JPS6221732A - 不均質構造を有するエナメル処理物 - Google Patents
不均質構造を有するエナメル処理物Info
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- JPS6221732A JPS6221732A JP61165697A JP16569786A JPS6221732A JP S6221732 A JPS6221732 A JP S6221732A JP 61165697 A JP61165697 A JP 61165697A JP 16569786 A JP16569786 A JP 16569786A JP S6221732 A JPS6221732 A JP S6221732A
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- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
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- C03C8/02—Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05K1/00—Printed circuits
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- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/05—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
- H05K1/053—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate the metal substrate being covered by an inorganic insulating layer
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[本発明の技術的背景1
本発明は少なくとも二種の異なった相を有する不均質な
構造をもったエナメル処理物(enamellings
)に関する。これらのエナメル処理物は機械的及び熱的
安定性が高いこと、熱膨張係数が小さいこと、絶縁抵抗
が大きく、優れた電気的性質を有する。直において格別
のものである。
構造をもったエナメル処理物(enamellings
)に関する。これらのエナメル処理物は機械的及び熱的
安定性が高いこと、熱膨張係数が小さいこと、絶縁抵抗
が大きく、優れた電気的性質を有する。直において格別
のものである。
このようなエナメルで被覆された金属コア(set−a
l cores)はプリント回路基板及1電子回路の
組み立て物用の基材としての用途に特に好適である。
l cores)はプリント回路基板及1電子回路の
組み立て物用の基材としての用途に特に好適である。
エナメル層は金属性の回路構造物を装着することができ
る絶縁材として作用する。n動回路素子(IC”)及び
受動回路素子を取り付けることにより、このようなプリ
ント回路基板は電子部品群の構成に使用することができ
る。
る絶縁材として作用する。n動回路素子(IC”)及び
受動回路素子を取り付けることにより、このようなプリ
ント回路基板は電子部品群の構成に使用することができ
る。
長年の間電子回路関係の専門家には、電子回路板がフェ
ノール樹脂含浸紙及びエポキシガラス並びにAl2O3
のような基材から構成できることは周知であった。上記
の各基材は電子回路板用基材として用いるにはそれぞれ
固有の欠点を持っている。
ノール樹脂含浸紙及びエポキシガラス並びにAl2O3
のような基材から構成できることは周知であった。上記
の各基材は電子回路板用基材として用いるにはそれぞれ
固有の欠点を持っている。
例えば通常の合成樹脂回路基板は、新しい半導体部品と
しての多くの用途から生ずる物理的及び電気的!求をも
はや満足しない。とりわけ或種の電子部品の高い漂遊電
力(stray power)のために、熱の除去用
として補助的な構造物が必要となっている。
しての多くの用途から生ずる物理的及び電気的!求をも
はや満足しない。とりわけ或種の電子部品の高い漂遊電
力(stray power)のために、熱の除去用
として補助的な構造物が必要となっている。
ハイブリッド技術に使用されているA1□0.基材は、
この点で物理的及び電気的性質に改善がみられる。しか
しA I、0 、セラミックスの適用でさる範囲は、そ
の脆弱性のために10X10c+a以下の寸法の基材に
限られている。
この点で物理的及び電気的性質に改善がみられる。しか
しA I、0 、セラミックスの適用でさる範囲は、そ
の脆弱性のために10X10c+a以下の寸法の基材に
限られている。
これら技術に関する上述の困難を克服する見地から、エ
ナメルで被8[された金属基材がプリント回路板用の基
板として最近用いC)れるようになっ゛た。これにより
有利な物理的及び電気的性質が優れた機械的安定性と合
致し得ることが見出された。
ナメルで被8[された金属基材がプリント回路板用の基
板として最近用いC)れるようになっ゛た。これにより
有利な物理的及び電気的性質が優れた機械的安定性と合
致し得ることが見出された。
エナメルは他の総てのガラス質と同じく温度に依存する
広範囲の軟化領域を有している。その結果従来のエナメ
ル引き技術では、エナメル層の焼成に際してはエナメル
粒子を相互に融Mさせるために充分に粘度を下げなけれ
ばならないが、満足できる硬度又は強度はかなり低温度
まで冷却することによってのみを得ることが可能である
。焼成温度と最高使用温度との差は通常300ないし4
00℃である。
広範囲の軟化領域を有している。その結果従来のエナメ
ル引き技術では、エナメル層の焼成に際してはエナメル
粒子を相互に融Mさせるために充分に粘度を下げなけれ
ばならないが、満足できる硬度又は強度はかなり低温度
まで冷却することによってのみを得ることが可能である
。焼成温度と最高使用温度との差は通常300ないし4
00℃である。
従ってエナメル引きされた鋼基村上にプリント回路を製
作するために、例えばスクリーン印刷技術を用いる、エ
ナメル層を850℃の温度で焼成するならば、そのとき
は導電配線部(co’nductivetracks)
を550°Cを超えない温度で焼き付けなければならな
い。
作するために、例えばスクリーン印刷技術を用いる、エ
ナメル層を850℃の温度で焼成するならば、そのとき
は導電配線部(co’nductivetracks)
を550°Cを超えない温度で焼き付けなければならな
い。
特殊な型のエナメルの開発は可能であるが、これらでさ
え約620ないし650℃より高い温度では軟化するの
でこのような最高温度で用いるに適したスクリーン印刷
用ペーストを開発する必要がある。セラミック基材に通
常使用されるペーストを用いることが望ましいものと思
われるであろう。しかし軟化範囲を単により高温度に移
動させただけでは、900℃及びそれ以上の温度で鋼中
にWIt′iL変化が起こり、これらの変化は必然的に
基材に残留するある種の永久変形をもたらし、その結果
基材はもはや必要な平坦状態を保持できなくなると言う
事態に透過する。
え約620ないし650℃より高い温度では軟化するの
でこのような最高温度で用いるに適したスクリーン印刷
用ペーストを開発する必要がある。セラミック基材に通
常使用されるペーストを用いることが望ましいものと思
われるであろう。しかし軟化範囲を単により高温度に移
動させただけでは、900℃及びそれ以上の温度で鋼中
にWIt′iL変化が起こり、これらの変化は必然的に
基材に残留するある種の永久変形をもたらし、その結果
基材はもはや必要な平坦状態を保持できなくなると言う
事態に透過する。
[本発明の要約1
もしエナメル処理物がガラス和から形成された少なくと
も二種の異なった相から成る構造を有するならば、エナ
メル層の焼成と導電配線部(eondualive
tracks)の焼き付けとの温度差を減少させること
かで軽、平滑かつ緊密な、即ち空隙の無いエナメル層を
900℃以下の温度で生成させることができ、金属層は
このエナメル層に850℃で焼き付けることができると
いう意外な事実が本発明者により見出だされた。
も二種の異なった相から成る構造を有するならば、エナ
メル層の焼成と導電配線部(eondualive
tracks)の焼き付けとの温度差を減少させること
かで軽、平滑かつ緊密な、即ち空隙の無いエナメル層を
900℃以下の温度で生成させることができ、金属層は
このエナメル層に850℃で焼き付けることができると
いう意外な事実が本発明者により見出だされた。
[詳細な説明1
本発明は水性懸濁液から均質なアルカリ含有工ナメルを
電気泳動的に析出、させ、800ないし1000℃の範
囲で熱処理することによって得られるガラス和から成る
少なくとも二種の異なった相の不均質構造を有するfr
規エナメル処理物に関する。
電気泳動的に析出、させ、800ないし1000℃の範
囲で熱処理することによって得られるガラス和から成る
少なくとも二種の異なった相の不均質構造を有するfr
規エナメル処理物に関する。
エナメルの組成は本発明に従うこれらのエナメル処理物
の特殊な性質を定める上で決定的に重要であると思われ
る。このエナメルについて認められる有利な性状は、熔
融してエナメル7リツトにした後、均質なプラス状とし
て存在する下記のような酸化物組成により得られる: 5in2 40 50%(重量%)A1□03
8−15% N n20 0−15% に、0 4−14% CaO9−−32% BaO0−20% B2O30−10% N n20 + K 20 4−16%CaO+Ba
O25−35% ″随伴酸化物”としてMgOlMo5s及1/ T i
O2は最高3%まで存在することができる。
の特殊な性質を定める上で決定的に重要であると思われ
る。このエナメルについて認められる有利な性状は、熔
融してエナメル7リツトにした後、均質なプラス状とし
て存在する下記のような酸化物組成により得られる: 5in2 40 50%(重量%)A1□03
8−15% N n20 0−15% に、0 4−14% CaO9−−32% BaO0−20% B2O30−10% N n20 + K 20 4−16%CaO+Ba
O25−35% ″随伴酸化物”としてMgOlMo5s及1/ T i
O2は最高3%まで存在することができる。
下記の組成を有するエナメル7リツトが特に好適である
: S i O240−45%(重量%) Al2O210−14% Na2O0−3% に20 5−12% CaO+[3a0 26−30% n2o、 o−s%。
: S i O240−45%(重量%) Al2O210−14% Na2O0−3% に20 5−12% CaO+[3a0 26−30% n2o、 o−s%。
エナメル粉末は粉末の#電aFt法によっても、又はエ
ナメル粉末を含むペーストによりでも同様に良好に適用
することができるが、エナメル処理は一般に電気泳動的
に行われる。
ナメル粉末を含むペーストによりでも同様に良好に適用
することができるが、エナメル処理は一般に電気泳動的
に行われる。
無機性酸化物の表面保護層の電気泳動的塗装法はドイツ
特許第1,621,406.5号に開示されている。プ
リント回路板用の基板としてのエナメル引きされた鋼基
材製造の際に要求される均質性、及び有孔壁の被覆に関
して、高品質の施什を得るためにはW15A!!*動的
方法が゛最適である。
特許第1,621,406.5号に開示されている。プ
リント回路板用の基板としてのエナメル引きされた鋼基
材製造の際に要求される均質性、及び有孔壁の被覆に関
して、高品質の施什を得るためにはW15A!!*動的
方法が゛最適である。
本発明に従うエナメル処理物は上記特許の方法の品質上
の利点を充分に活用で外るものである。
の利点を充分に活用で外るものである。
本方法の火規俣な工業的利用は、近年エナメル処理工業
において高品質被覆法の発展をもたらし、実際の応用面
でその価値を証明した。この方法の実行を可能とした必
須の特徴のひとつは水性懸濁液からのエナメルの析出で
ある。有機溶媒を用いるエナメル懸濁液からの電気泳動
的塗装も実験室段階では既知であるが、その実際的利用
は者しく困難である。
において高品質被覆法の発展をもたらし、実際の応用面
でその価値を証明した。この方法の実行を可能とした必
須の特徴のひとつは水性懸濁液からのエナメルの析出で
ある。有機溶媒を用いるエナメル懸濁液からの電気泳動
的塗装も実験室段階では既知であるが、その実際的利用
は者しく困難である。
これに類した系統の方法は米国特許fjS4,355.
155号及び米国特許第4.358.541号に従い、
回路板製造用の鋼基材上へのエナメル層の91造に使用
されている。しかしこれらの工程で使用されるエナメル
類は上記特許の方法によって析出できるものに限られ、
分散媒として水を用いた懸濁液からでは、電気泳動的に
析出する層は得られない。
155号及び米国特許第4.358.541号に従い、
回路板製造用の鋼基材上へのエナメル層の91造に使用
されている。しかしこれらの工程で使用されるエナメル
類は上記特許の方法によって析出できるものに限られ、
分散媒として水を用いた懸濁液からでは、電気泳動的に
析出する層は得られない。
本発明に従うエナメル処理は、水性懸濁液から電気泳動
的に析出可能であるというドイツ特許第1.621.4
06号に従う方法上の卓越した特質を有し、アルカリ分
を含有するにも拘わらず優れた電気的諸性質を確保でき
るという長所を有している。
的に析出可能であるというドイツ特許第1.621.4
06号に従う方法上の卓越した特質を有し、アルカリ分
を含有するにも拘わらず優れた電気的諸性質を確保でき
るという長所を有している。
鋼基材に適用し約80−100℃で層を乾燥した後、エ
ナメルを加熱処理、即ち焼成工程にかける。この加熱処
理には900℃以下、好適には850−900″Cの温
度が用いられる。本発明に従うm酸物は焼成処理の始め
においてガラス構造が充分に流動性となり、エナメル粒
子が相互に融着し、緊密な空隙の無い層を確実に形成す
ることができる。驚くべきことには、焼成により結晶相
が発達し、残っているガラスマトリックス相と共に、温
度に依存する軟化範囲の高温化を招き、焼成処理後層が
何等変化すること無く高温度に耐えられる程度にまでな
り得ることが見出だされた。従って続いて取り付けられ
るプリント回路は、例えば850℃において熱処理する
ことができる。
ナメルを加熱処理、即ち焼成工程にかける。この加熱処
理には900℃以下、好適には850−900″Cの温
度が用いられる。本発明に従うm酸物は焼成処理の始め
においてガラス構造が充分に流動性となり、エナメル粒
子が相互に融着し、緊密な空隙の無い層を確実に形成す
ることができる。驚くべきことには、焼成により結晶相
が発達し、残っているガラスマトリックス相と共に、温
度に依存する軟化範囲の高温化を招き、焼成処理後層が
何等変化すること無く高温度に耐えられる程度にまでな
り得ることが見出だされた。従って続いて取り付けられ
るプリント回路は、例えば850℃において熱処理する
ことができる。
エナメルの特殊な組成及び適切な焼成工程によって、均
質なエナメル粒子から不均質な、多相型のエナメル層が
形成される。
質なエナメル粒子から不均質な、多相型のエナメル層が
形成される。
本発明に従うエナメル貿で被覆した鋼基材は広l@囲の
用途に使用できる。
用途に使用できる。
上記のエレクトロニクス関連の用途以外に、本発明の生
成物は、構造上の理由から又は使用材料の関係で、焼き
付は温度を900℃以上に上げられない他の高い温度条
件が要求される用途に対しても使用することが出来よう
。
成物は、構造上の理由から又は使用材料の関係で、焼き
付は温度を900℃以上に上げられない他の高い温度条
件が要求される用途に対しても使用することが出来よう
。
更に本発明を下記実施例に基ずいてより詳細に説明する
が、本発明はこれにより限定されるものではない。
が、本発明はこれにより限定されるものではない。
実施例 1
下記の酸化物組成(1)を有するエナメルにクレー、ベ
ントナイト等のような浮遊剤を加えてボールミル中で微
粉砕し、水性患濁液を調製する。微粉砕の細かさは、バ
イエル(Bayer)社の測定装置によれば、16,9
00メツシュ/C−のスクリーン上での残渣量として3
単位である。
ントナイト等のような浮遊剤を加えてボールミル中で微
粉砕し、水性患濁液を調製する。微粉砕の細かさは、バ
イエル(Bayer)社の測定装置によれば、16,9
00メツシュ/C−のスクリーン上での残渣量として3
単位である。
この懸濁液を電気泳動的に処理するが、その際焼成後!
!Lさ約140μ論の充分な層厚を得るために、外部l
dl源から100■の電圧をかけるとエナメル粒子は1
7秒以内に陽極上に析出する。単に浸漬の結果として表
面に緩く付着したエナメル粒子を、水で満たした洗浄用
水盤中で洗い落とし、目的物上に残った電気泳動的に析
出した屑を乾燥し、890℃で30分間焼成する。
!Lさ約140μ論の充分な層厚を得るために、外部l
dl源から100■の電圧をかけるとエナメル粒子は1
7秒以内に陽極上に析出する。単に浸漬の結果として表
面に緩く付着したエナメル粒子を、水で満たした洗浄用
水盤中で洗い落とし、目的物上に残った電気泳動的に析
出した屑を乾燥し、890℃で30分間焼成する。
この焼成の過程で、層は熔融し、緊密な、空隙の無い表
面を形成する。層が熔融すると同時に、結晶相がガラス
から分離し、焼成処理工程中の系全体に占める割合が高
くなり、この方法によって!ll造されたエナメル引き
された金属基材は、繰り返し900℃までの温度にJl
露されてもエナメル層に何の損傷も受けないようになる
。
面を形成する。層が熔融すると同時に、結晶相がガラス
から分離し、焼成処理工程中の系全体に占める割合が高
くなり、この方法によって!ll造されたエナメル引き
された金属基材は、繰り返し900℃までの温度にJl
露されてもエナメル層に何の損傷も受けないようになる
。
上記のようにして9I造された基材に市販のAg/Pd
ペーストをプリントする。ペースト焼き付けの最高温度
は850℃であり、焼き付は経過時間は10分間である
。この方法によって得られた導電配線g(conduc
tive tracks)は優れた接着性、はんだ付
は特性及1接合性を有している。
ペーストをプリントする。ペースト焼き付けの最高温度
は850℃であり、焼き付は経過時間は10分間である
。この方法によって得られた導電配線g(conduc
tive tracks)は優れた接着性、はんだ付
は特性及1接合性を有している。
(1) 5ift 44.8Aha、
13.0 Na20 3.8 に20 12.0 CaO10,5 Ba0 15.9 実施例 2 下記の組成(2)のエナメルを電気泳動的に析出させ、
実施例1記載の方法と同様に洗浄しかつ乾燥する。最高
温度を890℃とし20分かけて通過する方式の連続加
熱炉を通す場合とw1似した温度曲線に従って、回分式
に炉中で焼き付けを行う。
13.0 Na20 3.8 に20 12.0 CaO10,5 Ba0 15.9 実施例 2 下記の組成(2)のエナメルを電気泳動的に析出させ、
実施例1記載の方法と同様に洗浄しかつ乾燥する。最高
温度を890℃とし20分かけて通過する方式の連続加
熱炉を通す場合とw1似した温度曲線に従って、回分式
に炉中で焼き付けを行う。
この方法によってSl遺したエナメル引きされた鋼基材
上に、スクリーン印刷技術によって市販のAUペースト
を用いてスクリーン印刷し、次いで850℃で10分間
連続炉中で焼き付けする。
上に、スクリーン印刷技術によって市販のAUペースト
を用いてスクリーン印刷し、次いで850℃で10分間
連続炉中で焼き付けする。
次ぎに電気的接続用として、導電配線部(condu−
etive tracks)の末端にAu/Pdペー
ストのはんだ付は点を取り付けるための第二の印刷工程
を実施し、再度850℃で10分間焼き付けを行う。
etive tracks)の末端にAu/Pdペー
ストのはんだ付は点を取り付けるための第二の印刷工程
を実施し、再度850℃で10分間焼き付けを行う。
Au導電配線部(conductive track
s)はw、遺者の仕様書に表記された表面電気抵抗を示
し、Au/Pd接着、αは優れたはんだ付は性を持って
いる。
s)はw、遺者の仕様書に表記された表面電気抵抗を示
し、Au/Pd接着、αは優れたはんだ付は性を持って
いる。
(2) 5i02 40.2AIzOs
12. O K、0 5.2 CaO26,7 Mg0 2.2 B20. 9.a MOO32,9 TiO21,2 実施例 3 実施例1記載の方法に従い電気泳動的被覆用に組成(1
)を有するエナメルを製造する。
12. O K、0 5.2 CaO26,7 Mg0 2.2 B20. 9.a MOO32,9 TiO21,2 実施例 3 実施例1記載の方法に従い電気泳動的被覆用に組成(1
)を有するエナメルを製造する。
穿孔を有する鋼支持板を被覆用に用いる。これらの穿孔
は直径1.21で、表面に向がって直角に、即ち丸みを
付けずに開孔している。電気泳動的被覆処理(50V、
24秒)の後、表面に緩(付着しているエナメル粒子を
洗浄して除き、エナメル引きされた基材を890℃で3
0分間焼成する。
は直径1.21で、表面に向がって直角に、即ち丸みを
付けずに開孔している。電気泳動的被覆処理(50V、
24秒)の後、表面に緩(付着しているエナメル粒子を
洗浄して除き、エナメル引きされた基材を890℃で3
0分間焼成する。
基材の表面上及び穿孔内に得られた層の厚さは約170
μmであり、穿孔の開口部における絶縁抵抗はIKVよ
り大である。
μmであり、穿孔の開口部における絶縁抵抗はIKVよ
り大である。
導電構造物の作成及び穿孔の貫通接続部品の取り付けの
ために、上記基材の各面に市販のAg/Pdペーストを
用いて各面にプリント配線し、引き続いて連続式炉中で
850℃で10分子lI!焼成して焼き付けを行う。こ
うして製造された回路基板に線状の電子素子を取り付け
る。電子素子のはんだ付けは市販のPb/Snはんだを
用い、ウェーブ式はんだ付は機中で行なわれる。
ために、上記基材の各面に市販のAg/Pdペーストを
用いて各面にプリント配線し、引き続いて連続式炉中で
850℃で10分子lI!焼成して焼き付けを行う。こ
うして製造された回路基板に線状の電子素子を取り付け
る。電子素子のはんだ付けは市販のPb/Snはんだを
用い、ウェーブ式はんだ付は機中で行なわれる。
実施例 4
酸化物組成(2)を有するエナメルを0.15%のシリ
コーン油(Si H官能基)と共に40μ曽のメツシ
ュを有するスクリーン上で残渣が0.5ないし1%残る
程度に乾式微粉砕する。
コーン油(Si H官能基)と共に40μ曽のメツシ
ュを有するスクリーン上で残渣が0.5ないし1%残る
程度に乾式微粉砕する。
ついで松浦(pine oil)を基剤としたスクリ
ーン印刷油を、エナメル粉末の量に対し35%用いてべ
一人ト状に練る。この混合物をロールミル上で充分混和
し、均質なペーストを造る。
ーン印刷油を、エナメル粉末の量に対し35%用いてべ
一人ト状に練る。この混合物をロールミル上で充分混和
し、均質なペーストを造る。
このエナメルペーストを実施例1に記載された方法で製
造されたエナメル引きされた鋼基材の表面全体を被覆す
るために用いる。エナメルペーストを1111!11さ
幅200メツシュの特殊鋼のスクリーンを用いて、スク
リーン印刷技法により適用する。
造されたエナメル引きされた鋼基材の表面全体を被覆す
るために用いる。エナメルペーストを1111!11さ
幅200メツシュの特殊鋼のスクリーンを用いて、スク
リーン印刷技法により適用する。
エナメルベースFを200℃で1時間乾燥し、ついで最
高温度890°Cの連続加熱炉内で10分間焼成する。
高温度890°Cの連続加熱炉内で10分間焼成する。
この方“法により電気泳動的方法によっては容易には得
られない厚さく例えば500μ鎗)にエナメル層を積み
上げることが可能である。
られない厚さく例えば500μ鎗)にエナメル層を積み
上げることが可能である。
実施例 5
実施例1に記載されたような組成(1)を持つエナメル
を用いて製造したエナメル引きされた鋼基材に、市販の
Auペーストを使用したスクリーン印刷法により導電配
線部(conductive tracks)を取り
付け、890℃の連続式加熱炉内で 分間焼き付ける
。第二段階としてこれらの導電配線部(concluc
tive tracks)を、はんだ付け、αだけを
除外して実施例4に記載されたエナメルペーストを用い
印刷法により完全に被覆する。このエナメルペーストを
同一条件下で焼成した後、層の厚さは約50μ鐘となる
。第三段階として、エナメルペーストにより印刷法で被
覆された表面に対し、再度Auペーストを使用して導電
配線部(conductivetracks)を文差形
に取り付け、この交差状配線部を同じ(890℃で10
分間焼き付ける。
を用いて製造したエナメル引きされた鋼基材に、市販の
Auペーストを使用したスクリーン印刷法により導電配
線部(conductive tracks)を取り
付け、890℃の連続式加熱炉内で 分間焼き付ける
。第二段階としてこれらの導電配線部(concluc
tive tracks)を、はんだ付け、αだけを
除外して実施例4に記載されたエナメルペーストを用い
印刷法により完全に被覆する。このエナメルペーストを
同一条件下で焼成した後、層の厚さは約50μ鐘となる
。第三段階として、エナメルペーストにより印刷法で被
覆された表面に対し、再度Auペーストを使用して導電
配線部(conductivetracks)を文差形
に取り付け、この交差状配線部を同じ(890℃で10
分間焼き付ける。
これらの導電配#J部(conductive tr
acks)は相互に高い絶#を耐力を有し、エナメル上
の厚膜状ペーストは絶縁用ペーストとして使用できるこ
とを示した。
acks)は相互に高い絶#を耐力を有し、エナメル上
の厚膜状ペーストは絶縁用ペーストとして使用できるこ
とを示した。
実施例 6
酸化物組成(2)を有するエナメルを0.6%のシリコ
ーン油と共に乾式で粉砕し、目開き40μmのメツシュ
を持つスクリーン上の残渣が0.5ないし1%残る程度
まで微粉砕する。
ーン油と共に乾式で粉砕し、目開き40μmのメツシュ
を持つスクリーン上の残渣が0.5ないし1%残る程度
まで微粉砕する。
かくして得られた粉末を適当な粉体用の静電装置の流動
化容器に入れる。静電的に粉末に荷電を与えるスプレー
ガンを用い、鋼基材上に粉末を沈着させる。常法に従い
該粉末を890℃で30分間焼成する。
化容器に入れる。静電的に粉末に荷電を与えるスプレー
ガンを用い、鋼基材上に粉末を沈着させる。常法に従い
該粉末を890℃で30分間焼成する。
この方法で製造されたエナメル引きされた鋼基材は前記
(実施例1.2.3及び5)のような厚膜技術により回
路用構造物の製造に使用できる。
(実施例1.2.3及び5)のような厚膜技術により回
路用構造物の製造に使用できる。
実施例 7
電子技術分野では、しばしば三次元的形状をもつた回路
板の使用が望ましいことがある。二種の異なった金属物
体、即ちひとつは45°の角度に設定され、他は直角で
ある稜辺を持つ板がこの目的に使用される。Jil成(
1)を有するエナメルでエナメル処理を行ない、実施例
3に記載されたようにして焼成を行う、熔融の瞬間に起
こる結晶生成による結果として粘度が増大し、このエナ
メルは直交辺(IIIち曲率半径の小さい辺)を完全に
被覆することが可能である。
板の使用が望ましいことがある。二種の異なった金属物
体、即ちひとつは45°の角度に設定され、他は直角で
ある稜辺を持つ板がこの目的に使用される。Jil成(
1)を有するエナメルでエナメル処理を行ない、実施例
3に記載されたようにして焼成を行う、熔融の瞬間に起
こる結晶生成による結果として粘度が増大し、このエナ
メルは直交辺(IIIち曲率半径の小さい辺)を完全に
被覆することが可能である。
特許出願人 バイエル・アクチェンデゼルシャ7ト
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)下記のごとき組成: SiO_240−50重量% Al_2O_38−15重量% Na_2O+K_2O4−16重量% CaO+BaO25−35重量% MgO0−3重量% B_2O_30−10重量% を有しアルカリ分を含有する均質なエナメル粉末を基材
に適用し、ついで850ないし1000℃で焼成するこ
とにより得られる、少なくとも二種類の異なった相を含
有する不均質な構造を持ったエナメル層を有する基材。 2)該エナメル粉末を水性懸濁液から電気泳動的に基材
上に析出させることにより適用する特許請求の範囲1に
従うエナメル引きされた基材。 3)該エナメル粉末を粉末静電塗装法により基材に適用
する特許請求の範囲1に従うエナメル引きされた基材。 4)該エナメル粉末を該粉末を含むペーストの形態で基
材に適用する特許請求の範囲1に従うエナメル引きされ
た基材。 5)該基材がガラスまたはセラミック質である特許請求
の範囲4に従うエナメル引きされた基材。 6)該基材が金属基材である特許請求の範囲1に従うエ
ナメル引きされた基材。 7)該基材が電気プリント回路基板用の穿孔された金属
コアである特許請求の範囲1に従うエナメル引きされた
基材。 8)該基材が多層形電気回路用の導電構造物である特許
請求の範囲1に従うエナメル引きされた基材。 9)特許請求の範囲1に従うエナメル引きされた基材上
に厚膜法または薄膜法により取り付けられた受動電子素
子を含んで成る電子回路連結物(electronic
circuit combination)。 10)受動電子素子が該エナメル引きされた層にスクリ
ーン印刷法により適用された電気的導電路(condu
ctive paths)を含んでなる特許請求の範囲
9に従う電子回路連結物。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853525972 DE3525972A1 (de) | 1985-07-20 | 1985-07-20 | Emaillierungen mit heterogenem gefuege |
DE3525972.8 | 1985-07-20 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6221732A true JPS6221732A (ja) | 1987-01-30 |
Family
ID=6276285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61165697A Pending JPS6221732A (ja) | 1985-07-20 | 1986-07-16 | 不均質構造を有するエナメル処理物 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4734316A (ja) |
EP (1) | EP0209776B1 (ja) |
JP (1) | JPS6221732A (ja) |
DE (1) | DE3525972A1 (ja) |
ES (1) | ES2000357A6 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63181400A (ja) * | 1987-01-22 | 1988-07-26 | 松下電器産業株式会社 | セラミツク多層基板 |
WO1990000966A1 (en) * | 1988-07-19 | 1990-02-08 | Ferro Corporation | Thick film dielectric compositions |
US5071794A (en) * | 1989-08-04 | 1991-12-10 | Ferro Corporation | Porous dielectric compositions |
TWI311820B (en) * | 2005-06-07 | 2009-07-01 | Fujikura Ltd | Substrate for mounting light-emitting element, light-emitting element module, iluumination apparatus, display apparatus, and traffic signal device |
WO2007141827A1 (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Fujikura Ltd. | 発光素子実装用基板、光源、照明装置、表示装置、交通信号機、及び発光素子実装用基板の製造方法 |
CN102731148A (zh) * | 2012-06-14 | 2012-10-17 | 卡罗比亚釉料(昆山)有限公司 | 一种无铅高强玻璃釉 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3840394A (en) * | 1971-01-20 | 1974-10-08 | Scm Corp | Composition and process for glazing ceramic ware |
GB1459178A (en) * | 1972-11-21 | 1976-12-22 | Dostal K V | Glass and glass-ceramics and compositions therefor |
JPS573739A (en) * | 1980-06-11 | 1982-01-09 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Bioactive glass and glass ceramic |
US4358541A (en) * | 1981-11-23 | 1982-11-09 | Corning Glass Works | Glass-ceramic coatings for use on metal substrates |
DE3229838C2 (de) * | 1982-08-11 | 1986-09-18 | Degussa Ag, 6000 Frankfurt | Kristallausscheidungsglasuren |
SU1131844A1 (ru) * | 1983-08-17 | 1984-12-30 | Государственный Научно-Исследовательский Институт Строительной Керамики "Ниистройкерамика" | Глазурь |
-
1985
- 1985-07-20 DE DE19853525972 patent/DE3525972A1/de active Granted
-
1986
- 1986-07-05 EP EP86109210A patent/EP0209776B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-07-15 US US06/885,939 patent/US4734316A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-07-16 JP JP61165697A patent/JPS6221732A/ja active Pending
- 1986-07-18 ES ES8600391A patent/ES2000357A6/es not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4734316A (en) | 1988-03-29 |
ES2000357A6 (es) | 1988-02-16 |
EP0209776B1 (de) | 1990-01-24 |
EP0209776A2 (de) | 1987-01-28 |
DE3525972C2 (ja) | 1990-02-15 |
EP0209776A3 (en) | 1988-02-03 |
DE3525972A1 (de) | 1987-01-29 |
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