JPS6219754A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS6219754A JPS6219754A JP60159270A JP15927085A JPS6219754A JP S6219754 A JPS6219754 A JP S6219754A JP 60159270 A JP60159270 A JP 60159270A JP 15927085 A JP15927085 A JP 15927085A JP S6219754 A JPS6219754 A JP S6219754A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cylindrical body
- guide part
- distance
- ultrasonic probe
- center
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は１回転せずに直進搬送される管状あるいは丸
棒状の被検材の周りを回転する超音波探触子によシ探傷
をスパイラル状に行なう検査装置に関し、その特徴とす
るところは、超音波探触子と被検材との距離を設定する
時、超音波探触子がその中心に向けて挿入されている円
筒体の周囲のガイド部を回転させると、超音波探触子を
回転支持するピンが円筒体中心からの距離が連続的に変
化する溝をスライドガイドされることにより、超音波探
触子が円筒体の中心方向に移動し超音波探触子と被検材
との距離を簡単に設定することができる装置を提案する
ものである。
棒状の被検材の周りを回転する超音波探触子によシ探傷
をスパイラル状に行なう検査装置に関し、その特徴とす
るところは、超音波探触子と被検材との距離を設定する
時、超音波探触子がその中心に向けて挿入されている円
筒体の周囲のガイド部を回転させると、超音波探触子を
回転支持するピンが円筒体中心からの距離が連続的に変
化する溝をスライドガイドされることにより、超音波探
触子が円筒体の中心方向に移動し超音波探触子と被検材
との距離を簡単に設定することができる装置を提案する
ものである。
第３図は従来の検査装置を示す断面図であり。
第４図は回転せずに直進搬送される管状あるいは丸棒状
の被検材（１）の搬送方向Ａから見た図である。
の被検材（１）の搬送方向Ａから見た図である。
（２）は被検材（１）の周９を回転する超音波探触子、
（３）は超音波探触子が挿入されている円筒体、（４）
は被検材（１１と超音波探触子（２）を所定の距離に設
定するために超音波探触子（２）と円筒体（３）の間に
はさみ込むスペーサ、（５）は超音波探触子（２）とス
ペーサ（４）を同時に円筒体（３３に固定するネジ、（
６）は円筒体（３）の両端に設けられ上記被検材（１）
の外周に内接するリング、（７）はリング（６）を円筒
体（３）に固定するカバー。
（３）は超音波探触子が挿入されている円筒体、（４）
は被検材（１１と超音波探触子（２）を所定の距離に設
定するために超音波探触子（２）と円筒体（３）の間に
はさみ込むスペーサ、（５）は超音波探触子（２）とス
ペーサ（４）を同時に円筒体（３３に固定するネジ、（
６）は円筒体（３）の両端に設けられ上記被検材（１）
の外周に内接するリング、（７）はリング（６）を円筒
体（３）に固定するカバー。
（８）は被検材（１）と円筒体（３）とリング（６）と
によって囲まれている超音波媒質、（９）は超音波媒質
を送９込む導入口である。
によって囲まれている超音波媒質、（９）は超音波媒質
を送９込む導入口である。
従来の検査装置は上記のように構成され、被検材（１）
の周りを回転する超音波探触子（２）は、被検材（１）
が搬送方向Ａにて搬送され１円筒体（３）の両端に設け
られたリング（６）に接すると、導入口（９）から導か
れた超音波媒質（８）を介して被検材＋１１に超音波を
伝播し、これによシ探傷検査する。ところで、被検打玉
１）の外径が変わる場合は、カバー（７）を取り外し、
リング（６）を所定の外径のものに交換する。さらにネ
ジ（５）を取り外し超音波探触子（２）を引き抜き。
の周りを回転する超音波探触子（２）は、被検材（１）
が搬送方向Ａにて搬送され１円筒体（３）の両端に設け
られたリング（６）に接すると、導入口（９）から導か
れた超音波媒質（８）を介して被検材＋１１に超音波を
伝播し、これによシ探傷検査する。ところで、被検打玉
１）の外径が変わる場合は、カバー（７）を取り外し、
リング（６）を所定の外径のものに交換する。さらにネ
ジ（５）を取り外し超音波探触子（２）を引き抜き。
スペーサ（４）を所定の厚みのものに交換し、交換した
スペーサと超音波探触子（２）をネジ（５）で固定し。
スペーサと超音波探触子（２）をネジ（５）で固定し。
外径の変わった被検材［１１に対応した所定の距離に設
定する。
定する。
上記のような従来の検査装置では、被検材（１）の外径
が変わった場合、被検材ｉｌ＋と超音波探触子（２）の
間に健全な超音波媒質（８）を保持するため、まずリン
グ（６）を交換し、ついで、超音波探触子（２）が円筒
体（３）にスペーサ（４）を介して直接ネジ（５）で固
定されているために、ネジ（５）をすべて取り外しスペ
ーサ（４）をすべて所定の厚みのものに取り換えるとい
う手間のかかる作業があり、この時間が長いために、被
検材（１）の外径がたびたび変わる場合には探傷検査の
効率が下がり、ひいては生産の効率の低下を招くという
問題点があった。
が変わった場合、被検材ｉｌ＋と超音波探触子（２）の
間に健全な超音波媒質（８）を保持するため、まずリン
グ（６）を交換し、ついで、超音波探触子（２）が円筒
体（３）にスペーサ（４）を介して直接ネジ（５）で固
定されているために、ネジ（５）をすべて取り外しスペ
ーサ（４）をすべて所定の厚みのものに取り換えるとい
う手間のかかる作業があり、この時間が長いために、被
検材（１）の外径がたびたび変わる場合には探傷検査の
効率が下がり、ひいては生産の効率の低下を招くという
問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、ガイド部を回転させることによって超音波探触子
を簡単に短時間で、被検材との間の所定の距離設定がで
きる検査装置を得ることを目的とする。
ので、ガイド部を回転させることによって超音波探触子
を簡単に短時間で、被検材との間の所定の距離設定がで
きる検査装置を得ることを目的とする。
この発明に係る検査装置は２円筒体周囲のガイド部を回
転させ、ガイド部に設けた円筒体中心からの距離が連続
的に変化する溝に沿って超音波探触子を回転支持するピ
ンの位置を変化させ９円筒体中心方向に円筒体中心に向
けて挿入された超音波探触子を動かし、被検材との間に
所定の距離設定ができるようにしたものである。
転させ、ガイド部に設けた円筒体中心からの距離が連続
的に変化する溝に沿って超音波探触子を回転支持するピ
ンの位置を変化させ９円筒体中心方向に円筒体中心に向
けて挿入された超音波探触子を動かし、被検材との間に
所定の距離設定ができるようにしたものである。
この発明においては１円筒体周囲のガイド部を回転させ
ると超音波探触子を回転支持するピンがガイド部に設け
た円筒体中心からの距離が連続的に変化する溝に沿って
動き、一方では超音波探触子は円筒体にその中心に向け
て挿入されていて常に円筒体中心方向にのみ動くので、
被検材との間に所定の距離をガイド部を回転させるとい
うことだけで簡単に短時間で設定できる。
ると超音波探触子を回転支持するピンがガイド部に設け
た円筒体中心からの距離が連続的に変化する溝に沿って
動き、一方では超音波探触子は円筒体にその中心に向け
て挿入されていて常に円筒体中心方向にのみ動くので、
被検材との間に所定の距離をガイド部を回転させるとい
うことだけで簡単に短時間で設定できる。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第２図は搬
送方向Ａとは直角に、かつ超音波探触子の位置での断面
図で６Ｄ、ｕ）〜（３）および（６）〜（９）は上記従
来の装置と全く同一のものである。α〔は超音波探触子
（２）を回転支持するピン、αＤはこのピンを円筒体中
心からの距離が連続的に変化する溝に石ってスライドガ
イドするガイド部、α２はこのガイド部をスライド支持
する支持部、ＯＪは上記ガイド部Ｑυを上記支持部ａａ
に対して所定の位置で固定する固定具である。
送方向Ａとは直角に、かつ超音波探触子の位置での断面
図で６Ｄ、ｕ）〜（３）および（６）〜（９）は上記従
来の装置と全く同一のものである。α〔は超音波探触子
（２）を回転支持するピン、αＤはこのピンを円筒体中
心からの距離が連続的に変化する溝に石ってスライドガ
イドするガイド部、α２はこのガイド部をスライド支持
する支持部、ＯＪは上記ガイド部Ｑυを上記支持部ａａ
に対して所定の位置で固定する固定具である。
上記のように構成された検査装置においては。
被検材ｉｌ＋の外径が変わりリング（６）を交換した後
に被検材（１）と超音波探触子（２）との間に所定の距
離を得ようとする場合、ガイド部συを回転させると。
に被検材（１）と超音波探触子（２）との間に所定の距
離を得ようとする場合、ガイド部συを回転させると。
超音波探触子（２）を回転支持するピンα〔がガイド部
ａυに設けられた円筒体中心からの距離が連続的に変化
する溝に沿って動き２円筒体（３）の中心にむけて挿入
された超音波探触子（２）が円筒体（３１の中心方向に
のみ動くことになる。ついで、超音波探触子（２）と被
検材（１）との間に所定の距離が得られた後に。
ａυに設けられた円筒体中心からの距離が連続的に変化
する溝に沿って動き２円筒体（３）の中心にむけて挿入
された超音波探触子（２）が円筒体（３１の中心方向に
のみ動くことになる。ついで、超音波探触子（２）と被
検材（１）との間に所定の距離が得られた後に。
固定具（１３にてガイド部Ｑｌ）を固定する。したがっ
て被検材（１）の外径が変わった場合、ガイド部αυを
超音波探触子（２）と被検材（１１との間が所定の距離
となるよう所定の角度だけスライドさせるという簡単な
作業のみ行なえばよく、超音波探触子を簡単に短時間に
距離設定ができることになる。
て被検材（１）の外径が変わった場合、ガイド部αυを
超音波探触子（２）と被検材（１１との間が所定の距離
となるよう所定の角度だけスライドさせるという簡単な
作業のみ行なえばよく、超音波探触子を簡単に短時間に
距離設定ができることになる。
この発明は以上説明したとおり、超音波探触子を回転支
持するビンを１円筒体中心からの距離が連続的に変化す
る溝に沿って動（ように、この湾を設けたガイド部を回
転させるという簡単な操作で、超音波探触子と被検材と
の距離設定ができるという効果がある。また、超音波探
触子が同−断面上に多く並んでいればいる程、ひとつあ
たりの超音波探触子の距離設定時間が短かくなるのはい
うまでもない。
持するビンを１円筒体中心からの距離が連続的に変化す
る溝に沿って動（ように、この湾を設けたガイド部を回
転させるという簡単な操作で、超音波探触子と被検材と
の距離設定ができるという効果がある。また、超音波探
触子が同−断面上に多く並んでいればいる程、ひとつあ
たりの超音波探触子の距離設定時間が短かくなるのはい
うまでもない。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第２図は搬
送方向Ａとは直角に、かつ超音波探触子の位置での断面
図、第３図は従来の検査装置を示す断面図、第４図はこ
れを搬送方向Ａから見た図である。 図において、（２）は超音波探触子、（３）は円筒体。 （６ｍ １７ ｙｆ、 ＋７１ｆｌ カバ＋、 （８１
は超音波媒質、 ｏｎはピン、α１１はガイド部２α２
は支持部２住３は固定具である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
送方向Ａとは直角に、かつ超音波探触子の位置での断面
図、第３図は従来の検査装置を示す断面図、第４図はこ
れを搬送方向Ａから見た図である。 図において、（２）は超音波探触子、（３）は円筒体。 （６ｍ １７ ｙｆ、 ＋７１ｆｌ カバ＋、 （８１
は超音波媒質、 ｏｎはピン、α１１はガイド部２α２
は支持部２住３は固定具である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 回転せずに直進搬送される管状あるいは丸棒状の被検材
の周りを回転する超音波探触子と、上記超音波探触子を
回転支持するピンと、上記ピンを溝に沿つてスライドガ
イドするガイド部と、上記ガイド部をスライド支持する
支持部と、上記ガイド部を上記支持部に対して所定の位
置で固定する固定具と、上記支持部を取り付け上記超音
波探触子が挿入されている円筒体と、上記円筒体の両端
に設けられ、上記被検材の外周に内接するリングと、上
記被検材と上記円筒体と上記リングにより囲まれて形成
される超音波媒質とを備えたことを特徴とする検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159270A JPH0610672B2 (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60159270A JPH0610672B2 (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219754A true JPS6219754A (ja) | 1987-01-28 |
| JPH0610672B2 JPH0610672B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=15690102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60159270A Expired - Lifetime JPH0610672B2 (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0610672B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6421360U (ja) * | 1987-07-30 | 1989-02-02 | ||
| JPH01162146A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-06-26 | Inst Dr F Foerster Pruefgeraet Gmbh | 円筒状の被検査品の表面を検知するための回転ヘツド |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS547391A (en) * | 1977-06-20 | 1979-01-20 | Hitachi Cable Ltd | Detecting probe protecting mechanism of rotary type flaw detecting apparatus |
-
1985
- 1985-07-18 JP JP60159270A patent/JPH0610672B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS547391A (en) * | 1977-06-20 | 1979-01-20 | Hitachi Cable Ltd | Detecting probe protecting mechanism of rotary type flaw detecting apparatus |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6421360U (ja) * | 1987-07-30 | 1989-02-02 | ||
| JPH01162146A (ja) * | 1987-11-19 | 1989-06-26 | Inst Dr F Foerster Pruefgeraet Gmbh | 円筒状の被検査品の表面を検知するための回転ヘツド |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0610672B2 (ja) | 1994-02-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5600069A (en) | Ultrasonic testing apparatus and method for multiple diameter oilfield tubulars | |
| US4718277A (en) | Method and apparatus for characterizing defects in tubular members | |
| EP1995591B1 (en) | Flexible array probe for the inspection of a contoured surface with varying cross-sectional geometry | |
| US20130319120A1 (en) | Apparatus and method for inspecting a tube | |
| JP2009069090A (ja) | 検査対象物の探傷方法および装置ならびに渦流探傷用プローブ | |
| JPH06502914A (ja) | 超音波試験装置 | |
| US11340193B2 (en) | Form-fitting eddy current array sensor and method of use thereof | |
| JP2008275614A (ja) | 自動較正を備えた非破壊検査用の渦電流を用いた方法および装置 | |
| JPH06508925A (ja) | 円錐形部品の表面部を検査する装置 | |
| JPS6219754A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| EP0410580B1 (en) | Scanning outer profiles of control rods | |
| CN104950041A (zh) | 超声层析成像传感器装置 | |
| US3152302A (en) | Electromagnetic testing apparatus having a rotating apertured cylinder for spirally scanning cylindrical workpieces | |
| JPS62198753A (ja) | 検査装置 | |
| JP2001056318A (ja) | 超音波による管の探傷方法及び超音波探傷器 | |
| JPS62121351A (ja) | 検査装置 | |
| JP2006003248A (ja) | 円筒形状部品の表面特性検査装置及びその検査方法 | |
| JPH06502018A (ja) | テストプローブ台用の１個以上の孔を有する、回転対称試験片用超音波検査装置の回転子 | |
| JPH01260359A (ja) | 検査装置 | |
| CN206876642U (zh) | 一种稳定性高的圆柱件无损检测架 | |
| ITMI941603A1 (it) | Procedimento e dispositivo per il controllo di oggetti estesi in lunghezza con sezione trasversale deviante dalla forma circolare | |
| JPH03162666A (ja) | 構造部材用ボールの超音波探傷検査方法 | |
| JPS60249049A (ja) | 欠陥検出装置 | |
| JPS6396550A (ja) | 検査装置 | |
| JPS6396548A (ja) | 検査装置 |