JPS6219703A - 非接触形状測定方法 - Google Patents
非接触形状測定方法Info
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- JPS6219703A JPS6219703A JP15763585A JP15763585A JPS6219703A JP S6219703 A JPS6219703 A JP S6219703A JP 15763585 A JP15763585 A JP 15763585A JP 15763585 A JP15763585 A JP 15763585A JP S6219703 A JPS6219703 A JP S6219703A
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- measured
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- detection sensor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、非接触形状測定方法、特に、レーザ光等を利
用した光点検出センサにより物体形状を測定する非接触
形状測定方法に関するものである。
用した光点検出センサにより物体形状を測定する非接触
形状測定方法に関するものである。
近年、物体形状の測定にレーザ光等を利用した光点検出
センサを用いた非接触測定装置が開発されている。例え
ば、吉澤撤、「光点検出センサによる物体形状の測定」
、センサ技術1983年2月60〜64頁にも、その−
例が論じられている。
センサを用いた非接触測定装置が開発されている。例え
ば、吉澤撤、「光点検出センサによる物体形状の測定」
、センサ技術1983年2月60〜64頁にも、その−
例が論じられている。
この種の非接触測定方法では、被測定物体形状を自動測
定するにあたり、被測定物体の設計データを用いて、測
定時の光点検出センサの位置及びその照射角度を設定す
る方法が用いられる場合が多く、この本測定法を可能と
するためには被測定物体形状の自動測定に先立って、測
定装置の位置を規定する測定機座標系と被測定物体形状
を規定する物体座標系との相対的位置関係を、高精度で
把握するリンケージ操作が必要となる。
定するにあたり、被測定物体の設計データを用いて、測
定時の光点検出センサの位置及びその照射角度を設定す
る方法が用いられる場合が多く、この本測定法を可能と
するためには被測定物体形状の自動測定に先立って、測
定装置の位置を規定する測定機座標系と被測定物体形状
を規定する物体座標系との相対的位置関係を、高精度で
把握するリンケージ操作が必要となる。
リンケージ操作には、被測定物体上に設けられた基準点
の座標を、測定装置により実際に測定してリンケージを
とる方法が考えられる。この場合。
の座標を、測定装置により実際に測定してリンケージを
とる方法が考えられる。この場合。
十字のケガキ線等で構成された基準点に目視でセンサの
光点を設定する必要があるため、この設定誤差が、被測
定物体形状の自動測定結果にも影響を及ぼし、被測定物
体の形状を高精度で求めることが困難であった。
光点を設定する必要があるため、この設定誤差が、被測
定物体形状の自動測定結果にも影響を及ぼし、被測定物
体の形状を高精度で求めることが困難であった。
本発明は、測定機座標系と物体座標系の両座標系間の相
対的位置関係を高精度で把握し、被測定物体の形状を高
精度で求めることが可能な非接触形状測定方法を提供す
ることを目的とするものである。
対的位置関係を高精度で把握し、被測定物体の形状を高
精度で求めることが可能な非接触形状測定方法を提供す
ることを目的とするものである。
本発明は、光を照射して被測定物体との距離を測定する
光点検出センサ、該光点検出センサの照射角度を変化さ
せる角度変化機構、及び該角度変化機構を取り付けて前
記光点検検出センサを3次元的に駆動する3次元駆動機
構の動作を演算制御して得られた前記光点検出センサに
よる距離の測定値、該光点検出センサの照射角度及び前
記3次元駆動機構の駆動量により照射された点の座標を
演算して、被測定物体の形状を測定する非接触形状測定
方法において、まず、前記被測定物体上に該被測定物体
の形状を規定する物体座標系での形状の情報を有するリ
ンケージ用基準形状を予め設定し、前記3次元駆動機構
及び前記角度変化機構を駆動して、その形状を前記3次
元駆動機構の位置を規定する測定機座標系に対する座標
値の連なりとして測定し、次いで、これら座標値と予め
得られている前記リンケージ用基準形状の前記物体座標
系における情報とを用いて前記測定機座標系と前記物体
座標系の両座標系間の相対的位置関係を求め、その後、
該相対的位置関係を用いて前記被測定物体の形状を測定
することを特徴とするものである。
光点検出センサ、該光点検出センサの照射角度を変化さ
せる角度変化機構、及び該角度変化機構を取り付けて前
記光点検検出センサを3次元的に駆動する3次元駆動機
構の動作を演算制御して得られた前記光点検出センサに
よる距離の測定値、該光点検出センサの照射角度及び前
記3次元駆動機構の駆動量により照射された点の座標を
演算して、被測定物体の形状を測定する非接触形状測定
方法において、まず、前記被測定物体上に該被測定物体
の形状を規定する物体座標系での形状の情報を有するリ
ンケージ用基準形状を予め設定し、前記3次元駆動機構
及び前記角度変化機構を駆動して、その形状を前記3次
元駆動機構の位置を規定する測定機座標系に対する座標
値の連なりとして測定し、次いで、これら座標値と予め
得られている前記リンケージ用基準形状の前記物体座標
系における情報とを用いて前記測定機座標系と前記物体
座標系の両座標系間の相対的位置関係を求め、その後、
該相対的位置関係を用いて前記被測定物体の形状を測定
することを特徴とするものである。
本発明は、物体座標系での形状の情報が予めわかってい
るリンケージ用基準形状の測定を行い。
るリンケージ用基準形状の測定を行い。
リンケージをとることを基本にしており、従来技術にお
ける基準点の目視による照射の誤差を除去できるので1
両座標間の相対的位置関係を高精度で把握して所期の目
的を達成することができる。
ける基準点の目視による照射の誤差を除去できるので1
両座標間の相対的位置関係を高精度で把握して所期の目
的を達成することができる。
以下、本発明を図面を用いて説明する。すなわち、第2
図によって非接触形状測定に用いられる距離計の全体構
成の概略を説明し、第3図によって第2図の距離計によ
る物体の測定方法を説明し。
図によって非接触形状測定に用いられる距離計の全体構
成の概略を説明し、第3図によって第2図の距離計によ
る物体の測定方法を説明し。
第4図によって測定機座標系と物体座標系との関係につ
いて説明する。なお、何れの図でも同一部分には同一符
号が付しである。これらの図で、1は光点横比センサ、
2は角度変化機構、3は3次元駆動機構、4は光点検出
Hセンサ1及び角度変化機構2の取り付は部、5は光点
検出センサ1の照射光軸、6は被測定物体、7,8.9
及び10は光点検出センサの光源、照射レンズ、集光レ
ンズ及び受光器、11はリンケージ用基準形状を示して
いる。
いて説明する。なお、何れの図でも同一部分には同一符
号が付しである。これらの図で、1は光点横比センサ、
2は角度変化機構、3は3次元駆動機構、4は光点検出
Hセンサ1及び角度変化機構2の取り付は部、5は光点
検出センサ1の照射光軸、6は被測定物体、7,8.9
及び10は光点検出センサの光源、照射レンズ、集光レ
ンズ及び受光器、11はリンケージ用基準形状を示して
いる。
レーザ光等を利用した光点検出センサ1は、第2図に見
られる如く、角度変化機構2を介して、3次元駆動機構
3の取り付は部4に結合されている。この角度変化機構
2は、SW軸及びBD軸の2自由度を有しており、SW
軸、BD軸の軸芯と光点検出センサ1の照射光軸5とは
交点Nをもつように構成されている。
られる如く、角度変化機構2を介して、3次元駆動機構
3の取り付は部4に結合されている。この角度変化機構
2は、SW軸及びBD軸の2自由度を有しており、SW
軸、BD軸の軸芯と光点検出センサ1の照射光軸5とは
交点Nをもつように構成されている。
従って、光点検出センサ1は、3次元駆動機構3により
被測定物体6の回りで、3次元的(図中x、y、z軸方
向)に移動可能であると共に、角度変化機構2により被
測定物体6の形状に応じて照射角度を変化させることが
できる。
被測定物体6の回りで、3次元的(図中x、y、z軸方
向)に移動可能であると共に、角度変化機構2により被
測定物体6の形状に応じて照射角度を変化させることが
できる。
また、光点検出センサ1においては、第3図に見られる
如く、レーザ光は、光源7より射出され。
如く、レーザ光は、光源7より射出され。
照射レンズ8を通って照射光軸5上を進み、被測定物体
6の表面上のP点に光点を結ぶ。P点からの反射光は、
照射光軸5と一定の角度をなす受光光軸上に配置された
集光レンズ9により集光され、受光器1oにより検出さ
れる。この距離計による距離測定の原理は、被測定物体
6と光点検出センサ1との距離りが変化すると、受光器
1o上の受光位置が変化するのを利用して、この受光位
置の変化を電気的に検出して距離りを求める点にある。
6の表面上のP点に光点を結ぶ。P点からの反射光は、
照射光軸5と一定の角度をなす受光光軸上に配置された
集光レンズ9により集光され、受光器1oにより検出さ
れる。この距離計による距離測定の原理は、被測定物体
6と光点検出センサ1との距離りが変化すると、受光器
1o上の受光位置が変化するのを利用して、この受光位
置の変化を電気的に検出して距離りを求める点にある。
なお、第3図には、被測定物体6と光点検出センサ1と
の距離がそれぞれり、、□L11.の場合の被測定物体
6の位置をP’ 、P’で示しである。
の距離がそれぞれり、、□L11.の場合の被測定物体
6の位置をP’ 、P’で示しである。
次に、第4図により、物体形状の溜室方式について説明
する。第2図及び第3図に示すように構成されているこ
の距離計では、物体上の測定点Pの座標(x、、y、、
z、) は、光点検出センサ1の位置を示す前述のN
点の座m (x、、y、、z、)。
する。第2図及び第3図に示すように構成されているこ
の距離計では、物体上の測定点Pの座標(x、、y、、
z、) は、光点検出センサ1の位置を示す前述のN
点の座m (x、、y、、z、)。
角度変化機a2のSW軸の回転角度θい BD軸の回転
角度θ、及び光点検出センサ1による距離測定値りから
、次式により求めることができる。
角度θ、及び光点検出センサ1による距離測定値りから
、次式により求めることができる。
したがって、光点検出センサ1を物体周りに駆動しなが
ら、必要な間隔で光点Pの座標を、演算制御機構(図示
せず)により(1)式を用いて求めれば、物体形状はこ
れらの点の連なりとして測定できることがわかる。なお
、こうして得られた形状データは、3次元駆動機構3の
位置を規定する測定機座標系(図示の○−XYZ)に対
するものである。
ら、必要な間隔で光点Pの座標を、演算制御機構(図示
せず)により(1)式を用いて求めれば、物体形状はこ
れらの点の連なりとして測定できることがわかる。なお
、こうして得られた形状データは、3次元駆動機構3の
位置を規定する測定機座標系(図示の○−XYZ)に対
するものである。
さて、この種の測定装置では、被測定物体6の形状を能
率よく自動測定するにあたり、被測定物体6の設計デー
タを用いて測定時のセンサの位置(X□Yヨ、Z□)及
び角度変化機構2の回転角度(θ、、θ、)を設定する
方法が用いられる。具 8体的には、被測定
物体6上の測定点の測定機座標系での設計データをOL
、Y=、Z、) とすると、例えば、3次元駆動機構
3の位置N (X、、Y。
率よく自動測定するにあたり、被測定物体6の設計デー
タを用いて測定時のセンサの位置(X□Yヨ、Z□)及
び角度変化機構2の回転角度(θ、、θ、)を設定する
方法が用いられる。具 8体的には、被測定
物体6上の測定点の測定機座標系での設計データをOL
、Y=、Z、) とすると、例えば、3次元駆動機構
3の位置N (X、、Y。
Z□)は、(1)式を変形した次式で求めて設定すれば
良い。
良い。
ところが、被測定物体6の設計データは、通常は測定機
座標系とは無関係の物体座標系(図示のo’−xyz)
に対して与えられている。したがって、上述の測定法を
可能とするためには、被測定物体形状の自動測定に先立
って、測定機座標系と物体座標系との相対的位置関係を
、高精度で把握するリンケージ操作が必要となる。
座標系とは無関係の物体座標系(図示のo’−xyz)
に対して与えられている。したがって、上述の測定法を
可能とするためには、被測定物体形状の自動測定に先立
って、測定機座標系と物体座標系との相対的位置関係を
、高精度で把握するリンケージ操作が必要となる。
そして、本発明による座標系のリンケージ操作は、以下
の手順で行われる。
の手順で行われる。
(1)被測定物体上に、物体座標系での形状の情報をも
つリンケージ用基準形状を設定する。
つリンケージ用基準形状を設定する。
(2)3次元駆動機構及び角度変化機構を駆動して。
(1)のリンケージ用基準形状の測定機座標系に対する
形状を座標値の連なりとして測定する。
形状を座標値の連なりとして測定する。
(3)リンケージ用基準形状の物体座標系での形状の情
報と、測定機座標系での座標値とを演算制御機構に入力
し、演算することにより、両座標系間の相対的位置関係
を高精度で求める。
報と、測定機座標系での座標値とを演算制御機構に入力
し、演算することにより、両座標系間の相対的位置関係
を高精度で求める。
以下、本発明の一実施例について説明する。
第1図は本発明の非接触形状測定方法の実施状態の説明
図、第5〜第7図はその詳細の説明図であり、第2〜第
4図と同一部分には同一符号が付しである。
図、第5〜第7図はその詳細の説明図であり、第2〜第
4図と同一部分には同一符号が付しである。
測定機座標軸に対する被測定物体6の設置状態としては
、(a)面座標系の3組みの座標軸がそれぞれ平行な場
合、(b)1組みの座標軸のみが平行で、他の座標軸が
回転している場合、(c)3組みの座標軸がすべて平行
でない場合、が考えられる。この実施例ではこれら(a
)、(b)。
、(a)面座標系の3組みの座標軸がそれぞれ平行な場
合、(b)1組みの座標軸のみが平行で、他の座標軸が
回転している場合、(c)3組みの座標軸がすべて平行
でない場合、が考えられる。この実施例ではこれら(a
)、(b)。
(c)3通りの場合の中から、実際の機械加工物の測定
の際によく用いられる(b)の場合を例にとり説明する
。
の際によく用いられる(b)の場合を例にとり説明する
。
第1図は、ブレードのような被測定物体6の2軸が、測
定機座標系のZ軸と平行であり、Xry軸は2軸まわり
に角度α、たけ回転した状態で設置された場合を示して
いる。
定機座標系のZ軸と平行であり、Xry軸は2軸まわり
に角度α、たけ回転した状態で設置された場合を示して
いる。
この場合、測定機座標系(○−XYZ)と物体座標系(
o’−xyz)の間には、以下の関係式が成立する。
o’−xyz)の間には、以下の関係式が成立する。
この(3)式において、未知数は並進量≠(asb、c
)及び回転角α、の4個となる。
)及び回転角α、の4個となる。
一般に、リンケージ用基準形状としては、簡単な形状、
すなわち形状を規定するパラメータの数が少ない円、直
線等で構成される形状を選定することが好適である。し
かしながら、この実施例における被測定物体6の形状は
、3次元的な自由曲面で構成されている。したがって、
この場合には第1図に示すように、別途リンケージ用基
準形状11を付加するようにしている。ここでは、その
形状として、物体座標系の2軸に垂直な断面の形状が円
弧と直線から成り1円弧の中心はZ軸上に存在し、その
径は任意、直線部はy軸と平行、また、その上端面は、
Z軸に垂直かつ2座標値が既知であるものを用いた。
すなわち形状を規定するパラメータの数が少ない円、直
線等で構成される形状を選定することが好適である。し
かしながら、この実施例における被測定物体6の形状は
、3次元的な自由曲面で構成されている。したがって、
この場合には第1図に示すように、別途リンケージ用基
準形状11を付加するようにしている。ここでは、その
形状として、物体座標系の2軸に垂直な断面の形状が円
弧と直線から成り1円弧の中心はZ軸上に存在し、その
径は任意、直線部はy軸と平行、また、その上端面は、
Z軸に垂直かつ2座標値が既知であるものを用いた。
リンケージ操作を行うには、まず、第5図に示すように
、3次元駆動機構3及び角度変化機構2を駆動して、こ
のリンケージ用基準形状11の2軸に垂直な任意断面の
外形形状を、測定機座標系(0−XYZ)4mよる座標
値P 1. (xA、、 YA、。
、3次元駆動機構3及び角度変化機構2を駆動して、こ
のリンケージ用基準形状11の2軸に垂直な任意断面の
外形形状を、測定機座標系(0−XYZ)4mよる座標
値P 1. (xA、、 YA、。
Z1工)(図中黒丸印)の連なりとして測定する。
ここで、聞定点数は円弧上では3点以上、直線部では2
点以上求める必要がある。次に、この座標値P1□(X
A、、 YA、、 ZA、)を演算制御機構に入力し、
測定機座標系における円弧の中心座標PA。
点以上求める必要がある。次に、この座標値P1□(X
A、、 YA、、 ZA、)を演算制御機構に入力し、
測定機座標系における円弧の中心座標PA。
(x、、、 y、、、 zl、)を求める。事前に与え
られた情報から、物体座標系(o’−xyz)における
円弧の中心座標は、Z軸上に存在するので、両座標系間
のX、Y軸方向の並進量a、bは、下式により求められ
る。
られた情報から、物体座標系(o’−xyz)における
円弧の中心座標は、Z軸上に存在するので、両座標系間
のX、Y軸方向の並進量a、bは、下式により求められ
る。
ここで、(4)式からも明らかなように並′a量を求め
る際に円弧の半径は無関係であることがわかる。同様に
、直線部を測定した結果を用いて。
る際に円弧の半径は無関係であることがわかる。同様に
、直線部を測定した結果を用いて。
測定機座標系における直1jAQの方程式Y=MX+D
を求める。ここで、事前の情報からこの直線は物体座標
系のy軸と平行であるので1両座標系間の回転角α、は
下式により求められる。
を求める。ここで、事前の情報からこの直線は物体座標
系のy軸と平行であるので1両座標系間の回転角α、は
下式により求められる。
α、 =90@−tan−1(M) ”’
(5)さらに、第1図に示すように、3次元駆動機構3
及び角度変化機構2を駆動して、リンケージ用基準形状
11上端面の測定機座標系における少なくとも1点以上
の座標値pH,(x□、Y□、2□)を測定する。次に
、座標値P□(X□、Y□。
(5)さらに、第1図に示すように、3次元駆動機構3
及び角度変化機構2を駆動して、リンケージ用基準形状
11上端面の測定機座標系における少なくとも1点以上
の座標値pH,(x□、Y□、2□)を測定する。次に
、座標値P□(X□、Y□。
Z□)及び予め既知である物体座標系におけるZ軸の座
標値2゜を演算制御機構に入力すれば、次式によりZ軸
方向の並進量Cが求められる6c = Z□−Zbt
・・・・・・ (6)これまで
の操作により、(3)式の雨座橿系間の未知数はすべて
求まり、その相対的位置関係を把握することができる。
標値2゜を演算制御機構に入力すれば、次式によりZ軸
方向の並進量Cが求められる6c = Z□−Zbt
・・・・・・ (6)これまで
の操作により、(3)式の雨座橿系間の未知数はすべて
求まり、その相対的位置関係を把握することができる。
また、この実施例において、リンケージ用基準形状11
に関して事前に必要な情報は、物体座標系のZ軸に垂直
な断面が円弧及びy軸と平行な直線で形成されているこ
と、かつ上端面の物体座標系での2座櫟値が既知である
ことであり、円弧の半径ないし直線部の長さ等の、より
詳細な情報は不要である。
に関して事前に必要な情報は、物体座標系のZ軸に垂直
な断面が円弧及びy軸と平行な直線で形成されているこ
と、かつ上端面の物体座標系での2座櫟値が既知である
ことであり、円弧の半径ないし直線部の長さ等の、より
詳細な情報は不要である。
一般に、リンケージ用基準形状11としては、円弧ない
し直線等から成るより簡単な形状を選定することが望ま
しい。その理由は、簡単な形状であれば、加工を行う際
にも高精度な加工を実現し易いこと、また、形状の確認
のために実測することも容易であること、さらに、リン
ケージの際の演算制御機構での処理内容も少なくなるた
めである。
し直線等から成るより簡単な形状を選定することが望ま
しい。その理由は、簡単な形状であれば、加工を行う際
にも高精度な加工を実現し易いこと、また、形状の確認
のために実測することも容易であること、さらに、リン
ケージの際の演算制御機構での処理内容も少なくなるた
めである。
前述の実施例においては、被測定物体上にリンケージ用
基準形状11を付加したが、被測定物体6の一部の形状
をリンケージ用基準形状として用いることも可能である
。その−例を第6図及び第7図を用いて説明する。これ
らの図で第1図及び第4図と同一部分又は対応する部分
には同一符号が付しである。この実施例の被測定物体6
は概略直方体をしており、その側面には比較的複雑な形
状の突起12が、またその上面には、物体座標系のy軸
と平行に複数の円形の穴13A及び13Bが設けられ、
かつ穴13Aの物体座標系での中心座標が与えられてい
る。また、被測定物体6は、第4図の例と同様に、測定
機座標系(0−XYZ)に対してZ軸のみが平行であり
−Xy y軸は2軸まわりに角度α、たけ回転した状態
で設定される。
基準形状11を付加したが、被測定物体6の一部の形状
をリンケージ用基準形状として用いることも可能である
。その−例を第6図及び第7図を用いて説明する。これ
らの図で第1図及び第4図と同一部分又は対応する部分
には同一符号が付しである。この実施例の被測定物体6
は概略直方体をしており、その側面には比較的複雑な形
状の突起12が、またその上面には、物体座標系のy軸
と平行に複数の円形の穴13A及び13Bが設けられ、
かつ穴13Aの物体座標系での中心座標が与えられてい
る。また、被測定物体6は、第4図の例と同様に、測定
機座標系(0−XYZ)に対してZ軸のみが平行であり
−Xy y軸は2軸まわりに角度α、たけ回転した状態
で設定される。
この実施例では、上面に設けられた2つの穴(穴13A
、13B)がリンケージ用基準形状として用いられる。
、13B)がリンケージ用基準形状として用いられる。
以下、その具体的手段を第7図を用いて説明する。まず
、3次元駆動機構3及び角度変化機構2を駆動して、穴
13A、13Bの測定機座標系(0−XYZ)における
座標値PAi(XAt、YAl、ZAi)、P□(X□
、Y□、 zll、)(図中黒丸印)を、それぞれ少な
くとも3点以上測定する。次に、これらの座標値を用い
て、穴13A、13B+7)中心位置P、、(XA、、
YA、。
、3次元駆動機構3及び角度変化機構2を駆動して、穴
13A、13Bの測定機座標系(0−XYZ)における
座標値PAi(XAt、YAl、ZAi)、P□(X□
、Y□、 zll、)(図中黒丸印)を、それぞれ少な
くとも3点以上測定する。次に、これらの座標値を用い
て、穴13A、13B+7)中心位置P、、(XA、、
YA、。
z−1)、P−(X−1Y+t*t z、、)を求める
。次いで、それぞれの穴13Aと13Bの中心位置を結
ぶ直線Qの方程式Y==MX+Dを求める。一方、リン
ケージ用基準形状の事前に与えられた情報として、直線
Qは、y軸と平行に設けらけているので、この直線2と
Y軸とのなす角が、(3)式の両座標系間の回転角α8
を表わしていることがねかる。その値は、次式で与えら
れる。
。次いで、それぞれの穴13Aと13Bの中心位置を結
ぶ直線Qの方程式Y==MX+Dを求める。一方、リン
ケージ用基準形状の事前に与えられた情報として、直線
Qは、y軸と平行に設けらけているので、この直線2と
Y軸とのなす角が、(3)式の両座標系間の回転角α8
を表わしていることがねかる。その値は、次式で与えら
れる。
a、 =90’−tan−1(M) −(7)
また、物体座標系における穴13Aの中心座標0 %
(Xa’ + YA′+ Za’ )は、事前に与え
られているので、この中心座標及び(7)式の回転角α
、を(3)式に代入すれば、両座標系間の並進量a、b
、Qは下式により求められる。
また、物体座標系における穴13Aの中心座標0 %
(Xa’ + YA′+ Za’ )は、事前に与え
られているので、この中心座標及び(7)式の回転角α
、を(3)式に代入すれば、両座標系間の並進量a、b
、Qは下式により求められる。
a =X、、 −xA’ cosa、+ y、’ si
nαm ’b=YA、−x、’5
ina、+yA’cosα、 −(8)c=Zム、
−zム′ これまでの操作により、(3)式の両座標系間の未知数
はすべて求まり、その相対的位置関係を把握することが
できる。
nαm ’b=YA、−x、’5
ina、+yA’cosα、 −(8)c=Zム、
−zム′ これまでの操作により、(3)式の両座標系間の未知数
はすべて求まり、その相対的位置関係を把握することが
できる。
このように、被測定物体6上に、座標系のリンケージ操
作を行う際に好適な基準形状を有している場合には、そ
の形状をリンケージ用基準形状としてリンケージ操作を
行えば良く、第1図で示した実施例のように、リンケー
ジ用基準形状を特別に設置する必要はない。この実施例
でも、リンケージ用基準形状としては、その断面形状が
円弧もしくは直線といった簡単な形状から構成されてい
ることが望ましい。
作を行う際に好適な基準形状を有している場合には、そ
の形状をリンケージ用基準形状としてリンケージ操作を
行えば良く、第1図で示した実施例のように、リンケー
ジ用基準形状を特別に設置する必要はない。この実施例
でも、リンケージ用基準形状としては、その断面形状が
円弧もしくは直線といった簡単な形状から構成されてい
ることが望ましい。
これらの実施例におけるリンケージ方法によれば、光点
を被測定物体内の基準点に照射して相対的位置関係を求
める従来方法に比べ、目視による照射の誤差を含まない
。また、自ら複数点測定となるので、これらの測定点を
演算制御機構により統計処理することにより、高精度で
面座標系内の相対的位置関係を把握することが容易に実
現できる。
を被測定物体内の基準点に照射して相対的位置関係を求
める従来方法に比べ、目視による照射の誤差を含まない
。また、自ら複数点測定となるので、これらの測定点を
演算制御機構により統計処理することにより、高精度で
面座標系内の相対的位置関係を把握することが容易に実
現できる。
さらに、高精度で求めることができたリンケージ結果を
用いれば、被測定物体の設計データに基づき、測定時の
光点検出センサの位置と照射角度とを(3)式により高
精度で設定することが可能となるので、所期の物体形状
すなわち第1図のブレード形状ないし、第6図の側面の
突起物等の形状を、高精度かつ能率よく自動測定するこ
とができる。
用いれば、被測定物体の設計データに基づき、測定時の
光点検出センサの位置と照射角度とを(3)式により高
精度で設定することが可能となるので、所期の物体形状
すなわち第1図のブレード形状ないし、第6図の側面の
突起物等の形状を、高精度かつ能率よく自動測定するこ
とができる。
なお、第1図を用いて説明した被測定物体6がブレード
のような場合には、リンケージ用基準形状11を付加す
るようにしたが、このリンケージ用基準形状は、被測定
物体形状の自動測定後切除する必要がある。また、基準
形状を付加する分だけ素材も大きくする必要がある。
のような場合には、リンケージ用基準形状11を付加す
るようにしたが、このリンケージ用基準形状は、被測定
物体形状の自動測定後切除する必要がある。また、基準
形状を付加する分だけ素材も大きくする必要がある。
従って、今後、被測定物体6と同程度、すなわち金属と
同程度の材料強度を持ち、さらに溶剤により簡単に溶け
るような新材料が開発されれば、被測定物体6の一部に
取り付は後、加工を行い。
同程度の材料強度を持ち、さらに溶剤により簡単に溶け
るような新材料が開発されれば、被測定物体6の一部に
取り付は後、加工を行い。
被測定物体形状の測定後溶かしてしまえば、切除の時間
及び素材を大きくするといった問題も解決することがで
きる。
及び素材を大きくするといった問題も解決することがで
きる。
以上の如く、実施例の非接触形状測定方法は。
楢
測定機の位置を規定する測定計座標系と被測定物体の形
状を規定する物体座標系との相対位置関係を、目視設定
等による誤差を含まないで、高精度に求めることができ
、その結果、被測定物体の形状を高精度で測定できると
いう効果がある。
状を規定する物体座標系との相対位置関係を、目視設定
等による誤差を含まないで、高精度に求めることができ
、その結果、被測定物体の形状を高精度で測定できると
いう効果がある。
本発明は、測定機座標系と物体座標系の両座標系間の相
対的位置関係を高精度で把握し、被測定物体の形状を高
精度で求めることが可能な非接触形状測定方法を提供可
能とするもので産業上の効果の大なるものである。
対的位置関係を高精度で把握し、被測定物体の形状を高
精度で求めることが可能な非接触形状測定方法を提供可
能とするもので産業上の効果の大なるものである。
第1図は本発明非接触形状測定方法の一実施例の説明図
、第2図は距離計の概略構成の説明図、第3図及び第4
図は第2図の距離計を用いた物体の測定方法の説明図、
第5図は第1図の要部の詳細な説明図、第6図及び第7
図は本発明非接触形状測定方法の他の実施例の説明図で
ある。 1・・・光点検出センサ、2・・・角度変化機構、3・
・・3次元駆動機構、4・・取り付は部、5・・・照射
光軸。 6・・・被測定物体、7・・・光源、8・・・照射レン
ズ、9・・・集光レンズ、10・・・受光器、11・・
・リンケージ(ほか1名) 第 l 臼 第 2 目 第 4 図 PAL(XAL YAL、z)L〕 第 61!lI
、第2図は距離計の概略構成の説明図、第3図及び第4
図は第2図の距離計を用いた物体の測定方法の説明図、
第5図は第1図の要部の詳細な説明図、第6図及び第7
図は本発明非接触形状測定方法の他の実施例の説明図で
ある。 1・・・光点検出センサ、2・・・角度変化機構、3・
・・3次元駆動機構、4・・取り付は部、5・・・照射
光軸。 6・・・被測定物体、7・・・光源、8・・・照射レン
ズ、9・・・集光レンズ、10・・・受光器、11・・
・リンケージ(ほか1名) 第 l 臼 第 2 目 第 4 図 PAL(XAL YAL、z)L〕 第 61!lI
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光を照射して被測定物体との距離を測定する光点検
出センサ、該光点検出センサの照射角度を変化させる角
度変化機構、及び該角度変化機構を取り付けて前記光点
検出センサを3次元的に駆動する3次元駆動機構の動作
を演算制御して得られた前記光点検出センサによる距離
の測定値、該光点検出センサの照射角度及び前記3次元
駆動機構の駆動量により照射された点の座標を演算して
、被測定物体の形状を測定する非接触形状測定方法にお
いて、まず、前記被測定物体上に該被測定物体の形状を
規定する物体座標系での形状の情報を有するリンケージ
用基準形状を予め設定し、前記3次元駆動機構及び前記
角度変化機構を駆動して、その形状を前記3次元駆動機
構の位置を規定する測定機座標系に対する座標値の連な
りとして測定し、次いで、これら座標値と予め得られて
いる前記リンケージ用基準形状の前記物体座標系におけ
る情報とを用いて前記測定機座標系と前記物体座標系の
両座標系間の相対的位置関係を求め、その後、該相対的
位置関係を用いて前記被測定物体の形状を測定すること
を特徴とする非接触形状測定方法。 2、前記リンケージ用基準形状が、前記被測定物体に予
め付加されたものである特許請求の範囲第1項記載の非
接触形状測定方法。 3、前記リンケージ用基準形状が、前記被測定物体の一
部である特許請求の範囲第1項記載の非接触形状測定方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15763585A JPS6219703A (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 非接触形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15763585A JPS6219703A (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 非接触形状測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6219703A true JPS6219703A (ja) | 1987-01-28 |
Family
ID=15654027
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15763585A Pending JPS6219703A (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 非接触形状測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6219703A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03156307A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-07-04 | Pastor Daniel Garcia | 修正表面検証用可動装置 |
US6435777B1 (en) | 1997-05-12 | 2002-08-20 | Tokyo Electric Power Company | Method of arranging reinforcement in forming foundation of ground reinforcing type and foundation body |
JP2009518628A (ja) * | 2005-12-02 | 2009-05-07 | スペシャルティ ミネラルズ (ミシガン) インク. | 治金熔融炉の耐火性内張りにおける磨耗測定方法 |
JP2011149849A (ja) * | 2010-01-22 | 2011-08-04 | Mitsutoyo Corp | 非接触変位計測装置 |
-
1985
- 1985-07-17 JP JP15763585A patent/JPS6219703A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03156307A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-07-04 | Pastor Daniel Garcia | 修正表面検証用可動装置 |
US6435777B1 (en) | 1997-05-12 | 2002-08-20 | Tokyo Electric Power Company | Method of arranging reinforcement in forming foundation of ground reinforcing type and foundation body |
JP2009518628A (ja) * | 2005-12-02 | 2009-05-07 | スペシャルティ ミネラルズ (ミシガン) インク. | 治金熔融炉の耐火性内張りにおける磨耗測定方法 |
JP2011149849A (ja) * | 2010-01-22 | 2011-08-04 | Mitsutoyo Corp | 非接触変位計測装置 |
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