入力部62〜6oに対しても同様の動作を行わせ、
信号入力部6□〜6oから送出されたA1〜A8のディ
ジタルデータも同様に処理し、RAM17に第4図の如
く格納する。
However, the control circuit 5 uses the corresponding offset correction data ADCO shown in FIG. 2 as the address data of the RAM 1B.
Indicate the area of I and the area of gain correction data ADCG1. As a result, the offset correction data ADCO1 and the gain correction data ADCG1 are output from the RAM 17.
are read out and set in registers 19 and 20, respectively. On the other hand, the digital data of A1 to 88 is sent to the adder 2.
1, and is added to the offset correction data ADCO1 and sent to the multiplier 22. The multiplier 22 multiplies the offset-corrected digital data A1 to A88 by the gain correction data ADCGI to obtain corrected data. This corrected data is
Under the control of the microprocessor 24, the data is stored in the area shown in FIG. 4 of the RAM 17 (FIG. 2). below,
Similar operations are performed for the signal input units 62 to 6o,
The digital data A1 to A8 sent from the signal input sections 6□ to 6o are similarly processed and stored in the RAM 17 as shown in FIG.

全ての補正済データが揃うと、マイクロプロセッサ24
は、DMAリード制御回路14を起動して、補正済デー
タをインタフェース71を介してCP U alへ送出
させる。
When all the corrected data is collected, the microprocessor 24
starts the DMA read control circuit 14 and sends the corrected data to the CPU al via the interface 71.

一方、マイト10プロセツサ24は、連続動作時に、所
定の周期(例えば、1分毎)で、各信号入力部61〜6
oのオフセット補正用データADCOI、ゲイン補正用
データADCG1の更新を行う。この更新時には、信号
入力部制御回路10へ指示を与え、信号入力部61〜6
oの制御部5が、OV、VREFのデータを格納するR
AM18のアドレスを出力するようにさせる(即ち、初
期動作時と同様の動作を行わせる。)。これによって、
Ov、■81.のデータ(−回分)は、RAM1Bの生
データの領域の所定アドレス(各信号入力部毎に別けら
れた領域の先頭)に格納される。例えば、信号入力部6
1から更新時に得られたOvのデータがOh 、VRE
FのデータがGhとすると、マイクロプロセッサ24は
、新たなオフセット補正用データOI!IN及びゲイン
補正用データGlIINを得るために古いオフセット補
正用データOI、l及び古いゲイン補正用データGmを
RAM18の対応領域から読出し0IIIN=(157
16)OIIl+(1/16)Oh・・・(3)の演算
を行い、 GmN−(15/16 ) 07 + (1/16)X
[A/D変換器4に対応する値/(Gh−OmN>1・
・・(4)演算を行ない、得られたOI、IN、GIT
INを夫々対応するRAM18の領域へ格納する。
On the other hand, during continuous operation, the MITE 10 processor 24 outputs signals from each signal input section 61 to 6 at a predetermined period (for example, every minute).
o's offset correction data ADCOI and gain correction data ADCG1 are updated. At the time of this update, an instruction is given to the signal input section control circuit 10, and the signal input sections 61 to 6
The control unit 5 of o stores the data of OV and VREF.
The address of AM18 is output (that is, the same operation as in the initial operation is performed). by this,
Ov,■81. The data (-times) are stored at a predetermined address in the raw data area of the RAM 1B (at the beginning of the area separated for each signal input section). For example, the signal input section 6
The Ov data obtained when updating from 1 is Oh, VRE
If the data of F is Gh, the microprocessor 24 generates new offset correction data OI! In order to obtain IN and gain correction data GlIIN, old offset correction data OI, l and old gain correction data Gm are read from the corresponding area of the RAM 18. 0IIIN=(157
16) OIIl+(1/16)Oh...(3) is calculated, GmN-(15/16) 07 + (1/16)X
[Value corresponding to A/D converter 4/(Gh-OmN>1・
...(4) Perform the calculation and obtain the OI, IN, and GIT
Each IN is stored in the corresponding area of the RAM 18.

このようにして本実施例によれば、信号入力部61〜6
゜とデータ処理部25とで構成されるアナログデータ処
理部だけで、補正済データを得るので、ホストのCPU
81の負荷を軽減できる。また、補正済データを得るた
めの補正回路23においては、加算器21及び乗算器2
2がハード的に演算を行うために、ソフトウェアによる
演算よりも高速である。
In this way, according to the present embodiment, the signal input sections 61 to 6
Corrected data is obtained only with the analog data processing section consisting of the data processing section 25 and the data processing section 25, so
81 load can be reduced. In addition, in the correction circuit 23 for obtaining corrected data, an adder 21 and a multiplier 2
Since 2 performs calculations using hardware, it is faster than calculations using software.

更に、マイクロプロセッサ24は、補正用データを所定
周期で更新するため、各信号入力部61〜6oの演算増
幅器2が温度変化や経時変化で、そのオフセットレベル
やゲインが変動しても、高精度な補正済データを得るこ
とが可能である。
Furthermore, since the microprocessor 24 updates the correction data at a predetermined period, even if the offset level and gain of the operational amplifiers 2 of each signal input section 61 to 6o fluctuate due to temperature changes or changes over time, high accuracy can be maintained. It is possible to obtain corrected data.

尚、本実施例では、初期動作でOV、VREFのデータ
を16回得て、補正用データの作成を行ったが、16回
以下でも以上でも良い。
In this embodiment, the OV and VREF data were obtained 16 times in the initial operation to create the correction data, but the data may be obtained 16 times or less or more than 16 times.

[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、得られたデータの
補正を本装置で行うために、ホストのCPUに負荷をか
けることなく、また、ハードウェアで補正を行い、また
、補正値データの更新が可能であるから、高速、高精度
でアナログデータを処理することが可能となるものであ
る。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, since the obtained data is corrected by this device, the correction is performed by hardware without imposing a load on the CPU of the host. Since the correction value data can be updated, analog data can be processed at high speed and with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図の実施例の動作を説明するためのタイミングチャート
、第3図は補正用データが格納されたRAM1Bのメモ
リマツプ、第4図は生データ及び補正用データが格納さ
れたRAM17のメモリマツプ、第5図は従来のアナロ
グデータ装置を含むシステムのブロック図である。 2・・・演算増幅器 61.62、・・・、6n・・・信号入力部17・・・
RAM 18・・・RAM (補正データ格納部)21・・・加
算器    22・・・乗算器23・・・補正回路  
 24・・・マイクロプロセッサ25・・・データ処理
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the present invention.
3 is a memory map of RAM 1B in which correction data is stored, FIG. 4 is a memory map of RAM 17 in which raw data and correction data are stored, and FIG. 5 is a timing chart for explaining the operation of the embodiment shown in the figure. 1 is a block diagram of a system including conventional analog data equipment. 2... Operational amplifiers 61, 62,..., 6n... Signal input section 17...
RAM 18... RAM (correction data storage section) 21... Adder 22... Multiplier 23... Correction circuit
24...Microprocessor 25...Data processing section

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)入力信号を増幅する増幅器を含み、基準信号及び
測定対象信号を取込みこれらを増幅しディジタル化して
出力する信号入力部と、この信号入力部から与えられる
前記基準信号のディジタルデータに基づきオフセット補
正用データ及びゲイン補正用データを作成する補正用デ
ータ作成部と、この補正用データ作成部によって作成さ
れたデータが格納される補正用データ格納部と、前記信
号入力部から与えられる測定対象信号のディジタルデー
タに、これと対応するオフセット補正用データを前記補
正用データ格納部から取出して加える加算器と、この加
算器の出力に、前記測定対象信号のディジタルデータと
対応するゲイン補正用データを前記補正用データ格納部
から取出して掛ける乗算器とを具備したアナログデータ
処理装置。
(1) A signal input section that includes an amplifier that amplifies the input signal, takes in the reference signal and the signal to be measured, amplifies them, digitizes them, and outputs them; and an offset based on the digital data of the reference signal given from this signal input section. a correction data creation section that creates correction data and gain correction data; a correction data storage section that stores data created by the correction data creation section; and a measurement target signal given from the signal input section. an adder that extracts and adds offset correction data corresponding to the digital data from the correction data storage section to the digital data of the signal to be measured, and adds gain correction data that corresponds to the digital data of the signal to be measured to the output of the adder. An analog data processing device comprising a multiplier that extracts data from the correction data storage section and multiplies the data.
(2)補正用データ作成部は、所定周期で補正用データ
の更新を行うことを特徴とする特許請求の範囲第(1)
項記載のアナログデータ処理装置。
(2) Claim (1) characterized in that the correction data creation unit updates the correction data at a predetermined period.
The analog data processing device described in Section 1.
JP6361986A 1986-03-20 1986-03-20 Analog data processor Pending JPS62221018A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6361986A JPS62221018A (en) 1986-03-20 1986-03-20 Analog data processor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6361986A JPS62221018A (en) 1986-03-20 1986-03-20 Analog data processor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62221018A true JPS62221018A (en) 1987-09-29

Family

ID=13234514

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6361986A Pending JPS62221018A (en) 1986-03-20 1986-03-20 Analog data processor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62221018A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01187469A (en) * 1987-10-30 1989-07-26 Teledyne Inc Leakage current tester
JPH05174159A (en) * 1991-12-20 1993-07-13 Yokogawa Electric Corp Device for collecting measured data for job site

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01187469A (en) * 1987-10-30 1989-07-26 Teledyne Inc Leakage current tester
JPH05174159A (en) * 1991-12-20 1993-07-13 Yokogawa Electric Corp Device for collecting measured data for job site

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5500644A (en) Procedure and device for self-calibrating analog-to-digital conversion
JPS62221018A (en) Analog data processor
EP0401763B1 (en) Timing signal generating system
JPH03179919A (en) Analog/digital converter
JPH0526372B2 (en)
JPS605396Y2 (en) analog output circuit
JPS62231874A (en) '0' point correction method for steering sensor
JP3007382B2 (en) Sensor output processing device
JP2002515672A (en) Dynamic digital synchro converter
US5835887A (en) Process for the rapid digital acquisition and processing of analogue measured values in a processor with restricted binary word length
JPS5958912A (en) Analog input device
JP2855273B2 (en) Digital protection relay device
JPS60151502A (en) Converter for strain gauge sensor data
JPS62114333A (en) Automatic gain switching a/d conversion system
JP2002062316A (en) Waveform recorder
JPS617918A (en) Multipoint analog input device
JP2725424B2 (en) Analog-to-digital converter
JPH08316836A (en) Signal processing circuit
JPS60167527A (en) Analog-to-digital converting circuit
JPH0727351B2 (en) Sampling clock setting method for video interface device
SU739614A1 (en) Device for reducing redundancy of digital signals
SU1111175A1 (en) Information input device
JPS62276619A (en) Processing system for analog input/output signal
JP2512039B2 (en) Speed control device
RU1788446C (en) Multichannel temperature metering device