JPS62188918A - Electric charge storage type photoelectric transducer element - Google Patents

Electric charge storage type photoelectric transducer element

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JPS62188918A
JPS62188918A JP61102552A JP10255286A JPS62188918A JP S62188918 A JPS62188918 A JP S62188918A JP 61102552 A JP61102552 A JP 61102552A JP 10255286 A JP10255286 A JP 10255286A JP S62188918 A JPS62188918 A JP S62188918A
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JP
Japan
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output
circuit
brightness
monitor
storage
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Application number
JP61102552A
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Japanese (ja)
Inventor
Tokuji Ishida
石田 徳治
Hiroshi Mukai
弘 向井
Hiroshi Otsuka
博司 大塚
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To enable the storing time of electric charge to a storage to be controlled by using the suitably thinned-out photoelectric current output of a monitoring photosensitive element. CONSTITUTION:Monitoring photosensitive elements 101 are provided between each of a plurality of adjacent photosensitive elements 100 arranged like an array while sandwiching channel stoppers between the elements 100 and 101. The elements 101 produce photoelectric current corresponding to a luminance within the range that the elements 100 detect luminance distribution. However, the photoelectric current output of the elements 101 is thinned out every approximately equal interval and the electric charge corresponding to the sum total of the thinned-out photoelectric current output is stored in a monitoring charge storage C1. That is, since the storage output corresponding to a luminance in average within a luminance monitoring range is obtained, the saturation of the storage output in a high luminance and the shortage in the storage output in a low luminance are not generated. Further, since the photoelectric current from the elements 101 is suitably thinned out, the charge storing speeds of both can be substantially matched to each other. Accordingly, be observing the storage condition of the storage C1, the charge storage condition from a photosensitive portion to the storage can be substantially determined to enable a storing storage time to be controlled.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、カメラの焦点検出素子として用いられるのに
適した電荷蓄積型光電変換素子に関するものであり、更
に詳しくは、蓄積部への積分時間の制御のために各受光
部の間に配されたモニター用受光素子からの光電流出力
を適度に間引いて用いるようにした電荷蓄積型光電変換
素子に関するものである。
Detailed Description of the Invention (Industrial Field of Application) The present invention relates to a charge accumulation type photoelectric conversion element suitable for use as a focus detection element of a camera, and more specifically relates to a charge accumulation type photoelectric conversion element suitable for use as a focus detection element of a camera. The present invention relates to a charge accumulation type photoelectric conversion element in which the photocurrent output from a monitoring light receiving element disposed between each light receiving part is appropriately thinned out for use in order to control time.

(従来の技術) 従来、アレイ状に配列された複数の受光部と各受光部に
おける受光量に応じてそれぞれ電荷を蓄積する複数の蓄
積部とを備えるCCDラインセンサのような電荷蓄積型
の光電変換素子をカメラの焦点検出素子として用いるこ
とが提案されている。
(Prior Art) Conventionally, a charge storage type photoelectric sensor such as a CCD line sensor has a plurality of light receiving sections arranged in an array and a plurality of storage sections that accumulate charges according to the amount of light received at each light receiving section. It has been proposed to use conversion elements as focus detection elements in cameras.

CCDラインセンサは、複数の受光部が配列された部分
における光の輝度分布を検出することができるので、焦
点検出素子としては好適なものである。しかしながら、
CCDラインセンサは受光した光の絶対量を検出してい
るものではなく、蓄積部に蓄積された電荷の相対値を見
ることにより、各受光部に照射された光の輝度分布を知
るようになっており、受光する光が強すぎると蓄積部か
らの出力が飽和して出力信号が歪み、また、受光する光
か弱すぎると蓄積部からの出力が低くなって、S/N比
が悪くなるという同順がある。そこで、輝度モニター用
の受光素子を、前記複数の受光部の配列された近傍に配
して、輝度モニター出力に応じて蓄積部への電荷の蓄積
時間を制御し、輝度が高いときには蓄積部への電荷の蓄
積時間を短くし、輝度が低いときには蓄積部への電荷の
蓄積時間を長くして、電荷の蓄積量が適当な値となるよ
うに制御することが提案されている。
A CCD line sensor is suitable as a focus detection element because it can detect the luminance distribution of light in a portion where a plurality of light receiving sections are arranged. however,
The CCD line sensor does not detect the absolute amount of light received, but by looking at the relative value of the charge accumulated in the storage section, it can determine the brightness distribution of the light irradiated to each light receiving section. If the received light is too strong, the output from the storage section will be saturated and the output signal will be distorted, and if the received light is too weak, the output from the storage section will be low, resulting in poor S/N ratio. There is a same order. Therefore, a light-receiving element for brightness monitoring is placed near the array of the plurality of light-receiving parts, and the charge accumulation time in the storage part is controlled according to the brightness monitor output, and when the brightness is high, the charge is transferred to the storage part. It has been proposed to control the charge accumulation amount to an appropriate value by shortening the charge accumulation time in the storage section and lengthening the charge accumulation time when the luminance is low.

第14図は、上記の従来例において、CCDラインセン
サによって測距される測距範囲(&)と、CCDライン
センサの近傍に設けられるモニター用受光素子の測光範
囲(b)とを示す説明図である。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing the distance measurement range (&) measured by the CCD line sensor and the photometry range (b) of the monitoring light receiving element provided near the CCD line sensor in the above conventional example. It is.

ここで、測距範囲(a)は、ファインダーを覗いて見る
ことができる。測光範囲(b)は、実際には示されてお
らず、ファインダーを覗いても見ることはできない0図
から明らかなように、この場合には、モニター用の受光
素子に入射される光量とCCDラインセンサに入射され
る光量とが相違する可能性がある。
Here, the distance measurement range (a) can be seen by looking through the finder. The photometric range (b) is not actually shown and cannot be seen even when looking through the finder. There is a possibility that the amount of light incident on the line sensor is different.

(発明が解決しようとする問題点) 上述のように、CCDラインセンサの近傍にモニター用
の受光素子を配した場合には、モニタ一部とCCD画素
部の見ている部分が異なるので、夫々の明るさが異なる
場合があり、これによって次の(イ)(ロ)に示すよう
な測光上及び焦点検出上の問題点を生じる。
(Problems to be Solved by the Invention) As mentioned above, when the light receiving element for the monitor is arranged near the CCD line sensor, the part viewed by the monitor part and the part seen by the CCD pixel part are different. The brightness of the two images may differ, which causes problems in photometry and focus detection as shown in (a) and (b) below.

(イ)まず、測光の場合には、第14図に示したように
モニタ一部の領域は表示されないので、撮影者は図中(
、>の測距範囲のみに、写そうとする被写体を入れ、図
中<b)のモニタ一部には入れない事があり、誤測光と
なることがある。
(B) First, in the case of photometry, some areas of the monitor are not displayed as shown in Figure 14, so the photographer can
The subject to be photographed may be included only in the distance measurement ranges marked , >, but may not be included in the part of the monitor indicated by <b) in the figure, which may result in erroneous light measurement.

(ロ)次に、焦点検出の場合には、モニター用の出力に
よって積分時間を制御しているので、モニタ一部とCC
D画素部の明るさが異なる場合に、CCD画素の出力が
必要とされるレベル範囲内に入らず、正確な焦点検出が
できないことがある。
(b) Next, in the case of focus detection, the integration time is controlled by the output for the monitor, so the monitor part and the CC
If the brightness of the D pixel portion is different, the output of the CCD pixel may not fall within the required level range, and accurate focus detection may not be possible.

例えばモニタ一部のみが非常に明るい場合にはCCD画
素への積分時間が短くなり、CCD画素の出力レベルが
低すぎることになり、逆に、モニタ一部のみが暗い場合
には、CCD画素への積分時間が長くなるので、CCD
画素の出力が飽和してしまうことがある。
For example, if only a part of the monitor is very bright, the integration time to the CCD pixel will be short and the output level of the CCD pixel will be too low. Conversely, if only a part of the monitor is dark, the integration time to the CCD pixel will be too low. Since the integration time of CCD becomes longer,
Pixel output may become saturated.

そこで、光電変換素子の各受光部が見ている測距範囲と
同じ範囲を測光するために、モニター用の受光素子を各
受光部の間に配して、受光部が見ている範囲と同じ範囲
の輝度をモニターし、この輝度モニター出力により、蓄
積部への電荷の蓄積時間を制御することが考えられる(
第1図(a)に図示された構造を参照)、この場合にお
いて、モニター用の受光素子は、製造上の問題から、そ
の大きさについて最小限界があり、現状では、可能な限
り小さな大きさで製作しているが、各モニター用の受光
素子からの光1!流出力の総和を取ると、モニター用受
光素子をCCDイメージセンサ−の近傍に配する場合(
第14図の配置を参照〉に比べると、光電流出力が大き
くなり、これによって、CODの蓄積部への積分時間が
短くなり、CCD画素の出力レベルが小さくなるという
問題があった。そして、この出力が小さくなると、正確
な自動焦点検出ができなくなるという問題があり、誤焦
点検出となることがあった。
Therefore, in order to measure the same range as the distance measurement range seen by each light receiving part of the photoelectric conversion element, a monitor light receiving element is placed between each light receiving part. It is conceivable to monitor the brightness of the range and use this brightness monitor output to control the charge accumulation time in the storage section (
(Refer to the structure shown in FIG. 1(a)) In this case, the light receiving element for the monitor has a minimum size limit due to manufacturing problems, and currently, the size of the light receiving element for the monitor is as small as possible. The light from the light receiving element for each monitor is 1! Taking the total output power, when the monitor light receiving element is placed near the CCD image sensor (
14), the photocurrent output is larger, which shortens the integration time of the COD to the storage section, and there is a problem that the output level of the CCD pixel becomes smaller. When this output becomes small, there is a problem that accurate automatic focus detection is no longer possible, resulting in incorrect focus detection.

これを解決する方法として、モニター用の受光素子から
の光電流出力を積分するためのコンデンサ(第2図のコ
ンデンサ(C1)を参照)の容量を大きくすることが考
えられる。しかしながら、電荷蓄積型光電変換素子は集
積回路上に精成されるので、コンデンサを大きくするに
は、その面積を広く確保しなければならず、ICのチッ
プ面積が大きくなり、それ自体のコストアップを生じる
のみならず、歩留まりが悪くなることに伴うコストアッ
プをも生じるという問題があった。
One possible solution to this problem is to increase the capacitance of a capacitor (see capacitor (C1) in FIG. 2) for integrating the photocurrent output from the monitoring light-receiving element. However, since the charge storage type photoelectric conversion element is refined on an integrated circuit, in order to increase the size of the capacitor, a large area must be secured, which increases the chip area of the IC and increases its own cost. There has been a problem in that not only this occurs, but also costs increase due to poor yield.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、複数の受光部の間に配されたモ
ニター用受光素子の光電流出力を適当に間引いて用いる
ことにより、モニター用の受光素子からの光電流出力を
積分するための電荷蓄積部を大きくすることなく、受光
部から蓄積部に適当なレベルの蓄積が行われるように、
蓄積部への電荷の蓄積時間を制御できるようにした電荷
蓄積型光電変換素子を提供するにある。
The present invention has been made in view of these points, and its purpose is to appropriately thin out and use the photocurrent output of a monitor light receiving element arranged between a plurality of light receiving sections. In order to achieve an appropriate level of accumulation from the light receiving section to the storage section without increasing the size of the charge storage section for integrating the photocurrent output from the monitoring light receiving element,
An object of the present invention is to provide a charge storage type photoelectric conversion element in which the time for storing charge in a storage section can be controlled.

(問題点を解決するための手段) 本発明に係る電荷蓄積型光電変換素子にあっては、上述
のような問題点を解決するために、添付図面に示される
ように、アレイ状に配列された複数の受光部(CCDフ
ォトダイオード(100))と各受光部における受光量
に応じてそれぞれ電荷を蓄積する複数の蓄積部とを備え
、蓄積部への電荷の蓄積時間を制御するためのモニター
用受光素子(モニターフォトダイオード(101))を
各受光部の間に配され、モニター用受光素子からの光電
流出力を略等間隔毎に間引いて、間引かれた光電流出力
の総和に応じた電荷を蓄積されるモニター用の電荷蓄積
部(コンデンサ(C1))を備え、モニター用の電荷蓄
積部にて得られたモニター出力(AGCO3)に応じて
前記蓄積時間が制御されるようにしたものである。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the charge storage type photoelectric conversion element according to the present invention is arranged in an array as shown in the attached drawings. The monitor includes a plurality of light receiving sections (CCD photodiodes (100)) and a plurality of accumulation sections that accumulate electric charges in accordance with the amount of light received in each light receiving section, and controls the accumulation time of charge in the accumulation sections. A monitor photodiode (101) is disposed between each light receiving section, and the photocurrent output from the monitor photodiode is thinned out at approximately equal intervals, depending on the sum of the thinned photocurrent outputs. A charge storage unit for monitoring (a capacitor (C1)) is provided to store the charge accumulated, and the storage time is controlled according to a monitor output (AGCO3) obtained from the charge storage unit for monitoring. It is something.

なお、ここで括弧内の記載は実施例との対応関係を示す
ものであり、発明の範囲を限定する意図ではない。
Note that the descriptions in parentheses here indicate correspondence with the examples, and are not intended to limit the scope of the invention.

(作用) 本発明の電荷蓄積型光電変換素子にあっては、各受光部
の間に配された複数のモニター用の受光素子が、受光部
にて輝度分布を検出している範囲内の輝度に応じた光電
流出力をそれぞれ生じる。
(Function) In the charge storage type photoelectric conversion element of the present invention, the plurality of monitor light receiving elements disposed between the respective light receiving parts detect the luminance distribution within the range of the light receiving parts. Each generates a photocurrent output according to the current.

このモニター用の受光素子の光電流出力は適当に間引か
れて、間引かれた光電流出力の総和に応じた電荷が、モ
ニター用の電荷蓄積部に蓄積される。
The photocurrent outputs of the monitoring light-receiving elements are appropriately thinned out, and charges corresponding to the sum of the thinned out photocurrent outputs are accumulated in the monitoring charge storage section.

その結果として、モニター用の電荷蓄積部には、輝度モ
ニター範囲内の平均的な輝度に応じた蓄積出力が得られ
、この輝度モニター出力に応じて受光部から蓄積部への
蓄積時間が制御される。したがって、高輝度時の蓄積出
力飽和や低輝度時の蓄積出力不足等の不都合が生じるこ
とはない、また、モニター用の受光素子からの光電流の
総和は、モニター用の受光素子の面積を極力小さくして
も、各受光部にて得られる光電流よりも大きくなるのが
普通であるが、モニター用の受光素子からの光電流は適
当に間引かれているので、各受光部の蓄積部に比べて、
モニター用の電荷蓄積部の容量を特に大きくしなくても
、両者の電荷蓄積速度を大略整合させることができる。
As a result, the charge storage section for monitoring obtains an accumulation output according to the average brightness within the brightness monitor range, and the accumulation time from the light receiving section to the storage section is controlled according to this brightness monitor output. Ru. Therefore, inconveniences such as accumulated output saturation at high brightness or insufficient accumulated output at low brightness do not occur.In addition, the total photocurrent from the monitor photodetector is determined by minimizing the area of the monitor photodetector. Even if it is made smaller, it is normally larger than the photocurrent obtained at each light receiving element, but since the photocurrent from the monitoring light receiving element is thinned out appropriately, the storage area of each light receiving element is Compared to
Even if the capacity of the monitor charge storage section is not particularly increased, the charge storage speeds of both can be roughly matched.

したがって、モニター用の電荷蓄積部における電荷蓄積
状態を見ることにより、受光部から蓄積部への電荷蓄積
状態を大略知ることができ、これによって蓄積時間の制
御が可能となっているものである。
Therefore, by looking at the charge accumulation state in the monitor charge accumulation section, it is possible to roughly know the charge accumulation state from the light receiving section to the accumulation section, thereby making it possible to control the accumulation time.

(実施例) 以下、本発明の好ましい実施例を図面と共に説明する。(Example) Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第3図は本発明の一実施例に係る測光装置に用いる合焦
検出装置の光学系を示す、第3図において、(TL)は
撮影レンズ、(F)はフィルム等価面、(CL)はコン
デンサーレンズ、(L 1 )、(L2)は結像レンズ
、(M)は結像レンズに入射する光を制限する絞り、(
I 1)、(I 2>は電荷蓄積型イメージセンサ°−
であって、フィルム等価面(F)のA、Hの範囲の像を
、コンデンサーレンズ(CL)、結像レンズ(LL)、
(L2)によってイメージセンサ−<I 1)、(I 
2)上に各々像(A 1 )、(B 1 ’)及び(A
 2 )、(B 2 ’)として再形成する。イメージ
センサ−(I 1)、(I 2)は、その上に形成され
た2つの像の強度分布に対応する2つの像信号をマイク
ロコンピュータで精成される焦点検出回路に送出し、焦
点検出回路ではそれぞれの像信号がある相関関係を持つ
ことにより、像のずれ量及び合焦状態を判定する。
FIG. 3 shows an optical system of a focus detection device used in a photometric device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 3, (TL) is a photographing lens, (F) is a film equivalent surface, and (CL) is a Condenser lens, (L 1 ) and (L2) are imaging lenses, (M) is an aperture that restricts the light incident on the imaging lens, (
I1), (I2> are charge accumulation type image sensors °-
The image in the range A and H of the film equivalent surface (F) is captured by a condenser lens (CL), an imaging lens (LL),
(L2) by image sensor −<I 1), (I
2) Images (A 1 ), (B 1 ') and (A
2 ), reformed as (B 2 '). The image sensors (I 1) and (I 2) send two image signals corresponding to the intensity distribution of the two images formed thereon to a focus detection circuit refined by a microcomputer, and perform focus detection. The circuit determines the amount of image shift and the in-focus state by having a certain correlation between the respective image signals.

第2図は、上述のイメージセンサ−(Il)、(I2)
を含む光電変換部を示したもので、この光電変換部は、
P++Px+ HHH、P(n  +)、Pnからなる
フォトセンサーアレイ(PA)、このフォトセンサーア
レイ(PA)を初期設定する積分クリア回路(ICG)
、前記フォトセンサーアレイ(PA)に蓄えられた蓄積
電荷を後述するCCDシフトレジスタ(SR)に転送す
るシフトゲート回路(SG)、R+、Rz、 ・・・、
R(n+z)、R(n+z)からなるCCDシフトレジ
スタ(SR)を備えている。ここで、前記フォトセンサ
ーアレイ(PA)から送られてきた蓄積電荷を、転送パ
ルス(φ1)、(φ2)に同期して、順次映像信号出力
回路(Vs)に転送する転送部であるCCDシフトレジ
スタ(SR)のセル数は。
FIG. 2 shows the above-mentioned image sensors (Il) and (I2).
This figure shows a photoelectric conversion unit including:
A photosensor array (PA) consisting of P++Px+ HHH, P(n +), and Pn, an integral clear circuit (ICG) that initializes this photosensor array (PA)
, a shift gate circuit (SG) that transfers the accumulated charge stored in the photosensor array (PA) to a CCD shift register (SR) described later, R+, Rz, .
It is equipped with a CCD shift register (SR) consisting of R(n+z) and R(n+z). Here, the CCD shifter is a transfer unit that sequentially transfers the accumulated charges sent from the photosensor array (PA) to the video signal output circuit (Vs) in synchronization with the transfer pulses (φ1) and (φ2). The number of cells in the register (SR) is.

フォトセンサーアレイ(PA)のフォトセンサー数より
も3個多い、CCDシフトレジスタ(SR)のセルR,
,R,,R,は空送り用であり、フォトセンサーアレイ
(PA)の各フォトセンサーPxPx、・・・、P(n
  +)、Pnの蓄積電荷は、後述のシフトパルス(S
H)によってCCDシフトレジスタ(SR)のセルR,
,Rs、 ・−−、R(n+2>、R(n+3>に並列
的に転送される。各フォトセンサーは第4図に示すよう
に、フォトダイオード(Dl)、PN接合の接合容量を
利用した電荷蓄積用ダイオード(D2)、フォトダイオ
ード(Dl)のカソードと電荷蓄積用ダイオード(D2
)のカソードとに接続され、ゲートが接地されているF
ET回路(QIO)、電荷蓄積用ダイオード(D2)の
カソードと電源子■とに直列に接続されたスイッチ(S
)から構成されている。このスイッチ(S)は積分クリ
ア回路(ICG)の半導体スイッチング素子に相当する
ものであり、このスイッチが閉成(積分クリア信号(I
CGS)が送られ半導体スイッチング素子がON)され
ると、電荷蓄積用ダイオード(D2)のカソード側のレ
ベルが電源子Vのレベルまで引き上げられる。すなわち
、フォトセンサーが初期状態にセットされる。スイッチ
(S)が開かれると(積分クリア信号(ICGS)の消
滅後、半導体スイッチング素子がOFFになると)、F
ET@路(Q10)を介してフォトダイオード(Dl)
の光電流が、電荷蓄積用ダイオード(D2)の電荷を放
電し、電荷蓄、積用ダイオード(D2)のカソード電圧
は時間の経過と共に降下する。すなわち、光電流積分が
行なわれるが、これはフォトダイオード(Dl)に入射
する光の強度に応じた速度で電荷蓄積用ダイオード(D
2)のカソードに負の電荷が蓄積されると考えてよい。
Cell R of the CCD shift register (SR), which has three more photosensors than the number of photosensors in the photosensor array (PA),
,R,,R, are for empty feeding, and each photosensor PxPx,...,P(n
+), the accumulated charge of Pn is generated by a shift pulse (S
H) of the CCD shift register (SR) cell R,
, Rs, ・--, R(n+2>, R(n+3>) are transferred in parallel.As shown in Figure 4, each photosensor utilizes the junction capacitance of a photodiode (Dl) and a PN junction. Charge storage diode (D2), photodiode (Dl) cathode and charge storage diode (D2)
) and the gate is grounded.
ET circuit (QIO), a switch (S) connected in series with the cathode of the charge storage diode (D2) and the power supply
). This switch (S) corresponds to the semiconductor switching element of the integral clear circuit (ICG), and this switch is closed (integral clear signal (ICG)
CGS) is sent and the semiconductor switching element is turned ON), the level on the cathode side of the charge storage diode (D2) is raised to the level of the power supply element V. That is, the photosensor is set to the initial state. When the switch (S) is opened (after the integral clear signal (ICGS) disappears and the semiconductor switching element turns OFF), F
Photodiode (Dl) via ET@ path (Q10)
The photocurrent discharges the charge in the charge storage diode (D2), and the cathode voltage of the charge storage and storage diode (D2) decreases over time. In other words, photocurrent integration is performed, which is performed by the charge storage diode (Dl) at a speed corresponding to the intensity of light incident on the photodiode (Dl).
It can be considered that negative charges are accumulated on the cathode of 2).

したがって、各フォトセンサーは入射光強度に応じた速
度で電荷を蓄積すると考えられる。フォトセンサーの電
荷の蓄積は、前記積分クリア信号(ICGS)が消滅し
てから開始され、シフトゲート回路(SG)にシフトパ
ルスが入力されると終了する。すなわち、シフトパルス
の入力によりフォトセンサーの蓄積電荷がCCDシフト
レジスタ(SR)に転送される。CCDシフトレジスタ
(S R)では転送パルス(φ1〉、(φ2)により、
転送された蓄積電荷を1セル分ずつ順次映像信号出力口
N(VS)へ出力する。第2図の(T8)、(T9)は
フォトセンサーアレイ(PA)、輝度モニター回N(M
C>、基準信号発生回路<R3>、映像信号出力回路(
Vs)に電源+■を供給する為の電源端子とアース端子
である。
Therefore, it is considered that each photosensor accumulates charge at a rate corresponding to the intensity of incident light. Accumulation of charges in the photosensor starts after the integral clear signal (ICGS) disappears, and ends when a shift pulse is input to the shift gate circuit (SG). That is, the accumulated charge of the photosensor is transferred to the CCD shift register (SR) by inputting a shift pulse. In the CCD shift register (S R), transfer pulses (φ1>, (φ2))
The transferred accumulated charges are sequentially output to the video signal output port N (VS) one cell at a time. (T8) and (T9) in Fig. 2 are photosensor array (PA), brightness monitor times N (M
C>, reference signal generation circuit <R3>, video signal output circuit (
These are a power supply terminal and a ground terminal for supplying power +■ to Vs).

第1図(a)はフォトセンサーアレイ(PA)の構成を
示している。(100)はCCDの受光部たるCCDフ
ォトダイオード、(101)はモニター用の受光素子た
るモニターフォトダイオードである。
FIG. 1(a) shows the configuration of a photosensor array (PA). (100) is a CCD photodiode which is a light receiving part of a CCD, and (101) is a monitor photodiode which is a light receiving element for monitoring.

モニターフォトダイオード(Lot)はCCDフォトダ
イオード(100)の間に配されている。このモニター
フォトダイオード(101)の両側には、チャネルスト
ッパー(102)を設けてあり、モニターフォトダイオ
ード(101)とCCDフォトダイオード(100)と
の間でおこる電荷の移動を防止している。モニター用の
フォトダイオードは、一つ毎にモニターに使用するもの
と、使用しないものとに別れている。これは第14図に
示したモニター受光部の面積に対応させるためであり、
第1図(a)のモニター用のフォトダイオードの太きさ
に応じて、モニター用に使用する比率を変えれば良い1
図においては、使用しないフォトダイオードのカソード
を電源+■に接続しているが、オーブンにしても良い、
前記輝度モニター回路(MC)、基準信号発生回路(R
8>、映像信号出力回路(V s)を含めて、これらも
光電変換部を構成している。
A monitor photodiode (Lot) is placed between the CCD photodiodes (100). Channel stoppers (102) are provided on both sides of the monitor photodiode (101) to prevent charge movement between the monitor photodiode (101) and the CCD photodiode (100). Monitor photodiodes are divided into those that are used for monitoring and those that are not used. This is to correspond to the area of the monitor light receiving section shown in Figure 14.
The ratio used for monitoring can be changed depending on the thickness of the photodiode for monitoring shown in Figure 1 (a).
In the figure, the cathode of the unused photodiode is connected to the power supply +■, but it can also be connected to an oven.
The luminance monitor circuit (MC) and the reference signal generation circuit (R
8>, these including the video signal output circuit (Vs) also constitute a photoelectric conversion section.

輝度モニター回路(M C)は、FET回路(Ql)。The brightness monitor circuit (MC) is a FET circuit (Ql).

(Q 2 )、(Q 3 ’)とコンデンサー(C1)
とからなり、FET回路(Ql)のゲートは、積分クリ
ア回路(ICG)に接続され、前記積分クリア信号(I
CGS)により導通し、FET回路(Ql)、(C2)
のゲートとコンデンサー(C1)の接続点(Jl)を電
源子■に引き上げる。輝度モニター用のモニターフォト
ダイオード(101)は、前述の第4図の回路と同じ動
作を行う。すなわち積分クリア信号(ICGS)の消滅
後、モニターフォトダイオード(101)は、入射する
光の強度に応じた速度でコンデンサー(C1)に、負の
電荷を蓄積していく。FET回路(C2)、(C3)は
バッファを構成しており、FET回路(C2>、(C3
)の接続点から引き出されている端子(T1)から、接
続点(Jl)の電圧と等しい電圧(AGCO3>が出力
される。
(Q 2 ), (Q 3 ') and capacitor (C1)
The gate of the FET circuit (Ql) is connected to the integral clear circuit (ICG), and the gate of the FET circuit (Ql) is connected to the integral clear signal (ICG).
CGS) conducts, FET circuit (Ql), (C2)
Pull up the connection point (Jl) between the gate of and the capacitor (C1) to the power supply terminal ■. A monitor photodiode (101) for monitoring brightness performs the same operation as the circuit shown in FIG. 4 described above. That is, after the integral clear signal (ICGS) disappears, the monitor photodiode (101) accumulates negative charges in the capacitor (C1) at a speed corresponding to the intensity of the incident light. The FET circuits (C2) and (C3) constitute a buffer, and the FET circuits (C2>, (C3)
) A voltage (AGCO3>) equal to the voltage at the connection point (Jl) is output from the terminal (T1) pulled out from the connection point of the connection point (Jl).

第5図は、この出力電圧(AGCO8)の時間的変化を
示したものであり、(C1)〜(I7)は輝度によって
電圧降下の速度が変化することを示している。なお、図
中に示される立ち上がりの波形は積分クリア信号(IC
GS)による誘導ノイズを表している。
FIG. 5 shows the temporal change of this output voltage (AGCO8), and (C1) to (I7) show that the speed of voltage drop changes depending on the brightness. Note that the rising waveform shown in the figure is the integral clear signal (IC
GS) represents the induced noise.

第2図に戻って、基準電圧発生回路(R8)は、FET
回路(Q 4 )、(Q 5 )、(Q 6 )及びコ
ンデンサー(C2)から構成されており、接続点(J2
)がFET回路(C4)とFET回路(C5)のゲート
及びコンデンサー(C2)にしか接続されていない点を
除いては、輝度モニター回路(M C)と全く同じであ
り、同−策積回路内につくられる為、各々の特性も同じ
である。したがって、積分クリア信号(ICGS)の消
滅直後の端子(I2)の基準電圧(D。
Returning to FIG. 2, the reference voltage generation circuit (R8) is a FET
It consists of circuits (Q 4 ), (Q 5 ), (Q 6 ) and a capacitor (C2), and the connection point (J2
) is connected only to the gates of the FET circuit (C4) and FET circuit (C5), and to the capacitor (C2). Since they are created internally, their characteristics are the same. Therefore, the reference voltage (D) of the terminal (I2) immediately after the disappearance of the integral clear signal (ICGS).

S)と、輝度モニター回路(MC>のくT1)端子の電
圧(A G COS >とは、はとんど同じである。こ
の為、時間経過と共に降下する電圧量を測定するための
基準電圧として用いることができる。
S) and the voltage at the brightness monitor circuit (MC>T1) terminal (A It can be used as

映像信号出力回路(Vs)は、FET回路(C7)。The video signal output circuit (Vs) is a FET circuit (C7).

(Q 8 )、(Q 9 ’)及びコンデンサー(C3
)から構成され、接続点(J3)は、FET回路(C7
)とFET回路(C8)のゲート及びコンデンサー(C
3)に加えて、CCDシフトレジスタ(SR)の出力に
接続されている。FET回路(C7)のゲートは、転送
パルス(φ1)の(I4)端子に接続され、このパルス
(φ1)が入力される毎にFET回路(C7)が導通し
てコンデンサー(C3)は電源電圧子Vのレベルまで充
電され、映像信号出力回路(Vs)がリセットされる。
(Q 8 ), (Q 9 ') and capacitor (C3
), and the connection point (J3) is an FET circuit (C7
) and the gate and capacitor (C8) of the FET circuit (C8)
3), it is also connected to the output of the CCD shift register (SR). The gate of the FET circuit (C7) is connected to the (I4) terminal of the transfer pulse (φ1), and each time this pulse (φ1) is input, the FET circuit (C7) becomes conductive and the capacitor (C3) is connected to the power supply voltage. The voltage is charged to the level of the slave V, and the video signal output circuit (Vs) is reset.

その後転送パルス(φ1)により前記コンデンサー(C
3)は転送されるCCDシフトレジスタ(S R)の蓄
積電荷に応じた電荷の放電を繰り返して行い、バッファ
を形成するFET回路(C8)、(Q9)の接続点の端
子(I3)から各フォトセンサーに対応した電圧が、各
画素の映像信号(OS)として出力され、それらが全体
で映像信号を形成する。
Thereafter, the transfer pulse (φ1) causes the capacitor (C
3) repeatedly discharges the charge according to the accumulated charge of the CCD shift register (SR) to be transferred, and each A voltage corresponding to the photosensor is output as a video signal (OS) for each pixel, and these together form a video signal.

第6図は、本実施例におけるCCDシフトレジスタ(S
R)の各セルの機能分担を示すマツプである。セルは1
番から128番まであり、31番から57番間での27
セルが第3図のイメージセンサ−(11)に相当し、8
0番〜114番までの35セルが第3図のイメージセン
サ−(工2)に相当する。イメージセンサ−(I2)に
相当する部分のセル数が多いのは、まず最初に、イメー
ジセンサ−(11)に相当する27セルとイメージセン
サ−(I2)に相当する80番から106番までの27
セルとを対比し、次に一画素ずらし81番から107番
までの27セルとを対比し、最後に87番から114番
までの27セルとを対比するというように、イメージセ
ンサ−(I2)に相当する出力を1個ずつずらしながら
、順次イメージセンサ−(11)に相当する出力の比較
を行うためである。
FIG. 6 shows the CCD shift register (S) in this embodiment.
This is a map showing the division of functions of each cell in R). cell is 1
from number 128 to number 128, and number 27 between number 31 and 57.
The cell corresponds to the image sensor (11) in FIG.
The 35 cells numbered 0 to 114 correspond to the image sensor (section 2) in FIG. First of all, the number of cells corresponding to the image sensor (I2) is large: 27 cells corresponding to the image sensor (11) and cells numbered 80 to 106 corresponding to the image sensor (I2). 27
Image sensor (I2) This is to sequentially compare the outputs corresponding to the image sensor (11) while shifting the outputs corresponding to the image sensor (11) one by one.

前記それぞれの比較による結果の相関をとることによっ
て、合焦、前ピン、後ピンが判断される。
In-focus, front focus, and rear focus are determined by correlating the results of the respective comparisons.

1番〜3番のセルは、空送りセルであり、4番から15
番の半分までは、光が完全に入射しないようにアルミ蒸
着による遮光マスクを施しである黒基準部であり、この
アルミ蒸着によって電気的特性も若干変化している。
Cells 1 to 3 are empty feed cells, and cells 4 to 15
Up to half of the reference area is a black reference area covered with a light-shielding mask made of aluminum evaporation to prevent light from entering completely, and the electrical characteristics have changed slightly due to this aluminum evaporation.

第7図は本発明の電荷蓄積型光電変換素子を用いた自動
焦点検出装置の回路構成を示す、この回路構成において
制御回路(11)及び演算判別回路(12)はマイクロ
コンピュータ(以下マイコンと言う)によって構成され
ている。レリーズボタン〈不図示)の第1ストロークの
押下によるスイッチ(Sl)のONが制御回路(11)
によって検出されると制御回路(11)は焦点検出の制
御を開始する。
FIG. 7 shows the circuit configuration of an automatic focus detection device using the charge accumulation type photoelectric conversion element of the present invention. ). The control circuit (11) turns on the switch (Sl) by pressing the first stroke of the release button (not shown).
When detected, the control circuit (11) starts controlling focus detection.

まず、制御回路(11)は積分クリア信号(ICGS)
を光電変換回路(10)に出力し、各フォトセンサーを
初期状態にリセットすると共に、上記信号(ICGS)
によって輝度モニター回路(M C)の出力(A G 
COS )を初期状態の電源電圧レベルまで回復させる
。そして、この積分クリア信号(ICGS)が消滅する
と同時に、光電変換回路(10)の各フォトセンサーが
光積分を開始すると共に、輝度モニター回路(M C)
が被写体の輝度の測定を開始し、その出力(A G C
OS )は被写体輝度に応じた速度で初期状態の電源電
圧より降下していく。
First, the control circuit (11) outputs an integral clear signal (ICGS).
is output to the photoelectric conversion circuit (10), each photosensor is reset to the initial state, and the above signal (ICGS) is output to the photoelectric conversion circuit (10).
The output (AG) of the brightness monitor circuit (MC) is determined by
COS) is restored to the initial power supply voltage level. Then, at the same time as this integral clear signal (ICGS) disappears, each photosensor of the photoelectric conversion circuit (10) starts light integration, and the brightness monitor circuit (MCGS)
starts measuring the brightness of the subject, and its output (A G C
OS) drops from the initial state power supply voltage at a speed corresponding to the subject brightness.

利得制御回路(5)は、基準電圧発生回路(R3)の出
力である基準電圧(DOS)と輝度モニター回路<M 
C>の出力(AGCO8)とを入力とし、基準電圧(D
OS)をもとにして作られた4段階の他の基準電圧を内
部でつくり、これらの電圧と輝度モニター電圧(A G
 COS )とを比較し、利得を決める。
The gain control circuit (5) uses the reference voltage (DOS) that is the output of the reference voltage generation circuit (R3) and the brightness monitor circuit <M
The output of C> (AGCO8) is input, and the reference voltage (D
Other reference voltages in four stages based on the OS) are created internally, and these voltages and the brightness monitor voltage (A
COS) and determine the gain.

積分クリア信号(ICGS)の消滅から所定時間TM 
1 (32m5ec)内に輝度モニター回路(M C)
の出力(AGCO3)の電圧降下が大きく、所定電圧以
下になると、利得制御回路(5)からHigbレベルの
(TINT)信号が出力され、制御回路(11)とオア
回路(OR)に出力される。この出力信号はオア回n(
OR>を通してシフトパルス発生回路(6)に入力され
、シフトパルス発生回路(6)はこれに応答してシフト
パルス(SH)を光電変換回路(10)に出力する。こ
の信号(SH)により光電変換回N(10)の各フォト
センサーは積分を終了し、蓄積された電荷がCCDシフ
トレジスタ(SR)の対応するセルにパラレルに転送さ
れる。
Predetermined time TM from disappearance of integral clear signal (ICGS)
Brightness monitor circuit (MC) within 1 (32m5ec)
When the voltage drop of the output (AGCO3) is large and becomes below a predetermined voltage, the gain control circuit (5) outputs a Higb level (TINT) signal, which is output to the control circuit (11) and the OR circuit (OR). . This output signal has OR times n(
The shift pulse generating circuit (6) outputs a shift pulse (SH) to the photoelectric conversion circuit (10) in response to the shift pulse generating circuit (6). This signal (SH) causes each photosensor of the photoelectric conversion circuit N (10) to complete integration, and the accumulated charges are transferred in parallel to the corresponding cells of the CCD shift register (SR).

一方、制御回路(11)は撮影準備スイッチ(Sl)が
ONした時間からタロツクパルス(CL)を転送パルス
発生回路(7)へ出力する。そして、この転送パルス発
生回路(7)はクロックパルスに基づいて、互いに位相
が180°ずれた転送パルス(φ1)、〈φ2)を出力
する。転送パルス発生回路(7)は、オア回路(OR)
の出力がHighレベルになると、これと同期して立ち
上がる転送パルス(φ1)を出力する。すなわち、転送
パルス(φ1)はシフトパルス(SH)と同期すること
になるが、CCDシフトレジスタ(SR)は、わずかな
がら光感度を有するため、前記シフトパルス(SH)と
転送パルス(φ1)とが同期していない場合には、同期
していないずれ時間だけ、CCDシフトレジスタ(SR
)は光を感じ、光の強度に応じた電荷が誤信号として蓄
積される。そこで転送パルス(φ1)をシフトパルス(
SH)に同期させて、前記ずれ時間をなくし、誤信号が
発生しないようにしている。この後、転送パルス発生回
路(7)から前記転送パルス(φ1)、(φ2)が光電
変換回路(10)に送られる。光電変換回路(10)は
これらの転送パルスのうち(φ1)の立ち下がりに同期
して、CCDシフトレジスタ(SR)に蓄えられた電荷
がセルの端(第6図のセルの1番)から順に、映像信号
(O8)として出力され、減算回路(4)に出力される
。映像信号(O8)は、対応するフォトセンサーに入射
する光の強度が強い程、低い電圧となっており、減算回
路(4)で基準電圧(D OS )から減算された電圧
(DOS−OS)が画素信号として出力される。
On the other hand, the control circuit (11) outputs the tarok pulse (CL) to the transfer pulse generation circuit (7) from the time when the imaging preparation switch (Sl) is turned on. Based on the clock pulse, this transfer pulse generation circuit (7) outputs transfer pulses (φ1) and <φ2) whose phases are shifted by 180° from each other. The transfer pulse generation circuit (7) is an OR circuit (OR)
When the output becomes High level, a transfer pulse (φ1) that rises in synchronization with this is output. In other words, the transfer pulse (φ1) is synchronized with the shift pulse (SH), but since the CCD shift register (SR) has slight photosensitivity, the shift pulse (SH) and transfer pulse (φ1) are synchronized. If the CCD shift register (SR) is not synchronized, the CCD shift register (SR
) senses light, and a charge corresponding to the intensity of light is accumulated as a false signal. Therefore, the transfer pulse (φ1) is changed to the shift pulse (
SH) to eliminate the aforementioned time lag and prevent the generation of erroneous signals. Thereafter, the transfer pulses (φ1) and (φ2) are sent from the transfer pulse generation circuit (7) to the photoelectric conversion circuit (10). The photoelectric conversion circuit (10) transfers the charge stored in the CCD shift register (SR) from the cell end (cell number 1 in Figure 6) in synchronization with the falling edge of (φ1) among these transfer pulses. The signals are sequentially outputted as a video signal (O8) and outputted to the subtraction circuit (4). The video signal (O8) has a lower voltage as the intensity of light incident on the corresponding photosensor increases, and the voltage (DOS-OS) subtracted from the reference voltage (DOS) by the subtraction circuit (4) is output as a pixel signal.

前記積分クリア信号(ICGS)の消滅後、積分制御時
間T M 1 (32m5ec)以内に輝度モニター回
路(M C)の出力電圧(AGCO8)が所定電圧以下
にならず、利得制御回R(5)から(TINT)信号が
出力されない場合、積分制限時間TM 1 (32m5
ec )の経過後に制御回路(11)は、シフトパルス
発生指令信号(SHM)をオア回路(OR)を通してシ
フトパルス発生回路(6)に出力する。シフトパルス発
生回路(6)は、この信号を受けてシフトパルス(SH
)を光電変換回路(10)に出力し、フォトセンサーア
レイ(PA)の蓄積電荷をCCDシフトレジスタ(SR
)に転送させる。そして前述の場合と同様に、転送パル
スくφ1)、くφ2)によって映像信号出力口B(Vs
)から映像信号(OS)が出力され、減算回路(4)か
ら(DOS−OS>が画像信号として出力される。ピー
クホールド回路(1〉は、CCDシフトレジスタ(SR
)の7番目から10番目のアルミマスク部に対応する画
素信号(Dos−os>が出力されたときに、制御回路
(11)から送られてくるサンプルホールド信号(S/
H)を受け、それらの画素信号を保持する。この信号は
利得可変増幅回路(2)に出力され、この信号と減算回
路(4)から出力される11番目以降の画素信号とが利
得可変増幅回路(2〉で減算され、この差の出力が、利
得制御回路(5)により制御される利得で増幅される。
After the integral clear signal (ICGS) disappears, the output voltage (AGCO8) of the brightness monitor circuit (MC) does not fall below the predetermined voltage within the integral control time T M 1 (32 m5ec), and the gain control circuit R (5) If the (TINT) signal is not output from the integration limit time TM 1 (32m5
ec), the control circuit (11) outputs a shift pulse generation command signal (SHM) to the shift pulse generation circuit (6) through the OR circuit (OR). The shift pulse generation circuit (6) receives this signal and generates a shift pulse (SH
) is output to the photoelectric conversion circuit (10), and the accumulated charge of the photosensor array (PA) is output to the CCD shift register (SR
). Then, as in the case described above, the video signal output port B (Vs
) outputs a video signal (OS), and the subtraction circuit (4) outputs (DOS-OS> as an image signal. The peak hold circuit (1) outputs a CCD shift register (SR).
) When the pixel signals (Dos-os>) corresponding to the 7th to 10th aluminum mask portions of
H) and hold those pixel signals. This signal is output to the variable gain amplifier circuit (2), this signal and the 11th and subsequent pixel signals output from the subtraction circuit (4) are subtracted by the variable gain amplifier circuit (2>, and the output of this difference is , and is amplified with a gain controlled by a gain control circuit (5).

この増幅された信号はA/D変換回路(3)でA/D変
換され、画素信号データとして、制御回路(11)を通
して演算判別回B(12)に出力される。一方、利得制
御回路(5)で得られた利得制御データも制御回路(1
1)を通して演算判別回路(12)に送られ、その結果
、演算判別回路(12)では、両データの演算が行なわ
れる。
This amplified signal is A/D converted by an A/D conversion circuit (3) and outputted as pixel signal data to an arithmetic/discrimination circuit B (12) through a control circuit (11). On the other hand, the gain control data obtained by the gain control circuit (5) is also
1) to the arithmetic discrimination circuit (12), and as a result, the arithmetic discrimination circuit (12) performs arithmetic operations on both data.

この演算の結果、焦点検出可能と判断されたときには、
合焦までの像のずれ量が演算判別口F1B(12)で演
算される。また、像のずれ量に相当するだけのレンズの
駆動量も前記画素信号データにもとづいて演算判別回路
(12)で演算され、レンズ駆動装置(8)に出力され
る。この駆動装置(8)は、撮影レンズ(9)を前記レ
ンズの駆動量だけ駆動する。そして撮影レンズ(9)が
合焦位置に到達するまで、制御口R(11)は積分クリ
ア信号(ICGS)発生からレンズ駆動までのシーケン
スを繰り返す、前記焦点検出の演算の結果、焦点検出不
能と判断されたときには、表示回路(13)において焦
点検出不能の表示が行なわれる。前記焦点検出が、低輝
度(LO−LIGHT)の為に焦点検出不能と判断した
ときに、補助光による焦点検出が可能であれば制御回路
(11)からの指令で、補助光による焦点検出を行う。
As a result of this calculation, when it is determined that focus detection is possible,
The amount of deviation of the image until it comes into focus is calculated by the calculation/discrimination aperture F1B (12). Further, a lens drive amount corresponding to the amount of image shift is also calculated by the calculation/discrimination circuit (12) based on the pixel signal data, and is output to the lens driving device (8). This drive device (8) drives the photographing lens (9) by the amount by which the lens is driven. Then, the control port R (11) repeats the sequence from generation of the integral clear signal (ICGS) to lens drive until the photographing lens (9) reaches the in-focus position.As a result of the focus detection calculation, the focus detection is disabled. When it is determined, the display circuit (13) displays that the focus cannot be detected. When focus detection is determined to be impossible due to low brightness (LO-LIGHT), if focus detection using auxiliary light is possible, a command from the control circuit (11) causes focus detection to be performed using auxiliary light. conduct.

第8図は第7図の利得制御回路(5)及び利得可変増幅
回路〈2)の−例を示している。第8図において、(T
 11 )、(T 12>、(713)は、各々第2図
の端子(T 1 )、(T 2 )、(T 3 )に接
続される端子である。(T14)は設定された積分制限
時間TM1 (32m5ec)の経過後、制御回路(1
1)から出力されるシフトパルス発生指令信号(SHM
)を入力する端子、(T15)は積分制限時間内に第5
図におけるゾーン(E)に入った時に出力される(TI
NT)信号の出力端子、(T16)は利得可変増幅回路
(2)で増幅された画素信号を、A/D変換回路(3)
に出力するための出力端子である。(Bl)。
FIG. 8 shows an example of the gain control circuit (5) and variable gain amplifier circuit (2) shown in FIG. In Figure 8, (T
11), (T 12>, and (713) are the terminals connected to the terminals (T 1 ), (T 2 ), and (T 3 ) in FIG. 2, respectively. (T14) is the set integration limit. After time TM1 (32m5ec), the control circuit (1
1) Shift pulse generation command signal (SHM
), (T15) is the terminal for inputting the fifth
Output when entering zone (E) in the figure (TI
NT) signal output terminal (T16) outputs the pixel signal amplified by the variable gain amplifier circuit (2) to the A/D conversion circuit (3).
This is an output terminal for outputting to. (Bl).

(B2)、(B3)はバッファ、(4)は映像信号(電
圧)O8と基準電圧(D OS )とを減算する減算回
路、(1)は暗出力補正データを保持するピークホール
ド回路である。
(B2) and (B3) are buffers, (4) is a subtraction circuit that subtracts the video signal (voltage) O8 and the reference voltage (DOS), and (1) is a peak hold circuit that holds dark output correction data. .

まず、利得制御回路(5)から説明すると、積分クリア
信号(ICGS)の消滅後、輝度モニター回゛N (M
 C>の出力電圧(A G COS >の降下の程度を
ステップ的に判別するコンパレーター(ACl>。
First, to explain the gain control circuit (5), after the integral clear signal (ICGS) disappears, the brightness monitor number N (M
A comparator (ACl>) that determines in steps the extent of the drop in the output voltage (AG COS>) of C>.

(AC2)、(AC3)、(AC4)が設けられている
(AC2), (AC3), and (AC4) are provided.

各コンパレータの反転入力はバッファ(B1)を介して
輝度モニター回路(MC)の出力電圧(A G C08
)が入力される端子(Tll)に夫々接続されている。
The inverting input of each comparator is connected to the output voltage (A G C08) of the brightness monitor circuit (MC) via the buffer (B1).
) are respectively connected to the input terminals (Tll).

コンパレータ(A C1)、(A C2>、(A C3
)、(AC4)の非反転入力は、抵抗(R4)と定電流
(IS4)との接続点(J4)、抵抗(R3)と定電流
(IS3)との接続点(J5)、抵抗(R2)と定電流
(IS2>との接続点(J6)、抵抗(R1)と定電流
(ISI)との接続点(J7)に夫々接続されている。
Comparator (A C1), (A C2>, (A C3)
), (AC4) non-inverting inputs are the connection point (J4) between the resistor (R4) and constant current (IS4), the connection point (J5) between the resistor (R3) and constant current (IS3), and the resistor (R2). ) and the constant current (IS2>) and the connection point (J7) between the resistor (R1) and the constant current (ISI), respectively.

抵抗(R1)、(R2)、(R3)、(R4)は、バッ
ファ(B2)を介して基準電圧(D OS )が入力さ
れる端子(TI2)に接続されている。コンパレーター
の基準電圧は、基準電圧発生回路(R8)の出力電圧(
D OS )から、(抵抗の値)と(定電流の値)とを
掛けた電圧を減算したものであり、抵抗の値と定電流の
値とを適当に選べば任意の基準電圧を作ることが可能で
ある。このようにして所望のコンパレーターの基準電圧
をステップ的に作れば、輝度モニター回路(MC>の出
力電圧(AGCOS)の降下の程度に応じて、ステ・ン
ブ的にコンパレーターを反転させることが可能となる。
The resistors (R1), (R2), (R3), and (R4) are connected to a terminal (TI2) to which a reference voltage (D OS ) is input via a buffer (B2). The reference voltage of the comparator is the output voltage (
The voltage obtained by multiplying (resistance value) and (constant current value) is subtracted from (DOS), and any reference voltage can be created by selecting the resistance value and constant current value appropriately. is possible. By creating the desired reference voltage for the comparator in steps in this way, the comparator can be inverted step-by-step depending on the degree of drop in the output voltage (AGCOS) of the luminance monitor circuit (MC). It becomes possible.

コンパレーター(ACl)、(AC2)、(AC3)の
出力は、夫々Dフリップ70ツブ(DPI)、(DF2
)、(DF3)のデータ端子(D>に入力されている。
The outputs of the comparators (ACl), (AC2), and (AC3) are D flip 70 tubes (DPI) and (DF2), respectively.
), (DF3) are input to the data terminals (D>).

これらのDフリップフロップのデータを取り込むタイミ
ングを決定するクロックパルスの入力端子(cp)には
、制御回路(11)のシフトパルス発生指令信号(SH
M)が入力される。具体的には、積分制限時間TM 1
 (32m5ec)の経過後にシフトパルス指令信号(
SHM)がクロックパルスの入力端子(CP)に入力さ
れ、このタイミングでコンパレーター(ACl)、(A
C2)、(AC3)の情報を取り込む、コンパレーター
(A C4)の出力信号(e)は、積分制限時間内に輝
度モニター回路(M C)の出力電圧(AGCOS)が
第5図のゾーン(E)に入った時に出力される(TIN
T)信号である。アンド回路(ANl)はDフリップフ
ロップ<DPI)の出力Qと、同じくDフリップフロッ
プ(DF2)の出力Qとを入力とし、アンド回路(AN
2)はDフリップフロップ(DP2)の出力Qと、同じ
くDフリップフロツプ(DF3)の出力○を入力とし、
出力信号を夫々(b)、(e)としている。また、Dフ
リップフロップ(DPI>の出力0の出力信号を(a)
、Dフリツブフ・ロップ(D F 3 >の出力Qの出
力信号を(d)とし、これらの信号(n) 、 (b)
 、 (c) 、 (d)と(TINT)信号(e)は
、それぞれ第5図のゾーン(A)、(B)、(C)。
A shift pulse generation command signal (SH
M) is input. Specifically, the integral limit time TM 1
(32m5ec) after the shift pulse command signal (
SHM) is input to the clock pulse input terminal (CP), and at this timing the comparator (ACl), (A
The output signal (e) of the comparator (AC4), which takes in the information of C2) and (AC3), indicates that the output voltage (AGCOS) of the brightness monitor circuit (MC) within the integration limit time reaches the zone ( (TIN) output when entering E)
T) It is a signal. The AND circuit (ANl) receives the output Q of the D flip-flop (<DPI) and the output Q of the D flip-flop (DF2) as inputs, and
2) uses the output Q of the D flip-flop (DP2) and the output ○ of the D flip-flop (DF3) as inputs,
The output signals are shown as (b) and (e), respectively. Also, the output signal of the output 0 of the D flip-flop (DPI>) is (a)
, the output signal of the output Q of the D flipflop (D F 3 >) is (d), and these signals (n), (b)
, (c), (d) and (TINT) signal (e) correspond to zones (A), (B), and (C) of FIG. 5, respectively.

(D)、(E)に対応している。これらの信号の状態を
第1表に示す。
It corresponds to (D) and (E). Table 1 shows the states of these signals.

これらの信号のうち(a) 、 (b) 、 (c) 
、 (d)を受け、各信号に対応する利得が次に説明す
る利得可変増幅回路(2)において設定される。利得可
変増幅回路(2)において、(OP)は演算増幅器であ
り、その入力端子(f)、(g)は入力抵抗(R5)、
(R6’)を介して、減算回路(4)、サンプルホール
ド回路(1)に夫々接続されている。抵抗(R5)〜(
R14)は利得を決定する抵抗であり、抵抗(R5)、
(R6)。
Among these signals (a), (b), (c)
, (d), the gain corresponding to each signal is set in the variable gain amplifier circuit (2) described next. In the variable gain amplifier circuit (2), (OP) is an operational amplifier, and its input terminals (f) and (g) are input resistors (R5),
(R6') are connected to the subtraction circuit (4) and the sample and hold circuit (1), respectively. Resistance (R5) ~ (
R14) is a resistor that determines the gain, and resistors (R5),
(R6).

(R7)、(R8)、(R11)、(R12)の抵抗値
を「とすると、抵抗(R9)、(R13)は2r、抵抗
(RIO)、(R14)は4rとなるような抵抗比を持
つ抵抗値に設定しである。(ASI)〜(AS8)はア
ナログスイッチであり、前記(a) 、 (1+) 、
 (c) 、 (d)の信号を受け、アナログスイッチ
(ASI)〜(A S 4 )は抵抗〈R7)〜(R]
、O)を選択し、演算増幅器(OP)の帰還抵抗値を決
めるのに対し、アナログスイッチ(A S 5 )〜(
AS8)は抵抗(R11)〜(R14)を選択し、演算
増幅器(OP)のバイアス抵抗値を決めている。前記(
a) 、 (b) 、 (c) 、 (d)の各信号が
夫々rHigJになるときに導通するアナログスイッチ
(ASI)〜(AS8)との対応及びそのときに選択さ
れる抵抗と利得を第2表に示す。
If the resistance values of (R7), (R8), (R11), and (R12) are ``, then the resistance ratio is such that the resistances (R9) and (R13) are 2r, and the resistances (RIO) and (R14) are 4r. (ASI) to (AS8) are analog switches, and (a), (1+),
Upon receiving the signals (c) and (d), the analog switches (ASI) to (A S 4 ) connect resistors <R7) to (R).
, O) and determine the feedback resistance value of the operational amplifier (OP), whereas the analog switches (A S 5 ) to (
AS8) selects the resistors (R11) to (R14) and determines the bias resistance value of the operational amplifier (OP). Said (
The correspondence between the analog switches (ASI) to (AS8) that become conductive when each of the signals in a), (b), (c), and (d) becomes rHigJ, and the resistance and gain selected at that time are as follows. It is shown in Table 2.

(以下余白) 第1表 第2表 第9図は前述の自動焦点検出装置を用いたカメラの動作
を制御する回路の全体構成を示すプロ・ンク回路図であ
る。(21)はカメラ全体を制御するマイコンである。
(The following are blank spaces) Table 1, Table 2, and FIG. 9 are professional circuit diagrams showing the overall configuration of a circuit for controlling the operation of a camera using the above-mentioned automatic focus detection device. (21) is a microcomputer that controls the entire camera.

(22)は交換レンズであり、このレンズには、各種の
レンズデータを記憶してνするROMが内蔵されており
、ROMの記憶内容は、マイコン〈21)の命令によっ
てカメラに読み出されるようになっている。(23)は
、レンズを駆動するモーター及びこのモーターを制御す
るオートフォーカス制御部であり、マイコン(21)か
らの信号によって制御される。(24)は第7図に示す
回路図の点線で囲まれる制御回路部(15)のうち制御
回路(11)を除いた回路部であるオートフォーカス検
出部、(25)はマイコン(21)からのデータに基づ
いてシャッター及び絞りを制御する露出制御部、(26
)は撮影画面の略全域を測光する受光素子を含む測光部
である。(30)は測光部の出力を入力して、光源が蛍
光灯であるか否かを検出する蛍光灯検出回路である。(
27)は容器上にフィルムの特性がコードパターン(以
下DXコードという)として示されているフィルムのコ
ードパターンを読み取る回路である。(28)は外部装
着されるストロボで、焦点検出時に使用される補助光を
有している。(29)は撮影情報及び焦点検出の状態を
表示する表示部である。(sl)は、レリーズボタンの
第1ストロークでONされる撮影準備スイッチ、(S2
)はレリーズボタンの第2ストローク′C−0Nされて
レリーズを行なう為のレリーズスイッチ、(BLSW)
は、波長が長くなるにつれ、出力(強度)が大きくなる
第1光源の光に対して、波長が長くなってもその出力が
ほぼ一定に保たれるように光源、或いは、そのカバーの
全体或いは一部が青くなっている所謂ブルーフラットと
呼ばれる光源を使用するときに撮影者の操作によってO
Nするスイッチである。
(22) is an interchangeable lens, and this lens has a built-in ROM that stores and stores various lens data.The contents of the ROM are read out to the camera by commands from the microcomputer (21). It has become. (23) is a motor that drives the lens and an autofocus control section that controls this motor, and is controlled by signals from the microcomputer (21). (24) is an autofocus detection section which is a circuit section excluding the control circuit (11) from the control circuit section (15) surrounded by the dotted line in the circuit diagram shown in Fig. 7, and (25) is a circuit section from the microcomputer (21). an exposure control unit (26) that controls the shutter and aperture based on the data of
) is a photometry section including a light receiving element that measures light over substantially the entire area of the photographic screen. (30) is a fluorescent lamp detection circuit which inputs the output of the photometry section and detects whether or not the light source is a fluorescent lamp. (
27) is a circuit that reads the code pattern of the film in which the characteristics of the film are shown as a code pattern (hereinafter referred to as DX code) on the container. (28) is an externally mounted strobe, which has an auxiliary light used during focus detection. (29) is a display unit that displays photographing information and the state of focus detection. (sl) is a shooting preparation switch that is turned on with the first stroke of the release button, (S2
) is the release switch for performing the release upon the second stroke of the release button 'C-0N, (BLSW)
The light source, or its cover as a whole, or When using a so-called blue flat light source in which a portion of the light source is blue, the light may be turned off by the photographer's operation.
This is a switch for N.

以上から構成される回路の動作を第10図に示したマイ
コン(21)の概略のフローチャートを参照して説明す
ると、まず回路全体の電源である電池(El)が装着さ
れると、端子(CLR)に「L」レベルからr )(」
レベルに変わる信号が入力し、マイコン(21)は、ス
テップ#0がらのフローを実行する。次に、マイコン(
21)は、入出力端子及び内部レジスタフラグをすべて
イニシャライズして、撮影準備スイッチ(Sl〉がON
されているかを判定する(#5.10)。このスイッチ
(Sl)がOFFである場合には、ハード的にAP検出
部(24)へのクロックが停止され、フローではレンズ
を駆動するモーターの回転を停止させ、測光及びオート
フォーカスを停止させる(#15〜25)。そして、表
示をすべて消灯させて、給電用トランジスタ(Tri)
を0FFL、フラグをすべてリセットして、ステップ#
10に移行する(#30〜40)。
The operation of the circuit composed of the above will be explained with reference to the schematic flowchart of the microcomputer (21) shown in FIG. ) from “L” level to r )(”
A signal that changes the level is input, and the microcomputer (21) executes the flow from step #0. Next, the microcontroller (
21) Initialize all input/output terminals and internal register flags, and turn on the shooting preparation switch (Sl).
(#5.10). When this switch (Sl) is OFF, the clock to the AP detection unit (24) is stopped by hardware, and in the flow, the rotation of the motor that drives the lens is stopped, and photometry and autofocus are stopped ( #15-25). Then, turn off all the displays and turn off the power supply transistor (Tri).
0FFL, reset all flags, and proceed to step #
10 (#30-40).

ステップ#10で撮影準備スイッチ(Sl)がO’Nの
ときは、ハード的にAF検出部(24)へのクロックが
開始され、フローではステップ#45に進み、給電トラ
ンジスタ(Trl)をONにする。これによって各回路
への給電が行なわれる。マイコン(21)は測光をスタ
ートさせ、DXコードを読みとり、交換レンズ(22)
からレンズ情報を入力する(#50〜60)、この入力
方法に関しては、例えば特開昭60−4915号公報な
どに開示されているが、本発明に直接関係しないので省
略する。
When the photographing preparation switch (Sl) is O'N in step #10, the clock to the AF detection section (24) is started by hardware, and the flow proceeds to step #45, where the power supply transistor (Trl) is turned on. do. Power is thereby supplied to each circuit. The microcomputer (21) starts photometry, reads the DX code, and inserts the interchangeable lens (22).
This input method of inputting lens information from (#50 to #60) is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 60-4915, but will not be described here because it is not directly related to the present invention.

この入力情報としては、開放絞り値、焦点検出可能なレ
ンズか否かを示す信号、開放状態でレンズが最も繰り出
した状態での絞り値(最も大きい絞り値)、及びデフォ
ーカス量をモーターの回転数に変換する為の変換係数(
KL)が入力されている。
This input information includes the open aperture value, a signal indicating whether or not the lens can detect focus, the aperture value when the lens is fully extended in the open state (largest aperture value), and the amount of defocus when the motor rotates. Conversion coefficient for converting to number (
KL) is input.

次にAP動作をスタートさせ、CCDへの積分を行なわ
せる(#65.70)、積分が終了すると、映像データ
を入力し、このデータを所定の演算式に基づいて演算し
、デフォーカス量を求める(#75.80)、この演算
結果にもとづいて、焦点検出可能か否かを判定し、可能
でない場合、所定の処理を行なって撮影画面のスポット
部の輝度(Bvsp)及び略画面全体の輝度(BVAV
)を求める(#85.90,105,110)、一方、
ステップ#85において焦点検出可能であれば、このと
きも所定の処理を行ない、スポット部の輝度をロックし
ているかを判定し、ロックしている場合にはステップ#
110/\、ロックしていない場合には、ステップ#1
05に進む(#95.100>、マイコン(21)は、
略画面全体の輝度(B VAV)を求めたあと、上記ス
ポット部の輝度(B vsp)と略画面全体の輝度(B
VAV)とから露出用の輝度を求め(#115)、そし
て露出値を求゛めて表示する(#115〜125)。
Next, start the AP operation and have the CCD perform integration (#65.70). When the integration is complete, input the video data, calculate this data based on a predetermined calculation formula, and calculate the defocus amount. Based on this calculation result, it is determined whether focus detection is possible or not. If it is not possible, predetermined processing is performed to determine the brightness (Bvsp) of the spot part of the shooting screen and the brightness of approximately the entire screen. Brightness (BVAV
) (#85.90,105,110), on the other hand,
If the focus can be detected in step #85, predetermined processing is performed at this time as well, and it is determined whether the brightness of the spot portion is locked. If it is locked, step #85 is performed.
110/\, if not locked, step #1
Proceed to 05 (#95.100>, the microcomputer (21) is
After calculating the brightness of approximately the entire screen (B VAV), calculate the brightness of the spot portion (B vsp) and the brightness of approximately the entire screen (B VAV).
The brightness for exposure is determined from the VAV) (#115), and the exposure value is determined and displayed (#115 to 125).

次に、レリーズスイッチ(S2)がONされているかを
判定して、ONされているときには、レンズ駆動用のモ
ーターを停止して、露出制御を行なう、スイッチ(S2
)がONされていないときはステップ#10に移行して
、以後のフローを実行する。
Next, it is determined whether the release switch (S2) is ON, and if it is ON, the switch (S2) stops the lens drive motor and performs exposure control.
) is not turned on, the process moves to step #10 and the subsequent flow is executed.

第11図及び第12図に、第10図のステップ#65の
AP動作スタートからステップ#115の測光演算まで
の詳細なフローチャートを示し、説明すると、ステップ
#145で、補助光発光モードを示す補助光フラグがセ
ットされているかを判定し、セットされていないときに
は、ステップ#160に移行し、セットされているとき
には、補助光発光を示す発光フラグをセットして補助光
の発光を示す信号を出力する(# 145〜16o)。
11 and 12 show detailed flowcharts from the AP operation start in step #65 in FIG. 10 to the photometry calculation in step #115. Determine whether the light flag is set, and if it is not set, proceed to step #160; if it is set, set a light emission flag indicating auxiliary light emission and output a signal indicating auxiliary light emission. (#145-16o).

これによって補助光発光が行なわれる1次にマイコン(
21)は、スポット部測光用のカウンタレジスターをリ
セットする。ここで、AP検出に用いられるモニター用
の受光素子を用いて、スポット部の測光を行なうことを
説明する。
This causes the primary microcontroller to emit the auxiliary light (
21) resets the counter register for spot photometry. Here, a description will be given of photometry of a spot portion using a monitor light receiving element used for AP detection.

上記マイコン(21〉にはタイマーカウント用のレジス
ターが用意され、積分開始からの時間経過をカウントし
、カウント値が2μsec毎に1だけカウンタレジスタ
ーに加算されていくようにする。
The microcomputer (21) is provided with a register for timer counting, which counts the elapsed time from the start of integration, so that the count value is added to the counter register by 1 every 2 μsec.

このカウント値を読むことによって、スポット部の輝度
が分かる。積分時間が32m5ecを経過すると、積分
が終了するなめ、積分時間を利用して輝度を求めること
ができない、そこで、32m5ecを経過したときには
、受光素子のモニターの出力を検出することによって輝
度が求められる。具体的には、CODの積分データを増
幅するためのAGCデータ及び画素出力を用いて行なっ
ている。このスポット部の輝度とカウンタレジスターの
内容及びAGCのデータの関係を第3表及び第4表に示
す。表において、明るさはアペックス値(B v)で示
している0表から明らかなようにBv値が13から3ま
ではカウンタレジスタの内容、Bv値が2から−1まで
はAGCデータ及びモニター受光部の下にあるCCD画
素(31〜57)の平均を求めている(第6図参照)、
そして、Bv値の最小単位は1八Bvとしており、これ
を説明すると、Bv値が13から3までは、1が立って
いる最大ビットのところをBv値の整数値とし、それよ
り下位3ビツトを順に’/2BV、’/4BV、’へB
vとしている。
By reading this count value, the brightness of the spot portion can be determined. When the integration time exceeds 32m5ec, the integration ends and the brightness cannot be determined using the integration time.Therefore, when the integration time exceeds 32m5ec, the brightness is determined by detecting the output of the monitor of the light receiving element. . Specifically, this is performed using AGC data and pixel output for amplifying COD integral data. Tables 3 and 4 show the relationship between the brightness of this spot portion, the contents of the counter register, and the AGC data. In the table, brightness is indicated by Apex value (B v).0 As is clear from the table, Bv values from 13 to 3 are the contents of the counter register, and Bv values from 2 to -1 are the contents of the counter register, and Bv values from 2 to -1 are the contents of the AGC data and monitor light reception. The average of the CCD pixels (31 to 57) under the section is calculated (see Figure 6).
The minimum unit of the Bv value is 18 Bv, and to explain this, for Bv values from 13 to 3, the highest bit with a 1 is considered an integer value of the Bv value, and the lower 3 bits are the integer value of the Bv value. in order '/2BV, '/4BV, 'B
It is set as v.

例えばa目が1が立っている最大ビットとし、・’al
l+”IO+”−9al” ’ ”” ’ ・’ 10
10 ・・とすれば、そのときの明るさは、5・(1八
Bv)となる、Bv値が2から−1までは、AGCデー
タによりBv値の整数値を求め、’/sBv単位は、C
ODの画素出力より求めている。また、別の明るさの求
めかなとして、Bv値をAGCデータ1゜2.4に対し
てそれぞれ1.5.0.5.−0.5とし、そして、C
CD画素がとりつる電圧の半分を基準とし、CCD画素
の平均をこの基準からの偏差として’/ a−E v単
位のΔBvを求めて、上記Bv値1.5,0.5.=0
.5に補正することも考えられる。
For example, if the a-th bit is the largest bit with a 1, ・'al
l+"IO+"-9al"'""'・' 10
10..., then the brightness at that time is 5.(18 Bv).For Bv values from 2 to -1, the integer value of the Bv value is determined by AGC data, and the unit is '/sBv. , C
It is determined from the OD pixel output. Also, to find another brightness, the Bv value is 1.5, 0.5, respectively, for AGC data of 1°2.4. −0.5, and C
Using half the voltage that the CD pixel takes as a reference, the average of the CCD pixels is taken as the deviation from this reference, and ΔBv in units of '/a-E v is determined, and the above Bv values 1.5, 0.5, . =0
.. It is also possible to correct it to 5.

(以下余白) 第3表 第4表 第11図のフローチャートにもどり、マイコン(21)
はカウンタの内容をリセットしたのち、積分スタートを
示すパルスの積分クリア信号を出力する。そして積分の
時間を計時するタイマーをリセットシてスタートさせる
(#170)。上述したようにこの積分の間に、上記タ
イマーが125μSee経過する毎に、カウンタレジス
ターはカウントアツプするようになっている。m分開始
から3’;2 whsecを経過しない内にモニターの
出力が所定値に達すると、積分終了を示す(TINT)
信号が、利得制御回路(5)からマイコン(21)に出
力される。マイコン(21)はこれによりステップ#1
75からステップ#200に移行し、上記タイマーをス
トップさせて、低輝度であることを示す低輝度フラグ(
LLF)をリセットして、ステップ#210に進む(#
 200.205)、一方、32餉see以内に積分が
終了しない場合、32m5ecを経過すると、ステップ
#180から#185に進み、シフトパルス発生指令信
号(SHM)を出力する。そしてタイマーをストップさ
せ、低輝度フラグをセットして、補助光発光を停止させ
る(#190.195.210>。そして、マイコン(
21)は積分の終わったCCDのデータを入力する。
(Left below) Return to the flowchart in Table 3, Table 4, and Figure 11. Microcontroller (21)
After resetting the contents of the counter, outputs a pulsed integration clear signal indicating the start of integration. Then, the timer that measures the integration time is reset and started (#170). As described above, during this integration, the counter register counts up every time the timer elapses by 125 μSee. If the monitor output reaches a predetermined value within 3'; 2 whsec from the start of m minutes, it indicates the end of integration (TINT)
A signal is output from the gain control circuit (5) to the microcomputer (21). The microcomputer (21) then performs step #1.
75, the process moves to step #200, the timer is stopped, and the low brightness flag (
LLF) and proceed to step #210 (#
200, 205), on the other hand, if the integration is not completed within 32 m5ec, the process proceeds from step #180 to #185 after 32m5ec has elapsed, and a shift pulse generation command signal (SHM) is output. Then, the timer is stopped, the low brightness flag is set, and the auxiliary light emission is stopped (#190.195.210>.Then, the microcontroller (
21) inputs the CCD data that has been integrated.

このときピークホールド回路(1)でデータをホールド
する為のサンプルボールド信号を出力する。
At this time, the peak hold circuit (1) outputs a sample bold signal for holding data.

この入力したデータにもとづいて、デフォーカス演算を
してデフォーカス量(△ε)を求め、この結果にもとづ
いて、焦点検出可能か否かを判断し、焦点検出が可能な
場合にはステップ#215に進む、ステップ#215で
は、ローコントラストを示すローコントラストフラグ(
LCF)をリセットし、デフォーカス量(Δε)が所定
値(ε1)よりも小さいか否を判定する(#220)、
この所定値(ε1)よりも小さければ合焦していること
を示し、小さいときには、合焦フラグ(合焦F)をセッ
トして、合焦表示をする(# 225.230)、一方
、ステップ#220で、合焦していないと判定すれば、
合焦フラグ(合焦F)をリセットし、交換レンズ(22
)から入力した変換係数(KL)をデフォーカス量に掛
けてモーターの回転移動量(n)を求め、この量(回転
数)だけモーターを駆動する(#235〜245)、そ
して、合焦表示を行なったときも同様にステップ#10
0に進んで、スポット部の輝度値をロックしたことを示
すフラグ(BvspLF)を判定し、このフラグがリセ
ットされていればステップ#285へ、セットされてい
ればステップ#320に進む。
Based on this input data, defocus calculation is performed to obtain the defocus amount (△ε), and based on this result, it is determined whether or not focus detection is possible. If focus detection is possible, step # In step #215, a low contrast flag (
LCF) and determine whether the defocus amount (Δε) is smaller than a predetermined value (ε1) (#220);
If it is smaller than this predetermined value (ε1), it indicates that the focus is on, and if it is smaller, the focus flag (focus F) is set and the focus is displayed (#225.230). If it is determined in #220 that the focus is not in focus,
Reset the focus flag (focus F) and attach the interchangeable lens (22
) Multiply the defocus amount by the conversion coefficient (KL) input from Similarly, when performing step #10
0, a flag (BvspLF) indicating that the brightness value of the spot portion has been locked is determined, and if this flag has been reset, the process proceeds to step #285, and if it has been set, the process proceeds to step #320.

ステップ#85で焦点検出不可と判定すれば、ローコン
トラストフラグ(LCF)をセットして、合焦フラグ(
合焦F)をリセットする。(#250.255)、次に
利得のデータ(A G C)が2以上であるかを判定し
て、2未満であればローコントラストとして、コントラ
ストを検出するために、レンズを駆動するモーターを駆
動させる(#275.280)、利得データ(A G 
C)が2以上であれば、補助光発光可能か否かを判定す
る(#265)、具体的にはストロボが装着され、その
電源が投入されているかをストロボからの信号によって
判定する。補助光発光不可能であればステップ#275
に、発光可能であれば補助光フラグ(補助光F)をセッ
トして、ステップ#285に進む(# 270 >。
If it is determined that focus cannot be detected in step #85, a low contrast flag (LCF) is set and a focus flag (
Reset the focus F). (#250.255) Next, it is determined whether the gain data (A G C) is 2 or more, and if it is less than 2, it is considered low contrast, and the motor that drives the lens is activated to detect the contrast. drive (#275.280), gain data (A G
If C) is 2 or more, it is determined whether or not the auxiliary light can be emitted (#265). Specifically, it is determined based on the signal from the strobe whether the strobe is attached and its power is turned on. If the auxiliary light cannot be emitted, step #275
If the light can be emitted, the auxiliary light flag (auxiliary light F) is set, and the process proceeds to step #285 (#270>).

ステップ#285では低輝度を示す低輝度フラグ(LL
F)を判定し、このフラグがセットされていれば、利得
データ(A G C)を入力して、これにもとづきスポ
ット部の輝度(Bvsp)の整数部分を求め、次に17
.Bν単位を求めるためにCCD画素(31〜57)の
部分の出力データ(データダンプで入力済)を平均して
これを’/@Bvに直して輝度(Bvsp)を求める。
In step #285, a low luminance flag (LL
F), and if this flag is set, input the gain data (A
.. In order to obtain the Bv unit, the output data (already input in the data dump) of the CCD pixels (31 to 57) are averaged and this is converted to '/@Bv to obtain the brightness (Bvsp).

そして、低輝度フラグがセットされていなければ、カウ
ンタレジスタの内容を判別して、スポットの輝度(Bv
sp)を求める(# 285〜305)、ブルーフラッ
ト等の特定光源の使用を示すスイッチ(BLSW)がO
Nされているとき、スポットの輝度(B vsp)に所
定量(0,5Ev)だけ加えて、新たに輝度(B vs
p)を求める(# 310.315)、ONされていな
いときには、ステップ   −#315をスキップして
、ステップ#315と同様に、ステップ#320に進む
If the low brightness flag is not set, the content of the counter register is determined and the brightness of the spot (Bv
sp) (#285-305), the switch (BLSW) indicating the use of a specific light source such as blue flat is on.
N, a predetermined amount (0,5Ev) is added to the brightness (B vsp) of the spot, and a new brightness (B vsp) is added to the brightness (B vsp) of the spot.
p) (# 310, 315). If not ON, step -# 315 is skipped and the process proceeds to step # 320 in the same way as step # 315.

ステップ#320では測光回路(26)から略画面全体
の輝度(Bv^ν。)を入力して、レンズの開放絞り値
(Avo)をこれに加える(# 320.325)。
In step #320, the luminance (Bv^v.) of approximately the entire screen is input from the photometry circuit (26), and the open aperture value (Avo) of the lens is added to this (#320.325).

そして次のような場合には露出に使用する明るさとして
、略画面全体の輝度(BVAV)を使用する(#370
)。
In the following cases, approximately the brightness of the entire screen (BVAV) is used as the brightness for exposure (#370
).

(i)ローコントラストフラグ(LCF)がセットされ
ているとき(#3:30)。これは、合焦検出が不可能
な場合、スポット部がどの場所を測光しているかがはっ
きりせず、意図している被写体を測光しない可能性があ
るからである。
(i) When the low contrast flag (LCF) is set (#3:30). This is because if focus detection is impossible, it is not clear where the spot section is photometering, and there is a possibility that the intended subject will not be photometered.

(ii)補助光が発光したことを示す発光フラグ(発光
F)がセットされているとき(#335)、これは補助
光として近赤外光を被写体に向けて発光するので確かな
被写体輝度が得られないからである。
(ii) When the flash flag (flash F) indicating that the auxiliary light has been emitted is set (#335), near-infrared light is emitted toward the subject as the auxiliary light, so the brightness of the subject is certain. Because you can't get it.

(iii>スポット部の輝度(Bvsp)が−1以下の
とき(#340)、この理由としてはまず、それほど暗
い被写体では、平均測光でもスポット測光でも変わらな
いからであり、別の理由としては、−1以下は具体的な
輝度として測れないからである。
(iii> When the brightness (Bvsp) of the spot part is -1 or less (#340), the first reason is that for such a dark subject, there is no difference between average metering and spot metering, and another reason is that This is because a value below -1 cannot be measured as a specific brightness.

(iv)焦点検出ができないレンズが装着されたとき(
#345)、これは、第3図の光学系において、開放絞
り値が大きくなると、光束の一部がけられ、モニターに
入射してくる光が同一の被写体輝度に対して一定となら
ないからである。このことは開放絞り値が大きい場合ば
かりでなく、反射望遠タイプのレンズについても言える
ことである。
(iv) When a lens that cannot detect focus is attached (
#345), This is because in the optical system shown in Figure 3, when the open aperture value becomes large, part of the light flux is eclipsed, and the light that enters the monitor is not constant for the same subject brightness. . This applies not only to large apertures, but also to reflective telephoto lenses.

(v)繰り込んだ状態の有効絞り値(Avo、公称開放
絞り値)と繰り出した状態の有効絞り値(AVQI)と
の差が0.5 Ev以上あるとき(#350)。モニタ
ー用の受光素子は、絞りによるけられがない限り、レン
ズの開放絞り値(繰り込んだ状態の有効絞り値)に関係
なく、被写体の輝度(B vsp)そのものを測光して
いる。従って、開放絞り値からの絞りの絞り段数で制御
を行なう場合、絞り段数が同一のため、上記繰り込んだ
状態の有効絞り値(AyO)と、繰り出した状態の有効
絞り値(Avo+)の差の分だけ誤差となって現れる。
(v) When the difference between the effective aperture value (Avo, nominal open aperture value) in the retracted state and the effective aperture value (AVQI) in the extended state is 0.5 Ev or more (#350). The light receiving element for monitoring measures the brightness (B vsp) of the subject itself, regardless of the open aperture value of the lens (effective aperture value in the retracted state), as long as there is no vignetting due to the aperture. Therefore, when controlling by the number of aperture steps from the open aperture value, the difference between the effective aperture value in the retracted state (AyO) and the effective aperture value in the extended state (Avo+) is because the number of aperture steps is the same. appears as an error.

(vi )蛍光灯下で撮影が行なわれているとき(#3
28)、なぜなら、蛍光灯下では、蛍光灯の特性により
一定周期内〔1/(使用されている電源周波数の倍の周
波数)〕で、その明るさが時々刻々と変わる。スポット
測光を行なっているモニター用受光素子では、明るさの
変化を平滑するような構成をとっておらず、積分時間が
上記蛍光灯の周期よりも短い場合には、蛍光灯の特性に
応じて積分時間が変わり、この積分時間でもって被写体
の明るさを判別している本実施例では、当然のことなが
ら、測光毎に被写体の明かるさのデータは変化する。
(vi) When shooting under fluorescent lighting (#3
28), because under a fluorescent lamp, the brightness changes moment by moment within a certain period [1/(frequency twice the power supply frequency being used)] due to the characteristics of the fluorescent lamp. The monitor light-receiving element that performs spot photometry is not configured to smooth changes in brightness, and if the integration time is shorter than the period of the fluorescent lamp mentioned above, the In this embodiment, where the integration time changes and the brightness of the object is determined based on this integration time, the data on the brightness of the object changes each time the light is measured.

以上6つの場合は、夫々の理由により、露出用の輝度と
して、略画面全体の輝度(BVAV)を使用する(# 
328〜350,370)、上記以外の場合には、ステ
ップ#3ら5に進み、スポットの輝度(B vsp)と
略画面全体の輝度(BVAV)との差の絶対値が2以上
あるか否かを判定し、2以上ある場合には、逆光状態で
の撮影、あるいは舞台での撮影として、スポットの輝度
(B vsp)を露出用に使い、(あるいは、スポット
輝度に重みづけしたスポット輝度と平均輝度からの合成
輝度を用い)、2未満であれば両者の平均をとって露出
用の輝度とする(# 360.365)。
In the above six cases, for each reason, the brightness of approximately the entire screen (BVAV) is used as the brightness for exposure (#
328 to 350, 370), in cases other than the above, proceed to steps #3 to #5, and determine whether the absolute value of the difference between the brightness of the spot (B vsp) and the brightness of approximately the entire screen (BVAV) is 2 or more. If there are 2 or more, use the spot brightness (B vsp) for exposure (or use the spot brightness weighted with the spot brightness) for backlit shooting or stage shooting. (using the composite brightness from the average brightness), and if it is less than 2, the average of both is taken and used as the brightness for exposure (#360.365).

次にステップ#375に進み、合焦フラグ(合焦F)が
セットされているときには、次の測光でスポット部をメ
モリーするように、フラグ(BvspロックF)をセッ
トし、合焦フラグがセットされていないときには、ステ
ップ#380をスキップし、第10図に示すステップ#
120の露出演算のフローに進む。
Next, proceed to step #375, and when the focus flag (focus F) is set, set the flag (Bvsp lock F) so that the spot area will be memorized in the next photometry, and the focus flag will be set. If not, step #380 is skipped and step #380 shown in FIG.
The process proceeds to step 120 of the exposure calculation flow.

以上が本実施例によるマイコン(21)のフローチャー
トである。
The above is the flowchart of the microcomputer (21) according to this embodiment.

なお、上記の説明ではAGCのデータを利用して輝度を
求める場合の1へBv単位の求め方としてCCDの画素
(31〜57)のすべてを平均したが、COD画素(3
1〜5))の最大値と最小値との平均をとって、これを
1へBv単位に直しても良い。
In addition, in the above explanation, all CCD pixels (31 to 57) are averaged to obtain the 1 Bv unit when calculating brightness using AGC data, but COD pixels (3
The maximum and minimum values of 1 to 5)) may be averaged and converted to 1 in Bv units.

第13図に、第11図のフローチャートにおける#10
5の群を変形したフローを示す。まず積分時間を計測す
ることによって、輝度を求める(第3表参照)、そして
画素出力の全平均、または、ピーク値とボトム値との平
均をとって、′へEv単位を求めて上記輝度を補正する
。この補正値の求め方を簡単に説明すると、まず、画素
の出力がとりうるレンジの172を決める。そして、こ
のレベルから画素がとりうる最高値までを1へEv単位
で分け、上記平均値がこのレベル範囲内にあるときには
、その旦だけ、モニタ一部から得た輝度に加える。同様
にして172レベルから下方の値に対しても1へEv単
位でレベル範囲を設けて、上記画素出力から得た平均値
がこの下側のレベル範囲にあるときは、モニタ一部から
得た輝度から、レベル範囲の量だけ減算して、輝度を得
る。これによって得られる輝度は、CCD上で得られた
被写体の輝度分布をもとにして得られるので、モニタ一
部のみから得る場合よりも精確な輝度データが得られる
FIG. 13 shows #10 in the flowchart of FIG.
5 shows a modified flow of the group No. 5. First, calculate the brightness by measuring the integration time (see Table 3). Then, take the total average of the pixel output or the average of the peak value and the bottom value, calculate the Ev unit to ', and calculate the above brightness. to correct. To briefly explain how to obtain this correction value, first, 172 of the possible ranges of pixel output are determined. Then, the range from this level to the highest value that the pixel can take is divided into 1 in Ev units, and when the average value is within this level range, it is added to the luminance obtained from a part of the monitor. Similarly, a level range is set for values below the 172 level in Ev units of 1, and when the average value obtained from the above pixel output is within this lower level range, the average value obtained from a part of the monitor is Subtract the amount of the level range from the brightness to obtain the brightness. Since the brightness obtained by this method is obtained based on the brightness distribution of the subject obtained on the CCD, more accurate brightness data can be obtained than when the brightness data is obtained from only a portion of the monitor.

(発明の効果) 本発明にあっては、上述のように、モニター用の受光素
子が各受光部の間に配されているので、アレイ状に配列
された複数の受光部にて輝度分布を検出している範囲内
の輝度をモニターすることができ、受光部に入射する光
量に応じて蓄積時間の制御を行うことができるという効
果があり、また、モニター用受光素子からの光電流出力
の全てを使用せずに、略等間隔毎に間引いて、間引かれ
た光電流出力の総和に応じた電荷をモニター用の電荷蓄
積部にN積し、このモニター用の電荷蓄積部にて得られ
た輝度モニター出力に応じて受光部から蓄積部への蓄積
時間が制御されるようにしたので、モニター用の電荷蓄
積部を大きくしなくても良いという効果がある。
(Effects of the Invention) As described above, in the present invention, since the light receiving element for monitoring is arranged between each light receiving part, the brightness distribution is determined by the plurality of light receiving parts arranged in an array. It has the effect of being able to monitor the brightness within the detection range, controlling the accumulation time according to the amount of light incident on the light receiving element, and controlling the photocurrent output from the monitoring light receiving element. Instead of using all of them, they are thinned out at approximately equal intervals, and charges corresponding to the sum of the thinned out photocurrent outputs are multiplied by N in a charge storage section for monitoring, and the charge storage section for monitoring is used to Since the storage time from the light receiving section to the storage section is controlled in accordance with the brightness monitor output, there is an advantage that there is no need to increase the size of the charge storage section for monitoring.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)は本発明の一実施例に係る電荷蓄積型光電
変換素子の概略構成図、第1図(b)は同一ヒの要部等
価回路図、第2図は同上の素子を含む光電変換部の回路
図、第3図は同上の素子を用いた自動焦点検出装置にお
ける光学系の概略構成図、第4図は同上の光電変換部の
要部動作原理を説明するための回路図、第5図は同上の
光電変換部に用いる輝度モニター回路の出力電圧の時間
的変化を示す特性図、第6図は同上の光電変換部に用い
るCCDシフトレジスタの構成を示す概略構成図、第7
図は同上の素子を用いた自動焦点検出装置の回路構成を
示すブロック回路図、第8図は同上の自動焦点検出装置
に用いる利得制御回路及び利得可変増幅回路の構成を示
す回路図、第9図は同上の自動焦点検出装置を用いたカ
メラの動作を制御する回路の全体構成を示すブロック回
路図、第10図乃至第12図は同上のカメラの動作を説
明するためのフローチャート、第13図は第11図に示
すフローチャートの変更箇所を示すフローチャート、第
14図は従来例における測距範囲と測光範囲とを示す説
明図である。 (100)はCCDフォトダイオード、(101)はモ
ニターフォトダイオード、(C1)はコンデンサ、(A
 G COS >は輝度モニター出力である。
FIG. 1(a) is a schematic configuration diagram of a charge storage type photoelectric conversion device according to an embodiment of the present invention, FIG. 1(b) is an equivalent circuit diagram of the main part of the same device, and FIG. 2 is a schematic diagram of the same device. 3 is a schematic configuration diagram of an optical system in an automatic focus detection device using the above element, and FIG. 4 is a circuit diagram for explaining the principle of operation of the main parts of the above photoelectric conversion section. FIG. 5 is a characteristic diagram showing temporal changes in the output voltage of the brightness monitor circuit used in the photoelectric conversion section as described above, and FIG. 6 is a schematic configuration diagram showing the configuration of a CCD shift register used in the photoelectric conversion section as described above. 7th
The figure is a block circuit diagram showing the circuit configuration of an automatic focus detection device using the above element, FIG. 8 is a circuit diagram showing the configuration of a gain control circuit and a variable gain amplifier circuit used in the above automatic focus detection device, and FIG. The figure is a block circuit diagram showing the overall configuration of a circuit that controls the operation of the camera using the automatic focus detection device as described above, FIGS. 10 to 12 are flowcharts for explaining the operation of the camera as described above, and FIG. 13 14 is an explanatory diagram showing the distance measurement range and photometry range in the conventional example. (100) is a CCD photodiode, (101) is a monitor photodiode, (C1) is a capacitor, (A
G COS > is the brightness monitor output.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)アレイ状に配列された複数の受光部と各受光部に
おける受光量に応じてそれぞれ電荷を蓄積する複数の蓄
積部とを備え、蓄積部への電荷の蓄積時間を制御するた
めのモニター用受光素子を各受光部の間に配され、モニ
ター用受光素子からの光電流出力を略等間隔毎に間引い
て、間引かれた光電流出力の総和に応じた電荷を蓄積さ
れるモニター用の電荷蓄積部を備え、モニター用の電荷
蓄積部にて得られたモニター出力に応じて前記蓄積時間
が制御されるようにして成ることを特徴とする電荷蓄積
型光電変換素子。
(1) A monitor that is equipped with a plurality of light receiving sections arranged in an array and a plurality of accumulation sections that accumulate charges according to the amount of light received at each light receiving section, and controls the time for which charges are accumulated in the accumulation sections. A monitor light receiving element is arranged between each light receiving part, and the photocurrent output from the monitor light receiving element is thinned out at approximately equal intervals, and a charge corresponding to the sum of the thinned out photocurrent outputs is accumulated. 1. A charge storage type photoelectric conversion element comprising a charge storage section, the storage time being controlled in accordance with a monitor output obtained from the monitoring charge storage section.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0787262A (en) * 1993-09-09 1995-03-31 Nec Corp Solid-state image pickup element and measuring method therefor
JPH09105857A (en) * 1996-09-13 1997-04-22 Minolta Co Ltd Photoelectric converter for focus detection
JPH09127408A (en) * 1996-09-13 1997-05-16 Minolta Co Ltd Image sensor and distance measuring instrument using it
JP2003065848A (en) * 2001-08-29 2003-03-05 Fuji Electric Co Ltd Ranking method by light intensity of subject, and optical sensor unit
JP2008216478A (en) * 2007-03-01 2008-09-18 Olympus Imaging Corp Device for detecting focus
JP2012048065A (en) * 2010-08-27 2012-03-08 Canon Inc Photoelectric conversion device, focus detector and imaging system

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0787262A (en) * 1993-09-09 1995-03-31 Nec Corp Solid-state image pickup element and measuring method therefor
JPH09105857A (en) * 1996-09-13 1997-04-22 Minolta Co Ltd Photoelectric converter for focus detection
JPH09127408A (en) * 1996-09-13 1997-05-16 Minolta Co Ltd Image sensor and distance measuring instrument using it
JP2003065848A (en) * 2001-08-29 2003-03-05 Fuji Electric Co Ltd Ranking method by light intensity of subject, and optical sensor unit
JP4617623B2 (en) * 2001-08-29 2011-01-26 富士電機システムズ株式会社 Method for ranking according to light and darkness of subject and optical sensor device thereof
JP2008216478A (en) * 2007-03-01 2008-09-18 Olympus Imaging Corp Device for detecting focus
JP2012048065A (en) * 2010-08-27 2012-03-08 Canon Inc Photoelectric conversion device, focus detector and imaging system

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