JPS62259022A - Light measuring instrument using focusing detecting element - Google Patents

Light measuring instrument using focusing detecting element

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JPS62259022A
JPS62259022A JP61102553A JP10255386A JPS62259022A JP S62259022 A JPS62259022 A JP S62259022A JP 61102553 A JP61102553 A JP 61102553A JP 10255386 A JP10255386 A JP 10255386A JP S62259022 A JPS62259022 A JP S62259022A
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JP
Japan
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circuit
focus detection
brightness
integration
value
Prior art date
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Application number
JP61102553A
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Japanese (ja)
Inventor
Tokuji Ishida
石田 徳治
Hiroshi Mukai
弘 向井
Hiroshi Otsuka
博司 大塚
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

PURPOSE:To accurately find the brightness of a subject under a fluorescent lamp by calculating a light measured value by using the mean value of the integration time of plural integrating operations. CONSTITUTION:Incident light beams are made meident on a condenser lens CL through a photographic lens TL and a film equivalent surface F. Then, images of ranges A and B on the film equivalent surface F are re-formed on charge storage type image sensors I1 and I2 as images A1 and B1, and A2 and B2. Then, the image sensors I1 and I2 send out two image signals corresponding to the intensity distributions of the two images formed thereupon to a focus detecting circuit consisting of a microcomputer. Then, a focus detecting circuit finds the light measured value by using the mean value of the integration time of plural integrating operation to accurately find the brightness of the subject in the presence of the fluorescent lamp.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野) 本発明は、電荷蓄積型の充電変換素子のような積分タイ
プの合焦検出素子を用いた測光装置に関する乙のであり
、複数回の積分時間の平均値から測光値を求めることに
より、蛍光灯下での測光を可能としたものである。
[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a photometry device using an integral type focus detection element such as a charge storage type charge conversion element, By calculating the photometric value from the average value of , it is possible to perform photometry under fluorescent lighting.

(IjC来の技術) 1−′を公明60−1603号公報には、自動焦点検出
装置の合焦検出素子を用いてJtl+光を行うことが開
示されているが、蛍光灯下での測光を行う場合の対策に
ついては開示されていない。また、従来の一最的な測光
回路における蛍光灯対策としては、CR積分回路のよう
なフィルタを用いて、蛍光灯光源の脈流成分を低減する
技術があるが、′:S荷蓄積型の光電変換素子のような
積分タイプの合焦検出素子における積分時間を平均して
、蛍光灯下での測光値を得るような測光装置は提案され
ていない。
(Technology from IjC) Regarding 1-', Komei No. 60-1603 discloses that Jtl+ light is performed using a focus detection element of an automatic focus detection device, but photometry under fluorescent lighting is not possible. Measures to be taken if this is done are not disclosed. In addition, as a conventional countermeasure against fluorescent lamps in photometric circuits, there is a technology that uses a filter such as a CR integration circuit to reduce the pulsating current component of the fluorescent lamp light source. No photometric device has been proposed that averages the integration time of an integral type focus detection element such as a photoelectric conversion element to obtain a photometric value under fluorescent lighting.

(発明が解決しようとする問題点) 最近のカメラには、CCDラインセンサのような積分タ
イプの合焦検出素子を備えているものが多い、このCC
Dラインセンサには、アレイ状に配置された複数の受光
部と、各受光部の受光量に応じて電荷を蓄積する?i蓄
積部、モニター用の受光部とが設けられており、蓄積部
への積分時間は輝度が高いときには短くなり、輝度が低
いときには長くなるように、モニター用の受光部からの
モニター出力により制御されている。したがって、蓄積
部への積分時間を利用して測光を行うことが考えられる
。この場合、き黒検出素子のよ11距エリアはスポット
的になるために、その測光出力をスポット測光出力とす
れば、特別なスポット1111光用の素子及び光学系を
必要としない。
(Problems to be Solved by the Invention) Many recent cameras are equipped with an integral type focus detection element such as a CCD line sensor.
The D-line sensor has a plurality of light receiving sections arranged in an array, and charges are accumulated according to the amount of light received by each light receiving section. i A storage section and a monitor light-receiving section are provided, and the integration time to the storage section is controlled by the monitor output from the monitor light-receiving section so that it becomes shorter when the brightness is high and becomes longer when the brightness is low. has been done. Therefore, it is conceivable to perform photometry using the integration time to the storage section. In this case, since the 11-distance area of the dark detection element becomes spot-like, if the photometric output is taken as the spot photometric output, a special element and optical system for the spot 1111 light is not required.

しかしなから、蛍光灯下で撮影が行なわれているときに
は、被写体の明るさは蛍光灯の影響を受けて、交流電源
周期の半分の周期で変化する。その最大値と最小値とを
止転した場き、蛍光灯によって異なるが、ある種類では
凡そ3Ev変1ヒしているものがある。このような蛍光
灯下で、上記積分タイプの合焦検出素子を用いて、その
積分時間で被写体の明るさを測ろうとすれば、最大値付
近では積分時間が短くなり、最小値付近では積分時間が
長くなるといった変動が生じ、正確な被写体の明るさを
得ることができない。
However, when photography is performed under fluorescent lighting, the brightness of the subject changes at half the cycle of the AC power supply cycle due to the influence of the fluorescent lighting. When the maximum value and the minimum value are stopped, it varies depending on the fluorescent lamp, but some types have about 3Ev change and 1hi. Under such fluorescent lighting, if you try to measure the brightness of the subject using the integration time using the above-mentioned integral type focus detection element, the integration time will be short near the maximum value, and the integration time will be short near the minimum value. As a result, the brightness of the subject cannot be accurately determined.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、複数回の積分についての積分時
間の平均値を用いて測光値を求めることによって、蛍光
灯下での被写体の明るさを正確に求めることができるよ
うにした合焦検出素子を用いた測光装置を提供するにあ
る。
The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to obtain a photometric value using the average value of the integration time of multiple integrations, so that the subject can be photographed under fluorescent lighting. An object of the present invention is to provide a photometry device using a focus detection element that can accurately determine the brightness of an object.

(問題点を解決するための手段) 本発明に係る合焦検出素子を用いた測光装置にあっては
、上述のような問題点3解決するために、添付図面に示
されるように、積分型の合焦検出素子を用いて合焦検出
を行う合焦検出手段と、合焦検出素子の積分時間を制御
する積分時間制御手段と、複数回の積分についての積分
時+alを記憶する記憶手段と、記憶された積分時間の
平均値を求める平均手段と、平均手段により求められた
積分時間の平均値から測光値を得る測光手段とを有する
ものである。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problem 3, in the photometry device using the focus detection element according to the present invention, as shown in the attached drawings, an integral type a focus detection means for performing focus detection using a focus detection element; an integration time control means for controlling an integration time of the focus detection element; and a storage means for storing an integration time +al for a plurality of integrations. , an averaging means for obtaining an average value of the stored integration times, and a photometry means for obtaining a photometric value from the average value of the integration times obtained by the averaging means.

(fヤ用) 本発明にあっては、積分時間制御手段により、合焦検出
手段の積分時間が制御され、被写体の1度が高いときに
は積分時間は短くなり、被写体の輝度が低いときには積
分時間は長くなる。したがって、蛍光灯下での撮影時に
おいては、積分時間は長くなったり短くなったりするも
のであるが、本発明では、複数回の積分についての積分
時間を記憶し、記憶された積分時間の平均値を求め、こ
の平均値から測光値を得るようにしたので、被写体の明
るさが時々刻々と変1ヒしている場合においても、 a
tl光値が測光1σに変動するというような不部合は生
じない。
(For f-ya) In the present invention, the integration time of the focus detection means is controlled by the integration time control means, and when the 1 degree of the object is high, the integration time becomes short, and when the brightness of the object is low, the integration time is becomes longer. Therefore, when photographing under fluorescent lighting, the integration time becomes longer or shorter, but in the present invention, the integration time for multiple integrations is stored, and the average of the stored integration times is Since the photometric value is obtained from this average value, even when the brightness of the subject changes from moment to moment, a
Inconsistencies such as the tl light value changing photometrically 1σ do not occur.

(実施例) 以下、本発明の好ましい実施例を図面と共に説明する。(Example) Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第2図は本発明の一実htArI/4に係る測光装置に
用いる合焦検出装置の光学系を示す、第2(!Iにおい
て、(TL>は撮影レンズ、(F)はフィルム等価面、
(CL)はコンデンサーレンズ、(L L >、(L2
)は結像レンズ、(M)は結像レンズに入射する光を制
限する絞り、(11)、(12)は電苛蓄f^型イメー
ジセンサ−であって、フィルム等価面(■?)のA、B
の範囲の像を、コンデンサーレンズ(Cし)、結f☆レ
ンズ(L 1 )、(L 2 >によってイメージセン
サ−(11)、<12>上に各々像(A 1 )、(B
 l )及び(A2)、(B2>として再形成する。イ
メージセンサ−(11)、(I 2>は、その上に形成
された2つの像の強度分布に対応する2つの像信号をマ
ー(クロコンピユータで構成される焦点検出回路に送出
し、焦点検出回路ではそれぞれの像信号がある相関関係
を持つことにより、像のずれl及び合焦状態を判定する
FIG. 2 shows an optical system of a focus detection device used in a photometric device according to one embodiment of the present invention, htArI/4.
(CL) is a condenser lens, (L L >, (L2
) is an imaging lens, (M) is an aperture that limits the light incident on the imaging lens, (11) and (12) are electrolytic storage f^ type image sensors, and the film equivalent surface (■?) A, B
Images (A 1 ) and (B
The image sensors (11) and (I2> are re-formed as (A2), (B2>) and (A2), (B2>). The image signals are sent to a focus detection circuit composed of a computer, and the focus detection circuit determines the image shift l and the focus state by having a certain correlation between the respective image signals.

第3図は、上述のイメージセンサ−(11)、(12)
を含む充電変換部を示したもので、この光電変換部は、
P 1.P 2. ・・・、P (n−1)、P nか
らなるフォトセンサーアレイ(PA)、このフォトセン
サーアレイ(PA)を初期設定する積分クリア回路(I
CG)、前記フォトセンサーアレイ(PA)に蓄えられ
た蓄積電荷を後述するCCDシフトレジスタ(SR)に
転送するシフトゲート回路(SG)、R1+R2+ H
+ H、R(n+2)、R(n+))からなるCCDシ
フトレジスタ(SR)を備えている。ここで、前記フォ
トセンサーアレイ(PA)から送られてきた蓄積電荷を
、転送パルス(φ1)、(φ2)に同期して、順次映像
信号出力回路(Vs)に転送する転送部であるCCDシ
フトレジスタ(S R)のセル数は、フォトセンサーア
レイ(PA)のフォトセンサー数より53個多い。CC
Dシフトレジスタ(SR)のセルR,、R2,rt 、
は空送り用であり、フォトセンサーアレイ(PA)の各
フォトセンサーP I、 P 2 、・・・、P(n−
+)、PncI)蓄積電荷は、後述ノシフトパルス(S
 H)によってCCDシフトレジスタ(SR)のセル「
こ*、Rs、 ・・・、R(n+2)、R(+++z)
に並列的に転送される。各フォトセンサーは第4[2I
に示すように、フォトダイオード(Dl)、PN接合の
接1)容量を利用した電荷蓄積用ダイオード(D2)、
フォトダイオード(Dl)のカソードと電荷蓄積用ダイ
オード(D2)のカソードとに接続され、ゲートが接地
されているF E T回路(QIO)、電荷蓄積用ダイ
オード(D2)のカソードと電源+■とに直列に接続さ
れたスイッチ(S)から構成されている。このスイッチ
(S)は積分クリア回路(ICG)の半導体スイッチン
グ素子に相当するものであり、このスイッチが構成(積
分クリア信号(ICG S )が送られ半導体スイッチ
ング素子がON>されると、電荷’AM用ダイオード(
D2)のカソード1111のレベルが電源十■のレベル
まで引き上げられる。すなわち、フォトセンサーが初期
状態にセットされる。スイッチ(S>が開かれると(積
分クリア信号(ICO3)の消滅後、半導体スイッチン
グ素子がOFFになると)、PE7回路(QIO)を介
してフォトダイオード(Dl)の光ta流が、電荷蓄積
用ダイオード(D2)の電荷を放電し、電荷蓄積用ダイ
オード(D2)のカソード電圧は時間の経過と共に降下
する。すなわち、光電流積分が行なわれるが、これはフ
ォトダイオード(Dl)に入射する光の強度に応じた速
度で電荷蓄積用ダイオード(D2)のカソードに負の電
荷が蓄積されると考えてよい、したがって、各フォトセ
ンサーは入射光強度に応じた速度で電荷を蓄積すると考
えられる。フォトセンサーの電荷の蓄積は、前記積分ク
リア信号([CGS)が消滅してから開始され、シフト
ゲート回路(SG)にシフトパルスが入力されると終了
する。すなわち、シフトパルスの入力によりフォトセン
サーの蓄積電荷がCCDシフトレジスタ(SR)に転送
される。CCDシフトレジスタ(SR)では転送パルス
(φ1)、(φ2)により。
Figure 3 shows the above-mentioned image sensors (11) and (12).
This figure shows a charging conversion section including:
P1. P2. ..., P (n-1), a photosensor array (PA) consisting of P n, an integral clear circuit (I
CG), a shift gate circuit (SG) that transfers the accumulated charge stored in the photosensor array (PA) to a CCD shift register (SR) described later, R1+R2+H
+H, R(n+2), R(n+)). Here, the CCD shifter is a transfer unit that sequentially transfers the accumulated charges sent from the photosensor array (PA) to the video signal output circuit (Vs) in synchronization with the transfer pulses (φ1) and (φ2). The number of cells in the register (S R) is 53 more than the number of photosensors in the photosensor array (PA). C.C.
D shift register (SR) cell R,, R2,rt,
is for empty feeding, and each photosensor P I, P 2 , ..., P (n-
+), PncI) accumulated charge is generated by the shift pulse (S
H) of the CCD shift register (SR)
*, Rs, ..., R(n+2), R(+++z)
are transferred in parallel. Each photosensor is the fourth [2I
As shown in , a photodiode (Dl), a charge storage diode (D2) using a capacitance of a PN junction,
A FET circuit (QIO) whose gate is connected to the cathode of the photodiode (Dl) and the cathode of the charge storage diode (D2), and whose gate is grounded, the cathode of the charge storage diode (D2) and the power supply +■ It consists of switches (S) connected in series. This switch (S) corresponds to the semiconductor switching element of the integral clear circuit (ICG). AM diode (
The level of the cathode 1111 of D2) is raised to the level of the power supply. That is, the photosensor is set to the initial state. When the switch (S> is opened (after the integral clear signal (ICO3) disappears and the semiconductor switching element is turned OFF), the photodiode (Dl)'s light ta current is transferred to the photodiode (Dl) for charge storage via the PE7 circuit (QIO). The charge of the diode (D2) is discharged, and the cathode voltage of the charge storage diode (D2) decreases over time.In other words, photocurrent integration is performed, which is due to the increase in the amount of light incident on the photodiode (Dl). It can be considered that negative charges are accumulated at the cathode of the charge storage diode (D2) at a rate that depends on the intensity of the incident light.Therefore, it can be assumed that each photosensor accumulates charges at a rate that depends on the intensity of the incident light. Accumulation of charge in the sensor starts after the integral clear signal ([CGS) disappears, and ends when a shift pulse is input to the shift gate circuit (SG).In other words, the input of the shift pulse causes the photo sensor to accumulate. The accumulated charge is transferred to the CCD shift register (SR) by transfer pulses (φ1) and (φ2).

転送された蓄積電荷を1セル分ずつ順次映像信号出力回
路(V s)へ出力する。
The transferred accumulated charges are sequentially output to the video signal output circuit (Vs) one cell at a time.

第31Jノ(T 8 )、(’r 9 )は7 t l
−センサーアレイ(PA)、輝度モニター回路(MC)
、基$信号発生回路(R8)、映像イ言号出力回路(V
s)に電源十Vを供給する為の電源端子とアース端子で
ある。
31st J No. (T 8 ), ('r 9 ) is 7 t l
-Sensor array (PA), brightness monitor circuit (MC)
, basic signal generation circuit (R8), video signal output circuit (V
s) and a ground terminal for supplying 10 V of power to the terminal.

(MF’)は輝度モニタニ用受光素子でフォトセンサー
アレイ(PA)の近傍に配置されており、前記1度モニ
ター回路(MC)、基準信号発生回路(R3)、映像信
号出力回路(Vs)を含めて、これらも光電変換部を構
成している。輝度モニター回路(MC)は、F E ′
r回路(Q 1 )、(Q 2 >、(Q 3 )とコ
ンデンサー(cl)とからなり、F E ′r回路(Q
 1 >にQゲートは、積分クリア回路(lCQ)に接
続され、前記積分クリア信号(ICO3)により導通し
、F E T回路(Ql)、(C2)のゲートとコンデ
ンサー(C1)の接続点(Jl)を電源十■に引き上げ
る。輝度モニター用受光素子(MP)は、前記フォトセ
ンサーの説明と同じ動fjを行う、すなわち積分クリア
信号(ICGS)の消滅後、ki度モニター用受光素子
(MP)は、入射する光の強度に応じた速度でコンデン
サー(C1)に、負の電荷を蓄積してぃ<、FET回路
(C2>、(C3)はバッファを構成しており、F E
 T回路<02>、(C3)の接続点から引き出されて
いる端子(Tl)から、接続点(Jl)の電圧と等しい
電圧(AGCOS>が出力される。
(MF') is a light-receiving element for brightness monitoring, which is placed near the photosensor array (PA). Including these, these also constitute a photoelectric conversion section. The brightness monitor circuit (MC) is F E ′
r circuit (Q 1 ), (Q 2 >, (Q 3 )) and a capacitor (cl), F E 'r circuit (Q
1>, the Q gate is connected to the integral clear circuit (lCQ), conducts by the integral clear signal (ICO3), and connects the gate of the FET circuit (Ql), (C2) and the capacitor (C1) ( Jl) to the power source of 10■. The light receiving element (MP) for brightness monitoring performs the same movement fj as described for the photosensor, that is, after the integral clear signal (ICGS) disappears, the light receiving element (MP) for ki degree monitoring performs the same movement fj as described for the photosensor. A negative charge is accumulated in the capacitor (C1) at a corresponding speed, and the FET circuits (C2> and (C3) constitute a buffer,
A voltage (AGCOS) equal to the voltage at the connection point (Jl) is output from the terminal (Tl) pulled out from the connection point of the T circuit <02> and (C3).

第51;には、この出力電圧<AGCOS)の時間的変
化を示したものであり、(ρ1)〜(J27 >は輝度
によって電圧降下の速度が変化することを示している。
The 51st column shows the temporal change in this output voltage <AGCOS), and (ρ1) to (J27>) indicate that the rate of voltage drop changes depending on the brightness.

なお、図中に示される立ち上がりの波形は積分クリア信
号(ICGS)による誘導ノイズを表している。
Note that the rising waveform shown in the figure represents induced noise due to the integral clear signal (ICGS).

第3[21Iに戻って、基準電圧発生回路(R8)は、
F E T回路(Q −i )、(Q 5 )、(Q 
6 )及びコンデンサー(C2)から構成されており、
接続点(J2)がFE T 回路(C4)とFET回路
(Q 5 )ノゲート及びコンデンサー(C2)にしが
接続されていない点を除いては、肩度モニター回路(M
C)と全く同じであり、同一集積回路内につくられる為
、各々の特性も同じである。したがって、部分クリア信
号(ICGS)の消滅直後の端子(I2)の基準電圧(
D。
Returning to the third [21I], the reference voltage generation circuit (R8) is
FET circuit (Q −i ), (Q 5 ), (Q
6) and a capacitor (C2),
The shoulder monitor circuit (M
They are exactly the same as C), and because they are manufactured in the same integrated circuit, their characteristics are also the same. Therefore, the reference voltage of the terminal (I2) immediately after the partial clear signal (ICGS) disappears (
D.

S)と、輝度モニター回路(MC>のくT1)端子の電
圧(AGCOS)とは、はとんど同じである。この為、
時間経過と共に降下する電圧呈をJl定するための仏僧
電圧として用いることができる。
S) and the voltage (AGCOS) at the brightness monitor circuit (MC>T1) terminal are almost the same. For this reason,
It can be used as a Buddhist monk voltage for determining Jl of the voltage that decreases over time.

映像信号出力回路(V s>は、FET回路(C7)。The video signal output circuit (Vs> is an FET circuit (C7).

(C8)、(Q9)及びコンデンサー(C3)から構成
され、接続点(J3)は、FET回路(C7)とFET
[i!l路(C8)のゲート及びコンデンサー(C3)
に加えて、CCDシフトレジスタ(SR)の出力に接続
されている。FET回路(C7)のゲートは、転送パル
ス(φ1)の(I4)端子に接続され、このパルス(φ
1)が入力される毎にFET回路(C7)が導通してコ
ンデンサー(C3)は電源電圧十Vのレベルまで充電さ
れ、映像信号出力回路(V s)がリセットされる。そ
の後転送パルス(φ1)により前記コンデンサー(C3
)は転送されるCCDシフトレジスタ(SR)の蓄積電
荷に応じた電荷の放電と縁り返して行い、バッファを形
成するFET回路(C8)、(Q9)の接続点の端子(
I3)から各フォトセンサーに対応した電圧が、各画素
の映像信号(O8)として出力され、それらが全体で映
像信号を形成する。
(C8), (Q9) and a capacitor (C3), and the connection point (J3) connects the FET circuit (C7) and the FET circuit.
[i! l path (C8) gate and capacitor (C3)
In addition, it is connected to the output of the CCD shift register (SR). The gate of the FET circuit (C7) is connected to the (I4) terminal of the transfer pulse (φ1), and this pulse (φ
Each time 1) is input, the FET circuit (C7) becomes conductive, the capacitor (C3) is charged to the level of the power supply voltage of 10 V, and the video signal output circuit (Vs) is reset. After that, the transfer pulse (φ1) causes the capacitor (C3
) is performed by discharging the charge according to the accumulated charge of the CCD shift register (SR) to be transferred, and the terminal (
A voltage corresponding to each photosensor is output from I3) as a video signal (O8) for each pixel, and they collectively form a video signal.

第6図は、本実施例におけるCCDシフトレジスタ(S
R)の各セルの機能分担を示すマツプである。セルは1
番から128番まであり、31番から57番間での27
セルが第2図のイメージセン゛  サー(11)に相当
し、80番〜114番までの35セルが第2図のイメー
ジセンサ−(I2)に相当する。イメージセンサ−(I
2)に相当する部分のセル数が多いのは、まず最初に、
イメージセンサ−(11)に相当する27セルとイメー
ジセンサ−(I2)に相当する80番から106番まで
の27セルとを対比し11次に一画素ずらし81番から
107番までの27セルとを対比し、最陵に87番から
114番までの27セルとを対比するというように、イ
メージセンサ−(I2)に相当する出力を1個ずつずら
しなから、順次イメージセンサ−(I1)に相当する出
力の比較を行うためである。
FIG. 6 shows the CCD shift register (S) in this embodiment.
This is a map showing the division of functions of each cell in R). cell is 1
from number 128 to number 128, and number 27 between number 31 and 57.
The cells correspond to the image sensor (11) in FIG. 2, and the 35 cells numbered 80 to 114 correspond to the image sensor (I2) in FIG. Image sensor (I
First of all, the number of cells in the part corresponding to 2) is large.
The 27 cells corresponding to the image sensor (11) and the 27 cells corresponding to the image sensor (I2) from 80th to 106th are compared, and then the 27 cells from 81st to 107th are shifted by one pixel. The outputs corresponding to the image sensor (I2) are shifted one by one, and then the outputs corresponding to the image sensor (I2) are compared one by one, and then the outputs corresponding to the image sensor (I1) are compared with the 27 cells from 87th to 114th. This is to compare corresponding outputs.

前記それぞれの比較による結果の相関をとることによっ
て1合焦、前ビン、後ビンが判断される。
One focus, front bin, and back bin are determined by correlating the results of each comparison.

1番〜3番のセルは、空送りセルであり、4番から15
番の半分までは、光が完全に入射しないようにアルミ蒸
着による遮光マスクを施しである黒基準部であり、この
アルミ蒸着によって電気的特性も若干変化している。
Cells 1 to 3 are empty feed cells, and cells 4 to 15
Up to half of the reference area is a black reference area covered with a light-shielding mask made of aluminum evaporation to prevent light from entering completely, and the electrical characteristics have changed slightly due to this aluminum evaporation.

第7図は本発明の一実施例の回路構成を示す。FIG. 7 shows a circuit configuration of an embodiment of the present invention.

この回路構成において制御回路(11)及び演算判別回
路(12)は後述のマイクロコンピュータ(以下マイコ
ンと言う)によって構成されている。レリーズボタン(
不図示)の第1ストロークの押下によるスイッチ(Sl
)のONが制御回路(11)によって検出されると制御
回路〈11)は焦点検出の制御を開始する。まず、制御
回路(11)は積分クリア信号(ICGS)を光電変換
回路(10)に出力し、各フォトセンサーご初期状態に
リセットすると共に、上記信号(ICGS)によって輝
度モニター回路(M C)の出力(AGCOS)を初期
状態の電源電圧レベルまで回+3!させる。そして、こ
の積分クリア信号(I CGS)が消滅すると同時に、
光電変換回路(10)の各フォトセンサーが光積分を開
始すると共に、輝度モニター回路(MC)が被写体の輝
度の測定を開始し、その出力(AGCOS>は被写体輝
度に応じた速度で初期状態の電源電圧より降下していく
。利得制御回路(5)は、基準電圧発生回路(R3)の
出力である基準電圧(DO3>と輝度モニター回路(M
 C>の出力(AGCOS>とを入力とし、基準電圧(
DO3>をもとにして作られた4段附の他の基準電圧を
内部でつくり、これらの電圧と輝度モニター電圧(AG
COS)とを比較し、利得を決める。積分クリア信号(
ICGS)の消滅から所定時間T M 1 (32+a
sec)内に輝度モニター回路(MC)の出力(AGC
OS)の電圧降下が大きく、所定電圧以下になると、利
得制御回路(5)からHighレベルの(TINT)信
号が出力され、制御回路(11)とアンド回路(AN)
に出力される。
In this circuit configuration, the control circuit (11) and the arithmetic determination circuit (12) are constituted by a microcomputer (hereinafter referred to as microcomputer), which will be described later. Release button (
(not shown) by pressing the first stroke of the switch (Sl
) is detected by the control circuit (11), the control circuit (11) starts controlling focus detection. First, the control circuit (11) outputs an integral clear signal (ICGS) to the photoelectric conversion circuit (10), resets each photosensor to its initial state, and uses the signal (ICGS) to control the brightness monitor circuit (MC). Increase the output (AGCOS) to the initial state power supply voltage level +3 times! let Then, at the same time as this integral clear signal (ICGS) disappears,
Each photosensor of the photoelectric conversion circuit (10) starts light integration, and the brightness monitor circuit (MC) starts measuring the brightness of the subject, and its output (AGCOS> changes from the initial state at a speed according to the brightness of the subject. The gain control circuit (5) uses the reference voltage (DO3>, which is the output of the reference voltage generation circuit (R3)), and the brightness monitor circuit (M
The output of C>(AGCOS>) is input, and the reference voltage (
Other reference voltages for the 4th stage based on DO3> are created internally, and these voltages and the brightness monitor voltage (AG
COS) and determine the gain. Integral clear signal (
A predetermined time T M 1 (32+a
The output of the brightness monitor circuit (MC) (AGC
When the voltage drop of OS) is large and becomes below a predetermined voltage, a high level (TINT) signal is output from the gain control circuit (5), and the control circuit (11) and the AND circuit (AN)
is output to.

アンド回路(、AN)の入力には、前述の(TINT)
信号と、制御回1¥8(11)からのSHパルス許可信
号(SHEN)とが入力され、その出力信号はオア回路
(OR)に出力される。オア回路(OR)の出力はシフ
トパルス発生回路(6)に入力され、シフトパルス発生
回路(6)はこれに応答してシフトパルス(S11>を
光電変換回路(10)に出力する。この信号(SH)に
より光電変換回路(1o)の各フォトセンサーは積分を
終了し、N積された電荷がCCDシフ1−レジスタ(S
R)の対応するセルにパラレルに転送される0本実施例
では、アンド回路(AN)を設けたことによって、(T
INT>信号が発生してら、CCDの画素データが使用
可能でない場合には、制御回路(11)からのS Hパ
ルス許可信号(SHEN)を「LJレベルとしておくこ
とにより、CCD画素のレジスターへの転送を禁止する
ことが可能となっている。なお、(TINT)信号は制
御回路(11)におけるTINT割込信号として使用さ
れている。
The above-mentioned (TINT) is used as the input of the AND circuit (,AN).
The signal and the SH pulse enable signal (SHEN) from the control circuit 1\8 (11) are input, and the output signal is output to the OR circuit (OR). The output of the OR circuit (OR) is input to a shift pulse generation circuit (6), and in response, the shift pulse generation circuit (6) outputs a shift pulse (S11>) to the photoelectric conversion circuit (10).This signal (SH), each photosensor of the photoelectric conversion circuit (1o) completes the integration, and the N-multiplied charges are transferred to the CCD shift register (S).
In this embodiment, by providing an AND circuit (AN), 0 is transferred in parallel to the corresponding cell of (T
If the CCD pixel data is not usable after the INT> signal is generated, the SH pulse enable signal (SHEN) from the control circuit (11) is set to the LJ level, thereby preventing data from being sent to the CCD pixel register. It is possible to prohibit transfer. Note that the (TINT) signal is used as a TINT interrupt signal in the control circuit (11).

一方、制御回路(11)は撮影準備スイッチ(Sl)が
ONした時間からクロックパルス(CL)を転送パルス
発生回路(7)へ出力する。そして、この転送パルス発
生回路(7〉はクロックパルスに基づいて、互いに位相
が180゛ずれた転送パルス(φ1)、(φ2)を出力
する。転送パルス発生回路(7)は、オア回路(OR)
の出力がHighレベルになると、これと同期して立ち
上がる転送パルス(φ1)を出力する。すなわち、転送
パルス(φ1)はシフトパルス(Sl−1>と同期する
ことになるが、CCDシフトレジスタ(SR)は、わず
かなから光感度を有するため、前記シフトパルス(SH
)と転送パルス(φ1)とが同期していない場合には、
同期していないずれ時間だけ、CCDシフトレジスタ(
SR)は光を感じ、光の強度に応じた電荷が誤信号とし
て蓄積される。そこで転送パルス(φ1)をシフトパル
ス(S)])に同期させて、前記ずれ時間をなくシ、誤
信号が発生しないようにしている。この後、転送パルス
発生回路(7)から前記転送パルス(φ1)、(φ2〉
が光電変換回路(10)に送られる。光電変換回路(1
0)はこれらの転送パルスのうち(φ1)の立ち下がり
に同期して、CCDシフトレジスタ(SR)に蓄えられ
た電荷がセルの端(第6図のセルの1番)から順に、映
像信号(O8)として出力され、減算回路(4)に出力
される。映像信号(O3)は、対応するフォトセンサー
に入射する光の強度が強い程、低い電圧となっており、
減算回路(4)で基準電圧(DO3>から減算された電
圧(DO3−O3)が画素信号として出力される。
On the other hand, the control circuit (11) outputs a clock pulse (CL) to the transfer pulse generation circuit (7) from the time when the imaging preparation switch (Sl) is turned on. Based on the clock pulse, this transfer pulse generation circuit (7) outputs transfer pulses (φ1) and (φ2) whose phases are shifted by 180 degrees from each other. )
When the output becomes High level, a transfer pulse (φ1) that rises in synchronization with this is output. In other words, the transfer pulse (φ1) is synchronized with the shift pulse (Sl-1>, but since the CCD shift register (SR) has a slight photosensitivity, the shift pulse (SH
) and the transfer pulse (φ1) are not synchronized,
The CCD shift register (
SR) senses light, and charges corresponding to the intensity of the light are accumulated as false signals. Therefore, the transfer pulse (φ1) is synchronized with the shift pulse (S) to eliminate the above-mentioned lag time and to prevent the generation of erroneous signals. After this, the transfer pulses (φ1), (φ2>
is sent to the photoelectric conversion circuit (10). Photoelectric conversion circuit (1
0) is synchronized with the falling edge of (φ1) among these transfer pulses, the charge stored in the CCD shift register (SR) is transferred to the video signal in order from the end of the cell (cell number 1 in Figure 6). (O8) and is output to the subtraction circuit (4). The video signal (O3) has a lower voltage as the intensity of light entering the corresponding photosensor becomes stronger.
The voltage (DO3-O3) subtracted from the reference voltage (DO3>) by the subtraction circuit (4) is output as a pixel signal.

前記積分クリア信号(ICGS)の消滅後、積分制御時
間T M 1 (32m5ec)以内に輝度モニター回
路(M c )の出力電圧(AGCOS)が所定電圧以
下にならず、利得制御回路(5)から(TINT)信号
が出力されない場合、積分制限時r81TNi 1 (
32m5ec)の経過後に制御回路(11)は、シフト
パルス発生指令信号(SHM)をオア回路(OR)を通
してシフトパルス発生回路(6)に出力する。シフトパ
ルス発生回路(6)は、この信号を受けてシフトパルス
(S L−1>を光電変換回路(10)に出力し、フォ
トセンサーアレイ(PA)の蓄積電荷をCCDシフトレ
ジスタ(SR)に転送させる。そして前述の場合と同様
に、転送パルス(φ1)、(φ2)によって映像信号出
力回路(Vs)から映像信号<O3)が出力され、減算
回路(4)から(()O3−O5)がiii像信号とし
て出力される。ピークホールド回路(1)は、CCDシ
フトレジスタ(SR)の7番目から10番目のアルミマ
スク部に対応する画素信号(Dos−os>が出力され
タトきに、制御f11回路(11)から送られてくるサ
ンプルホールド信号(S/H)を受け、それらの画素信
号を保持する。この信号は利得可変増幅回路(2)に出
力され、この信号と減算回路(4)から出力される11
番目以降の画素信号とが利得可変増幅回路(2)で減算
され、この差の出力が、利得制御回路(5)により制御
される利得で増幅される。この増幅された信号はA/D
変換回路〈3)でA/D変換され、画素信号データとし
て、制御回路(11)を通して演算判別回路(12)に
出力される。一方、利得制御回路(5)で得られた利得
制御データも制御回路(11)を通して演算判別回路(
12)に送られ、その結果、演算判別回路(12)では
、両データの演算が行なわれる。
After the integral clear signal (ICGS) disappears, the output voltage (AGCOS) of the brightness monitor circuit (M c ) does not become lower than the predetermined voltage within the integral control time T M 1 (32 m5ec), and the output voltage from the gain control circuit (5) If the (TINT) signal is not output, r81TNi 1 (
32m5ec), the control circuit (11) outputs a shift pulse generation command signal (SHM) to the shift pulse generation circuit (6) through the OR circuit (OR). The shift pulse generation circuit (6) receives this signal and outputs a shift pulse (SL-1) to the photoelectric conversion circuit (10), and transfers the accumulated charge of the photosensor array (PA) to the CCD shift register (SR). Then, as in the case described above, the video signal output circuit (Vs) outputs the video signal <O3) by the transfer pulses (φ1) and (φ2), and the subtraction circuit (4) outputs the video signal (()O3-O5). ) is output as the iii image signal. The peak hold circuit (1) receives pixel signals (Dos-os) corresponding to the 7th to 10th aluminum mask portions of the CCD shift register (SR) and outputs them from the control f11 circuit (11). It receives the incoming sample hold signal (S/H) and holds those pixel signals.This signal is output to the variable gain amplifier circuit (2), and this signal and the 11 output from the subtraction circuit (4)
The pixel signals after the pixel signal are subtracted by the variable gain amplifier circuit (2), and the output of this difference is amplified with a gain controlled by the gain control circuit (5). This amplified signal is A/D
The signal is A/D converted by the conversion circuit (3) and output as pixel signal data to the calculation/determination circuit (12) via the control circuit (11). On the other hand, the gain control data obtained by the gain control circuit (5) is also passed through the control circuit (11) to the calculation discrimination circuit (
12), and as a result, the calculation determination circuit (12) performs calculations on both data.

この演算の結果、焦点検出可能と判断されたときには、
合焦までの像のずれ量が演算判別回路(12)で演算さ
れる。また、像のずれ量に相当するだけのレンズの駆動
量も前記画素信号データにもとづいて演算判別回路(1
2)で演算され、レンズ駆動装置(8)に出力される。
As a result of this calculation, when it is determined that focus detection is possible,
The amount of image shift until in-focus is calculated by a calculation/discrimination circuit (12). Further, the driving amount of the lens corresponding to the amount of image shift is determined based on the pixel signal data by the arithmetic determination circuit (1).
2) and output to the lens driving device (8).

この駆動装置(8)は、at影レンズ(9)を前記レン
ズの駆IfjJ量だけ駆動する。そして撮影レンズ(9
)が合焦位置にII1達するまで、1.II 111回
路(11)は積分クリア信号<IC08)発生からレン
ズ駆動までのシーケンスを繰り返す、前記焦点検出の演
算の結果、焦点検出不能と判断されたときには、表示回
路(13)において焦点検出不能の表示が行なわれる。
This drive device (8) drives the at shadow lens (9) by the amount of drive IfjJ of the lens. And the photographic lens (9
) until it reaches the in-focus position II1. II 111 circuit (11) repeats the sequence from generation of integral clear signal < IC08) to lens drive. When it is determined that focus detection is not possible as a result of the focus detection calculation, the display circuit (13) indicates that focus detection is not possible. Display is performed.

前記焦点検出が、低輝度(LO−LIGHT)の為に焦
点検出不能と判断したときに、補助光による焦点検出が
可能であれば制御回&8(11)からの指令で、補助光
による焦点検出を行う。
When focus detection is determined to be impossible due to low brightness (LO-LIGHT), if focus detection using auxiliary light is possible, focus detection using auxiliary light is performed by a command from control circuit &8 (11). I do.

第8図は第7I2Iの利得制御回路(5)及び利得可変
増幅回路(2)の−例を示している。第8図において、
(Tl 1)、(Tl 2>、(1’l 3)は、各々
第3図の端子(T 1 )、(T 2 )、(73)に
接続される端子である。(T14)は設定された積分制
限時間TM1(32asec)の経過後、制御回路(1
1)から出力されるシフトパルス発生指令信号(SHM
)を入力する端子、(T15)は積分制限時間内に第5
[2Iにおけるゾーン(E)に入った時に出力される(
TINT)信号の出力端子、(T 16 ”)は利得可
変増幅回路(2)で増幅された画素信号を、A/D変換
回路(3)に出力するための出力端子である。(Bl)
FIG. 8 shows an example of the seventh I2I gain control circuit (5) and variable gain amplifier circuit (2). In Figure 8,
(Tl 1), (Tl 2>, (1'l 3) are terminals connected to the terminals (T 1 ), (T 2 ), and (73) in FIG. 3, respectively. (T14) is the setting After the integration limit time TM1 (32asec) has elapsed, the control circuit (1
1) Shift pulse generation command signal (SHM
), (T15) is the terminal for inputting the fifth
[Output when entering zone (E) in 2I (
TINT) signal output terminal (T 16 ”) is an output terminal for outputting the pixel signal amplified by the variable gain amplifier circuit (2) to the A/D conversion circuit (3). (Bl)
.

(B2>、(B3)はバッファ、(4)は映像信号(電
圧)O8と基準電圧(DOS>とを減算する減算回路、
(1)は暗出力補正データを保持するピークホールド回
路である。
(B2>, (B3) are buffers, (4) is a subtraction circuit that subtracts the video signal (voltage) O8 and the reference voltage (DOS>),
(1) is a peak hold circuit that holds dark output correction data.

まず、利得制御回路(5)から説明すると、積分クリア
信号(IC(’3S)の消滅後、輝度モニター回路(M
C)の出力電圧(AGC(、Is)の降下の程度をステ
ップ的に判別するコンパレーター(ACI)。
First, to explain the gain control circuit (5), after the integral clear signal (IC ('3S) disappears, the brightness monitor circuit (M
A comparator (ACI) that determines the degree of drop in the output voltage (AGC (, Is)) of C) in steps.

(AC2)、(AC3)、(AC4)が設けられている
(AC2), (AC3), and (AC4) are provided.

各コンパレータの反転入力はバッファー(Bl)を介し
て珂度モニター回路(MC)の出力電圧(A G C0
8)が入力される端子(Tll)に夫々接続されている
。コンパレータ(A C1)、(A C2)、(A C
3)、(AC4)の非反転入力は、抵抗(R4)と定電
流(154)との接続点(J4)、抵抗(R3)と定電
流(Is3)との接続点(J5)、抵抗(R2)と定電
流(IS2>との接続点(J6〉、抵抗(R1)と定電
流(ISl)との接続点(J7)に夫々接続されている
。抵抗(R1>、(R2)、(R3)、(R4>は、バ
ッファ(B2)を介して基準電圧(D’O3>が入力さ
れる端子(T12>に接続されている。コンパレーター
の基準電圧は、基準電圧発生回路(R3)の出力電圧(
DOS>から、(抵抗の値)と(定電流の値)とを掛け
た電圧を減算したものであり、抵抗の値と定電流の値と
を適当に選べば任意の基準電圧を作ることが可能である
。このようにして所望のコンパレーターの基準電圧をス
テップ的にfヤれば、輝度モニター回路(MC>の出力
電圧(AGCO3)の降下の程度に応じて、ステップ的
にコンパレーターを反転させることが可能となる。コン
パレーター<ACl)、(AC2>、(AC3>の出力
は、夫々Dフリップ70ツブ(DF 1)、(DF2>
、(L)R3)のデータ端子(D)に入力されている。
The inverting input of each comparator is connected to the output voltage (A G C0
8) are respectively connected to the input terminals (Tll). Comparators (A C1), (A C2), (A C
3), the non-inverting input of (AC4) is the connection point (J4) between the resistor (R4) and constant current (154), the connection point (J5) between the resistor (R3) and constant current (Is3), and the resistor ( Resistors (R1>, (R2), ( R3) and (R4> are connected to the terminal (T12>) into which the reference voltage (D'O3> is input via the buffer (B2).The reference voltage of the comparator is connected to the reference voltage generation circuit (R3). The output voltage of (
The voltage obtained by multiplying (resistance value) and (constant current value) is subtracted from DOS>.If you choose the resistance value and constant current value appropriately, you can create any reference voltage. It is possible. By inverting the reference voltage of the desired comparator in steps in this way, it is possible to invert the comparator in steps according to the degree of drop in the output voltage (AGCO3) of the luminance monitor circuit (MC>). The outputs of the comparators <ACl), (AC2>, and (AC3>) are D flip 70 tubes (DF 1) and (DF2>, respectively).
, (L)R3) is input to the data terminal (D).

これらのDフリップフロップのデータを収り込むタイミ
ングを決定するクロックパルスの入力端子(CP)には
、ft1l lit Eljl路(11)のシフトパル
ス発生指令信号(S)IM)が入力される。異本的には
、精分制限時間T M 1 <32 m5ec)の経過
後にシフトパルス指令信号(SHM)がクロックパルス
の入力端子(CP)に入力され、このタイミングでコン
パレーター(AC1)、(AC2>、(AC3)の情報
を取り込む、コンパレーター(A C4)の出力信号(
e)は、積分制限時間内に輝度モニター回路(MC)の
出力電圧(八〇C03)が第5図のゾーン(E)に入っ
た時に出力される(TINT)信号である。アンド回路
(ANl)はDフリップフロップ(DPI>の出力Qと
、同じくDフリップフロップ(DF2)の出力○とを入
力とし、アンド回路(AN2>はDフリップフロップ(
DF2)の出力Qと、同じくDフリップフロップ(DF
3)の出力Qを入力とし、出力信号を夫々(b)、(c
)としている、また、Dフリップフロップ(DPI>の
出力口の出力信号を(a)、Dフリップフロップ<D 
F 3 )の出力Qの出力信号を(d)とし、これらの
信号(a) 、 (b) 、 (c) 、 (d)と(
TINT)信号(e)は、それぞれ第5図のゾーン(A
 )、(B )、(C)。
A shift pulse generation command signal (S)IM) of the ft1l lit Eljl path (11) is input to the clock pulse input terminal (CP) that determines the timing at which data is stored in these D flip-flops. Alternatively, the shift pulse command signal (SHM) is input to the clock pulse input terminal (CP) after the elapse of the precision limit time T M 1 <32 m5ec), and at this timing, the comparators (AC1) and (AC2 >, the output signal of the comparator (AC4) that takes in the information of (AC3) (
e) is the (TINT) signal that is output when the output voltage (80C03) of the brightness monitor circuit (MC) enters the zone (E) in FIG. 5 within the integration limit time. The AND circuit (ANl) inputs the output Q of the D flip-flop (DPI>) and the output ○ of the D flip-flop (DF2), and the AND circuit (AN2>
The output Q of the D flip-flop (DF2) and the output Q of the D flip-flop (DF
The output Q of 3) is input, and the output signals are (b) and (c), respectively.
), and the output signal at the output port of the D flip-flop (DPI>) is (a), and the output signal of the D flip-flop <D
Let the output signal of the output Q of F3) be (d), and these signals (a), (b), (c), (d) and (
TINT) signal (e) respectively corresponds to zone (A) in FIG.
), (B), (C).

(D)、(E)に対応している。これらの信号の状君と
第1表に示す。
It corresponds to (D) and (E). The conditions of these signals are shown in Table 1.

これらの信号のうち(a) 、 (b) 、 (c)、
 (d)を受け、各(3S7に対応する利得が次に説明
する利得可変増幅回路(2)において設定される。利得
可変増幅回路(2)において、(OP)は演算増幅器で
あり、その入力端子(f)、(g)は入力抵抗(R5)
、(R6)を介して、減算回路(4)、サンプルボール
ド回路(1)に夫々接続されている。抵抗(R5)〜(
R14)は利得を決定する抵抗であり、抵抗(R5)、
(1’、 6 )。
Among these signals, (a), (b), (c),
(d), the gain corresponding to each (3S7) is set in the variable gain amplifier circuit (2) described next. In the variable gain amplifier circuit (2), (OP) is an operational amplifier, and its input Terminals (f) and (g) are input resistance (R5)
, (R6), are connected to the subtraction circuit (4) and the sample bold circuit (1), respectively. Resistance (R5) ~ (
R14) is a resistor that determines the gain, and resistors (R5),
(1', 6).

(R7)、(R8)、(R11)、(R12)の抵抗値
をrとすると、抵抗(R9)、(R13)は2「、抵抗
(RIO)、(R14>は4「となるような抵抗比を持
つ抵抗値に設定しである。くASl)〜(A S 8 
)はアナログスイッチであり、前記(a)、(b)、(
c)、(d)の信号を受け、アナログスイッチ(ASI
)〜(A S 4 )は抵抗(R7)〜(RIO)を選
択し、演算増幅器(OP)の帰還抵抗値を決めるのに対
し、アナログスイッチ(AS5)〜(AS8)は抵抗(
R11)〜[14)を選択し、演算増幅25(OP)の
バイアス抵抗値を決めている。前記(a) 、 (b)
 、 (e) 、 (d)の各信号が夫々rHigh、
1になるときに導通するアナログスイッチ(ASI)〜
(AS8)との対応及びそのときに選択される抵抗と利
得を第2表に示す。
If the resistance values of (R7), (R8), (R11), and (R12) are r, then the resistances (R9) and (R13) are 2'', the resistance (RIO), and (R14> are 4''). Set the resistance value to have the resistance ratio.
) is an analog switch, and the above (a), (b), (
After receiving the signals c) and (d), the analog switch (ASI
) to (AS 4 ) select resistors (R7) to (RIO) and determine the feedback resistance value of the operational amplifier (OP), whereas analog switches (AS5) to (AS8) select resistors (
R11) to [14] are selected to determine the bias resistance value of the operational amplifier 25 (OP). (a), (b) above
, (e) and (d) are respectively rHigh,
Analog switch (ASI) that conducts when it becomes 1 ~
(AS8) and the resistance and gain selected at that time are shown in Table 2.

(以下余白) 第1表 第2表 第9[Zは本実施例に係る測光装置を用いたカメラの動
作を制御する回路の全体構成を示すブロック回路図であ
る。(21)はカメラ全体のシークンス制御、自動焦点
調節用演算及び露出制御用演算を行うマイコンである。
(The following is a margin) Table 1 Table 2 No. 9 [Z is a block circuit diagram showing the overall configuration of a circuit that controls the operation of a camera using a photometric device according to the present embodiment. (21) is a microcomputer that performs sequence control of the entire camera, calculations for automatic focus adjustment, and calculations for exposure control.

(22)は交換レンズであり、このレンズには、各種の
レンズデータを記憶しているROMが内蔵されており、
ROMの記憶内容は、マイコン(21)の命令によって
カメラに読み出されるようになっている。(23)は、
レンズを駆動するモーター及びこのモーターを制御する
オートフォーカス制御部であり、マイコン(21)から
の信号によって制御される。(24)は第7図に示す回
路図の点線で囲まれる制御回路部(15)のうち制御回
路(11)を除いた回路部であるオートフォーカス検出
部、(25)はマイコン(21)からのデータに基づい
てシャッター及び絞りを制御する露出制御部、(26)
は撮影画面の略全域を測光する受光素子を含む測光部で
ある。(27)は容器上にフィルムの特性がコードパタ
ーン(以下DXコードという)として示されているフィ
ルムのコードパターンを読み収る回路である。(28)
は外部装着されるストロボで、焦点検出時に使用される
補助光を有している。(29)は撮影情報及び焦点検出
の状態を表示する表示部である。
(22) is an interchangeable lens, and this lens has a built-in ROM that stores various lens data.
The stored contents of the ROM are read out to the camera according to instructions from a microcomputer (21). (23) is
This is a motor that drives the lens and an autofocus control section that controls this motor, and is controlled by signals from a microcomputer (21). (24) is an autofocus detection section which is a circuit section excluding the control circuit (11) from the control circuit section (15) surrounded by the dotted line in the circuit diagram shown in Fig. 7, and (25) is a circuit section from the microcomputer (21). (26) an exposure control unit that controls the shutter and aperture based on the data of the
is a photometry section including a light receiving element that measures light over substantially the entire area of the photographic screen. (27) is a circuit that reads the code pattern of the film in which the characteristics of the film are shown as a code pattern (hereinafter referred to as DX code) on the container. (28)
is an externally mounted strobe that has an auxiliary light used for focus detection. (29) is a display unit that displays photographing information and the state of focus detection.

(Sl)は、レリーズボタンの第1ストロークでONさ
れる撮影準備スイッチ、(s2)はレリーズボタンの第
2ストロークでONされてレリーズを行なう為のレリー
ズスイッチ、(113L S W)は、波長が長くなる
につれ、出力(強度)が大きくなる第1光源の光に対し
て、波長が長くなってもその出方がほぼ一定に保たれる
ように光源、或いは、そのカバーの全体或いは一部が青
くなっている所謂ブルーフラットと呼ばれる光源を使用
するときに撮影者の操(%によってONするスイッチで
ある。
(Sl) is the shooting preparation switch that is turned on with the first stroke of the release button, (s2) is the release switch that is turned on with the second stroke of the release button to perform the release, and (113L SW) is the wavelength The whole or part of the light source or its cover is designed so that the output (intensity) of the light from the first light source increases as the length increases, but the output direction of the light remains almost constant even if the wavelength becomes longer. This is a switch that is turned on by the photographer's operation (%) when using a so-called blue flat light source.

以上から構成される回路の動作を第10図に示したマイ
コン(21)の概略のフローチャー1・を参照して説明
すると、ます回路全体の7は源である電池(El)が装
着されると、端子(CLR)に「L」レベルから「14
」レベルに変わる信号が入力し、マイコン(21)は、
ステップ#0からのフローを実行する6次に、マイコン
(21)は、入出力端子及び内部レジスタフラグをすべ
てイニシャライズして、撮影準備スイッチ(Sl)がO
Nされているがを判定する(#5.10)、、:の2イ
ツチ(sl)がOFFである場合には、ハード的にAF
検出部(24>へのクロックが停止され、フローではレ
ンズを駆動するモーターの回転を停止させ、測光及びオ
ートフォーカスを停止させる(#15〜25)、そして
、表示をすべて消灯させて、給電用l・ランジスタ(T
ri)を0FFL、フラグをすべてリセッ1へして、ス
テップ#10に移行する(#3o〜−40>。
The operation of the circuit composed of the above will be explained with reference to the schematic flowchart 1 of the microcomputer (21) shown in Fig. 10.The circuit 7 of the entire circuit is equipped with a battery (El) which is a power source. , the terminal (CLR) changes from “L” level to “14”.
” level is input, the microcontroller (21)
Execute the flow from step #0 6 Next, the microcomputer (21) initializes all input/output terminals and internal register flags, and turns the shooting preparation switch (Sl) to OFF.
Determine whether the AF is set to N (#5.10). If the two (sl) of
The clock to the detection unit (24) is stopped, and in the flow, the rotation of the motor that drives the lens is stopped, photometry and autofocus are stopped (#15 to 25), and all the displays are turned off and the power supply is turned off. L・Langister (T
ri) to 0FFL, reset all flags to 1, and proceed to step #10 (#3o to -40>.

ステップ#10で撮影準備スイッチ(sl)がONのと
きは、ハード的にAP検出部(24)へのクロックが開
始され、フローではステップ#45に進み、給電トラン
ジスタ(Tri)をONにする。これによって各回路へ
の給電が行なわれる。マイコン(21)は測光をスター
1へさせ、DXコードを読みとり、交換レンズ(22)
からレンズ情報を入力する(#50〜60)、この入力
方法に関しては、例えば特開昭60−4915号公報な
どに開示されているが、本発明に直接関係しないので省
略する。
When the photographing preparation switch (sl) is turned on in step #10, the clock to the AP detection unit (24) is started by hardware, and the flow proceeds to step #45, where the power supply transistor (Tri) is turned on. Power is thereby supplied to each circuit. The microcomputer (21) sets the metering to star 1, reads the DX code, and inserts the interchangeable lens (22).
This input method of inputting lens information from (#50 to #60) is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 60-4915, but will not be described here because it is not directly related to the present invention.

この入力情報としては、開放絞り値、焦点検出可能なレ
ンズか否かを示す信号、開放状態でレンズが最も縄り出
した状態での絞り値(最も大きい絞り値)、及びデフォ
ーカスIをモーターの回転数に変換する為の変換係数(
KL)が入力されている。
This input information includes the maximum aperture value, a signal indicating whether or not the lens is capable of detecting focus, the aperture value when the lens is wide open (the largest aperture value), and the defocus I motor. Conversion coefficient for converting to the rotation speed (
KL) is input.

次にAF動作をスタートさせ、CCDへの積分を行なわ
せる(# 65.70>、ステップ#7oにおける積分
が所定の回数(実施例では4回)行なわれると、映像デ
ータを入力し、このデータを所定の演算式に基づいて演
算し、デフォーカス址を求める(#75.80)、この
演算結果にもとづいて、焦点検出可能か否かを判定し、
可能でない場合、所定の処理を行なって撮影画面のスポ
ット部の輝度([1vsp)及び略画面全体の輝度(B
VAV)を求める(#85.90,105,110)、
一方、ステップ#85において焦点検出可能であれば、
このときも所定の処理を行ない、スポット部の輝度をロ
ックしているかを判定し、ロックしている場合にはステ
ップ#110へ、ロックしていない場合には、ステップ
#105に進む(#95,100)。マイコン(21)
は、略画面全体の輝度(BVAV)を求めたあと、上記
スポット部の輝度(B VSII)と略画面全体の輝度
(BVAV)とから露出用の輝度を求め(#115)、
そして露出値を求めて表示する(#115〜125>。
Next, the AF operation is started, and the integration is performed on the CCD (#65.70>. When the integration in step #7o is performed a predetermined number of times (four times in the embodiment), the video data is input, and this data is is calculated based on a predetermined calculation formula to obtain the defocus position (#75.80).Based on this calculation result, it is determined whether or not focus detection is possible,
If this is not possible, predetermined processing is performed to adjust the brightness of the spot part of the shooting screen ([1vsp) and the brightness of approximately the entire screen (B
VAV) (#85.90, 105, 110),
On the other hand, if focus detection is possible in step #85,
At this time as well, a predetermined process is performed to determine whether the brightness of the spot part is locked. If it is locked, the process goes to step #110; if it is not locked, the process goes to step #105 (#95 , 100). Microcomputer (21)
After calculating the brightness of approximately the entire screen (BVAV), calculate the brightness for exposure from the brightness of the spot portion (B VSII) and the brightness of approximately the entire screen (BVAV) (#115),
Then, the exposure value is determined and displayed (#115 to 125>).

次に、レリーズスイッチ(S2)がONされているかを
判定して、ONされているときには、レンズ駆動用のモ
ーターを停止して、f!出副制御行なう、スイッチ(S
2)がONされていないときはステップ#10に移行し
て、以後のフローを実行する。
Next, it is determined whether the release switch (S2) is turned on, and if it is turned on, the lens drive motor is stopped and the f! The switch (S) performs output control.
If 2) is not turned on, the process moves to step #10 and the subsequent flow is executed.

第11図、第12図及び第1UjUに、第10図のステ
ップ#65のAP動作スタートからステップ#115の
測光演算までの詳細なフローチャー1・を示し、説明す
ると、ステップ#145で、補助光発光モードを示す補
助光フラグがセットされているかを判定し、セットされ
ていないときには、ステップ#160に移行し、セット
されているときには、補助光発光を示す発光フラグをセ
ットして補助光の発光な示す信号を出力する(# 14
5〜155)。これによって補助光発光が行なわれる。
11, 12, and 1UjU show a detailed flowchart 1 from the start of AP operation in step #65 in FIG. 10 to the photometry calculation in step #115. To explain, in step #145, It is determined whether the auxiliary light flag indicating the light emission mode is set, and if it is not set, the process moves to step #160, and if it is set, the light emission flag indicating the auxiliary light emission is set and the auxiliary light is activated. Outputs a signal indicating light emission (#14
5-155). As a result, auxiliary light is emitted.

次にマイコン(21)は、スポット部測光用のカウンタ
レジスターをリセットする(#160)。
Next, the microcomputer (21) resets the counter register for spot photometry (#160).

ここで・、AF検出に用いられるモニター用の受光素子
を用いて、スポット部の測光を行なうことを説明する。
Here, a description will be given of photometry of a spot portion using a monitor light receiving element used for AF detection.

上記マイコン(21)にはタイマーカウント用のレジス
ターが用意され、積分開始からの時間経過をカウントし
、カウント値が2μsec 毎に1だけカウンタレジス
ターに加算されていくようにする。
The microcomputer (21) is provided with a register for timer counting, which counts the elapsed time from the start of integration, so that the count value is added to the counter register by 1 every 2 μsec.

このカウント値を読むことによって、スポット部の輝度
が分かる。積分時間が32m5eeを経過すると、積分
が終了するため、積分時間を利用して輝度を求めること
ができない、そこで、32m5ecを経過したときには
、受光素子のモニターの出力分検出することによって府
度が求められる。具体的には、CCDの積分データを増
幅するためのAGCデータ及び画素出力を用いて行なっ
ている。このスポット部の輝度とカウンタレジスターの
内容及びA G Cのデータの関係を第3表及び第4表
に示す0表において、明るさはアペックス値(By)で
示している0表から明らかなようにBy値が13から3
まではカウンタレジスタの内容、By値が2から−1ま
ではAGCデータ及びモニター受光部の下にあるCCD
画素(31〜57)の平均を求めている〈第6図参照)
、そして、By値の剋小単位は’ / * B vとし
ており、これを説明すると、BV値が13から3=iで
は、1が立っている最大ビ・lトのところをBy値の整
数値とし、それより下位3ビツトを順に’/2Bv、’
/4By、’/sBvとしている。
By reading this count value, the brightness of the spot portion can be determined. When the integration time passes 32m5ee, the integration ends, so it is no longer possible to use the integration time to determine the brightness. Therefore, when the integration time passes 32m5ec, the brightness is determined by detecting the output of the monitor of the light receiving element. It will be done. Specifically, this is performed using AGC data and pixel output for amplifying CCD integral data. Tables 3 and 4 show the relationship between the brightness of this spot, the contents of the counter register, and the AGC data. By value is 13 to 3
The values up to 1 are the contents of the counter register, and the By values from 2 to -1 are the AGC data and the CCD below the monitor light receiving section.
Calculating the average of pixels (31-57) (see Figure 6)
, and the unit of the By value is ' / * B v. To explain this, when the BV value is 13 to 3 = i, the By value is adjusted at the maximum bit where 1 is set. As a numerical value, the lower 3 bits are '/2Bv,'
/4By,'/sBv.

例えばa++が1が立っている最大ビットとし、・・・
a+−、++az++asr&@’ H’ ・= ・・
’ ・1010 ・・とすれば、そのときの明るさは、
5・(1八Bv)となる、By値が2から−1までは、
AGCデータによりBy値の整数値を求め、1/。By
単位は、CCDの画素出力より求めている。また、別の
明るさの求めかたとして、By値をAGCデータ1゜2
.4に対してそれぞれ1.5.0.5、−0.5とし、
そして、CCD画素がとりうる電圧の半分を基準とし、
COD画素の平均をこの基憎からの偏差として一/、 
Ev単位のΔBvを求めて、上記By値1.5,0.5
.−0.5に補正することも考えられる。
For example, let a++ be the largest bit with a value of 1, and...
a+-, ++az++asr&@'H' ・= ・・
' ・1010..., then the brightness at that time is
5・(18Bv), the By value is from 2 to -1,
The integer value of the By value is determined from the AGC data and is 1/. By
The unit is determined from the pixel output of the CCD. In addition, as another method of determining brightness, the By value can be calculated using AGC data 1°2.
.. 1.5, 0.5, -0.5 for 4, respectively,
Then, using half the voltage that the CCD pixel can take as a reference,
The average of COD pixels is the deviation from this base value, 1/,
Find ΔBv in Ev units and use the above By value of 1.5, 0.5
.. It is also possible to correct it to -0.5.

(以下余白) 第3表 第1図のフローチャートは、CCD積分のためのステッ
プ#70の詳細を示している。この第1図を参照しなか
ら、積分時間の平均の求め方を説明する。まず、マイコ
ン(1)は、CCD1分を開始させ、また、S Hパル
ス発生を禁止するた−りに、311パルモ タイマーをリセット・スタートさせる(# 500〜5
10)、そして、CCD積分時間の最大値を規制するべ
く、一定時間(32msec)をカウントする。CCD
 [分時間の最大値に達する前に積分が終了すれば、T
INT割込が発生し、これを示すフラグ(TITF)が
セットされ、ステップ#520に進む(#615)、一
定時間(32m5ec)をカウントしたときにもステッ
プ#52oに進み、カラン1−シた積分時間のタイマー
値をアキュムレ−タ(Ace)’\リードし、レジスタ
3の内容をレジスタ4に、レジスタ2の内容をレジスタ
3に、レジスタ1の内容をレジスタ2に、アキュムレー
タ(ACC)の内容をレジスタ1に置き換足る(# 5
20〜#540)、次に、変数Nに1を加えて、この変
数Nが4以上であるか否かを判定し、4未満であればレ
ジスタ1の内容をレジスタ5に格納する(#54L〜#
543)、ここで変数Nは、第10図に示されるように
、スイッチ(Sl)がOFFされると、0にリセットさ
れる変数であり、積分の回数をカウントしている。変数
Nの値が4以上であるときには、前述の4つのレジスタ
の内容を加えて、4で割って平均を求め、レジスタ5に
格納する(#545)、この実施例では、レジスタ5を
カウンタレジスタとしている。
(The following is a margin) The flowchart in Table 3 and FIG. 1 shows the details of step #70 for CCD integration. Without referring to FIG. 1, the method for determining the average integration time will be explained. First, the microcomputer (1) starts the CCD for 1 minute, and also resets and starts the 311 Pulmo timer (#500 to 5) to prohibit SH pulse generation.
10) Then, a certain period of time (32 msec) is counted in order to regulate the maximum value of the CCD integration time. CCD
[If the integration ends before the maximum value of minute time is reached, T
An INT interrupt occurs, a flag (TITF) indicating this is set, and the process proceeds to step #520 (#615). When a certain period of time (32m5ec) has been counted, the process also proceeds to step #52o, and the callan 1-shita Read the integral time timer value from the accumulator (Ace)', transfer the contents of register 3 to register 4, transfer the contents of register 2 to register 3, transfer the contents of register 1 to register 2, and transfer the contents of the accumulator (ACC). Replace with register 1 (#5
(#54L ~#
543), where the variable N is a variable that is reset to 0 when the switch (Sl) is turned off, as shown in FIG. 10, and counts the number of integrations. When the value of variable N is 4 or more, the contents of the four registers mentioned above are added, divided by 4 to find the average, and stored in register 5 (#545). In this example, register 5 is used as a counter register. It is said that

次に、積分した画素のデータが「受用可能であるか否か
を判定する(#550)、使用不可能の場合、例えば、
データダンプ中などでは、前のデータの処理がまだ終わ
っていない場合(非常に明るい場合)には、次のデータ
の使用ができないので、ステップ#605に進み、CC
D積分を開始して、タイマーをリセット・スタートさせ
、割り込み前のステップにリターンする(#605,6
10)。
Next, it is determined whether the integrated pixel data is "acceptable"(#550). If it is unusable, for example,
During data dumping, if the previous data has not been processed yet (if it is very bright), the next data cannot be used, so proceed to step #605 and CC
Start D-integration, reset and start the timer, and return to the step before the interrupt (#605, 6
10).

積分した画素データが使用できるときは、SHパルス許
可信号(SHEN)を「■(」レベルとする。T1 N
 ′r割り込みである場合には、この時点でS[(パル
ス発生回路からシフトパルスが発生させられる(#55
2)、次に、TiN2割り込みからのフローか否か含フ
ラグ(TITF)で判定し、セットされている場合には
、このフラグ(TITF)をリセットシ、低輝度フラグ
(L L F )をリセットして、ステラ7# 585
に進む(# 555〜#565)。
When integrated pixel data can be used, the SH pulse enable signal (SHEN) is set to the "■ (" level.T1 N
'r interrupt, at this point the S[(shift pulse is generated from the pulse generation circuit (#55)
2) Next, determine whether the flow is from the TiN2 interrupt using the inclusion flag (TITF), and if it is set, reset this flag (TITF) and reset the low brightness flag (L L F ). Te, Stella 7# 585
Proceed to (#555 to #565).

フラグ(TITF)がセットされていないとき、すなわ
ち、一定時間(32msec)をカウントしたときは、
低輝度フラグ(LLF)をセットし、SHパルス許可信
号(SHEN)をrH,レベルにして、シフトパルス発
生回路からシフトパルスを発生させる(#570.#5
80)、次に、SHパルス許可信号(SHEN)を「L
」レベルにし、補助光発光を停止tル(# 585 、
# 590)、 ソLテ、CCD MY分を開始させ、
タイマーをリセット・スタートさせて、ステップ#75
のデータダンプのフローへと進む(#595.#600
)。
When the flag (TITF) is not set, that is, when a certain period of time (32 msec) is counted,
Set the low luminance flag (LLF), set the SH pulse enable signal (SHEN) to rH level, and generate a shift pulse from the shift pulse generation circuit (#570.#5
80), then the SH pulse enable signal (SHEN) is set to “L”.
” level and stop the auxiliary light emission (#585,
# 590), start the CCD MY minutes,
Reset and start the timer, step #75
Proceed to the data dump flow (#595.#600
).

次に、マイコン(21)は積分の終わったCCDのデー
タを入力する。このときピークホールド回路(1)でデ
ータをホールドする為のサンプルホールド信号を出力す
る。この入力したデータにもとづいて、デフォーカス演
算をしてデフォーカス菫(△ε)を求め、この結果にも
とづいて、焦点検出可能か否かを判断し、焦点検出が可
能な場合にはステラ7#215に進む、ステップ#21
5では、ローコントラスI・を示すローコントラストフ
ラグ(LCF)をリセットし、デフォーカスI(Δε)
が所定値(ε1)よりも小さいか否を判定する(#22
0)、この所定値(tl)よりも小さければ合焦してい
ることを示し、小さいときには、合焦フラグ(き焦F)
をセットして、合焦表示をする(#225.230>、
一方、ステラ7 # 220で、合焦していないと判定
すれば、合焦フラグ(合焦F)をりセットし、交換レン
ズ(22)から入力した変換係数(KL)をデフォーカ
ス1に掛けてモーターの回転移動Ji (n) e求め
、この量(回転数)だけモーターを駆動する(# 23
5〜245>、そして、合焦表示を行なったときも同様
にステップ#100に進んで、スポット部の輝度値をロ
ックしたことを示すフラグ(BvspL F )を判定
し、このフラグがリセットされていればステップ#28
5へ、セットされていればステップ#320に進む。
Next, the microcomputer (21) inputs the CCD data that has been integrated. At this time, the peak hold circuit (1) outputs a sample hold signal for holding data. Based on this input data, defocus calculation is performed to obtain defocus violet (△ε), and based on this result, it is determined whether or not focus detection is possible. If focus detection is possible, Stella 7 Proceed to #215, step #21
In step 5, the low contrast flag (LCF) indicating low contrast I is reset, and the defocus I (Δε)
is smaller than a predetermined value (ε1) (#22
0), if it is smaller than this predetermined value (tl), it indicates that it is in focus, and if it is smaller, the focus flag (focus F) is set.
to display the focus (#225.230>,
On the other hand, if Stella 7 #220 determines that it is not in focus, it sets the focus flag (focus F) and multiplies defocus 1 by the conversion coefficient (KL) input from the interchangeable lens (22). Find the rotational movement of the motor Ji (n) e and drive the motor by this amount (number of rotations) (#23
5 to 245>, and when the in-focus display is performed, the process similarly proceeds to step #100, where a flag (BvspL F ) indicating that the brightness value of the spot portion has been locked is determined, and this flag is reset. If so, step #28
If it is set, the process advances to step #320.

ステップ#85で焦点検出不可と判定すれば、ローコン
トラストフラグ(LCF)をセットして。
If it is determined in step #85 that focus detection is not possible, a low contrast flag (LCF) is set.

合焦フラグ(合焦F)をリセットする。(#250.2
55)、次に利得のデータ(A G Cンが2以上であ
るかを判定して、2未満であればローコントラス1−と
して、コントラストを検出するために、レンズを駆動す
るモーターを駆動させる(# 275.280)、利得
データ(A G C)が2以上であれば、補助光発光可
能か否かを判定する(#265)、具体的にはストロボ
が装着され、その電源が投入されているかをストロボか
らの信号によって判定する。補助光発光不可能であれば
ステップ#275に、発光可能であれば補助光フラグ(
補助光F)をセットして、ステップ#285に進むI 
# 270 ) ’L’ステップ#285では低輝度を
示す低輝度フラグ(LLF)を’l’JJ定し、このフ
ラグがセットされていれば、11得データ<AGc)3
人力して、これにもとづきスポット部の輝度(Bvsp
)の整数部分を求め、次に’/sBv単位を求めるため
にCC[)lj素(31〜57)の部分の出力データ(
データダンプで入力済)を平均してこれを1八Bvに直
して輝度(Bvsp)を求める。そして、低輝度フラグ
がセットされていなければ、カウンタレジスタの内容を
判別して、スポットの輝度(Bvsp)を求める(# 
285〜305)、ブルーフラット等の特定光源の使用
を示すスイッチ(BLSW)がONされているとき、ス
ポットの輝度(Bvsp)に所定!(0,5Ev)だけ
加えて、新たに輝度(B vsp)を求める(#310
゜315>、ONされていないときには、ステップ#3
15をスキ・ツブして、ステップ#315と同様に、ス
テ1プ#320に進む。
Reset the focus flag (focus F). (#250.2
55), then determine whether the gain data (AGCn) is 2 or more, and if it is less than 2, it is determined as low contrast 1-, and the motor that drives the lens is driven to detect the contrast. (#275.280), If the gain data (A If the auxiliary light cannot be emitted, the process goes to step #275; if the auxiliary light can be emitted, the auxiliary light flag (
I set the auxiliary light F) and proceed to step #285.
#270) In 'L' step #285, the low luminance flag (LLF) indicating low luminance is set to 'l'JJ, and if this flag is set, 11 obtained data<AGc)3
Based on this, the brightness of the spot part (Bvsp
), and then in order to find the unit '/sBv, the output data (
Brightness (Bvsp) is calculated by averaging the values (already input in the data dump) and converting them to 18 Bv. Then, if the low brightness flag is not set, the contents of the counter register are determined and the brightness of the spot (Bvsp) is determined (#
285 to 305), when the switch (BLSW) indicating the use of a specific light source such as blue flat is turned on, the brightness of the spot (Bvsp) is set to a predetermined value! Add only (0,5Ev) to find a new brightness (B vsp) (#310
゜315>, if not ON, step #3
Skip step 15 and proceed to step #320 in the same way as step #315.

ステップ#320では測光回路(26)から略画面全体
の輝度(BVAVO)を入力して、レンズの開放絞り値
(Ay、)をこれに加える(# 320,325)。
In step #320, the luminance of approximately the entire screen (BVAVO) is input from the photometry circuit (26), and the open aperture value (Ay, ) of the lens is added to this (#320, 325).

そして次のような場合には露出に使用する明るさとして
、略画面全体の輝度([1VAV)を使用する(#37
0)。
In the following cases, the brightness of approximately the entire screen ([1VAV) is used as the brightness for exposure (#37
0).

(i)ローコントラストフラグ(LCF)がセットされ
ているとき(#330)、これは、き黒検出が不可能な
場合、スポット部がどの場所を測光しているかがはっき
りせず、意図している被写体を測光しない可能性がある
からである。
(i) When the low contrast flag (LCF) is set (#330), this means that if black detection is not possible, it is not clear where the spot part is metering, and the This is because there is a possibility that photometry will not be performed for the subject.

(11)補助光が発光したことを示す発光フラグ(発光
!?)がセットされているとき(#335)、これは補
助光として近赤外光を被写体に向けて発光するので確か
な被写体輝度が得られないからである。
(11) When the light emission flag (light emission!?) indicating that the fill light has been emitted is set (#335), near-infrared light is emitted toward the subject as the fill light, so the subject brightness is certain. This is because it cannot be obtained.

(iii)スポット部の輝度(Bvsp)が−1以下の
とき(#340)。この理由としてはまず、それほど暗
い被写体では、平均測光でもスポット測光でも変わらな
いからであり、別の理由としては、−1以下は具体的な
輝度としてalllれないからである。
(iii) When the brightness (Bvsp) of the spot portion is -1 or less (#340). The first reason for this is that for a subject that is so dark, there is no difference between average photometry and spot photometry, and another reason is that -1 or less cannot be considered as a specific brightness.

(iv)焦点検出ができないレンズが装着されたとき(
#345)、これは、第2図の光学系において、開放絞
り値が大きくなると、光束の一部がけられ、モニターに
入射してくる光が同一の被写体輝度に対して一定となら
ないからである。このことは開放絞り値が大きい場合ば
かりでなく、反qt望達りイブのレンズについても言え
ることである。
(iv) When a lens that cannot detect focus is attached (
#345), This is because in the optical system shown in Figure 2, when the maximum aperture value becomes large, part of the luminous flux is eclipsed, and the light incident on the monitor is not constant for the same subject brightness. . This is true not only when the maximum aperture value is large, but also for lenses with anti-qt targets.

(V)繰り込んだ状態の有効絞り偵(、Avo、公称開
放絞り値)と繰り出した状態の有効絞り値(A v o
l )との差が0.5 Ev以上あるとき(#350)
、モニター用の受光素子は、絞りによるけられかない限
り、レンズの開放絞り値(繰り込んだ状態の有効絞り値
)に関係なく、被写体の輝度(Bvsp)そのものを測
光している。&eって、開放絞り値からの絞りの絞り段
数で制御を行なう場合、絞り段数が同一のため、上記繰
り込んだ状態の有効絞り値(Av。)と、繰り出した状
態の有効絞り値(A v * + )の差の分だけ誤差
となって現れる。
(V) Effective aperture value (Avo, nominal open aperture value) in the retracted state and effective aperture value (Avo, nominal open aperture value) in the extended state
l ) when the difference is 0.5 Ev or more (#350)
The light receiving element for monitoring measures the brightness (Bvsp) of the subject itself, regardless of the open aperture value of the lens (effective aperture value in the retracted state) unless it is eclipsed by the aperture. &e, when performing control using the number of aperture steps from the open aperture value, since the number of aperture steps is the same, the effective aperture value (Av.) in the above-mentioned retracted state and the effective aperture value (Av.) in the extended state v*+) appears as an error.

以上5つの場合は、夫々の理由により、露出用の輝度と
して、略画面全体の輝度(BVAV)を陸用する(#3
30〜350,370>、上記以外の場合には、ステッ
プ#355に進み、スポットの輝度(Bvsp)と略画
面全体の5r4度(I3VAV)との差の絶対値が2以
上あるか否かを判定し、2以上ある場合には、逆光状態
での撮影、あるいは舞台での撮影として、スポットの輝
度(B vsp)を露出用に使い、(あるいは、スポッ
ト輝度に重みづけしたスポット輝度と平均輝度からの合
成輝度を用い)、2未満であれば両h°の平均をとって
露出用の輝度とする(# 360,365)。
In the above five cases, for each reason, the brightness of approximately the entire screen (BVAV) is used as the brightness for exposure (#3
30 to 350, 370>, in cases other than the above, proceed to step #355, and check whether the absolute value of the difference between the brightness of the spot (Bvsp) and 5r4 degrees (I3VAV) of approximately the entire screen is 2 or more. If there are 2 or more, use the spot brightness (B vsp) for exposure when shooting in a backlit situation or on a stage (or use the spot brightness weighted with the spot brightness and the average brightness). If it is less than 2, the average of both h° is taken as the brightness for exposure (#360, 365).

次にステップ#375に進み、合焦フラグ(合焦F)か
セットされているときには、次の測光でスポット部をメ
モリーするように、フラグ(B vspロックF)をセ
ットし、合焦フラグがセラ!・されていないときには、
ステップ#380をスキラフ。
Next, the process advances to step #375, and when the focus flag (focus F) is set, the flag (B vsp lock F) is set so that the spot area is memorized in the next photometry, and the focus flag is set. Sera!・When not done,
Skiruff step #380.

し、第10図に示すステップ#120の露出演算のフロ
ーに進む。
The process then proceeds to the exposure calculation flow in step #120 shown in FIG.

以上が木実施例によるマイコン(21)のフローチャー
1・である。
The above is the flowchart 1 of the microcomputer (21) according to the tree embodiment.

なお、上記の説明ではAGCのデータを利用して輝度を
求める場合の17゜Bv単位の求め方としてCCDの画
素(31〜57)のすべてを平均したが、CCD画素(
31〜5))の最大値と最小値との平均をとって、これ
を息へBv単位に直しても良い。
In addition, in the above explanation, all CCD pixels (31 to 57) were averaged as a method for calculating brightness in units of 17°Bv using AGC data, but CCD pixels (
You may take the average of the maximum and minimum values of 31 to 5)) and convert this to breath in Bv units.

(発明の効果) 本発明にあっては、上述のように、積分型の合焦検出素
子を用いて合焦検出を行う合焦検出手段と、き熱検出素
子の積分時間を制御する積分時間制御手段とを備える測
光装置において、複数回の積分についての積分時間を記
憶し、記憶された積分時間の平均値を求め、この平均値
から測光値を得るようにしたので、蛍光灯下での測光時
のように、被写体の明るさが時々刻々と変化している場
合においても、測光値が測光毎に変動するというような
不都合は解消され、被写体の正しい輝度を得ることがで
きるという効果がある。
(Effects of the Invention) As described above, the present invention includes a focus detection means that performs focus detection using an integral type focus detection element, and an integration time that controls the integration time of the heat detection element. In the photometry device equipped with a control means, the integration time for multiple integrations is stored, the average value of the stored integration times is calculated, and the photometry value is obtained from this average value. Even when the brightness of the subject changes from moment to moment, such as during photometry, the inconvenience of the photometry value fluctuating each time is eliminated, and the effect is that the correct brightness of the subject can be obtained. be.

なお、上記の平均値をできるだけ早く求めるために、デ
ータダンプ中や演算中に積分を行なういわゆる繰り込み
積分を行ない、そのときの積分時間をら利用するように
構成すれば、測光時間が短縮されるので好都合なもので
ある。
In addition, in order to obtain the above average value as quickly as possible, the photometry time can be shortened by performing so-called renormalization integration, which performs integration during data dump or calculation, and using the integration time at that time. Therefore, it is convenient.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例の動作を説明するためのフロ
ーチャート、第2図は同上の実施例に用いる光学系の概
略構成図、第3図は同上の実施例に用いる光電変換部の
回路口、第4図は同上の光電変換部の要部動作原理を説
明するための回路図、第5図は同上の実施例に用いる輝
度モニター回路の出力電圧の時間的変化を示す特性図、
第6UAは同上の実施例に用いるCCDシフトレジスク
の構成を示す概略構成図、第7図は同上の実施例の回路
構成を示すブロック回路図、第8図は同上の実施例に用
いる利得制御回路及び利得可変増幅回路の構成を示ず回
路図、第9図は同上の実施例を用いたカメラの動作を制
御する回路の全体構成を示すブロック回路図、第10図
乃至第12図は同上の実施例における動作を説明するた
めのフローチャートである。 (11)、(I 2>はイメージセンサ、#65〜#9
5は合焦検出ステップ、(MC)は11度モニター回路
、<AC4)はコンパレータ、#520〜#540は積
分時間の記憶ステップ、# 545は積分時間の平均値
の演算ステップ′、#300.#305は訓光用のステ
ップである。
Fig. 1 is a flowchart for explaining the operation of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a schematic configuration diagram of an optical system used in the above embodiment, and Fig. 3 is a diagram of a photoelectric conversion section used in the above embodiment. 4 is a circuit diagram for explaining the principle of operation of the main parts of the photoelectric conversion section same as above, and FIG. 5 is a characteristic diagram showing temporal changes in the output voltage of the brightness monitor circuit used in the above embodiment.
6UA is a schematic configuration diagram showing the configuration of a CCD shift register used in the above embodiment, FIG. 7 is a block circuit diagram showing the circuit configuration of the above embodiment, and FIG. 8 is a gain control circuit and a FIG. 9 is a block circuit diagram showing the overall configuration of a circuit that controls the operation of a camera using the same embodiment as above, and FIGS. 10 to 12 are circuit diagrams showing the structure of the variable gain amplifier circuit. It is a flowchart for explaining operation in an example. (11), (I2> is an image sensor, #65 to #9
5 is a focus detection step, (MC) is an 11-degree monitor circuit, <AC4) is a comparator, #520 to #540 are integration time storage steps, #545 is an integration time average value calculation step', #300. #305 is a step for training.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)積分型の合焦検出素子を用いて合焦検出を行う合
焦検出手段と、合焦検出素子の積分時間を制御する積分
時間制御手段と、複数回の積分についての積分時間を記
憶する記憶手段と、記憶された積分時間の平均値を求め
る平均手段と、平均手段により求められた積分時間の平
均値から測光値を得る測光手段とを有して成ることを特
徴とする合焦検出素子を用いた測光装置。
(1) A focus detection means that performs focus detection using an integral type focus detection element, an integration time control means that controls the integration time of the focus detection element, and an integration time that stores the integration time for multiple integrations. A focusing device comprising a storage means for determining the average value of the stored integration times, an averaging means for determining the average value of the stored integration times, and a photometry means for obtaining a photometric value from the average value of the integration times determined by the averaging means. A photometric device using a detection element.
(2)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
測光手段は合焦検出素子による合焦検出範囲についての
スポット測光値を出力する測光手段であることを特徴と
する合焦検出素子を用いた測光装置。
(2) The apparatus according to claim 1, wherein the photometry means is a photometry means that outputs a spot photometry value for a focus detection range by the focus detection element. Photometric device used.
(3)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
合焦検出手段は第1の積分動作の終了後、第1の積分動
作により得られた積分データの処理が行われる前に、第
2の積分動作が開始されるように合焦検出素子を駆動す
るような合焦検出手段であり、前記記憶手段は、前記第
1及び第2の積分動作に要した積分時間を共に記憶する
記憶手段であることを特徴とする合焦検出素子を用いた
測光装置。
(3) In the apparatus according to claim 1, the focus detecting means performs a first integral operation after the first integral operation is completed and before the integral data obtained by the first integral operation is processed. The focus detection means drives the focus detection element so that the second integration operation is started, and the storage means is a memory that stores both the integration times required for the first and second integration operations. 1. A photometric device using a focus detection element, characterized in that:
(4)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
測光手段は、記憶手段における蓄積時間の記憶回数が所
定回数に達しないときには、最新の積分時間から測光値
を得る測光手段であることを特徴とする合焦検出素子を
用いた測光装置。
(4) In the apparatus according to claim 1, the photometric means is a photometric means that obtains a photometric value from the latest integration time when the number of times the accumulation time is stored in the storage means does not reach a predetermined number of times. A photometric device using a focus detection element characterized by:
JP61102553A 1986-02-14 1986-05-02 Light measuring instrument using focusing detecting element Pending JPS62259022A (en)

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US07/248,380 US4843417A (en) 1986-02-14 1988-09-22 Light measuring device

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