JPS62202289A - Inspection method for display pattern - Google Patents

Inspection method for display pattern

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JPS62202289A
JPS62202289A JP61022340A JP2234086A JPS62202289A JP S62202289 A JPS62202289 A JP S62202289A JP 61022340 A JP61022340 A JP 61022340A JP 2234086 A JP2234086 A JP 2234086A JP S62202289 A JPS62202289 A JP S62202289A
Authority
JP
Japan
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pattern
image
product
display
determined
Prior art date
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Pending
Application number
JP61022340A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshige Sakahara
坂原 広重
Satoshi Sakurai
聡 桜井
Yoriaki Shimizu
清水 順紀
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To inspect a correct display pattern without an individual difference by calculating a display pattern position concerning the molded goods of two colors, determining a binarization threshold and detecting automatically the presence and absence of the existence of foreign matters, by a TV image. CONSTITUTION:In case of a key top product formed to two colors, the product is photographed by an image pick-up tube and by the threshold set beforehand, a binary image is displayed on a CRT. Next, the display position of a display image is determined from the intersection of four chips 2 set on the CRT beforehand and an image 3. Next, concerning the product which is the trapezoid of the cross section of a key top and has a slope 4, the painting-out of the background part is executed. To plural characters, a frame 5 is fixed and concerning individual cut-out patterns, the comparing inspection with a standard pattern is executed. In such a case, the image thicker than the standard pattern by a prescribed bit and the thinner than it by the prescribed bit are made, overlapped with the individual inspected pattern and the adaptation is automatically detected. Next, the raw area except the frame 5 is divided into plural areas and the presence and absence of the foreign matters are detected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 テレビ画像により製品の表示パターンを検査するプロセ
スが、製品の映像位置の割り出し、二値化フィルタリン
グ、製品上に形成されているパターン位置の割り出し、
該パターンの検査と異物の有無の検査、前記パターン位
置以外の領域での異物の有無の検査を含んで構成される
検査方法。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] The process of inspecting the display pattern of a product using a television image includes determining the image position of the product, binarization filtering, determining the position of a pattern formed on the product,
An inspection method comprising inspecting the pattern, inspecting the presence or absence of foreign matter, and inspecting the presence or absence of foreign matter in an area other than the pattern position.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は文字、数字などの表示パターンの検査法に係り
、具体的には二色モールド成型品の検査方法に関する。
The present invention relates to a method for inspecting display patterns such as letters and numbers, and specifically relates to a method for inspecting two-color molded products.

現在、電子機器に使用されているダイアル、ツマミなど
の部品は樹脂モールドにより作られているが、機能識別
のために表面に文字2図形などの表示が行われている。
Currently, parts such as dials and knobs used in electronic devices are made of resin molds, and characters and figures are displayed on the surface to identify their functions.

ここで、従来はモールド成形の段階で表示部が予め窪ん
でパターン形成されている製品が作られており、この窪
み部に色を異にする樹脂を埋め込むことにより作られて
いた。
Here, conventionally, products have been manufactured in which the display portion is pre-concave and patterned at the molding stage, and the product is manufactured by filling the concave portions with resins of different colors.

然し、より生産性を向上する方法として二色モールド法
が開発され、一般的に使用されるようになった。
However, a two-color molding method was developed as a method to further improve productivity, and has come to be commonly used.

この方法は第1のプロセスで表示パターン部をモールド
し、第2のプロセスでこれを除く本体部をモールドする
ことにより表示パターンが浮き出たモールド製品が作ら
れる。
In this method, the display pattern part is molded in a first process, and the main body part except this part is molded in a second process, thereby producing a molded product in which the display pattern stands out.

本発明はかかる二色モールド成形品についての高精度な
品質検査法に関するものである。
The present invention relates to a highly accurate quality inspection method for such two-color molded products.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

二色成形品についての検査法は従来目視により行われて
いた。
The inspection method for two-color molded products has conventionally been carried out by visual inspection.

ここで目視検査は異種モールド物の混入とか製品の表示
パターン部以外の位置での異物の検出などは高精度で行
われるもの\、表示パターンを標準パターンと比較した
場合の太り、細りなど微妙な点になると判別が難しく個
人差があり、また個人でも日によって評価が異なってく
る。
The visual inspection is performed with high precision to detect contamination of different types of molded objects and foreign objects in positions other than the display pattern area of the product. When it comes to points, it is difficult to determine and there are individual differences, and even individuals' evaluations differ from day to day.

そこで個人の判定基準を標準パターンに合わせるように
訓練する以外に方法がなかった。
Therefore, the only option was to train individuals to match their judgment criteria to a standard pattern.

然し、キーボードに配列されているキード、プのように
表示が異なる文字、数字が多数配列しているものについ
ては使用者の側からみて相互の比較が容易であり、機器
の品質評価の対象となることから高精度の品質検査法が
要望されていた。
However, keyboards with many different letters and numbers, such as keys and keys, are easy to compare from the user's perspective, and are not subject to equipment quality evaluation. Therefore, a highly accurate quality inspection method was required.

C発明が解決しようとする問題点〕 以上記したように二色モールド成形品について目視検査
ではパターンの肉厚など微妙な点になると個人差ができ
高精度の検査ができないのでこれに代わる検査法が必要
である。
[Problems to be solved by invention C] As mentioned above, visual inspection of two-color molded products cannot be performed with high accuracy due to individual differences in delicate points such as the thickness of the pattern, so an alternative inspection method is needed. is necessary.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の問題は製品上に形成されている文字、数字などの
表示パターンをテレビ画像を用いて品質検査する方法と
して、表示パターンの濃度を複数の階調に分解してヒス
トグラムを作り、これより二値化に適した閾価を予め求
めておき、次々と順送されてくる各製品について、ブラ
ウン管の中央周辺部に予め設定した4個のレチクルマー
クと画像表示された製品画像の交点位置よりブラウン管
の原点より製品位置を割り出すプロセスと、台形の断面
形状をなして形成されている製品については傾斜部に当
たる該製品パターンを非検査領域として塗りつぷず二値
化フィルタリングプロセスと、製品上に形成されている
複数のバクーン位置をillり出した後、各パターンに
ついて該パターンより1ビットづつ大きさをずらせた大
小のマスターパターンとを重ね合わせ投影して該パター
ンの標準値からのずれと異物の有無を検査するプロセス
と、パターン形成位置外の領域について、複数個の領域
を設定し、各領域について異物の存在位置を検出するプ
ロセスと、を含んで構成されていることを特徴とする表
示パターン検査方法により解決することができる。
The above problem can be solved by using television images to inspect the quality of display patterns such as letters and numbers formed on products. A threshold value suitable for value conversion is determined in advance, and for each product that is sent one after another, it is determined by the intersection of four reticle marks set in advance around the center of the CRT and the displayed product image. For products formed with a trapezoidal cross-sectional shape, the process of determining the product position from the origin of After illuminating multiple Bakun positions, each pattern is overlaid with a large and small master pattern whose size is shifted by 1 bit from the previous pattern and projected, and the deviation from the standard value of the pattern and foreign objects are detected. A display pattern comprising: a process of inspecting the presence of foreign matter; and a process of setting a plurality of regions outside the pattern formation position and detecting the position of foreign matter in each region. This can be solved by testing methods.

〔作用〕[Effect]

本発明は二色モールド製品の検査を従来の目視検査によ
らず、ブラウン管を用いて表示パターンを標準パターン
と比較することにより自動的に行うものである。
The present invention automatically inspects two-color molded products by comparing the display pattern with a standard pattern using a cathode ray tube, instead of using conventional visual inspection.

この方法は、 ■階調画像から二値化するに必要な闇値の決定。This method is ■Determining the darkness value necessary for binarizing a gradation image.

■検査対象物の映像位置の割り出し。■Identification of the image position of the object to be inspected.

■検査対象位置内にはあるがノイズと判定されやすい位
置を除外する二値化フィルタリング処理。
■Binarization filtering process that excludes positions that are within the inspection target position but are likely to be determined as noise.

■検査対象位置内に複数個のパターンがある場合は個々
のパターンの切り出し。
■If there are multiple patterns within the inspection target position, cut out each pattern.

■標準のパターン太さに対する表示パターンの比較検査
■Comparative inspection of display pattern against standard pattern thickness.

■検査対象位置内にあり表示パターンを除く位置にある
異物の検出。
■Detection of foreign objects located within the inspection target position but excluding the displayed pattern.

からなる検査手順を踏んで行うことにより解決すること
ができる。
The problem can be solved by following the following testing procedure.

〔実施例〕〔Example〕

以下キーボードの打鍵(以下−船名キートソプを使用)
についての実施例について説明する。
Keyboard keys below (use ship name keysop)
An example will be described.

キートップは縦横の寸法が20111×20絹で縦断面
は台形をなし上面は13waX13龍程度にまで狭止っ
ており、上面は指先が触れやすいように凹んでおり、そ
の位置に平板名2片板名、数字、漢字などが二色モール
ドされている。
The key top has vertical and horizontal dimensions of 20111 x 20 silk, the vertical cross section is trapezoidal, and the upper surface is narrowed to about 13 wa x 13 dragon. Names, numbers, kanji, etc. are molded in two colors.

第1図と第2図は実施例の検査プロセスを示すもので、
左にはプロセス番号とプロセス名称を、また右には簡単
な説明図をあげた。
Figures 1 and 2 show the inspection process of the example.
The process number and process name are shown on the left, and a simple explanatory diagram is shown on the right.

先ず、プロセス1は撮像管を用いてブラウン管に画像表
示されたキートップの二色パターンでこの例の場合は図
(A)に示すように白地に黒のCの文字が二色モールド
されている。
First, process 1 is a two-color pattern of key tops that is displayed as an image on a cathode ray tube using an image pickup tube. In this example, as shown in Figure (A), a black letter C is molded in two colors on a white background. .

かかるキートップを多数製造し、これを順々に検査する
方法として、本実施例の場合、標準パターン幅の映像を
縦横各々512区画の画素に分割した後、この各画素を
64階調の色調に分別し、図(B)に示すようにヒスト
グラムを描く。
In this embodiment, as a method of manufacturing a large number of such key tops and inspecting them one after another, an image with a standard pattern width is divided into pixels of 512 sections vertically and horizontally, and then each pixel is divided into 64 tones of color. and draw a histogram as shown in Figure (B).

この例の場合は色調は濃淡の二つに別れており、中間位
置の破線が閾値1の暫定値となる。
In this example, the color tone is divided into two, dark and dark, and the dashed line at the middle position is the provisional value of the threshold value 1.

すなわち、闇値以下の薄い色調は白と見なし、閾値以上
は黒と見なす。
That is, a light tone below the darkness value is regarded as white, and a tone above the threshold value is regarded as black.

(以上プロセス2.閾値の暫定) 次にこの二値化闇値を用いてCの標準パターン(二値化
画像)を描き、これをプロセス1に示した投影画像(標
準画像)と重ね合わせて適合状況を評価する。
(This is Process 2. Temporary threshold value) Next, draw a standard pattern (binarized image) of C using this binarized darkness value, and superimpose this with the projection image (standard image) shown in Process 1. Evaluate compliance status.

そして二値化画像が痩せている場合は闇値を右にずらし
闇値の修正を行う。
If the binarized image is thin, the dark value is shifted to the right to correct the dark value.

このようにして同図(C)に示すように標準となる二値
化画像(マスターパターン)が決定される。
In this way, a standard binary image (master pattern) is determined as shown in FIG.

(以上プロセス3.二値化闇値の評価)これで準備作業
が終わり、個々のキートップの検査に移る。
(Process 3. Evaluation of binarized dark values) This completes the preparation work and moves on to inspecting each key top.

先ず、製造されたギートンプを撮像管で撮像し、先に決
めた閾値1により同図(D)に示すように二値画像をブ
ラウン管に表示する。
First, an image of the produced Gee-Tomp is taken with an image pickup tube, and a binary image is displayed on the cathode ray tube using the previously determined threshold value 1 as shown in FIG.

(以上プロセス4.二値画像人力) 次に表示画像の表示位置を決定する。(The above process 4. Binary image human power) Next, the display position of the display image is determined.

その方法は同図(E)に示すように予めブラウン管上に
プログラミイングされている四個の切片(レチクル)2
と画像3との交点から画像の絶対座礁が決定される。
As shown in the same figure (E), this method uses four sections (reticles) 2 that are programmed in advance on the CRT.
The absolute stranding of the image is determined from the intersection of and image 3.

なお、本実施例の場合、座標の原点はブラウン管の左上
隅と決められている。
In the case of this embodiment, the origin of the coordinates is determined to be the upper left corner of the cathode ray tube.

これにより二値画像のアドレスがきまる。This determines the address of the binary image.

(以上プロセス5.検出対象位置の割り出し)次に同図
(F)に平面図を示すキートップのように断面が台形で
、周囲に斜面4をもつ試験物については、この斜面4は
白地なのに拘らずブラウン管上では黒く見える。
(That's all for Process 5. Determining the detection target position) Next, for a test object that has a trapezoidal cross section and a slope 4 around it, like the key top whose plan view is shown in Figure (F), even though the slope 4 is white, Regardless, it looks black on a cathode ray tube.

そこで、この部分を異物として見ないように背景部の塗
り潰しを行う。
Therefore, the background portion is filled in so that this portion is not seen as a foreign object.

(以上プロセス6、二値化フィルタリンク)今まで話を
単純化するためにキートップ上には英文字Cのみかある
場合について記したが実際には複数の文字、記号などが
二色モールドされている場合が多い。
(Link to process 6, binarization filter) Up until now, to simplify the discussion, I have described the case where there is only the alphabetic letter C on the key top, but in reality, multiple letters, symbols, etc. are molded in two colors. In many cases.

そこで以後キー1−ツブの上面にキャンセルの5文字が
モールド成形されている場合について説明する。
Therefore, a case will be described below in which the five characters "Cancel" are molded on the top surface of the key 1 knob.

−・文字の場合はこの中の一文字の検査法と同じである
In the case of -/characters, the inspection method for one of these characters is the same.

先ず、同図(G)に示すようにX軸方向とX軸方向に投
影する投影法を用い、色調の濃淡からプロセス2に準じ
てヒストグラムを描くことにより5個の文字があること
が確認され破線で示すような文字の枠くみ5を決定する
First, as shown in the same figure (G), using a projection method that projects in the X-axis direction and the A character frame 5 as shown by the broken line is determined.

(プロセス7、パターン切り出シ) 次に切り出した個々のパターンについて先にプロセス2
で決めた標準パターンとの比較検査を行う。
(Process 7, pattern cutting) Next, process 2 for each cut out pattern first.
Perform a comparative inspection with the standard pattern determined in .

この方法はマスターパターンよりNピットつづ太った画
像とNヒントづつ痩せた画像を゛っくり、これを個々の
パターンと重ね合わせる。
This method takes an image that is thicker by N pits and an image that is thinner by N hints than the master pattern, and superimposes these on the individual patterns.

ここで本実施例の場合、1ヒツトば1画素に4’ll当
し25μm角である。
Here, in the case of this embodiment, one hit is 4'll per pixel, which is 25 μm square.

この場合、個々の二色モール1:パターンか正しく成形
されている場合、検査パターンの縁部はNビットつつず
れたマスターパターンの中に入る筈であり、両者の適合
度から非マツチング度(ヒツト数)が自動計数される。
In this case, if the individual two-color molding 1: pattern is molded correctly, the edge of the test pattern should fall into the master pattern shifted by N bits, and the degree of non-matching (hit number) is automatically counted.

 またパターン外に異物が存在する場合も同様に自動計
数される。
Furthermore, if foreign matter is present outside the pattern, it is automatically counted in the same way.

このようにして先に切り出した5個の枠ぐめについて非
マツチング度の検査を行う。
The degree of non-matching is inspected for the five frames cut out in this way.

(以上プロセス81個別パターンの検査)次にパターン
以外の位置における異物の検査法としてプロセス7に示
した文字の砕くの5以外の白地の部分をX軸とY軸に平
行な複数の領域に分割する。
(This is Process 81 Inspection of individual patterns) Next, as a method of inspecting foreign objects at positions other than patterns, the white part of the character other than 5 shown in Process 7 is divided into multiple areas parallel to the X and Y axes. do.

この例の場合は7個の異物検出範囲が決められる。In this example, seven foreign object detection ranges are determined.

(以上プロセス9.異物検出範囲の設定)次に各検出範
囲について調べ異物が存在する場合はこの位置が自動検
出される。
(Process 9. Setting foreign object detection range) Next, each detection range is checked and if a foreign object is present, this position is automatically detected.

(以上プロセス1(11E駒位置検出)然し、測定に当
たってノイズを異物として計測することが多い。
(Process 1 (11E piece position detection) above) However, during measurement, noise is often measured as a foreign object.

そこで、本実施例の場合は実験の結果がら同図(Jul
こ示ずように異物の大きさが9ヒソ)・(画素)以上の
場合は異物とし、8ビット以下の場合はノイズと見なし
て無視した。
Therefore, in the case of this example, the experimental results are shown in the same figure (Jul.
As shown, if the size of the foreign object was 9 bits or more, it was considered to be a foreign object, and if it was 8 bits or less, it was considered to be noise and ignored.

(以上プロセス]1.異物の確認検査)このように自動
的に検査を行うことにより二色モールド製品のように肉
厚の大小のように判定の難しいものについても正確な検
査ができるようになった。
(Processes above) 1. Confirmation inspection for foreign objects) By performing automatic inspection in this way, it is now possible to accurately inspect items that are difficult to judge, such as the size of wall thickness, such as two-color molded products. Ta.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上記したように本発明の実施により、従来のように個
人差のない正確なパターン検査が可能となった。
As described above, by implementing the present invention, it has become possible to perform accurate pattern inspection without individual differences as in the past.

なお、本発明の実施例としてキートップについて説明し
たが、本発明はダイアルのような二色モール部品に限ら
ず、色彩を異にして量産される部品検査に適用すること
ができる。
Although key tops have been described as an embodiment of the present invention, the present invention is not limited to two-color molded parts such as dials, but can be applied to inspection of parts mass-produced in different colors.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は実施例の検査プロセス(その1)、第2図は実
施例の検査プロセス(その2)、である。 図において、 1は闇値、       2は切片、 3は画像、       4は斜面、 5は文字の枠ぐみ、 である。 t)
FIG. 1 shows the inspection process of the embodiment (part 1), and FIG. 2 shows the inspection process of the embodiment (part 2). In the figure, 1 is the darkness value, 2 is the intercept, 3 is the image, 4 is the slope, and 5 is the text frame. t)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 製品上に形成されている文字、数字などの表示パターン
をテレビ画像を用いて品質検査する方法として、表示パ
ターンの濃度を複数の階調に分解してヒストグラムを作
り、これより二値化に適した閾価を予め求めておき、次
々と順送されてくる各製品について、 ブラウン管の中央周辺部に予め設定した4個のレチクル
マークと画像表示された製品画像の交点位置よりブラウ
ン管の原点より製品位置を割り出すプロセスと、 台形の断面形状をなして成形されている製品については
傾斜部に当たる該製品パターンを非検査領域として塗り
つぶす二値化フィルタリングプロセスと、 製品上に形成されている複数のパターン位置を割り出し
た後、各パターンについて該パターンよりNビットづつ
大きさをずらせた大小のマスターパターンとを重ね合わ
せ投影して該パターンの標準値からのずれと異物の有無
を検査するプロセスと、 パターン形成位置外の領域について、複数個の領域を設
定し、各領域について異物の存在位置を検出するプロセ
スと、 を含んで構成されていることを特徴とする表示パターン
の検査方法。
[Claims] As a method for inspecting the quality of display patterns such as letters and numbers formed on products using television images, the density of the display pattern is decomposed into a plurality of gradations to create a histogram. A threshold value that is more suitable for binarization is determined in advance, and for each product that is sent one after another, the intersection position of the four reticle marks set in advance around the center of the cathode ray tube and the displayed product image is determined. A process of determining the product position from the origin of the cathode ray tube, a binarization filtering process of filling in the sloped part of the product pattern as a non-inspection area for products molded with a trapezoidal cross-sectional shape, and After determining the positions of multiple patterns, each pattern is overlaid with a master pattern of different sizes that are shifted in size by N bits from the previous pattern and projected, and the deviation from the standard value of the pattern and the presence of foreign objects are inspected. and a process of setting a plurality of regions outside the pattern formation position and detecting the position of a foreign object in each region. .
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