JPS6220845Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6220845Y2
JPS6220845Y2 JP1982139268U JP13926882U JPS6220845Y2 JP S6220845 Y2 JPS6220845 Y2 JP S6220845Y2 JP 1982139268 U JP1982139268 U JP 1982139268U JP 13926882 U JP13926882 U JP 13926882U JP S6220845 Y2 JPS6220845 Y2 JP S6220845Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photomask
patterns
holder
frame
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1982139268U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5944042U (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1982139268U priority Critical patent/JPS5944042U/en
Publication of JPS5944042U publication Critical patent/JPS5944042U/en
Application granted granted Critical
Publication of JPS6220845Y2 publication Critical patent/JPS6220845Y2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、フオトマスクやレチクル等のための
ホルダーに関する。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to a holder for a photomask, reticle, etc.

フオトマスクやレチクルは、集積回路や各種光
学部品等の精密パターンを有する物品を製造する
時に用いられるものであり、近年、コンピユータ
ーやロボツト等の精密電子工業の発展にともなつ
てますますその需要が増大しているものである。
精密パターンを有する物品は、その構造が多層構
造を呈するものが多く、この場合は各層ごとにフ
オトマスクなりレチクルが必要となり、ひとつの
精密部品を作動する際には、5〜20枚程度の互い
にパターンの異なるフオトマスクが必要になるこ
ともめずらしくない。
Photomasks and reticles are used to manufacture products with precision patterns such as integrated circuits and various optical components, and demand for them has increased in recent years with the development of precision electronic industries such as computers and robots. This is what we are doing.
Many products with precision patterns have a multi-layered structure, in which case a photomask or reticle is required for each layer, and when operating one precision part, approximately 5 to 20 sheets with patterns are mutually required. It is not uncommon for different photomasks to be required.

互いにパターンの異なる多数枚のフオトマスク
を一組必要とするといつても、この一組はひとつ
の精密部品を造るのに関係するのであるから、
各々のフオトマスクの有するパターンは、微視的
視野において、ある一定の位置関係を満足してい
なければならない。例えば、一組のフオトマスク
群のうちのあるマスクについて、そのパターンが
許容範囲を越えてシフトしていた場合、このフオ
トマスクは不良品となる。
Whenever a set of multiple photomasks with different patterns is required, this set is related to manufacturing one precision part.
The patterns of each photomask must satisfy a certain positional relationship in a microscopic field of view. For example, if the pattern of a certain mask in a group of photomasks is shifted beyond the allowable range, this photomask becomes a defective product.

したがつて、フオトマスク等のパターン同士の
位置関係を比較チエツクすることは重要なことと
なる。
Therefore, it is important to compare and check the positional relationship between patterns on a photomask or the like.

しかしまた一方において、近年の動きとしてガ
ラス、石英等の一枚の透明基板に多面付けと称し
て、同一パターンを多数形成することが一般化し
ており、この多面付けされたフオトマスクのパタ
ーンと、ひとつのパターンしか形成されていない
フオトマスクのパターンとを比較検討する場合、
困難な問題が生じた。
However, on the other hand, as a recent trend, it has become common to form many identical patterns on a single transparent substrate such as glass or quartz, which is called multi-sided printing. When comparing and considering the pattern of a photomask, which only has a pattern of
A difficult problem arose.

図面の第1図に基いて、この点を説明すると、
多面付けの比較用フオトマスク1をマスクホルダ
ー2の枠内に固定ネジ3により締めつけて取り付
けたものを比較マスクステージ4の上に載置して
なる。一方、パターンがひとつしか形成されてい
ない基準用フオトマスク5も、同様にマスクホル
ダー6内に固定され、比較マスクステージ4′の
上に載置される。批較マスクステージ4は、普通
はステージ7上に移動可能な状態で取り付けられ
ている。移動用つまみ8,8′はそのためのもの
であるが、比較マスクステージ4の移動可能な範
囲は、たかだか±5mm程度しかないのが普通であ
る。
To explain this point based on Figure 1 of the drawings,
A comparison photomask 1 with multiple sides attached is mounted within the frame of a mask holder 2 by tightening with fixing screws 3, and is placed on a comparison mask stage 4. On the other hand, the reference photomask 5 on which only one pattern is formed is similarly fixed in the mask holder 6 and placed on the comparative mask stage 4'. The comparison mask stage 4 is normally movably mounted on the stage 7. Although the moving knobs 8 and 8' are used for this purpose, the movable range of the comparison mask stage 4 is usually only about ±5 mm at most.

このような第1図の状態で、比較用フオトマス
ク1と基準用フオトマスク5のそれぞれのパター
ンを比較チエツクするには、各フオトマスク1,
5のそれぞれのパターンを顕微鏡視野において同
一光軸上に置かなければならないものである。
In the state shown in FIG. 1, in order to compare and check the patterns of the comparative photomask 1 and the reference photomask 5,
5 must be placed on the same optical axis in the field of view of the microscope.

しかしながら、図から明らかなように、基準フ
オトマスク5のパターン5aに光軸()を合わ
せると、当然のことながら、比較用フオトマスク
のパターン1a〜1dには光軸()は合致しな
い。先言したように、比較用マスクステージ4は
XY方向に±5mmしか移動できないのであるか
ら、パターンの大きさが例えば10mm角以上あると
か、多面付けの個数が多くなるような状態では、
左右のパターンを同一光軸上にもつてくることは
困難であると言える。
However, as is clear from the figure, when the optical axis () is aligned with the pattern 5a of the reference photomask 5, it goes without saying that the optical axis () does not align with the patterns 1a to 1d of the comparison photomask. As mentioned earlier, the comparison mask stage 4 is
Since it can only move ±5mm in the XY directions, if the pattern size is, for example, 10mm square or more, or if the number of multi-sided patterns is large,
It can be said that it is difficult to bring the left and right patterns on the same optical axis.

本考案は、以上のような問題を解決するのに好
適なフオトマスク、レチクル等のホルダーを案出
したものである。図面の第2図に示す実施例に基
いて詳細に説明すると、本考案のホルダーは、外
フレーム9、中フレーム10、内フレーム11の
三つを基本構成とするもので、中フレーム10は
横方向にスライドできる状態で外フレーム9に装
着され、内フレーム11は縦方向にスライドでき
る状態で中フレーム10に装着されている。この
ようにするには、第2図の実施例に示すように、
外フレーム9の内側に棚状の段差12,12′を
対向する位置に設け、この段差12,12′と丁
度係止できる逆段差13,13′を中フレーム1
0の外側に設けるという手段がある。中フレーム
10の内側に棚状の段差14,14′を設け、内
フレームに逆段差15,15′を、前記したと同
様の関係のもとに形成すると良い。スライド可能
な状態に各フレームを装着するには、以上のよう
な段差を用いる例に限られるものではなく、その
他にも様々の形態が可能であることは当然であ
る。
The present invention has devised a holder for photomasks, reticles, etc. suitable for solving the above-mentioned problems. To explain in detail based on the embodiment shown in FIG. 2 of the drawings, the holder of the present invention has three basic components: an outer frame 9, a middle frame 10, and an inner frame 11. The inner frame 11 is attached to the inner frame 10 so as to be slidable in the longitudinal direction. To do this, as shown in the embodiment of FIG.
Shelf-like steps 12, 12' are provided inside the outer frame 9 at opposing positions, and reverse steps 13, 13' that can be exactly engaged with the steps 12, 12' are provided on the inner frame 1.
There is a method of providing it outside of 0. It is preferable to provide shelf-like steps 14, 14' on the inside of the middle frame 10, and to form reverse steps 15, 15' on the inner frame in the same relationship as described above. It goes without saying that mounting each frame in a slidable manner is not limited to the example using steps as described above, and that various other forms are possible.

内フレーム11にはフオトマスクやレチクルを
取り付けるべく、内側に棚部16および押えバネ
17を設けてなる。棚部16に円筒状のボツチ1
8を形成し、この上にフオトマスクやレチクルを
載置するようにしても良い。
The inner frame 11 is provided with a shelf 16 and a presser spring 17 on the inside to attach a photomask or reticle. A cylindrical bottom 1 is placed on the shelf 16.
8 may be formed, and a photomask or reticle may be placed on this.

本考案のホルダーにおいて、外フレーム9に対
する中フレーム10のスライド方向は、横方向に
かぎるものではなく、もちろん内フレーム11を
それとは直交する縦方向にスライドさせることも
一実施例にすぎない。要は、中フレーム10のス
ライド方向とは異なる方向に内フレーム11がス
ライドできれば、その範囲において2次元的な移
動が可能であり、本考案のホルダーとしてさしつ
かえない。
In the holder of the present invention, the sliding direction of the middle frame 10 with respect to the outer frame 9 is not limited to the horizontal direction, and of course, sliding the inner frame 11 in the vertical direction perpendicular to the outer frame 9 is just one embodiment. In short, if the inner frame 11 can slide in a direction different from the sliding direction of the middle frame 10, two-dimensional movement is possible within that range, and the holder of the present invention can be used.

本考案のフオトマスク、レチクル等のホルダー
は以上のようなものであり、本考案によれば、第
1図に示すような事態であつても、基準フオトマ
スク5を本考案のホルダーにて保持すれば、その
パターン5aを多面付けされた比較用フオトマス
ク1のいずれのパターン1a〜1dの位置とも整
合するように移動できる。第1図に示される全て
の物品を載せているステージ7は、X、Y方向に
かなりの範囲で移動可能であるから、ステージ7
を光軸()(′)に対して移動させ、左右の光
軸()(′)の視野の中に、パターン5aとパ
ターン1a〜1dのいずれかひとつとをとらえる
ことは簡単に為しえるものである。
The holder for a photomask, reticle, etc. of the present invention is as described above, and according to the present invention, even in the situation shown in FIG. 1, if the reference photomask 5 is held with the holder of the present invention, , the pattern 5a can be moved so as to match the position of any of the patterns 1a to 1d of the multifaceted comparison photomask 1. Since the stage 7 on which all the articles shown in FIG. 1 are placed can move within a considerable range in the X and Y directions, the stage 7
It is easy to move the pattern 5a and any one of the patterns 1a to 1d in the field of view of the left and right optical axes ()(') by moving the pattern 5a with respect to the optical axis ()('). It is something.

本考案のフオトマスク、レチクル等のホルダー
はそのパターンの位置を二次元的に動かせるとこ
ろにその特長があると言えるのであり、上記した
ような利点のほかに、様々の用途に利することは
疑いない。
The feature of the holder for photomasks, reticles, etc. of this invention is that the position of the pattern can be moved two-dimensionally, and there is no doubt that it will be useful for various purposes in addition to the advantages mentioned above. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、左右のフオトマスクのパターンを比
較検査する際の様子を示す平面図であり、第2図
は本考案のホルダーの一実施例を示す斜視図であ
る。 9……外フレーム、10……中フレーム、11
……内フレーム、12,14……段差、13,1
5……逆段差、16……棚部、17……押えバ
ネ、18……円筒状のボツチ。
FIG. 1 is a plan view showing a comparative inspection of patterns on left and right photomasks, and FIG. 2 is a perspective view showing an embodiment of the holder of the present invention. 9... Outer frame, 10... Middle frame, 11
...Inner frame, 12,14...Step, 13,1
5... Reverse step, 16... Shelf, 17... Presser spring, 18... Cylindrical bottom.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 外フレームに、ある方向にスライド可能な状態
にある中フレームを装着し、該中フレームに、前
記のスライド方向とは異なる方向にスライド可能
な内フレームを装着してなり、該内フレームにフ
オトマスクあるいはレチクル等を取り付けられる
ことを特徴とするフオトマスク、レチクル等のホ
ルダー。
This holder for a photomask, a reticle, etc., is characterized in that an intermediate frame, which is slidable in a certain direction, is attached to an outer frame, and an inner frame, which is slidable in a direction different from the sliding direction, is attached to the intermediate frame, and a photomask, a reticle, etc. can be attached to the inner frame.
JP1982139268U 1982-09-14 1982-09-14 Holder for photomask, reticle, etc. Granted JPS5944042U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1982139268U JPS5944042U (en) 1982-09-14 1982-09-14 Holder for photomask, reticle, etc.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1982139268U JPS5944042U (en) 1982-09-14 1982-09-14 Holder for photomask, reticle, etc.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5944042U JPS5944042U (en) 1984-03-23
JPS6220845Y2 true JPS6220845Y2 (en) 1987-05-27

Family

ID=30312207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1982139268U Granted JPS5944042U (en) 1982-09-14 1982-09-14 Holder for photomask, reticle, etc.

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5944042U (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5944042U (en) 1984-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7065894B2 (en) Apparatus for kinematic registration of a reticle
US11126094B2 (en) Exposure apparatus, manufacturing method of flat-panel display, device manufacturing method, and exposure method
US6239863B1 (en) Removable cover for protecting a reticle, system including and method of using the same
JP2000505958A (en) Two-dimensional balance positioning device having two article holders and lithographic device having this positioning device
TWI729008B (en) Exposure apparatus, exposure method, manufacturing method of flat panel display, and device manufacturing method
TW201643556A (en) Exposure apparatus, manufacturing method of flat panel display, device manufacturing method, and exposure method
US20200096879A1 (en) Movable body apparatus, exposure apparatus, manufacturing method of flat-panel display and device manufacturing method, and movement method of object
JPS6220845Y2 (en)
TWI713576B (en) Mask holding device, exposure apparatus, manufacturing method of flat panel display, device manufacturing method, holding method of mask, and exposure method
JPS60109228A (en) Projection exposing device
CN114077162A (en) Photoetching system, substrate handover system and exposure method
TWI468875B (en) Exposure unit and substrate exposure method
JP3240982B2 (en) Multi-product substrate chuck mechanism
JPH0810667B2 (en) Three-dimensional imaging system and method
KR102318643B1 (en) A movable body apparatus, a moving method, an exposure apparatus, an exposure method, a manufacturing method of a flat panel display, and a device manufacturing method
CN100454146C (en) Exposure apparatus
US6630986B2 (en) Scanning type exposure apparatus and a device manufacturing method using the same
JPH0933207A (en) Measuring table made of glass
CN103019035B (en) There is the mask platform of mask handing-over defencive function, method and lithographic equipment
JPH04199810A (en) Resist exposing device
JP3259409B2 (en) Exposure equipment
TWI667182B (en) Mounting table and mounting method
JPH11274273A (en) Movement stage device
JPS5839015A (en) Manufacture of semiconductor device
JP2017054046A (en) Lithography device, pattern formation method, and manufacturing method of article