JPH03156307A - 修正表面検証用可動装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は修正表面検証用可動装置、詳しくは移動式の修
正表面検証又は表面修正処理用装置に関する。

（技術背景） 従来の表面検証技術は基本的に基準点として予め決めた
表面を用いて比較表面上のものとの相違を見いだす触覚
装置による、比較技術を基礎とするものである。

上記触覚は母型として役立つ物品表面上を摺動するロフ
トから構成される複写機の！構成部分である。

この触覚装置は特にある部分、概して小型物品の再生に
適用し得る。該触覚装置は大型物品の表面検証に適用し
難い。

（解決しようとする課題） 本発明の目的は、市販の機械装置に組み込み可能とされ
る、前述したような修正表面検証又は表面修正処理用可
動装置を提供することにある。

上記装置は出来る限り高精度をもって直線、平坦及びン
リンダー面、変則表面又はその他の表面の検証又は分析
に適用し得るものである。

（発明の要旨） 本発明の可動装置は修正表面の検証又は表面修正処理に
おける問題点を公差子〇、０１ｍｍをもって解決しよう
とするものである。

ガイド、支持部材及びその他の部材の変形による誤差修
正系は規準化レーザーによる変位及び心合わせ手段並び
に２軸センサ一スクリーン手段で構成される。

上記装置はつぎのような部分から構成される。

キャリジを心合わせしかつ変位せしめるように支持する
、２つの垂直支持部材 自立キャリジ 光学位置読み取り式バーガイド レーザー近接読み取り変換器 上記読み取り器が取り付けられる伸長アーム規準化レー
ザー発信器及び２軸座標整合中継スクリーン 一当該装置の集中制御及び取得データ処理用の中央電子
制御器 データ表示用のアルファベット及び数字スクリーン データプリンター 本発明を、ｌ実施例を示す添付図面とともに説明する。

（実施例） 図面において、２つの垂直支持部材２及び３に主ガイド
ｌが装着される。該主ガイドｌの端から端までキャリジ
４が移動可能とされる。

キャリジ４は自立型のものであり、その変位及び位置決
めは主ガイドｌに取り付けられた光学ガイド１４による
読み取りにしたがって中央電子制御器ＩＯにより制御さ
れる。

キャリジ４に伸長アーム６が設けられ、該アーム６の端
部にレーザー８により発進及び復帰させられる近接ゲー
ジ７が設けられる。この伸長アーム６は測定限界調整用
の折り畳みストップを有する。

一方の垂直支持部材、例えば２とキャリジ４に、それぞ
れ規準化レーザー発信器８と２軸に関して進行位置決め
する多重センサースクリーン９が設けられる。

各読み取りによって得られたデータに基づき中央電子制
御器ＩＯは表面の分析結果を出力する。

測定を行うにあたり、補償距離決定方法が使用される。

この方法を実行するために、市販のレーザー装置により
制御されるマイクロメーター距離ゲージ及び中央電子制
御器により制御される光学偏差アナライザーが使用され
る。すべての点の共通基準面に対する距離は分析しよう
とする表面に存在する欠陥部とか変形部を精密に測定す
ることにより決定される。

近接ゲージ又は光学読み取り変換器７は中央電子制御器
ＩＯと分析しようとする表面間を絶縁することにより高
精度なものとされる。

上記偏差アナライザーは基準とされる当該アナライザー
の一端部に関し主ガイドｌにより誘導され得る誤差を出
力する。

このようにして、当該測定装置を支持するアッセンブリ
ーが測定に従事せしめられたとき、重力及び膨張等々に
よる避は難い変位の影響を除去する。

２つの機器により得られた測定データは中央電子制御器
に加えられ、該中央電子制御器において得られたデータ
の大きさが評価される毎に適当な補償が行われる。内機
器は電気信号の形式で結果を出力し、従ってまず第１に
これらの信号と補償をなされるべき信号間の適当な標準
変換を行わねばならない。該標準変換を行うため、得ら
れた距離に対応する修正が評価しようとする全ての点に
対して測定される。

この−群の点は市販の距離ゲージによる解析によって決
定されるとともに該中央電子制御器は迅速に補償を行う
ことができる。

上記装置は得られた情報を操作者に容易に知らせる補助
機器を含ませてもよいが、必ずしもこのようにする必要
はない。該補助機器による、当該装置による予備検証が
自動的に修正し得ないようなある型式の誤差、即ち測定
を続行すると後に無効とされるような誤差を生じるかど
うかが知らされる。

同様にして、分析結果を詳細に表示するために又は制御
表面に観察された欠陥に関して収集された情報を、その
情報修正を担当する他の機器に提供するため、この中央
電子制御器は各点毎に得られた情報をメモリーに蓄積し
、データ処理又はグラフィックデイスプレーに伝送され
る。

第４図及び第５図に示されるように、第４図のブロック
図はディジタルスクリーン５、数値制御器１１．光学ガ
イド１４及びプリンターとの関係を示すものであり、第
５図のブロック図はディジタルスクリーン５、近接ゲー
ジ（光学読み取り変換器）７、プリンター１３及び中央
電子制御器ｌＯの関係を示す。

上述した装置は表面の検証を行い、グイとか穿入機の較
正を行う。

土泥装置は測定し係数し、高精度をもって試料を制御す
ることができる。

上記装置の動作は次のようである： 検証しようとする表面上に主ガイドを設定する。

一試料に沿ってキャリジを変位させる。

−運転にあたり中央電子制御器により制御しつつ一定の
調整速度をもって検証しようとする表面の数ｃｍ近くに
キャリジを摺動させる。

同時に規準化レーザー発信器及び２軸発信スクリーンが
ガイドの起こり得る偏差分を反射しかつそのデータを中
央電子制御器に伝送する。

−中央電子制御器は近接ゲージからのデータを読み取る
と共に座標系から得られた補償値で修正を行った後その
結果がブロック表示される。

上記装置の現在市販されている検証測定装置との操作の
相違点は本質的に次の動作原理に基因するニ ーガイドの偏差が光学的に検証されかつ機械的修正に代
えて電子修正が行われること −あらゆる形式の機械又は製造装置に組み込み可能であ
ること 一携帯できること

【図面の簡単な説明】

第１図は、シリンダー表面を検証するように装着され、
電子制御器を省略して示す、本発明の装置の部分平面図
、 第２図は電子制御器と一緒に示す、第１図の装置の側面
図、 第３図は上記装置の拡大正面図、 第４図は上記装置のブロック図、及び 第５図は上記電子制御器のブロック図である。 ｌ・・・主ガイド、　２．３・・・垂直支持部材、４・
・・キャリジ、　　５・・・ディジタルスクリーン、６
・・・伸長ロッド、 ７・・・近接ゲージ（光学読取り変換器）、８・・・レ
ーザー発信器、 ９・・・多重センサースクリーン、 １０・・・中央電子制御器、１１・・・数値制御器。 ＩＧ−１

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）修正表面検証又は表面修正処理用の可動装置にお
   いて、 ２つの垂直支持部材（２）及び（３）で支持され、自立
   キャリジ（４）の心合わせ及び変位させるように設けら
   れたガイド（１）、 上記ガイド（１）上を案内される伸長アーム（６）に装
   着され、レーザー（８）により送り及び戻りが指令され
   る近接ゲージ又は光学読取り変換器（７）、及び 上記伸長アーム（６）に設けられた測定限界調整用折り
   畳みストップを有し、 上記一方の垂直支持部材（２）及びキャリジ（４）にそ
   れぞれ規準化レーザー発信器（８）及び多重センサース
   クリーン（９）を配置して２軸による進行位置決めを行
   い、このようにして光学読み取りされたデータにしたが
   って中央電子制御器（１０）が集中制御を行うとともに
   上記取得データを処理して検証表面の分析結果を出力す
   ることを特徴とする、可動装置。