JPS6217604A - ３次元計測における補助光の校正方式 - Google Patents
３次元計測における補助光の校正方式Info
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- JPS6217604A JPS6217604A JP15522485A JP15522485A JPS6217604A JP S6217604 A JPS6217604 A JP S6217604A JP 15522485 A JP15522485 A JP 15522485A JP 15522485 A JP15522485 A JP 15522485A JP S6217604 A JPS6217604 A JP S6217604A
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- JP
- Japan
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- equation
- auxiliary light
- sensor
- slit
- light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は３次元空間における物体位置、寸法の計測方式
に係り、特に光切断法における計測精度を高めるため補
助光面とセンサとの相対的位置関係を高精度に推定する
に好適な補助光校正方式に関する。
に係り、特に光切断法における計測精度を高めるため補
助光面とセンサとの相対的位置関係を高精度に推定する
に好適な補助光校正方式に関する。
生産における検査、組立工程において、対象物の３次元
空間におけろ位置、寸法の計測が必要な場合が多い、こ
の目的のための非接触計測方法のうち比較的簡易で高い
精度の得られる方法として、光切断法がある。方法と原
理については例えば文献、シライヨシアキによるパレン
ジファインダを用いた多面体の認識”パターンリコグニ
ッション。
空間におけろ位置、寸法の計測が必要な場合が多い、こ
の目的のための非接触計測方法のうち比較的簡易で高い
精度の得られる方法として、光切断法がある。方法と原
理については例えば文献、シライヨシアキによるパレン
ジファインダを用いた多面体の認識”パターンリコグニ
ッション。
ペルガモン出版、４巻、２４３頁−２５０頁。
１９７２年 （Ｙｏｓｈｉａｋｉ ５ｈｉｒａｉ、
”Ｒｅｃｏｇｎｉｔｉｏｎｏｆ Ｐｏ１ｙｈｅｄｒｏ
ｎ、ｓ ｔｚｉｔｈ ａ Ｒａｎｇｅ Ｆｉｎｄｅｒ”
＋Ｐａｔｔｅｒｎ Ｒｅｃｏｇｎｉｔｉｏｎ、 Ｐｅｒ
ｇａｍｏｎ Ｐｒｅｓｓ、 ｖｏ１４、ｐｐ、２４３−
２５０．１９７２）を参照されたい。これは光源とテレ
ビカメラ等のセンサを設け、光源からスリットを通して
作られた平面状の補助光が測定対象物体面に交わって作
る光切断線の像をセンサでとらえ、該像の各点のセンサ
が撮した画像中の位置から三角測量の原理により、対応
する光切断線上の点の３次元空間における位置を算出す
る。この処理を、光源とスリットを回転させ補助光面の
位置を変えて繰り返すことにより対象物体表面の各点の
位置を計測することができる。
”Ｒｅｃｏｇｎｉｔｉｏｎｏｆ Ｐｏ１ｙｈｅｄｒｏ
ｎ、ｓ ｔｚｉｔｈ ａ Ｒａｎｇｅ Ｆｉｎｄｅｒ”
＋Ｐａｔｔｅｒｎ Ｒｅｃｏｇｎｉｔｉｏｎ、 Ｐｅｒ
ｇａｍｏｎ Ｐｒｅｓｓ、 ｖｏ１４、ｐｐ、２４３−
２５０．１９７２）を参照されたい。これは光源とテレ
ビカメラ等のセンサを設け、光源からスリットを通して
作られた平面状の補助光が測定対象物体面に交わって作
る光切断線の像をセンサでとらえ、該像の各点のセンサ
が撮した画像中の位置から三角測量の原理により、対応
する光切断線上の点の３次元空間における位置を算出す
る。この処理を、光源とスリットを回転させ補助光面の
位置を変えて繰り返すことにより対象物体表面の各点の
位置を計測することができる。
この計測方法において、センサに対する補助光面の位置
をあらかじめ校正しておく必要がある。
をあらかじめ校正しておく必要がある。
通常は、同一の治具の上にセンサと光源を固定し、スリ
ットの回転角に対し、センサと補助光面との相対位置関
係が再現性を持つように制御される。
ットの回転角に対し、センサと補助光面との相対位置関
係が再現性を持つように制御される。
この位置関係を記憶しておき、上記の対象物の位置計算
処理に利用する。ところが作業環境、装置の設置条件に
よっては上述のごときセンサと光源を固定した治具を用
いることができず、センサと光源を切離して独立に設置
しなければならない場合もある。また、最適な計測条件
を決定するため、センサと光源との相対位置関係を種々
変更し、計測を繰返す必要が生ずる場合がある。このよ
うな場合に、現場にセンサと光源とを設置した状態で補
助光面の校正、すなわちセンサと補助光面との相対位置
関係の測定を行なう必要がある。この際、校正方法とし
ては簡易で高精度を得られるものが望ましい。
処理に利用する。ところが作業環境、装置の設置条件に
よっては上述のごときセンサと光源を固定した治具を用
いることができず、センサと光源を切離して独立に設置
しなければならない場合もある。また、最適な計測条件
を決定するため、センサと光源との相対位置関係を種々
変更し、計測を繰返す必要が生ずる場合がある。このよ
うな場合に、現場にセンサと光源とを設置した状態で補
助光面の校正、すなわちセンサと補助光面との相対位置
関係の測定を行なう必要がある。この際、校正方法とし
ては簡易で高精度を得られるものが望ましい。
（発明の目的〕
本発明の目的は、光切断法による３次元計測方法におい
て、光源とセンサを任意の位置に設置した場合に、光源
による補助光とセンサとの相対位置関係を簡易かつ高精
度に測定する手段を提供することにある。
て、光源とセンサを任意の位置に設置した場合に、光源
による補助光とセンサとの相対位置関係を簡易かつ高精
度に測定する手段を提供することにある。
上記目的を達成するため本発明では、既知の位置に基準
マークをつけたテストチャート板を用いる点に特徴があ
る。該チャート板を空間内の任意の、補助光面と交わる
位置に設置しこれをセンサで撮像して得られた像中の基
準マークからチャート板の空間内における位置、姿勢を
推定し、鎖板の平面の方程式を決定する６次に同じく像
中の補助光面による鎖板の切断線の位置から、この切断
線の空間内の位置を決定する。さらにチャート板を空間
内の別の任意の位置に移動し、上記と同様の処理により
鎖板の平面の方程式と該板上の光切断線の位置を決定す
る。この結果得られた２つの光切断線は同一の補助光面
内にあることから、２つの線の位置情報から該補助光面
の空間における位置が決定できる。これが所望のセンサ
と補助光との相対位置関係を与える。
マークをつけたテストチャート板を用いる点に特徴があ
る。該チャート板を空間内の任意の、補助光面と交わる
位置に設置しこれをセンサで撮像して得られた像中の基
準マークからチャート板の空間内における位置、姿勢を
推定し、鎖板の平面の方程式を決定する６次に同じく像
中の補助光面による鎖板の切断線の位置から、この切断
線の空間内の位置を決定する。さらにチャート板を空間
内の別の任意の位置に移動し、上記と同様の処理により
鎖板の平面の方程式と該板上の光切断線の位置を決定す
る。この結果得られた２つの光切断線は同一の補助光面
内にあることから、２つの線の位置情報から該補助光面
の空間における位置が決定できる。これが所望のセンサ
と補助光との相対位置関係を与える。
以下、本発明の一実施例を図を用いて説明する。
第１図は本発明による３次元計測方式の全体構成図であ
る。測定対象物１の上に、光源２がらスリット３を通し
て作られた補助光面４が交わって作る光切断線５をセン
サ６で撮像する。像はＡＤ変換機７によりディジタルデ
ータに変換されたのち処理装置８に送られる。処理袋［
８は後述の処理により光面４の３次元空間における方程
式を決定する。駆動装［１１０はスリット３を光源２の
前で回転させることにより光面４の位置を回転させるた
めのものである。処理装置８は駆動装置１ｏの回転角を
変えるたびに光面４の方程式決定処理を行ない結果の方
程式と装置１０から送られた回転角とを合わせ記憶装置
９に格納する。格納されたデータは測定対象物１上の光
切断線５の各点の３次元座標算出に使用される。方法に
ついては後述する１図中のテストチャート板１２は本発
明による補助光面の校正に使用される。使用方法につい
ては後述する。該板上には所定の既知の位置に複数の基
準マーク１３が付けられている。この基準マークの位置
は外部１１から処理装置ｉ！ｆ８に与えられ、光面４の
方程式決定に利用される。線１４は・板１２上の補助光
の切断線である。
る。測定対象物１の上に、光源２がらスリット３を通し
て作られた補助光面４が交わって作る光切断線５をセン
サ６で撮像する。像はＡＤ変換機７によりディジタルデ
ータに変換されたのち処理装置８に送られる。処理袋［
８は後述の処理により光面４の３次元空間における方程
式を決定する。駆動装［１１０はスリット３を光源２の
前で回転させることにより光面４の位置を回転させるた
めのものである。処理装置８は駆動装置１ｏの回転角を
変えるたびに光面４の方程式決定処理を行ない結果の方
程式と装置１０から送られた回転角とを合わせ記憶装置
９に格納する。格納されたデータは測定対象物１上の光
切断線５の各点の３次元座標算出に使用される。方法に
ついては後述する１図中のテストチャート板１２は本発
明による補助光面の校正に使用される。使用方法につい
ては後述する。該板上には所定の既知の位置に複数の基
準マーク１３が付けられている。この基準マークの位置
は外部１１から処理装置ｉ！ｆ８に与えられ、光面４の
方程式決定に利用される。線１４は・板１２上の補助光
の切断線である。
ここで、第２図を用いて光切断法による計測の原理を説
明する。センサ光学系の内心に固定した座標系２ ｉ
（ｘ＋ ｙｔ ｚ）を考える。ｚ軸は光軸と一致させ
ておく、この座標系をセンサ座標系と呼ぶ。いま光面４
のセンサ座標系における方程式％式％ が既知であるとする。ここに上は座標ベクトル。
明する。センサ光学系の内心に固定した座標系２ ｉ
（ｘ＋ ｙｔ ｚ）を考える。ｚ軸は光軸と一致させ
ておく、この座標系をセンサ座標系と呼ぶ。いま光面４
のセンサ座標系における方程式％式％ が既知であるとする。ここに上は座標ベクトル。
土はパラメータベクトル、ｂはスカラーのパラメータで
ある。Ｚ軸方向に原点よりｆ （焦点距離）だけ離れた
ところに焦点面２２を考え、画像座標系２３ （ｘ＋
ｙ）を考える。光面４上の切断線５上の点２０について
像２４の位！（ｘ、ｙ）が与えられたとき１点２０の座
標は次のようにして求められる。像２４に対応する視線
ベクトル２５をＱと表わすと、 で与えられる６点２０の座標二は未知パラメータｍを用
いて ｒ＝ｍＱ （３）で表わされる。
ある。Ｚ軸方向に原点よりｆ （焦点距離）だけ離れた
ところに焦点面２２を考え、画像座標系２３ （ｘ＋
ｙ）を考える。光面４上の切断線５上の点２０について
像２４の位！（ｘ、ｙ）が与えられたとき１点２０の座
標は次のようにして求められる。像２４に対応する視線
ベクトル２５をＱと表わすと、 で与えられる６点２０の座標二は未知パラメータｍを用
いて ｒ＝ｍＱ （３）で表わされる。
これと（１）式を連立させて解くとパラメータｍは
で与えられる。
さて本発明による補助光面の方程式決定のための処理袋
Ｗ８における処理手順のフローチャートを第３図に示す
。ステップ３１は空間内のある任意の位置にチャート板
１２を置いてその板の平面方程式を決定する処理、ステ
ップ３２はチャート板を同位置に置いたまま該板上の光
切断線１４の位置を決定する処理、ステップ３３はチャ
ート板１２を上記とは相異なる任意の位置に置いてその
板の平面方程式を決定する処理、ステップ３４はステッ
プ３３と同位置にチャート板を置いたまま該板上の光切
断線１４の位置を決定する処理、ステップ３５はステッ
プ３２．３４の処理結果から補助光面の平面方程式を決
定する処理である。以下に各処理の内容を詳述する。
Ｗ８における処理手順のフローチャートを第３図に示す
。ステップ３１は空間内のある任意の位置にチャート板
１２を置いてその板の平面方程式を決定する処理、ステ
ップ３２はチャート板を同位置に置いたまま該板上の光
切断線１４の位置を決定する処理、ステップ３３はチャ
ート板１２を上記とは相異なる任意の位置に置いてその
板の平面方程式を決定する処理、ステップ３４はステッ
プ３３と同位置にチャート板を置いたまま該板上の光切
断線１４の位置を決定する処理、ステップ３５はステッ
プ３２．３４の処理結果から補助光面の平面方程式を決
定する処理である。以下に各処理の内容を詳述する。
ステップ３１．３３の処理は次の如くである。
ｉ４図に示すごとくチャート板１２に固定したチ漏−ト
板座標系４１ （Ｘｃ＋ ＶＣ＋ ｚｃ）を考える。
板座標系４１ （Ｘｃ＋ ＶＣ＋ ｚｃ）を考える。
この座標系における位置ベクトルをｒｃと表わす。原点
４２はチャート板１２の上にあり座標はり。０とする。
４２はチャート板１２の上にあり座標はり。０とする。
軸Ｘｃ＋ ｙｃは板１２上にあり。
ＺＣ軸４３は板の法線に沿うものとする。いま板１２上
の基準マーク１３のうちセンサ６で観測されだ第１番目
のマークの座標を、センサ座標系で上１、チャート板座
標系でｍｃｉとすると、これらの間に ｒ ｉ ”Ｇ（ｒ ｃ １−１ｃｏ） （
５）なる関係が成立つ、但しｉ＝１・・・、Ｎ、Ｇは座
標系の直立回転マトリツカ毛、各軸まわりのオイラ角Ｏ
Ｘ＋ θア、ＯＫの関数として与えら九る。このとき
第１基準マークのセンサの焦点面２２の座一方該像の画
像処理により得られる実測位置を（Ｘよ、Ｙｌ）とする
と、これは上記計算式により句、えられる値と必ずしも
一致しない、これは（５）式のパラメータθＸ、θア、
θＺとｒｃｏが必ずしも正確に知られないためである。
の基準マーク１３のうちセンサ６で観測されだ第１番目
のマークの座標を、センサ座標系で上１、チャート板座
標系でｍｃｉとすると、これらの間に ｒ ｉ ”Ｇ（ｒ ｃ １−１ｃｏ） （
５）なる関係が成立つ、但しｉ＝１・・・、Ｎ、Ｇは座
標系の直立回転マトリツカ毛、各軸まわりのオイラ角Ｏ
Ｘ＋ θア、ＯＫの関数として与えら九る。このとき
第１基準マークのセンサの焦点面２２の座一方該像の画
像処理により得られる実測位置を（Ｘよ、Ｙｌ）とする
と、これは上記計算式により句、えられる値と必ずしも
一致しない、これは（５）式のパラメータθＸ、θア、
θＺとｒｃｏが必ずしも正確に知られないためである。
そこで処理装置８は、ＡＤ変換器から与えられる（Ｘｉ
＋Ｙ１）と外部１１から与えられる基準マークのチャー
ト板上の座標ｒＣＬから次の処理により、未知パラメー
タ を推定する６すなわち評価関数 を最小にする五を求める。ここに誤差上１はで与えられ
る。またＷｉは重みマトリックスである。この最小２乗
推定問題は例えばニュートン法により解くことができ、
解として五の推定値が得られる。王からマトリックスＧ
とベクトルｒｃ。
＋Ｙ１）と外部１１から与えられる基準マークのチャー
ト板上の座標ｒＣＬから次の処理により、未知パラメー
タ を推定する６すなわち評価関数 を最小にする五を求める。ここに誤差上１はで与えられ
る。またＷｉは重みマトリックスである。この最小２乗
推定問題は例えばニュートン法により解くことができ、
解として五の推定値が得られる。王からマトリックスＧ
とベクトルｒｃ。
が得られる。このとき所望のチャート板１２の平面方程
式を ａ−ｒ＝ｂ （９）と表わせば
、 で与えられる。
式を ａ−ｒ＝ｂ （９）と表わせば
、 で与えられる。
ステップ３２．３４の処理は次の如くである。
センサの焦点面の光切断ｆｉ１４の像を画像処理により
検出しその上の任意の点（Ｘ、Ｙ）をとる。
検出しその上の任意の点（Ｘ、Ｙ）をとる。
このとき対応する線１４上の空間における位置すなわち
センサ座標系における座標は、（２）〜（４）式で計算
できる。但しａ、ｂは（１０）式により与えられた値を
用いる。ステップ３２．３４でそれぞれ１つ以上、合計
３つ以上の点についてこの座標計算をしておく。
センサ座標系における座標は、（２）〜（４）式で計算
できる。但しａ、ｂは（１０）式により与えられた値を
用いる。ステップ３２．３４でそれぞれ１つ以上、合計
３つ以上の点についてこの座標計算をしておく。
ステップ３５の処理は次の如くである。上記ステップ３
２．３４の処理結果として得られた互に独立な位置にあ
る３点の座標を工１ （！＝１＋ ２＋３）とする。
２．３４の処理結果として得られた互に独立な位置にあ
る３点の座標を工１ （！＝１＋ ２＋３）とする。
このときこの３点を通る平面の方程式を
ａ−ｒ＝ｂ （＋１）と表わ
すと、 で与えられる。これが所望の補助光面の方程式を与える
。
すと、 で与えられる。これが所望の補助光面の方程式を与える
。
以上の処理をスリット３の回転角毎に行なえば各角度に
対応する方程式の係数が得られる。これを記憶装置９に
蓄えておき、対象物体計測の際スリットの回転角度に応
じて方程式の係数を記憶装置ｉ！９から読み出し利用す
ればよい。
対応する方程式の係数が得られる。これを記憶装置９に
蓄えておき、対象物体計測の際スリットの回転角度に応
じて方程式の係数を記憶装置ｉ！９から読み出し利用す
ればよい。
本発明によれば、平板に基準マークを印したチャート板
を用意するだけで１画像処理、データ処理により補助光
面の方程式を決定することができるので、環境に合わせ
て任意の位置に光源を設置した場合も光切断法による計
測精度を高めることを可能にする効果がある。
を用意するだけで１画像処理、データ処理により補助光
面の方程式を決定することができるので、環境に合わせ
て任意の位置に光源を設置した場合も光切断法による計
測精度を高めることを可能にする効果がある。
第１図は本発明による３次元計測における補助光の校正
方式の全体構成を示す図、第２図は３次元計測の原理を
示す図、第３図は本発明におけるデータ処理手順のフロ
ーチャート、第４図は本発明に使用するチャート板上の
座標系を説明するための図である。 １・・・計測対象物体、２・・・光源、３・・・スリッ
ト。 ４・・・補助光面、５・・・光切断線、６・・・センサ
。 ８・・・処理装置、１２・・・チャート板、１３・・・
基準マーク。 躬／圀
方式の全体構成を示す図、第２図は３次元計測の原理を
示す図、第３図は本発明におけるデータ処理手順のフロ
ーチャート、第４図は本発明に使用するチャート板上の
座標系を説明するための図である。 １・・・計測対象物体、２・・・光源、３・・・スリッ
ト。 ４・・・補助光面、５・・・光切断線、６・・・センサ
。 ８・・・処理装置、１２・・・チャート板、１３・・・
基準マーク。 躬／圀
Claims (1)
- 光源とスリットとセンサとデータ処理装置とより成る３
次元計測システムにおいて、表面に基準マークを記した
平板を用いて補助光面の３次元空間における方程式を決
定することを特徴とする３次元計測における補助光の校
正方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15522485A JPS6217604A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | ３次元計測における補助光の校正方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15522485A JPS6217604A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | ３次元計測における補助光の校正方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6217604A true JPS6217604A (ja) | 1987-01-26 |
| JPH0364801B2 JPH0364801B2 (ja) | 1991-10-08 |
Family
ID=15601236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15522485A Granted JPS6217604A (ja) | 1985-07-16 | 1985-07-16 | ３次元計測における補助光の校正方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6217604A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6444805A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-17 | Nippon Telegraph & Telephone | Calibrating method of position and posture of pattern projector |
| JPS6468677A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-14 | Komatsu Mfg Co Ltd | Position detecting method for moving body |
| JPH08110807A (ja) * | 1995-09-04 | 1996-04-30 | Omron Corp | 自動キャリブレーション方法およびその装置 |
-
1985
- 1985-07-16 JP JP15522485A patent/JPS6217604A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6444805A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-17 | Nippon Telegraph & Telephone | Calibrating method of position and posture of pattern projector |
| JPS6468677A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-14 | Komatsu Mfg Co Ltd | Position detecting method for moving body |
| JPH08110807A (ja) * | 1995-09-04 | 1996-04-30 | Omron Corp | 自動キャリブレーション方法およびその装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0364801B2 (ja) | 1991-10-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |