JPS62162942A - 表面強度試験装置 - Google Patents
表面強度試験装置Info
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- JPS62162942A JPS62162942A JP413886A JP413886A JPS62162942A JP S62162942 A JPS62162942 A JP S62162942A JP 413886 A JP413886 A JP 413886A JP 413886 A JP413886 A JP 413886A JP S62162942 A JPS62162942 A JP S62162942A
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- Japan
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- falls
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- distance
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、表面強度試験装置に係り、特に、被測定物の
表面へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場合の、
前記表面の強度を試験するに好適な表面強度試験装置に
関するものである。
表面へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場合の、
前記表面の強度を試験するに好適な表面強度試験装置に
関するものである。
まず、局部的に衝撃力および摩擦力をうける表面の強度
を試験する必要性を、磁気ディスクの例をとって１図面
を用いて説明する。
を試験する必要性を、磁気ディスクの例をとって１図面
を用いて説明する。
第４図は、磁気ディスク、磁気ヘッドの要部を示す要部
断面図である。この第４図において、１は磁気ディスク
であって、ディスク基板１ｂの表面に記録媒体１ａを設
けてなるものである。３は。
断面図である。この第４図において、１は磁気ディスク
であって、ディスク基板１ｂの表面に記録媒体１ａを設
けてなるものである。３は。
この磁気ディスク１のディスク走行方向を示す。
２は、ヘッドスライダ部２ａを有する磁気ヘッドである
。
。
電算機用磁気ディスク、特にｙＩ膜磁気ディスクでは、
そのディスク基板１ｂの構造は、サブミクロンから数ミ
クロンの薄膜が積チシされているものである。そして、
高記録密度化とともに、磁気ヘッド２とディスク表面と
の間のヘッド浮上隙間Ｈｇが狭小（たとえば、約０．３
μｍ）化し、磁気ヘッド２のコンタクト・スタート・ス
トップ時において該磁気ヘッド２と磁気ディスク１とが
接触したり、磁気ヘッド２が振動や空気流の乱れ等の外
乱によってピッチツクやヨーイングを生じて磁気ディス
ク１と接触したりして、ヘッドスライダ部２ａによりデ
ィスク表面へダメージを与える機会が多くなってきてい
る。このディスク表面へのダメージは、前記へラドスラ
イダ部２ａの角部や綾部による局部的な衝撃力、摩擦力
によってもたらされるものである。磁気ディスク１の表
面の強度が不充分であると、ディスク表面は磁気ヘッド
２によって損傷を受け、いわゆるヘッドクラッシュを生
じてしまう。そこで、このヘッドクラッシュを起こさな
い磁気ディスク１や磁気ヘッド２の材質２表面構造を開
発するためには、局部的に作用する衝撃力や摩擦力に対
するディスク表面の強度を適正に評価する必要がある。
そのディスク基板１ｂの構造は、サブミクロンから数ミ
クロンの薄膜が積チシされているものである。そして、
高記録密度化とともに、磁気ヘッド２とディスク表面と
の間のヘッド浮上隙間Ｈｇが狭小（たとえば、約０．３
μｍ）化し、磁気ヘッド２のコンタクト・スタート・ス
トップ時において該磁気ヘッド２と磁気ディスク１とが
接触したり、磁気ヘッド２が振動や空気流の乱れ等の外
乱によってピッチツクやヨーイングを生じて磁気ディス
ク１と接触したりして、ヘッドスライダ部２ａによりデ
ィスク表面へダメージを与える機会が多くなってきてい
る。このディスク表面へのダメージは、前記へラドスラ
イダ部２ａの角部や綾部による局部的な衝撃力、摩擦力
によってもたらされるものである。磁気ディスク１の表
面の強度が不充分であると、ディスク表面は磁気ヘッド
２によって損傷を受け、いわゆるヘッドクラッシュを生
じてしまう。そこで、このヘッドクラッシュを起こさな
い磁気ディスク１や磁気ヘッド２の材質２表面構造を開
発するためには、局部的に作用する衝撃力や摩擦力に対
するディスク表面の強度を適正に評価する必要がある。
しかし、従来から知られているシャルビ？＃撃試験機（
Ｊ Ｉ Ｓ Ｂ７７２２）やアイゾツトＷＩ撃試験機
（Ｊ Ｉ Ｓ Ｂ７７２３）では、いずれもディスク
表面の衝撃強さを測定することは回連であった。また、
摩擦力によるディスク表面の強度を試験することはでき
ない。
Ｊ Ｉ Ｓ Ｂ７７２２）やアイゾツトＷＩ撃試験機
（Ｊ Ｉ Ｓ Ｂ７７２３）では、いずれもディスク
表面の衝撃強さを測定することは回連であった。また、
摩擦力によるディスク表面の強度を試験することはでき
ない。
摩擦摺動試験に使用されるものとしてピンディスク試験
機（電子通信学会論文誌’８５／３Ｖｏ１１゜Ｊ６８−
ＣＮａ３記載のもの）があるが、荷重の付加方法が静的
押圧力によるものであって、衝撃力については考慮され
てない。
機（電子通信学会論文誌’８５／３Ｖｏ１１゜Ｊ６８−
ＣＮａ３記載のもの）があるが、荷重の付加方法が静的
押圧力によるものであって、衝撃力については考慮され
てない。
このように、従来の衝撃試験機、摩擦摺動試験機は、局
部的に衝撃力および摩擦力をうける表面、たとえばディ
スク表面の強度を評価することができないという問題点
があった。
部的に衝撃力および摩擦力をうける表面、たとえばディ
スク表面の強度を評価することができないという問題点
があった。
本発明は、上記した従来技術の問題点を改善して、被測
定物の表面へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場
合の、前記表面の強度を容易に評価することができる表
面強度試験装置の提供を、その目的とするものである。
定物の表面へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場
合の、前記表面の強度を容易に評価することができる表
面強度試験装置の提供を、その目的とするものである。
本発明に係る表面強度試験装置の構成は、被測定物を水
平に保持し、これを水平面内で回転させることができる
回転テーブルと、この回転テーブルの上方に設けられ、
閉状態では球体を載置することができ、開動作によって
該球体を前記被測定物の表面上へ落下させることができ
るシャッタと。
平に保持し、これを水平面内で回転させることができる
回転テーブルと、この回転テーブルの上方に設けられ、
閉状態では球体を載置することができ、開動作によって
該球体を前記被測定物の表面上へ落下させることができ
るシャッタと。
回転停止した前記被測定物の表面上へ落下して反発する
前記球体の反発速度Ｖを検知することができる、鉛直方
向に所定距離だけ離間して配設した２対のフォトセンサ
と、回転している前記被測定物の表面上へ落下して反発
する前記球体の前記水平面上への落下距離Ｘを検知する
ことができる位置検出センサと、前記反発速度ｖ、落下
距離Ｘを入力し、これらの値が、予め設定した反発速度
ｖｏ 、落下距離ｘｏに対して、ｖ ＞ ｖ ｏで且っ
Ｘ＜ｘｏ を満足するとき可と評価し、満足しないとき
不可と評価することができるデータ処理機構とを具備せ
しめるようにしたものである。
前記球体の反発速度Ｖを検知することができる、鉛直方
向に所定距離だけ離間して配設した２対のフォトセンサ
と、回転している前記被測定物の表面上へ落下して反発
する前記球体の前記水平面上への落下距離Ｘを検知する
ことができる位置検出センサと、前記反発速度ｖ、落下
距離Ｘを入力し、これらの値が、予め設定した反発速度
ｖｏ 、落下距離ｘｏに対して、ｖ ＞ ｖ ｏで且っ
Ｘ＜ｘｏ を満足するとき可と評価し、満足しないとき
不可と評価することができるデータ処理機構とを具備せ
しめるようにしたものである。
実施例の説明に入るまえに、本発明に係る基本的事項を
説明する。
説明する。
前述したように、走行している磁気ディスクのディスク
表面に磁気ヘッドのへラドスライダ部が接触した場合を
考えると、前記ディスクは３６００ｒｐｍで回転してお
り、相対速度は約３８ｍ／ｓｅｅにもなるので、ディス
ク表面は前記へラドスライダ部から瞬間的な外力を受け
た状態になる。この外力は、磁気ヘッドがジンバル支持
されいるので。
表面に磁気ヘッドのへラドスライダ部が接触した場合を
考えると、前記ディスクは３６００ｒｐｍで回転してお
り、相対速度は約３８ｍ／ｓｅｅにもなるので、ディス
ク表面は前記へラドスライダ部から瞬間的な外力を受け
た状態になる。この外力は、磁気ヘッドがジンバル支持
されいるので。
ディスク表面に対して垂直方向に作用する衝撃力と、デ
ィスク表面に沿って水平方向に働く摩擦力とからなるも
のと考えられる。また、ヘッドスライダ部の角部あるい
は稜部がディスク表面に当接するので、受けるダメージ
はごく表面層である。
ィスク表面に沿って水平方向に働く摩擦力とからなるも
のと考えられる。また、ヘッドスライダ部の角部あるい
は稜部がディスク表面に当接するので、受けるダメージ
はごく表面層である。
この観点から５本発明者らは１表面（たとえば前記ディ
スク表面）へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場
合の、前記表面の強度を容易に評価することができる表
面強度試験装置の必要性を感じ５本発明に至ったもので
ある。
スク表面）へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場
合の、前記表面の強度を容易に評価することができる表
面強度試験装置の必要性を感じ５本発明に至ったもので
ある。
この表面強度試験装置の概要と、この装置による表面強
度の評価方法とを略述する。
度の評価方法とを略述する。
水平に配設された回転テーブル上に被測定物（たとえば
、磁気ディスク）をａ置固定する。まず、前記回転テー
ブルを回転停止させた状態で。
、磁気ディスク）をａ置固定する。まず、前記回転テー
ブルを回転停止させた状態で。
前記被測定物の表面へ、所定の落下高さくたとえば、３
００ｍｍ）から微小径の精密味（たとえば。
００ｍｍ）から微小径の精密味（たとえば。
直径３ ｎｎφのサファイア球）を落下させて？＃撃力
を与える。そして、この精密味が前記表面から反発した
ときの反発速度Ｖを、鉛直方向に所定距離だけ離間して
配設した２対のフォトセンサによって測定する。次に、
前記回転テーブルを回転させて、前記被測定物の所定周
速（たとえば、前記磁気ディスクの場合、約３８ｍ／５
ｅｃ）の表面へ、前記落下高さから前記精密味を落下さ
せ、この精密味が前記被測定物と衝突して生ずる摩擦力
が加わって反発したときの、前記被測定物と同一水平面
への落下距’ｆＸｆｌｘを、位置検出センサによって測
定する。データ処理機構に、予め所定の反発速度ＶＱ
、落下距離ｘｏ （これら反発速度ｖｏ 、落下距離
ｘｏは、前記落下高さ９周速に応じて定めたものであり
、詳細後述する）を設定とておき、前記フォトセンサ、
位置検出センサから入力した反発速度ｖ、落下距Ｎ１ｘ
が、ｖ）ｖｏで且ツｘ ＜ ｘ 。
を与える。そして、この精密味が前記表面から反発した
ときの反発速度Ｖを、鉛直方向に所定距離だけ離間して
配設した２対のフォトセンサによって測定する。次に、
前記回転テーブルを回転させて、前記被測定物の所定周
速（たとえば、前記磁気ディスクの場合、約３８ｍ／５
ｅｃ）の表面へ、前記落下高さから前記精密味を落下さ
せ、この精密味が前記被測定物と衝突して生ずる摩擦力
が加わって反発したときの、前記被測定物と同一水平面
への落下距’ｆＸｆｌｘを、位置検出センサによって測
定する。データ処理機構に、予め所定の反発速度ＶＱ
、落下距離ｘｏ （これら反発速度ｖｏ 、落下距離
ｘｏは、前記落下高さ９周速に応じて定めたものであり
、詳細後述する）を設定とておき、前記フォトセンサ、
位置検出センサから入力した反発速度ｖ、落下距Ｎ１ｘ
が、ｖ）ｖｏで且ツｘ ＜ ｘ 。
の関係を満足したとき、該データ処理機構によって前記
表面の表面強度を可と評価し、満足しないとき不可と評
価せしめるようにしたものである。
表面の表面強度を可と評価し、満足しないとき不可と評
価せしめるようにしたものである。
前記データ処理機構に設定する反発速度ＶＱ 。
落下距離ｘｏの大きさは、予め実験などによって決める
ものであり、その決め方の根拠は１次の考え方に基づく
ものである。すなわち、所定の落下高さに対して、前記
表面の動的硬さが大きくなると反発エネルギも大きくな
り、反発速度Ｖも増大する。そこで、反発速度Ｖが所定
の反発速度ＶＯ以上であれば、当該表面は、前記精密味
が衝突したときの衝撃力に対して所望の強度を有してい
るものとして評価する。また、所定の周速に対して、前
記精密味と当該表面との摩擦が低減すると摩擦力も小さ
くなり、落下距離Ｘも減少する。そこで、落下距離Ｘが
所定の落下距離ｘｏ以下であれば。
ものであり、その決め方の根拠は１次の考え方に基づく
ものである。すなわち、所定の落下高さに対して、前記
表面の動的硬さが大きくなると反発エネルギも大きくな
り、反発速度Ｖも増大する。そこで、反発速度Ｖが所定
の反発速度ＶＯ以上であれば、当該表面は、前記精密味
が衝突したときの衝撃力に対して所望の強度を有してい
るものとして評価する。また、所定の周速に対して、前
記精密味と当該表面との摩擦が低減すると摩擦力も小さ
くなり、落下距離Ｘも減少する。そこで、落下距離Ｘが
所定の落下距離ｘｏ以下であれば。
当該表面は、前記精密味が衝突して生ずる摩擦力に対し
て所望の強度を有しているものと評価する。
て所望の強度を有しているものと評価する。
このようにして、被測定物の表面へ局部的に瞬間的に外
力が負荷され、衝撃力および摩擦力が作用したときの、
当該表面の強度を容易に評価することができる。
力が負荷され、衝撃力および摩擦力が作用したときの、
当該表面の強度を容易に評価することができる。
以下、実施例によって説明する。
第１図は１本発明の一実施例に係る表面強度試験装置の
略示正面図、第２図は、第１図に係る表面強度試験装置
の要部平面図である。
略示正面図、第２図は、第１図に係る表面強度試験装置
の要部平面図である。
図において、１５は、被測定物７を水平に保持し、これ
を水平面内で回転させることができる、モータ６によっ
て駆動される回転テーブルである。
を水平面内で回転させることができる、モータ６によっ
て駆動される回転テーブルである。
８は、球体に係る、微小径の精密味、１０は、閉落下さ
せることができる、前記回転テーブル１５の上方に、支
柱１６によって保持されたシャッタ。
せることができる、前記回転テーブル１５の上方に、支
柱１６によって保持されたシャッタ。
１１は、このシャッタ１０の開閉を制御するシャツタ開
閉制御機構である。１３は、その中を精密味８が落下す
る、支柱１６によって保持されたガラス管である。１４
は、鉛直方向に所定距離Ｑだけ離間して配設された２対
のフォトセンサであり。
閉制御機構である。１３は、その中を精密味８が落下す
る、支柱１６によって保持されたガラス管である。１４
は、鉛直方向に所定距離Ｑだけ離間して配設された２対
のフォトセンサであり。
回転停止した被測定物７の表面上へ落下して反発した精
密味８の反発速度Ｖを、前記距離Ωを通過する時間ｔを
測定して、 Ｑ／ｌとして検知することができるもので
ある。９は位置検出センサであり、この位置検出センサ
９は、回転している前記被測定物７の表面上へ落下して
反発した精密味８の、被測定物７の表面と同一水平面上
への落下距離Ｘを検知することができる。１２は、前記
フォトセンサ１４で検知した反発速度Ｖと、位置検出セ
ンサ９で検知した落下距離Ｘとを入力し、これらの値が
、予め設定°した反発速度ｖｏ 、落下距離ｘｏに対し
て、ｖ＞ｖｏで且っｘ ＜ ｘ ｏ を満足するとき可
と評価し、満足しないとき不可と評価し、その評価した
結果を表示部１２ａに表示することができるデータ処理
機構である。
密味８の反発速度Ｖを、前記距離Ωを通過する時間ｔを
測定して、 Ｑ／ｌとして検知することができるもので
ある。９は位置検出センサであり、この位置検出センサ
９は、回転している前記被測定物７の表面上へ落下して
反発した精密味８の、被測定物７の表面と同一水平面上
への落下距離Ｘを検知することができる。１２は、前記
フォトセンサ１４で検知した反発速度Ｖと、位置検出セ
ンサ９で検知した落下距離Ｘとを入力し、これらの値が
、予め設定°した反発速度ｖｏ 、落下距離ｘｏに対し
て、ｖ＞ｖｏで且っｘ ＜ ｘ ｏ を満足するとき可
と評価し、満足しないとき不可と評価し、その評価した
結果を表示部１２ａに表示することができるデータ処理
機構である。
このように構成した表面強度試験装置の動作を説明する
。
。
まず、回転テーブル１５上に被測定物７を、試験すべき
表面を上側にして載置固定する。精密縁８が所定の落下
高さｈｘから、この被測定物７ｉの所定半径位置に落下
するように、シャッター。
表面を上側にして載置固定する。精密縁８が所定の落下
高さｈｘから、この被測定物７ｉの所定半径位置に落下
するように、シャッター。
およびガラス管１３の取付位置を調整する。精密縁８の
落下点の周速が所定の周速になるように、モータ６の回
転数を設定する。データ処理機構１２に、反発速度ｖｏ
、落下距Ｒｘｏ を設定する。
落下点の周速が所定の周速になるように、モータ６の回
転数を設定する。データ処理機構１２に、反発速度ｖｏ
、落下距Ｒｘｏ を設定する。
シャッター０を閉にして、その上に精密縁８を載置する
。
。
ここで表面強度試験装置をＯＮにすると、シャツタ開閉
制御機構１１が作動して、シャッター０１よ が開き、精密縁８をシャッター０から落下し、ガラス管
１３の中を落下し、被測定物７の表面へ衝突する。精密
縁８は、ここで反発し、フォトセンサー４を通り、この
ときの反発速度Ｖが該フォトセンサー４によって検知さ
れ、その値がデータ処理機構１２へ入力される。シャッ
ターｏが閉じ、その上に精密縁８が再び載置される。モ
ータ６が設定回転数で駆動され、被測定物７が矢印方向
へ回転する。シャッタ１ｏが開き、精密縁８はシャッタ
１０から落下し、ガラス管１３の中を落下し、被測定物
７の所定周速の表面へ衝突する。ここで精密縁８は、摩
擦力が加わって反発し、破線で示す線（第１図の破線）
に沿って飛んで位置検出センサ９上へ落下する。その落
下距離Ｘが該位置検出センサ９によって検知され、その
値がデータ処理機構１２へ入力される。そして、ｖ ＞
ｖ ｏで且つｘ ＜ ｘ ｏの関係を満足したときに
は可を、満足しないときには不可を、その表示部１２ａ
に表示して５表面強度試験装置がＯＦＦになる。
制御機構１１が作動して、シャッター０１よ が開き、精密縁８をシャッター０から落下し、ガラス管
１３の中を落下し、被測定物７の表面へ衝突する。精密
縁８は、ここで反発し、フォトセンサー４を通り、この
ときの反発速度Ｖが該フォトセンサー４によって検知さ
れ、その値がデータ処理機構１２へ入力される。シャッ
ターｏが閉じ、その上に精密縁８が再び載置される。モ
ータ６が設定回転数で駆動され、被測定物７が矢印方向
へ回転する。シャッタ１ｏが開き、精密縁８はシャッタ
１０から落下し、ガラス管１３の中を落下し、被測定物
７の所定周速の表面へ衝突する。ここで精密縁８は、摩
擦力が加わって反発し、破線で示す線（第１図の破線）
に沿って飛んで位置検出センサ９上へ落下する。その落
下距離Ｘが該位置検出センサ９によって検知され、その
値がデータ処理機構１２へ入力される。そして、ｖ ＞
ｖ ｏで且つｘ ＜ ｘ ｏの関係を満足したときに
は可を、満足しないときには不可を、その表示部１２ａ
に表示して５表面強度試験装置がＯＦＦになる。
この表面強度試験装置によって試験した具体例を、以下
に説明する。
に説明する。
被測定物７として、次の３種類の試料を準備した。
■サンプルＡ：表面研摩したＡＱ円板の表面に、厚さ２
０μｍのＮ１−Ｐめつき処 理をしたもの。
０μｍのＮ１−Ｐめつき処 理をしたもの。
■サンプルＢ：上記すンプルＡを熱処理して表面硬度を
高くしたもの。
高くしたもの。
■サンプルＣ：上記サンプルＢの表面に潤滑油を塗布し
、摩擦係数μ≦０．２ とし たもの。
、摩擦係数μ≦０．２ とし たもの。
精密縁８として３ｍｍφのサファイア球を使用し、これ
を落下高さｈ１＝３００ｍｍから落下させるようにした
。また、落下点の周速が３８ｍ／ｓｅｃになるように、
モータ６の回転数を設定した。データ処理機構１２には
５反発速度ｖｏ＝０．８０ｍ／Ｓｅｅ ＊落下距離ｘｏ
＝２２０ｍｍを設定した。
を落下高さｈ１＝３００ｍｍから落下させるようにした
。また、落下点の周速が３８ｍ／ｓｅｃになるように、
モータ６の回転数を設定した。データ処理機構１２には
５反発速度ｖｏ＝０．８０ｍ／Ｓｅｅ ＊落下距離ｘｏ
＝２２０ｍｍを設定した。
前記の各条件を設定して試験した結果を、次の表に示す
。
。
表面強度試験結果（ｖｏ＝ ０ 、８０ ｍ／ｓｅｅ、
ｘｏ＝ ２２ Ｏｎｕ）この試験結果から明らかなよ
うに、サンプルＣのみが可となった。
ｘｏ＝ ２２ Ｏｎｕ）この試験結果から明らかなよ
うに、サンプルＣのみが可となった。
第３図は、精密縁の落下点の周速をいろいろに変化させ
たときの、該精密縁の落下距離の変化の一例を示す周速
−落下距離線図である。
たときの、該精密縁の落下距離の変化の一例を示す周速
−落下距離線図である。
この第３図に示すものは、前記サンプルＡ、Ｂ。
Ｃについて、サファイア球の落下点の周速と落下距離Ｘ
との関係を調べたデータであり、サンプルＣの場合にそ
の落下距離Ｘが最も小さいことがわかる。
との関係を調べたデータであり、サンプルＣの場合にそ
の落下距離Ｘが最も小さいことがわかる。
以上説明した実施例によれば、回転停止中および回転中
の被測定物７の表面へ精密縁を落下して衝突させ、その
反発速度Ｖおよび落下距離Ｘを自動的に検知し、それら
の値に基づいてデータ処理機構１２によって前記表面の
衝撃力および摩擦力に対する強度を評価せしめるように
したので、被測定物７の表面の強度を容易に評価するこ
とができるという効果がある。
の被測定物７の表面へ精密縁を落下して衝突させ、その
反発速度Ｖおよび落下距離Ｘを自動的に検知し、それら
の値に基づいてデータ処理機構１２によって前記表面の
衝撃力および摩擦力に対する強度を評価せしめるように
したので、被測定物７の表面の強度を容易に評価するこ
とができるという効果がある。
以上詳細に説明したように本発明によれば、被測定物の
表面へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場合の、
前記表面の強度を容易に評価することができる表面強度
試験装置を提供することができる。
表面へ局部的に衝撃力および摩擦力が作用した場合の、
前記表面の強度を容易に評価することができる表面強度
試験装置を提供することができる。
第１図は、本発明の一実施例に係る表面強度試験装置の
略示正面図、第２図は、第１図に係る表面強度試験装置
の要部平面図、第３図は、精密味の落下点の周速をいろ
いろに変化させたときの、該精密味の落下距離の変化の
一例を示す周速−落下距混線図、第４図は、磁気ディス
ク、磁気ヘッドの要部を示す要部断面図である。 ７・・・被測定物、８・・・微小径の精密味、９・・・
位置検出センサ、１０・・・シャッタ、１２・・・デー
タ処Ｊ！Ｉｉ機＄ １ 固 ＄２８ ／２Ａ
略示正面図、第２図は、第１図に係る表面強度試験装置
の要部平面図、第３図は、精密味の落下点の周速をいろ
いろに変化させたときの、該精密味の落下距離の変化の
一例を示す周速−落下距混線図、第４図は、磁気ディス
ク、磁気ヘッドの要部を示す要部断面図である。 ７・・・被測定物、８・・・微小径の精密味、９・・・
位置検出センサ、１０・・・シャッタ、１２・・・デー
タ処Ｊ！Ｉｉ機＄ １ 固 ＄２８ ／２Ａ
Claims (1)
- １、被測定物を水平に保持し、これを水平面内で回転さ
せることができる回転テーブルと、この回転テーブルの
上方に設けられ、閉状態では球体を載置することができ
、開動作によつて該球体を前記被測定物の表面上へ落下
させることができるシヤツタと、回転停止した前記被測
定物の表面上へ落下して反発する前記球体の反発速度ｖ
を検知することができる、鉛直方向に所定距離だけ離間
して配設した２対のフオトセンサと、回転している前記
被測定物の表面上へ落下して反発する前記球体の前記水
平面上への落下距離ｘを検知することができる位置検出
センサと、前記反発速度ｖ、落下距離ｘを入力し、これ
らの値が、予め設定した反発速度ｖ＿０、落下距離ｘ＿
０に対して、ｖ＞ｖ＿０で且つｘ＜ｘ＿０を満足すると
き可と評価し、満足しないとき不可と評価することがで
きるデータ処理機構とを具備したことを特徴とする表面
強度試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61004138A JPH0612321B2 (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 表面強度試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61004138A JPH0612321B2 (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 表面強度試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62162942A true JPS62162942A (ja) | 1987-07-18 |
| JPH0612321B2 JPH0612321B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=11576415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61004138A Expired - Lifetime JPH0612321B2 (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 表面強度試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612321B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100809638B1 (ko) | 2006-04-26 | 2008-03-05 | 울산대학교 산학협력단 | 적층형 압전 액추에이터의 비파괴 검사 장치 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6037422A (ja) * | 1983-08-10 | 1985-02-26 | Mitsubishi Motors Corp | スプリング型クラッチディスク |
-
1986
- 1986-01-14 JP JP61004138A patent/JPH0612321B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6037422A (ja) * | 1983-08-10 | 1985-02-26 | Mitsubishi Motors Corp | スプリング型クラッチディスク |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100809638B1 (ko) | 2006-04-26 | 2008-03-05 | 울산대학교 산학협력단 | 적층형 압전 액추에이터의 비파괴 검사 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0612321B2 (ja) | 1994-02-16 |
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