JPS62217940A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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- JPS62217940A JPS62217940A JP61059515A JP5951586A JPS62217940A JP S62217940 A JPS62217940 A JP S62217940A JP 61059515 A JP61059515 A JP 61059515A JP 5951586 A JP5951586 A JP 5951586A JP S62217940 A JPS62217940 A JP S62217940A
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- JP
- Japan
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- ray
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 23
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 3-morpholin-4-yl-1-oxa-3-azonia-2-azanidacyclopent-3-en-5-imine;hydrochloride Chemical compound Cl.[N-]1OC(=N)C=[N+]1N1CCOCC1 NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、X線検出系内に配置された被写体に対してX
線のスキャンを行なうことにより前記被写体のX線透過
量を測定するX線CT装置に関するものである。
線のスキャンを行なうことにより前記被写体のX線透過
量を測定するX線CT装置に関するものである。
(従来の技術)
X線CT装置を使用して被写体の撮影を行なう場合、被
写体はX線管とこれに対向して設けられた検出器とから
成る検出系内に配置されるが、従来被写体は標準的な大
きさの被写体に合わせて予め設定された標準撮影位置に
配置された状態でX線のスキャンが行なわれている。
写体はX線管とこれに対向して設けられた検出器とから
成る検出系内に配置されるが、従来被写体は標準的な大
きさの被写体に合わせて予め設定された標準撮影位置に
配置された状態でX線のスキャンが行なわれている。
しかしこのような従来装置であると、撮影すべき被写体
の大きさく例えば頭部の半径寸法)が標準的な被写体の
それと比べて異なる場合は以下のような問題がある。例
えば第5図のように、X線管1および検出器2から成る
検出系内の標準撮影位置3に配置された被写体4の大き
さdlが標準的な被写体の大きさd2より小さい場合は
、検出器2を構成する多チヤンネル素子に被写体4を透
過しないでX線が入射される範囲2′、2″が存在する
ようになる。このため検出器2の検出効率が低下する。
の大きさく例えば頭部の半径寸法)が標準的な被写体の
それと比べて異なる場合は以下のような問題がある。例
えば第5図のように、X線管1および検出器2から成る
検出系内の標準撮影位置3に配置された被写体4の大き
さdlが標準的な被写体の大きさd2より小さい場合は
、検出器2を構成する多チヤンネル素子に被写体4を透
過しないでX線が入射される範囲2′、2″が存在する
ようになる。このため検出器2の検出効率が低下する。
すなわち検出器2は、標準的な被写体のようにX線照射
範囲であるデータ収集領域5の大きさに等しく配置され
た被写体を透過したX線がそのまま検出器2の全チャン
ネル素子をカバーするように入射されたとき、最大の検
出効率が得られるように設計されているので、前記カバ
ーされない範囲2′、2“の分だけ検出効率が低下する
ことになる。一方策6図のように、標準撮影位置3に配
置された被写体4の大きさd、が標準的な被写体の大き
さd2より大きい場合は、検出器2の検出可能な範囲か
ら被写体4がはみ出すことになる。このため得られる画
像は不正確なものとなってしまうので、正しい診断がで
きなくなる。
範囲であるデータ収集領域5の大きさに等しく配置され
た被写体を透過したX線がそのまま検出器2の全チャン
ネル素子をカバーするように入射されたとき、最大の検
出効率が得られるように設計されているので、前記カバ
ーされない範囲2′、2“の分だけ検出効率が低下する
ことになる。一方策6図のように、標準撮影位置3に配
置された被写体4の大きさd、が標準的な被写体の大き
さd2より大きい場合は、検出器2の検出可能な範囲か
ら被写体4がはみ出すことになる。このため得られる画
像は不正確なものとなってしまうので、正しい診断がで
きなくなる。
(発明が解決しようとする問題点)
このように従来装置においては、被写体の大きさによっ
て検出器の検出効率にバラツキが発生するため、常に理
想的な画像を作成するのが困難になるという問題が存在
している。
て検出器の検出効率にバラツキが発生するため、常に理
想的な画像を作成するのが困難になるという問題が存在
している。
本発明はこれらの問題に対処してなされたもので、被写
体の大きさにかかわらず常に理想的な画像を作成できる
X線CT装置を提供することを目的とするものである。
体の大きさにかかわらず常に理想的な画像を作成できる
X線CT装置を提供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、X線検出系を所望
の位置にシフト可能なシフト駆動機構と、予め設定され
た標準撮影位置でプリスキャンを行って得た被写体の大
きさのデータを処理するデータ処理手段と、これから出
力されたデータ値に応じて正規のスキャンを行なう最適
撮影位置に被写体を配置する検出系のシフト量を計算し
これを制御信号として前記シフト駆動機構に加えるシフ
ト制御手段と、を備えることを特徴とするものである。
の位置にシフト可能なシフト駆動機構と、予め設定され
た標準撮影位置でプリスキャンを行って得た被写体の大
きさのデータを処理するデータ処理手段と、これから出
力されたデータ値に応じて正規のスキャンを行なう最適
撮影位置に被写体を配置する検出系のシフト量を計算し
これを制御信号として前記シフト駆動機構に加えるシフ
ト制御手段と、を備えることを特徴とするものである。
(作 用)
標準撮影位置で行なわれたプリスキャンに基づく被写体
の大きさ例えは頭部の半径寸法がデータ処理手段で算出
される。このデータ値に応じて最適撮影位置に被写体を
配置する検出系のシフト量がシフト制御手段で得られ、
制御信号としてシフト駆動機構に加えられる。これによ
りシフト駆動機構は検出系を所望の位置にシフトさせる
ように動作する。従って被写体は大きさにかかわらず常
に最適撮影位置に配置されてスキャンが行なわれる。
の大きさ例えは頭部の半径寸法がデータ処理手段で算出
される。このデータ値に応じて最適撮影位置に被写体を
配置する検出系のシフト量がシフト制御手段で得られ、
制御信号としてシフト駆動機構に加えられる。これによ
りシフト駆動機構は検出系を所望の位置にシフトさせる
ように動作する。従って被写体は大きさにかかわらず常
に最適撮影位置に配置されてスキャンが行なわれる。
(実施例)
以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第1図は本発明実施例によるX線CT装置のX線検出系
を示すもので、11はX線管、12はこのX線管11に
対向して謙けられた検出器である。
を示すもので、11はX線管、12はこのX線管11に
対向して謙けられた検出器である。
13は標準撮影位置、14は被写体、15はデータ収集
領域、16はX線管11と検出器12との中心位置を結
ぶ中心線、Cは被写体の中心、dlは被写体14の大き
さく例えば頭部の半径寸法)、d2はデータ収集領域1
6の大きさく例えば半径寸法)、d、は被写体14を透
過しないX線が入射する検出器12のチャンネル素子数
、θはX線管11と検出器12の両端部を結ぶスキャン
角度、αは中心線16と垂線17(X線管11と被写体
14の端部とを結ぶ垂線)とのなす角度、D+ は前記
中心線16の距離(F D D ; Focus De
tectorDistance ) 、DtはX線管1
1と前記中心Cとの距離(F CD ; Focus
Center Distance )である。被写体1
4の中心Cは常に中心線16上にあり、また標準撮影位
置13上に配置される。
領域、16はX線管11と検出器12との中心位置を結
ぶ中心線、Cは被写体の中心、dlは被写体14の大き
さく例えば頭部の半径寸法)、d2はデータ収集領域1
6の大きさく例えば半径寸法)、d、は被写体14を透
過しないX線が入射する検出器12のチャンネル素子数
、θはX線管11と検出器12の両端部を結ぶスキャン
角度、αは中心線16と垂線17(X線管11と被写体
14の端部とを結ぶ垂線)とのなす角度、D+ は前記
中心線16の距離(F D D ; Focus De
tectorDistance ) 、DtはX線管1
1と前記中心Cとの距離(F CD ; Focus
Center Distance )である。被写体1
4の中心Cは常に中心線16上にあり、また標準撮影位
置13上に配置される。
また、19は前記X線管11および検出器12から成る
X線検出系を所望の位置にシフトするシフト駆動機構、
20はデータ処理回路で前記標準撮影位置13でプリス
キャンを行なって得た被写体14の大きさ例えば頭部の
半径のデータを処理するものであり、21は計算回路で
データ処理回路20から出力されたデータ値に応じて被
写体14を正規のスキャンを行なう最適撮影位置に配置
するための前記検出系のシフト量を計算し、制御信号と
してシフト駆動機構19に加えるように動作する。
X線検出系を所望の位置にシフトするシフト駆動機構、
20はデータ処理回路で前記標準撮影位置13でプリス
キャンを行なって得た被写体14の大きさ例えば頭部の
半径のデータを処理するものであり、21は計算回路で
データ処理回路20から出力されたデータ値に応じて被
写体14を正規のスキャンを行なう最適撮影位置に配置
するための前記検出系のシフト量を計算し、制御信号と
してシフト駆動機構19に加えるように動作する。
ここで−例として上記各要素に次の値を設定するものと
する。
する。
D、=1050 (龍)
D、=600(龍)、
検出器12を512チヤンネルで構成、θ=34゜
これにより前記d2は、d2=600 X5in 17
゜#175(m箇)が求まる。
゜#175(m箇)が求まる。
また次の式が近似的に成立する。
d+ =600 X5in cx
・・・■
すなわち、第1図のように標準撮影位置13上に配置さ
れた被写体14のプリスキャンを行なうと、X線管11
から34°のスキャン角度で照射されたX線はその大部
分が被写体14を透過した後検出器12に入射する。こ
れによって検出器12からデータ処理回路20に被写体
14のX線透過量に基いたデータ信号が加えられるので
、データ処理回路20は前記■、■式に基いてこれを処
理することにより被写体14の大きさくrJt部の半径
寸法d、)を算出する。次に算出された大きさd、に基
いたデータ信号は計算回路21に加えられる。計算回路
21は加えられたデータ値に基いて、検出系を所望位置
にシフトさせるためのシフト量Xを計算する。
れた被写体14のプリスキャンを行なうと、X線管11
から34°のスキャン角度で照射されたX線はその大部
分が被写体14を透過した後検出器12に入射する。こ
れによって検出器12からデータ処理回路20に被写体
14のX線透過量に基いたデータ信号が加えられるので
、データ処理回路20は前記■、■式に基いてこれを処
理することにより被写体14の大きさくrJt部の半径
寸法d、)を算出する。次に算出された大きさd、に基
いたデータ信号は計算回路21に加えられる。計算回路
21は加えられたデータ値に基いて、検出系を所望位置
にシフトさせるためのシフト量Xを計算する。
第1図の被写体14の場合’d、<d2の関係から、検
出器12の前記d3に相当したチャンネルをカバーする
ために、検出系は第1図中下方向にシフトされることに
なる。
出器12の前記d3に相当したチャンネルをカバーする
ために、検出系は第1図中下方向にシフトされることに
なる。
第2図はそのシフトlxを求めるための説明図で、X線
管11および検出器12から成る検出系は第1図の位置
から次式で示される量シフトされる。
管11および検出器12から成る検出系は第1図の位置
から次式で示される量シフトされる。
−=sin 1 7゜
0O−x
d。
この0式は前記■、■式に基いて求まる。いま前記d3
が20チヤンネルに相当しているとすると、0式は次の
ようになる。
が20チヤンネルに相当しているとすると、0式は次の
ようになる。
また、0式は次のようになる。
#600Xsin 15.7°#162(mu)従って
、0式は次のようになる。
、0式は次のようになる。
すなわち、前記計算回路21は前記0式に基いて以上の
一連の計算動作を行って、前記シフト駆動機構19に検
出系を第1図の位置から約46(−i)下方向に移動さ
せるような制御信号を加える。これによりシフト駆動機
構19は検出系を約46(1m)下方向にシフトさせる
動作を行なう。
一連の計算動作を行って、前記シフト駆動機構19に検
出系を第1図の位置から約46(−i)下方向に移動さ
せるような制御信号を加える。これによりシフト駆動機
構19は検出系を約46(1m)下方向にシフトさせる
動作を行なう。
この結果、被写体14はこの被写体14を透過したX線
がそのまま検出器12の全体(全チャンネル)をカバー
するように入射する最適撮影位置に配置されることにな
る。
がそのまま検出器12の全体(全チャンネル)をカバー
するように入射する最適撮影位置に配置されることにな
る。
次にこの位置でスキャンを行なうことにより検出器12
は全チャンネルにわたって被写体14のx′1IIA透
過量を検出することができる。従って検出効率を向上さ
せることができるので、理想的な画像を作成することが
できる。
は全チャンネルにわたって被写体14のx′1IIA透
過量を検出することができる。従って検出効率を向上さ
せることができるので、理想的な画像を作成することが
できる。
第1図において被写体14の大きさd、とデータ収集領
域16の大きさd2とが一致している場合には、前記0
式は、 となるので、検出系をシフトさせる必要はなくなる。
域16の大きさd2とが一致している場合には、前記0
式は、 となるので、検出系をシフトさせる必要はなくなる。
また、第1図と逆に第3図のようにdl〉d2の関係と
なる標準撮影位置13に被写体が配置された場合には、
第4図のようにしてそのシフト量Xを求めることができ
る。
なる標準撮影位置13に被写体が配置された場合には、
第4図のようにしてそのシフト量Xを求めることができ
る。
この場合、前記■〜■式に対応する各式■′〜■′は次
のようになる。
のようになる。
d+ =600xsin at
・・・■′
d。
(但し、d4は被写体14のはみ出した部分の大きさ)
すなわち、この場合には被写体14のスキャン角度θか
らはみ出した部分の大きさd4をOとなすように検出系
を第3図の位置から上方向にシフトさせることにより、
被写体14を最適撮影位置18に配置することができる
。従ってこの位置で前述のようにスキャンを行えばよい
。
らはみ出した部分の大きさd4をOとなすように検出系
を第3図の位置から上方向にシフトさせることにより、
被写体14を最適撮影位置18に配置することができる
。従ってこの位置で前述のようにスキャンを行えばよい
。
実施例中で示した各要素の定数は一例を示したものであ
り、被写体の対象などにより任意に変更することができ
る。
り、被写体の対象などにより任意に変更することができ
る。
以上説明したように本発明によれば、標準撮影位置にお
いて被写体のプリスキャンを行なうことにより被写体の
大きさを算出し、次にこの大きさに応じて被写体を最適
撮影位置に配置してスキャンを行なうようにしたので、
被写体の大きさにかかわらず常に理想的な画像を作成す
ることができる。
いて被写体のプリスキャンを行なうことにより被写体の
大きさを算出し、次にこの大きさに応じて被写体を最適
撮影位置に配置してスキャンを行なうようにしたので、
被写体の大きさにかかわらず常に理想的な画像を作成す
ることができる。
第1図および第2図は本発明の一実施例によるX線CT
装置の検出系を示す配置図、第3図および第4図は本発
明の他の実施例による検出系を示す配置図、第5図およ
び第6図は従来例を示す配置図である。 11・・・X線管、12・・・検出器、13・・・基準
撮影位置、14・・・被写体、18・・・最適撮影位置
、19・・・シフト駆動機構、。 20・・・データ処理回路、21・・・計算回路。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 大胡典夫
装置の検出系を示す配置図、第3図および第4図は本発
明の他の実施例による検出系を示す配置図、第5図およ
び第6図は従来例を示す配置図である。 11・・・X線管、12・・・検出器、13・・・基準
撮影位置、14・・・被写体、18・・・最適撮影位置
、19・・・シフト駆動機構、。 20・・・データ処理回路、21・・・計算回路。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 大胡典夫
Claims (2)
- (1)X線管とX線検出器とを対向配置したX線走査機
構内に被写体を配置し、X線走査機構をX線管及びX線
検出器が一体的に移動するように前記被写体の周囲を回
転させることにより得られる被写体透過X線データを基
に断層像を再構成するX線CT装置において、前記X線
走査機構を被写体の位置に対して任意にシフト可能なシ
フト駆動機構と、予め設定された標準撮影位置に被写体
を配置してプリスキャンを行って得られる被写体の大き
さに関するデータを処理するデータ処理手段と、データ
処理手段からの出力に基づいて被写体の最適撮影位置に
対応するシフト駆動機構のシフト量を算出し、この算出
結果を前記シフト駆動機構に与える演算手段とを備えた
ことを特徴とするX線CT装置。 - (2)前記最適撮影位置は被写体を透過したX線がその
まま検出器の全体をカバーするように入射する位置であ
る特許請求の範囲第1項記載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61059515A JPS62217940A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61059515A JPS62217940A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62217940A true JPS62217940A (ja) | 1987-09-25 |
Family
ID=13115472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61059515A Pending JPS62217940A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62217940A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10211199A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-11 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
-
1986
- 1986-03-19 JP JP61059515A patent/JPS62217940A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10211199A (ja) * | 1997-01-31 | 1998-08-11 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
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