JPS62191471A - Manufacture of target for sputtering device - Google Patents

Manufacture of target for sputtering device

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JPS62191471A
JPS62191471A JP61031867A JP3186786A JPS62191471A JP S62191471 A JPS62191471 A JP S62191471A JP 61031867 A JP61031867 A JP 61031867A JP 3186786 A JP3186786 A JP 3186786A JP S62191471 A JPS62191471 A JP S62191471A
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JP
Japan
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target
powder
sealing
silicon
manufacturing
Prior art date
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Application number
JP61031867A
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Japanese (ja)
Inventor
平尾 則好
良一 柴田
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Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はスパッタリング装置用ターゲットの製造方法に
係り、特にMoS−rcに使用されるゲート電極材料を
形成するに用いるに好適な、高密度のモリブデンシリサ
イドからなるスパッタリング装置用ターゲットの製造方
法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a method for manufacturing a target for a sputtering device, and particularly to a method for manufacturing a target for a sputtering device, and in particular, a high-density molybdenum silicide suitable for forming a gate electrode material used in MoS-rc. The present invention relates to a method of manufacturing a target for a sputtering device comprising:

従来の技術 近年MoS型LSIのゲート電極に、比抵抗の小さいモ
リブデンやタングステンなどの高融点金属のシリサイド
(珪化吻)が用いられるようになってきた。こうした高
融点金属のシリリーイドの摸を形成するには、高融点金
属のシリサイド製のターゲットを用いたスパッタリング
法が主として採用されている。
2. Description of the Related Art In recent years, silicides of high melting point metals such as molybdenum and tungsten, which have low specific resistance, have been used for gate electrodes of MoS type LSIs. A sputtering method using a target made of silicide of a high melting point metal is mainly used to form a replica of such a high melting point metal silicide.

高融点金属のシリサイド、特にモリブデンシリサイド製
のターゲットは、一般にモリブデン粉末とシリコン粉末
との混合粉を原料とづるか、あるいはモリブデンシリサ
イド粉末を原料としてホラ1−プレス法或いは無加圧真
空焼結法で製造されている。
Targets made of high-melting point metal silicide, especially molybdenum silicide, are generally made from a mixed powder of molybdenum powder and silicon powder, or by the Hola 1-press method or pressureless vacuum sintering method using molybdenum silicide powder as the raw material. Manufactured in

発明が解決しようとする問題点 ホラ]へプレス法で相対密度90%以上であるターゲッ
トを製造する場合には加熱温度1400℃以上、圧力1
00 ko/ am’以上が必要となる。しかしながら
、加圧容器にカーボン材料を用いた場合には加熱温度が
高いためにターゲツト材へのカーボン(C)の混入が問
題であり、また加圧容器にセラミック材料を用いた場合
にはターゲットへの(A料の混入は無いものの容器の破
損が問題となっている。
[Problems to be Solved by the Invention] When producing a target with a relative density of 90% or more by the press method, the heating temperature is 1400°C or more and the pressure is 1.
00 ko/am' or more is required. However, when a carbon material is used for the pressurized container, there is a problem of carbon (C) being mixed into the target material due to the high heating temperature, and when a ceramic material is used for the pressurized container, the target material (Although there was no contamination with material A, damage to the container was a problem.

また、例えば直径が180mm未満、厚み10mm未満
のターゲットを一枚成形する場合は、直径中心まで均一
に90%以上で圧密できるが、量産用の直径220 m
m、厚み40mmターゲットをホットプレス成形する場
合、外周部は90%以上の密度が得られるが中央部は8
0%程度となり、ターゲラ1〜自体の圧密不足、圧密む
らが起り、スパッタ成膜に粒状物が付着し膜特性を損う
という問題もあった。
For example, when molding a single target with a diameter of less than 180 mm and a thickness of less than 10 mm, it can be consolidated uniformly to the center of the diameter at 90% or more, but a diameter of 220 mm for mass production is possible.
When hot press molding a target with a thickness of 40 mm, a density of 90% or more can be obtained at the outer periphery, but a density of 8 at the center.
0%, resulting in insufficient compaction and uneven compaction of Targetera 1 to itself, and there were also problems in that particulates adhered to the sputtered film and impaired film properties.

一方、無加圧真空焼結法による場合は、焼結温度170
0℃においてら約60〜70%の密度しか得られず密度
不足のためにほとんど実用に供し1gなかった。
On the other hand, when using the pressureless vacuum sintering method, the sintering temperature is 170
At 0°C, only about 60 to 70% of the density was obtained, and due to the insufficient density, only 1 g of the product could be put to practical use.

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために、本発明は、モリブデンシ
リサイド粉末を圧密用封入缶に封入し、熱間静水圧プレ
ス(HIP)法により成形焼結することを特徴とするも
のである。また、本発明において、上記圧密用封入缶の
内面にあらかじめMoを溶射した封入を用いることによ
り、より一層高純度、高密度のスパッタリング装置用タ
ーゲットを提供することができる。
Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is characterized in that molybdenum silicide powder is sealed in a sealing can and molded and sintered by a hot isostatic pressing (HIP) method. That is. Further, in the present invention, by using the sealing can in which Mo is sprayed in advance on the inner surface of the sealing can, it is possible to provide a target for a sputtering device with even higher purity and density.

さらに、前記封入缶の内面にMo、Nbなとの高融点全
屈板が内ばりしてあるものを用いてもよい。
Furthermore, it is also possible to use a case in which a high-melting-point full-flex plate of Mo, Nb, etc. is embedded on the inner surface of the enclosure.

本発明においては、成形焼結にLI I P法を用いて
いるために、低温で高密度化でき均一な組成分布であり
、かつ不純物の混入のないターゲラ1−を成形できる利
点がある。
In the present invention, since the LIIP method is used for shaping and sintering, there is an advantage that the target layer 1- can be formed into high density at a low temperature, has a uniform composition distribution, and is free from contamination with impurities.

また、本発明において、圧密用封入缶として経済的に使
用できる鉄を主体とする金属缶材を用いることができる
が、この場合は本合金の3t と容易に1200℃で共
晶反応し、缶が破壊したりあるいは缶材に汚染を生じる
恐れがある。このため本発明においては、封入缶の内面
にあらかじめMoを溶射してSi との反応による缶材
からの不純物の混入と缶の破壊を防止することが好まし
い。
In addition, in the present invention, a metal can stock consisting mainly of iron, which can be economically used as a sealing can, can be used. may cause damage or contamination of the can stock. Therefore, in the present invention, it is preferable to thermally spray Mo on the inner surface of the enclosed can in advance to prevent contamination of impurities from the can material and destruction of the can due to reaction with Si.

また、本発明において、原料粉末としてはモリブデン粉
末とシリコン粉末との混合粉、モリブデンシリサイド粉
末、またモリブデンシリサイド粉末とシリコン粉末もし
くはモリブデン粉末との混合粉を用いることができるが
、モリブデンシリサイド粉末を主体とする原料粉を使用
することが、組成の均一性などの点から好ましい結果が
得られる。
In addition, in the present invention, as the raw material powder, a mixed powder of molybdenum powder and silicon powder, molybdenum silicide powder, or a mixed powder of molybdenum silicide powder and silicon powder or molybdenum powder can be used, but molybdenum silicide powder is mainly used. Preferable results can be obtained from the viewpoint of uniformity of composition by using the raw material powder.

一般に、Mo8型LSIノ’7”−1−ffi極膜極膜
ジノシリコン含有率0〜40重量%(以下組成を示す%
は仝てfJp%を示ず)であることが必要とされている
。すなわち、モリブデンシリサイド中におけるシリコン
含18 室が40%をこえると抵抗が急激に増加し、ゲ
ート電極膜として不適当となる。
In general, Mo8 type LSI's 7"-1-ffi electrode film dino silicon content is 0 to 40% by weight (the composition is shown below)
does not indicate fJp%). That is, if the silicon-containing 18 chambers in the molybdenum silicide exceeds 40%, the resistance increases rapidly and the film becomes unsuitable as a gate electrode film.

また、シリコン含有率が30%より少なくなると、比抵
抗/膜圧は小さくなるものの、基板との密着性が悪くな
り、また化学的な安定性が乏しくなり、やはりゲート電
極膜として不適当となる。このようなことから、ゲート
電極膜中におけるシリコン含有率は30〜40%の間、
好ましくは35〜37%の間であるとされている〈因゛
みにMo5izカはシリコン36.8%に相当する)。
Furthermore, if the silicon content is less than 30%, although the specific resistance/film thickness will be reduced, the adhesion with the substrate will be poor and the chemical stability will be poor, making it unsuitable as a gate electrode film. . For this reason, the silicon content in the gate electrode film is between 30 and 40%.
It is said that it is preferably between 35 and 37% (for example, Mo5iz is equivalent to 36.8% silicon).

しかして、本発明者らは、鋭意研究を重ねた結果、ゲー
ト電極膜中にお(プるシリコン含有率とモリブデンシリ
サイドターゲット中におけるシリコン含有率とは、はぼ
直線的な関係があり、かつゲート電極膜中シリコン含有
率よりも数%前後程度少なくなることを見出した。
As a result of extensive research, the present inventors found that there is an almost linear relationship between the silicon content in the gate electrode film and the silicon content in the molybdenum silicide target. It has been found that the silicon content in the gate electrode film is approximately several percentage points lower than the silicon content in the gate electrode film.

すなわち、ゲート電極膜中におけるシリコン含有率の必
要な範囲30〜40%に対応するターゲット中のシリコ
ン含有率は35〜43%であり、これらはMoSi、、
、ゆ〜MoSi、、、ヮに相当する。また、ゲート電極
膜中における好適なシリコン含有栢囲である35〜37
%に対応するターゲット中のシリコン含有範囲は39〜
40.6%であり、これはM OS i、、、s ”−
M OS i z、)うに相当する。このため、本発明
の対象とするモリブデンシリサイドターゲラ1−の組成
は、特に上記組成のものが有用である。
That is, the silicon content in the target corresponding to the required range of 30 to 40% for the silicon content in the gate electrode film is 35 to 43%, and these are MoSi,...
, Yu~MoSi, ,, corresponds to ヮ. In addition, a suitable silicon-containing layer in the gate electrode film is 35 to 37
The silicon content range in the target corresponding to 39~
40.6%, which is M OS i,,,s ”-
It corresponds to M OS i z,). For this reason, the composition of the molybdenum silicide Targera 1-, which is the object of the present invention, is particularly useful.

また、本発明゛により得られるターゲラ1−は、相対密
度が90%以上のらのとする。相対密度が90%よりも
小さい場合にはターゲットの強度が不足し、とりわけ脆
くなって取扱いが不便になると共にスパッタ中における
ターゲットの割れなどの恐れもあるためである。
Further, the targera 1- obtained according to the present invention has a relative density of 90% or more. This is because if the relative density is less than 90%, the strength of the target will be insufficient, and it will become especially brittle, making handling inconvenient, and there is also a risk of cracking of the target during sputtering.

実施例 以下、本発明を実施例に基づきより詳細に説明する。Example Hereinafter, the present invention will be explained in more detail based on examples.

実施例1 純度99.98%のモリブデンのインゴットと、純度9
9.9999%のシリコンインゴットとをMoSi2.
、(モリブデン57.2%、シリコン42.8%)とな
るように配合しプラズマアーク溶解炉にて溶解した。得
られた合金を振動式粉砕機にで粉砕し、得られた粉末1
00重吊部に対して6.4重量部のシリコン粉末(上記
シリコンインゴットを同様に粉砕したもの)を添加して
焼結用原料粉とした。
Example 1 A molybdenum ingot with a purity of 99.98% and a molybdenum ingot with a purity of 9
9.9999% silicon ingot and MoSi2.
, (57.2% molybdenum, 42.8% silicon) and melted in a plasma arc melting furnace. The obtained alloy was pulverized in a vibrating pulverizer, and the obtained powder 1
6.4 parts by weight of silicon powder (similarly pulverized from the above silicon ingot) was added to the 00 suspended portion to obtain raw material powder for sintering.

次に、この粉末を用いてホットプレス、無加圧焼結、H
IPにより焼結成形した。このときの各条件は第1表に
示す通りである。
Next, using this powder, hot pressing, pressureless sintering, H
It was sintered and formed using IP. Each condition at this time is as shown in Table 1.

第1表 上記成形焼結体の特性を第2表および第1図に示す。Table 1 The properties of the shaped sintered body are shown in Table 2 and FIG. 1.

第2表 第2表からHIP成形品は不純物レベルが低く、密度の
均一なことが判る。
Table 2 It can be seen from Table 2 that the HIP molded product has a low level of impurities and a uniform density.

第1図はスパッタ後のターゲツト面を示す走査型電子顕
微鏡写真であり、従来のホットプレス品無加圧焼結品に
比べてHIP法による本発明品は成膜上の異物原因とな
る有利微粒がほとんどみられないことが明らかである。
Figure 1 is a scanning electron micrograph showing the target surface after sputtering.Compared to conventional hot-pressed products and pressureless sintered products, the product of the present invention produced by the HIP method has the advantage of being free from fine particles that cause foreign matter during film formation. It is clear that this is hardly seen.

実施例2 実施例1に用いたと同じ原料粉を用い、実施例1で示し
たと同じ条件で軟W4製の内面に厚み0.2mw1にM
oを溶射した缶とMoを溶射しない缶とを用いてl−1
I P成形した。Moを溶射しない缶は缶材のFQと原
料粉中の3iが共晶反応して缶壁が溶融し形をとどめな
いほど変形したが、Mo溶躬した缶はMo膜により缶材
のFeと原料粉中の3iが隔てられているためにFeと
3iの反応はみられず、原料粉は所望形状に焼結された
Example 2 Using the same raw material powder as used in Example 1 and under the same conditions as shown in Example 1, M was applied to the inner surface of soft W4 to a thickness of 0.2 mw1.
l-1 using a can sprayed with O and a can without sprayed Mo.
IP molded. In cans that were not sprayed with Mo, the can wall melted due to a eutectic reaction between the FQ in the can stock and 3i in the raw material powder, and was deformed to the point that it could not retain its shape, but in the case of cans that were sprayed with Mo, the Fe and Fe in the can stock were melted due to the Mo film. Since 3i in the raw material powder was separated, no reaction between Fe and 3i was observed, and the raw material powder was sintered into the desired shape.

Mo溶射した缶材とターゲット界面とは第3表に示すご
と<Feの侵入はなく、ターゲットと缶材の間に反応の
起きていないことを示している。
The interface between the Mo sprayed can stock and the target is shown in Table 3. There was no intrusion of Fe, indicating that no reaction occurred between the target and the can stock.

第3表 実施例3 実施例1に用いたと同じ原料粉を用い、実施例1で示し
たと同じ条件で軟鋼製の内面に厚み0.05mmのMo
板を2重に巻いた缶および厚み0.01mmのNb板を
2重に巻いた缶、厚み0.05m1llのMo板と厚み
0.01mmのNb板を1重に巻いた缶を用いてそれぞ
れHIP成形した。
Table 3 Example 3 Using the same raw material powder as used in Example 1 and under the same conditions as shown in Example 1, a 0.05 mm thick Mo
A can with a double-wound plate, a can with a double-wound Nb plate with a thickness of 0.01 mm, and a can with a single-wrap of a Mo plate with a thickness of 0.05 ml and a Nb plate with a thickness of 0.01 mm were used. HIP molded.

Mo板またはNb板により缶材のFeと原料粉中のSi
が隔離され、l”eと$1の反応はみられザ、前記第3
表と同[pなF<’j宋が(qられ、焼結後の缶材とク
ーグツト成形物は容易に剥消でき、ターグツ1−の界面
も「eによる7rJ染は認められなかった。
Fe in the can stock and Si in the raw material powder are separated by Mo plate or Nb plate.
is isolated, and the reaction between l”e and $1 is observed.
As shown in the table, [pF<'j Song (q) was obtained, and the can material and Kugut molded product after sintering could be easily peeled off, and no 7rJ staining by e was observed on the Targut 1- interface.

発明の効果 以上の通り本発明によれば、Nり○S型LSIのゲート
電挿周を形成するに好適なモリブデンシリサイド合金か
らなるターゲットが提供さ札る。このクーグツ1〜は高
強度であり、取扱いが容易である。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, a target made of a molybdenum silicide alloy suitable for forming a gate electrode insert of an NRI○S type LSI is provided. This Kugutsu 1~ has high strength and is easy to handle.

また、本発明によれば、このような夕〜ゲットを容易に
製造することができる。
Moreover, according to the present invention, such a yugetto can be easily produced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はターゲット−のスパック面を示す金、喘組成距
徴鏡写真である。 ′イ目171、  、 。 8)寸、71〜ブレス♂、  ’< 6 ()()手 
  続   補   正   書          
   8゜昭和61年7月17日   ( 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和61年特許願第31867号   (2、発明の名
称 スパッタリング装置用ターゲットの製造方法3、補正を
する者                      
 (事件との関係    特 許 出願人 住所  東京都千代田区丸の内二丁目1番2月名称 (
508)  日 立 金 属 株式会社4、代理人〒1
05 5、?ili正命令の日付  な しく自発補正)6、
補正により」?)加する発明の数  な し7、補正の
対象  明細書の「発明の詳細な説明」の■補正の内容 1)明細書第5頁第4行目「缶材に汚染を」を「缶材に
よる汚染を」と補正する。 2)同書第6頁第3行目「膜圧」を「膜厚」と補正する
。 3)同円同頁第14行目「中シリコン含有率」を[中の
シリコン含有率はモリブデンシリサイドターゲット中に
あけるシリコン含有率」と補正する。 り同書第14頁第14〜15行「金属組成」を「走査型
電子」と補正する。
FIG. 1 is a gold and pancreatic distance micrograph showing the spuck surface of the target. 'A 171, . 8) Sun, 71 ~ breath ♂, '< 6 () () hand
Continuing amendment
8゜July 17, 1985 (Chief of the Patent Office Black 1) Mr. Akihiro 1, Indication of the case 1985 Patent Application No. 31867 (2. Name of the invention Method for manufacturing targets for sputtering equipment 3, Make amendments) person
(Relationship with the case Patent Applicant Address February 2-1 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Name (
508) Hitachi Metals Co., Ltd. 4, Agent 〒1
05 5,? Voluntary amendment without date of official order) 6.
By correction”? ) Number of inventions to be added None 7. Subject of amendment ■ Contents of amendment in "Detailed description of the invention" in the specification 1) "Contamination on can stock" on page 5, line 4 of the specification can be changed to "can stock" Contamination caused by 2) "Membrane pressure" on page 6, line 3 of the same book is corrected to "film thickness." 3) Correct the "medium silicon content" on the 14th line of the same page to "the silicon content in the middle is the silicon content in the molybdenum silicide target." Therefore, on page 14 of the same book, lines 14-15, "metal composition" is corrected to "scanning electron".

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)原料粉末を圧密用封入缶内に封入し熱間静水圧プ
レス焼結することにより、 MoSi_x(1.84≦x≦2.57)なる組成のモ
リブデンシリサイドからなり、相対密度が90%以上で
あるターゲットを製造することを特徴とするスパッタリ
ング装置用ターゲットの製造方法。
(1) By sealing the raw material powder in a sealing can and sintering it by hot isostatic press, it is made of molybdenum silicide with the composition MoSi_x (1.84≦x≦2.57) and has a relative density of 90%. A method for manufacturing a target for a sputtering apparatus, characterized by manufacturing a target as described above.
(2)上記圧密用封入缶の内面にMo溶射膜が形成して
ある特許請求の範囲第1項記載のスパッタリング装置用
ターゲットの製造方法。
(2) The method for manufacturing a target for a sputtering apparatus according to claim 1, wherein a Mo sprayed film is formed on the inner surface of the sealing can.
(3)上記圧密用封入缶の内面にMo、Nbなどの高融
点金属板が内ばりしてある特許請求の範囲第1項記載の
スパッタリング装置用ターゲットの製造方法。
(3) The method for manufacturing a target for a sputtering apparatus according to claim 1, wherein a high melting point metal plate such as Mo or Nb is embedded on the inner surface of the sealing can.
JP61031867A 1986-02-18 1986-02-18 Manufacture of target for sputtering device Pending JPS62191471A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1122225A4 (en) * 1999-05-10 2003-05-28 Japan Energy Corp MATERIAL WITH HIGH-TEMPERATURE OXIDATION RESISTANCE CONSISTING MAINLY OF MoSi 2? WITH EXCELLENT BRITTLE RESISTANCE AND HEATING MATERIAL

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1122225A4 (en) * 1999-05-10 2003-05-28 Japan Energy Corp MATERIAL WITH HIGH-TEMPERATURE OXIDATION RESISTANCE CONSISTING MAINLY OF MoSi 2? WITH EXCELLENT BRITTLE RESISTANCE AND HEATING MATERIAL

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