JPS62170472A - クリ−ニング機構付レ−ザ蒸着装置 - Google Patents
クリ−ニング機構付レ−ザ蒸着装置Info
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- JPS62170472A JPS62170472A JP1106286A JP1106286A JPS62170472A JP S62170472 A JPS62170472 A JP S62170472A JP 1106286 A JP1106286 A JP 1106286A JP 1106286 A JP1106286 A JP 1106286A JP S62170472 A JPS62170472 A JP S62170472A
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Landscapes
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、各種の金属1合金、セラミックスから成る基
板の表面に各種の機能を備えた被覆層を形成した部材1
例えば、切削工具及び耐摩耗工具のような工具部品並び
に半導体素子基板のような電子工業部品、を製造する際
に用いて好適なレーザ蒸着装置に関し、更に詳しくは、
基板への被覆層形成時に後述する光学系調整器の汚染を
防止でき、もって連続作業を可能とすることにより作業
能率を高めることができ、また、基板と被覆層との密着
性を高めることもできる構造のクリーニング機構付レー
ザ蒸着装置に関する。
板の表面に各種の機能を備えた被覆層を形成した部材1
例えば、切削工具及び耐摩耗工具のような工具部品並び
に半導体素子基板のような電子工業部品、を製造する際
に用いて好適なレーザ蒸着装置に関し、更に詳しくは、
基板への被覆層形成時に後述する光学系調整器の汚染を
防止でき、もって連続作業を可能とすることにより作業
能率を高めることができ、また、基板と被覆層との密着
性を高めることもできる構造のクリーニング機構付レー
ザ蒸着装置に関する。
[従来技術]
一般に、金属1合金、セラミックスから成る基板の表面
に様々な機能を有する被覆層を形成するだめの蒸着装置
には、大別して、化学蒸着装置(CVD装置)と物理蒸
着装置(PVD装置)がある。
に様々な機能を有する被覆層を形成するだめの蒸着装置
には、大別して、化学蒸着装置(CVD装置)と物理蒸
着装置(PVD装置)がある。
後者の装置を更に細分すると、イオンブレーティング装
置、スパンクリング装置。真空蒸着装置になるが、この
うちの真空蒸着装置の1種として、被照射試料を加熱蒸
発させる手段にレーザ光を用いるレーザ蒸着装置が知ら
れている。
置、スパンクリング装置。真空蒸着装置になるが、この
うちの真空蒸着装置の1種として、被照射試料を加熱蒸
発させる手段にレーザ光を用いるレーザ蒸着装置が知ら
れている。
従来から多用されているレーザ蒸着装置は、強力なエネ
ルギー密度に絞りこんだ集束レーザ光を被照射試料に照
射するため、この被照射試料はレーザ光の照射部分がそ
の他の非照射部分に比べて多量に蒸発して照射痕となり
、連続運転が困難となる。このため、従来のレーザ蒸着
装置に適用されているレーザ光は、その照射エネルギー
を100W以下に抑制した小出力レーザ光が主流である
。
ルギー密度に絞りこんだ集束レーザ光を被照射試料に照
射するため、この被照射試料はレーザ光の照射部分がそ
の他の非照射部分に比べて多量に蒸発して照射痕となり
、連続運転が困難となる。このため、従来のレーザ蒸着
装置に適用されているレーザ光は、その照射エネルギー
を100W以下に抑制した小出力レーザ光が主流である
。
しかしながら、レーザ光の照射エネルギーが小さい場合
は、被照射試料からの蒸発物の蒸発量が少なくなり基板
表面に形成される被覆層の成膜速度は小さくなる。また
、基板に形成された被覆層の機械的強度も小さく、基板
との密着性も弱くなるという問題点が指摘されてる。
は、被照射試料からの蒸発物の蒸発量が少なくなり基板
表面に形成される被覆層の成膜速度は小さくなる。また
、基板に形成された被覆層の機械的強度も小さく、基板
との密着性も弱くなるという問題点が指摘されてる。
このような問題点を解決するために、本発明者らは新規
な構造の装置を開発した(特開昭59−116373号
公報参照)。
な構造の装置を開発した(特開昭59−116373号
公報参照)。
ここで開示されている装置は、大出力のレーザ光を被照
射試料に照射することを可能にしたもので、具体的には
、リング状に形状加工した被照射試料を真空容器内で軸
回転させ、その接線方向から大出力の集束レーザ光を照
射することを特徴とする。このような態様を採用するこ
とにより、被照射試料から蒸発する蒸発物の活性化は促
進され、この高活性の蒸発物から成る被覆層と基板との
密着性は著しく向上し、更には、蒸発物を回転リング状
の被照射試料から基板に連続的かつ安定に供給すること
ができる。
射試料に照射することを可能にしたもので、具体的には
、リング状に形状加工した被照射試料を真空容器内で軸
回転させ、その接線方向から大出力の集束レーザ光を照
射することを特徴とする。このような態様を採用するこ
とにより、被照射試料から蒸発する蒸発物の活性化は促
進され、この高活性の蒸発物から成る被覆層と基板との
密着性は著しく向上し、更には、蒸発物を回転リング状
の被照射試料から基板に連続的かつ安定に供給すること
ができる。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながらこの装置の場合、被照射試料を長時間に亘
って蒸発させたときまたは短時間ではあって断続的に数
回蒸発を反復したとき、反応容器の中、とりわけ容器の
壁面に配設されるレーザ光導入用窓の内側の面または容
器内に導入されたレーザ光を集束するための凹面鏡若し
くは放物面鏡のような光学系調整器への蒸発物の付着が
激しくなり、被照射試料へのレーザ照射効率が低下する
という事態を招いている。
って蒸発させたときまたは短時間ではあって断続的に数
回蒸発を反復したとき、反応容器の中、とりわけ容器の
壁面に配設されるレーザ光導入用窓の内側の面または容
器内に導入されたレーザ光を集束するための凹面鏡若し
くは放物面鏡のような光学系調整器への蒸発物の付着が
激しくなり、被照射試料へのレーザ照射効率が低下する
という事態を招いている。
そして、反応容器の中、とりわけ光学系調整器に伺着し
た蒸発物を除去する場合には、装置の運転を一旦停止し
なければならずその作業能率は低下する。また、付着物
除去時に光学系調整器の表面を往々にして傷つけること
があり、その結果、レーザ照射効率の低下を招く。
た蒸発物を除去する場合には、装置の運転を一旦停止し
なければならずその作業能率は低下する。また、付着物
除去時に光学系調整器の表面を往々にして傷つけること
があり、その結果、レーザ照射効率の低下を招く。
本発明は、特開昭59−11637号公報に開示されて
いるレーザ蒸着装置における上記問題点を解消し、光学
系′A整器の蒸発物による表面汚染を防止する手段を具
備したレーザ蒸着装置の提供を目的とする。
いるレーザ蒸着装置における上記問題点を解消し、光学
系′A整器の蒸発物による表面汚染を防止する手段を具
備したレーザ蒸着装置の提供を目的とする。
[問題点を解決するだめの手段]
本発明のクリーニング機構付レーザ蒸着装置は、反応容
器内で軸回転する被照射試料と、レーザ光を導入しかつ
集束せしめて該被照射試料に照射する光学系調整器と、
該被照射試料に対向して配設され、その表面には該被照
射試料の蒸発物による被覆層が形成される基板とを具備
するレーザ蒸着装置において、該光学系調整器の前方に
は、該光学系調整器の照射面の全領域を覆ってレーザ光
を透過する板体が配設されていることを特徴とする。
器内で軸回転する被照射試料と、レーザ光を導入しかつ
集束せしめて該被照射試料に照射する光学系調整器と、
該被照射試料に対向して配設され、その表面には該被照
射試料の蒸発物による被覆層が形成される基板とを具備
するレーザ蒸着装置において、該光学系調整器の前方に
は、該光学系調整器の照射面の全領域を覆ってレーザ光
を透過する板体が配設されていることを特徴とする。
以下に本発明装置を概略図として示した例に基づいて更
に詳細に説明すφ。
に詳細に説明すφ。
第1図で、1は反応容器で内部は真空または所定圧のA
r、He、N2のようなガス雰囲気に維持される。2は
容器1の中に配設された被照射試料であって、紙面を垂
直の方向に伸張する回転軸2aの周りを例えば矢線P1
方向に軸回転する。
r、He、N2のようなガス雰囲気に維持される。2は
容器1の中に配設された被照射試料であって、紙面を垂
直の方向に伸張する回転軸2aの周りを例えば矢線P1
方向に軸回転する。
この被照射試料は、基体の表面に形成させようとする被
覆層の種類に応じて黒鉛、炭素、金属。
覆層の種類に応じて黒鉛、炭素、金属。
合金、金属化合物またはセラミンクス焼結体のなかの少
なくとも1種から成る材質で構成される。
なくとも1種から成る材質で構成される。
具体的には、黒鉛;炭素;Ti 、Zr、Hf 。
V 、 N b 、 T a 、 W 、 M O、C
r 、 B 、 S iの金属若しくはこれらを含む合
金;各種の超硬合金、サーメットなどの合金;TiC。
r 、 B 、 S iの金属若しくはこれらを含む合
金;各種の超硬合金、サーメットなどの合金;TiC。
TiN、TiO2、TiB2 、A1203 。
S iC、S i3 N4 、hBN、cBN、Ti(
C、N)、(Ti 、Ta)Cなどの金属化合物;Al
2O,系セラミックス、ZrO2系セラミックス、Si
C系セラミックス、Si3N4系セラミックス、cBN
系焼結体、ダイヤモンド系焼結体などのセラミックス焼
結体を例示することができる。また、被照射試料の形状
としては、円柱体9円筒体1円錐体、湾曲体、リング体
9円板体など軸回転の際にバランスよく回転できる形状
であればどのような形であってもよい、これらの形状体
は上に列記した各材質のみで構成されてもよいが、上記
各材質を2種類以上使用してこれらを複合した形状にす
ると、基板の表面には多重の層構成の被覆層を形成する
ことができて有用である。
C、N)、(Ti 、Ta)Cなどの金属化合物;Al
2O,系セラミックス、ZrO2系セラミックス、Si
C系セラミックス、Si3N4系セラミックス、cBN
系焼結体、ダイヤモンド系焼結体などのセラミックス焼
結体を例示することができる。また、被照射試料の形状
としては、円柱体9円筒体1円錐体、湾曲体、リング体
9円板体など軸回転の際にバランスよく回転できる形状
であればどのような形であってもよい、これらの形状体
は上に列記した各材質のみで構成されてもよいが、上記
各材質を2種類以上使用してこれらを複合した形状にす
ると、基板の表面には多重の層構成の被覆層を形成する
ことができて有用である。
なお、被照射試料2が回転軸2aの軸長方向に摺動でき
るようにしておくと、後述するレーザ光照射の際に、被
照射試料の被照射領域を拡張することができて有効であ
る。
るようにしておくと、後述するレーザ光照射の際に、被
照射試料の被照射領域を拡張することができて有効であ
る。
また、被照射試料にレーザ光が照射されると、該試料は
急激に部分加熱されて往々にして熱割れ現象を起すこと
があるが、これを防止するために、レーザ光照射に先立
ち被照射試料を予熱することを目的として、該被照射試
料の外周部に温度制御が可能な加熱器3を配設しておく
と好適である。
急激に部分加熱されて往々にして熱割れ現象を起すこと
があるが、これを防止するために、レーザ光照射に先立
ち被照射試料を予熱することを目的として、該被照射試
料の外周部に温度制御が可能な加熱器3を配設しておく
と好適である。
レーザ光は、発振器4で発振され例えばCu製の平面鏡
4a、4bで矢線P2のように光路転換され、集光レン
ズ5aで集光されて容器1内に導入される。
4a、4bで矢線P2のように光路転換され、集光レン
ズ5aで集光されて容器1内に導入される。
5bは例えばKCl製の透過窓でここからレーザ光が導
入される。そして、レーザ光は容器1の内壁に設置され
た例えばCu製の凹面鏡(又は放物面鏡)5cの鏡面に
到達し、ここで集束されかつ光路転換されて矢線P3に
ように進んで被照射試料2の被照射面を接線方向から照
射する。
入される。そして、レーザ光は容器1の内壁に設置され
た例えばCu製の凹面鏡(又は放物面鏡)5cの鏡面に
到達し、ここで集束されかつ光路転換されて矢線P3に
ように進んで被照射試料2の被照射面を接線方向から照
射する。
本発明装置においては、上記した透過窓5b。
凹面鏡若しくは放物面鏡を全体として光学系調整器とい
う。なお、凹面鏡又は放物面鏡5Cは透過窓5bから進
んできたレーザ光の反射角を微量調整でSるようにして
おくと、被照射試料の被照射面へのレーザ光照射のコン
トロールが容易に行なえて好適である。
う。なお、凹面鏡又は放物面鏡5Cは透過窓5bから進
んできたレーザ光の反射角を微量調整でSるようにして
おくと、被照射試料の被照射面へのレーザ光照射のコン
トロールが容易に行なえて好適である。
かくして、被照射試料2の被照射面からは矢線P4方向
に蒸発物が放散していく。
に蒸発物が放散していく。
被照射試料2の上方には基板6が対向して配設される。
基板には、ガラス、合成樹脂、金属9合金、セラミック
ス焼結体など用途に応じて全ゆる材質のものを用いるこ
とができる。具体的には、耐熱ガラス;熱硬化性樹脂;
Ti 、Zr、Hf 。
ス焼結体など用途に応じて全ゆる材質のものを用いるこ
とができる。具体的には、耐熱ガラス;熱硬化性樹脂;
Ti 、Zr、Hf 。
V、Nb、Ta、W、Mo、Cr、Al、Cu。
Fe、Ni、Coなどの金属;炭素鋼、高速度鋼、ステ
ンレススティール、ハステロイ、インコネル、超硬合金
、サーメットなどの合金;Al2O3系セラミックス、
ZrO2系セラミンクス、Si3N4系セラミックス、
SiC系セラミックス、Tic系セラミックス、TiB
2系セラミックス、B4C系セラミックス、cBN系焼
結体、ダイヤモンド系焼結体などのセラミックス焼結体
;を例示することができる。
ンレススティール、ハステロイ、インコネル、超硬合金
、サーメットなどの合金;Al2O3系セラミックス、
ZrO2系セラミンクス、Si3N4系セラミックス、
SiC系セラミックス、Tic系セラミックス、TiB
2系セラミックス、B4C系セラミックス、cBN系焼
結体、ダイヤモンド系焼結体などのセラミックス焼結体
;を例示することができる。
これらの材質から成る基板6の表面に被照射試料2から
の蒸発物が沈着して被覆層が形成されるのであるが、基
板6と被覆層との密着性を高めるために、基板を昇温す
る装置、例えば基板6の外周部に温度制御ができる加熱
器6aを配設することが好適である。7は、基板6の前
面に設置された可動シャッタであって、蒸発物の基板6
への蒸着時間を任意に調節する。
の蒸発物が沈着して被覆層が形成されるのであるが、基
板6と被覆層との密着性を高めるために、基板を昇温す
る装置、例えば基板6の外周部に温度制御ができる加熱
器6aを配設することが好適である。7は、基板6の前
面に設置された可動シャッタであって、蒸発物の基板6
への蒸着時間を任意に調節する。
本発明の装置は、上記した光学系調整器の前面に後述の
板体8が配設されていることを最大の特徴とする。
板体8が配設されていることを最大の特徴とする。
例えば第1図は凹面鏡(又は放物面鏡)の前面に板体を
配設した図であり、第2図はその部分拡大図である。
配設した図であり、第2図はその部分拡大図である。
板体8は矢線P2のように凹面鏡5Cに直進してくるレ
ーザ光が透過できる材質で構成されている。具体的には
KCI結晶板を例示することができる。板体8の形状は
円板状、角板状のいずれであってもよく、要は凹面鏡5
Cの表面すなわち照射面の全域を覆うような広さの面積
を有していることが必要である。凹面鏡5Cの照射面よ
りも面積が小さい場合は、被照射試料2の位置からみて
露出している凹面鏡5Cの面に矢線P4に沿って放散し
てきた蒸発物が付着してそこを汚染するからである。
ーザ光が透過できる材質で構成されている。具体的には
KCI結晶板を例示することができる。板体8の形状は
円板状、角板状のいずれであってもよく、要は凹面鏡5
Cの表面すなわち照射面の全域を覆うような広さの面積
を有していることが必要である。凹面鏡5Cの照射面よ
りも面積が小さい場合は、被照射試料2の位置からみて
露出している凹面鏡5Cの面に矢線P4に沿って放散し
てきた蒸発物が付着してそこを汚染するからである。
板体8は、その一端が矢線P5のように回転する回転軸
8aに軸支されて回転自在となっていることが好ましい
。回転軸8aは例えば駆動モータ、回転調節機構などを
内蔵し容器1の壁面1aに付設された駆動ボックス9に
よって回転する。
8aに軸支されて回転自在となっていることが好ましい
。回転軸8aは例えば駆動モータ、回転調節機構などを
内蔵し容器1の壁面1aに付設された駆動ボックス9に
よって回転する。
10は、板体8に隣接して上記ボックス9に配設された
板体面の清掃手段すなわち付着物除去手段である。例え
ば、樋状に加工した外枠10aの内面に繊維やフェルト
などの刷毛手段10bが植設された構造である。付着物
除去手段10は、その刷毛手段10bの位置に回転して
きた板体8を受けいれるように配設される。
板体面の清掃手段すなわち付着物除去手段である。例え
ば、樋状に加工した外枠10aの内面に繊維やフェルト
などの刷毛手段10bが植設された構造である。付着物
除去手段10は、その刷毛手段10bの位置に回転して
きた板体8を受けいれるように配設される。
なお、説明は、板体8を凹面鏡5Cの前方に配置する例
で行なったが、該板体8の配置個所はこれに限定される
ものではなく、他の光学系調整器である透過窓5bの前
方、つまり透過窓5bの容器1の内側の面の前方に設け
ることも可能であることはいうまでもない。
で行なったが、該板体8の配置個所はこれに限定される
ものではなく、他の光学系調整器である透過窓5bの前
方、つまり透過窓5bの容器1の内側の面の前方に設け
ることも可能であることはいうまでもない。
本発明の装置は次のようにして運転される。すなわち、
基板6に被覆層を形成する際には、板体8で凹面鏡5c
の照射面を覆っておく。レーザ光はこの板体8を透過す
るので被覆層の形成には何ら不都合は生じない。
基板6に被覆層を形成する際には、板体8で凹面鏡5c
の照射面を覆っておく。レーザ光はこの板体8を透過す
るので被覆層の形成には何ら不都合は生じない。
矢線P4に沿って放散する被照射試料2の蒸発物は凹面
鏡5Cにも直進してくるが、しかし凹面鏡の前方に位置
する板体8と衝突しそこに沈着して凹面鏡5cそのもの
にまでは達しない、すなわち、凹面鏡5cの表面への蒸
発物の付着は防止されそのレーザ照射効率は低下しない
。
鏡5Cにも直進してくるが、しかし凹面鏡の前方に位置
する板体8と衝突しそこに沈着して凹面鏡5cそのもの
にまでは達しない、すなわち、凹面鏡5cの表面への蒸
発物の付着は防止されそのレーザ照射効率は低下しない
。
他方、板体8の表面は蒸発物の付着により汚染されるが
、そのときは、板体8を回転させて付着物除去手段10
の刷毛手段fobの中を通過させる。板体8の表面に付
着していた蒸発物は、上記刷毛手段10bにより除去さ
れる。
、そのときは、板体8を回転させて付着物除去手段10
の刷毛手段fobの中を通過させる。板体8の表面に付
着していた蒸発物は、上記刷毛手段10bにより除去さ
れる。
このように本発明の装置は光学系調整器の照射面を汚染
することがないのでの長期の運転においても光学系調整
器のレーザ照射効率は低下せず作業能率を大いに高める
ことができてその工業的価値は大である。
することがないのでの長期の運転においても光学系調整
器のレーザ照射効率は低下せず作業能率を大いに高める
ことができてその工業的価値は大である。
[発明の実施例]
以下に本発明装置の効果を立証すべく具体的に実施例を
示す。
示す。
実施例1
Cu製の凹面鏡5c、材質がTiC−TiN系セラミッ
クスで円柱体の被照射試料2.WC51量%の超硬合金
製の基板6.KCI結晶板の円板8、フェルト状の耐熱
性刷毛を植設した清掃手段10を配設して第1図に示し
たような装置を組立てた。円板8で凹面鏡5cの全面を
覆った。
クスで円柱体の被照射試料2.WC51量%の超硬合金
製の基板6.KCI結晶板の円板8、フェルト状の耐熱
性刷毛を植設した清掃手段10を配設して第1図に示し
たような装置を組立てた。円板8で凹面鏡5cの全面を
覆った。
この状態で、容器l内をI X I O’Torrより
も高真空となるように排気し、被照射試料2を2゜rp
mで軸回転させながら加熱器3によって500°Cに予
熱し、また基板6に加熱器6aによって500℃に予熱
した。
も高真空となるように排気し、被照射試料2を2゜rp
mで軸回転させながら加熱器3によって500°Cに予
熱し、また基板6に加熱器6aによって500℃に予熱
した。
つぎにレーザ光発振器4からCW CO2レーザ光を発
振させ、透過窓5b(KCl製)から容器1内に導入し
、これを凹面鏡5cで集光して1000Wの集束cwc
o2レーザ光を被照射試料2にその接線方向から照射し
て基板6の表面に”rtc−TiN系の被覆層を形成し
た。
振させ、透過窓5b(KCl製)から容器1内に導入し
、これを凹面鏡5cで集光して1000Wの集束cwc
o2レーザ光を被照射試料2にその接線方向から照射し
て基板6の表面に”rtc−TiN系の被覆層を形成し
た。
円板8を約L rpmで回転させて表面の蒸着物を刷
毛手段10bで除去しながら連続運転したところ、凹面
鏡5cのレーザ照射効率は低下せず順調に被覆層が形成
された。
毛手段10bで除去しながら連続運転したところ、凹面
鏡5cのレーザ照射効率は低下せず順調に被覆層が形成
された。
円板8を配設せず同様の条件で被覆層の形成を行なった
ところ20分間の連続運転で凹面鏡のレーザ光照射効率
は60%にまで低下した。
ところ20分間の連続運転で凹面鏡のレーザ光照射効率
は60%にまで低下した。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の好適な例を示する概略図であり、
第2図は板体を配設した個所の部分拡大図である。 1−反応容器 2−被照射試料 2a−回転軸 3−加熱器 4−レーザ光発振器 4a、4b−ミラー5a−集光
レンズ 5b−透過窓 5c−凹面鏡(放物面鏡) 6−基板7−可動シヤツ
ク 8−板体 8a−軸 9−駆動ブロック 1〇−付着物除去手段 10a−枠体10b−刷毛手
段 l+0 第1図
第2図は板体を配設した個所の部分拡大図である。 1−反応容器 2−被照射試料 2a−回転軸 3−加熱器 4−レーザ光発振器 4a、4b−ミラー5a−集光
レンズ 5b−透過窓 5c−凹面鏡(放物面鏡) 6−基板7−可動シヤツ
ク 8−板体 8a−軸 9−駆動ブロック 1〇−付着物除去手段 10a−枠体10b−刷毛手
段 l+0 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、反応容器内で軸回転する被照射試料と、レーザ光を
導入しかつ集束せしめて該被照射試料に照射する光学系
調整器と、該被照射試料に対向して配設され、その表面
には該被照射試料の蒸発物による被覆層が形成される基
板とを具備するレーザ蒸着装置において、該光学系調整
器の前方には、該光学系調整器の照射面の全領域を覆っ
てレーザ光を透過する板体が配設されていることを特徴
とするクリーニング機構付レーザ蒸着装置。 2、該板体が、その端部の1点を中心にして回転自在に
配設されている特許請求の範囲第1項記載のクリーニン
グ機構付レーザ蒸着装置。 3、該板体に隣接して、該板体の面を清掃する付着物除
去手段が配設されている特許請求の範囲第1項記載のク
リーニング機構付レーザ蒸着装置。 4、該被照射試料には、温度制御が可能な加熱器が付設
されている特許請求の範囲第1項記載のクリーニング機
構付レーザ蒸着装置。 5、該基板には、温度制御が可能な加熱器が付設されて
いる特許請求の範囲第1項記載のクリーニング機構付レ
ーザ蒸着装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1106286A JPS62170472A (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 | クリ−ニング機構付レ−ザ蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1106286A JPS62170472A (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 | クリ−ニング機構付レ−ザ蒸着装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62170472A true JPS62170472A (ja) | 1987-07-27 |
Family
ID=11767513
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1106286A Pending JPS62170472A (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 | クリ−ニング機構付レ−ザ蒸着装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62170472A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009072838A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Tokyo Institute Of Technology | 高速ミーリング加工で硬質被覆層がすぐれた耐摩耗性を発揮する表面被覆切削工具およびその製造方法 |
JP2009072837A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Tokyo Institute Of Technology | 高速ミーリング加工で硬質被覆層がすぐれた耐摩耗性を発揮する表面被覆切削工具およびその製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5027144B1 (ja) * | 1969-11-25 | 1975-09-05 |
-
1986
- 1986-01-23 JP JP1106286A patent/JPS62170472A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5027144B1 (ja) * | 1969-11-25 | 1975-09-05 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009072838A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Tokyo Institute Of Technology | 高速ミーリング加工で硬質被覆層がすぐれた耐摩耗性を発揮する表面被覆切削工具およびその製造方法 |
JP2009072837A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Tokyo Institute Of Technology | 高速ミーリング加工で硬質被覆層がすぐれた耐摩耗性を発揮する表面被覆切削工具およびその製造方法 |
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