JPS6215872A - 半導体レ−ザ装置 - Google Patents

半導体レ−ザ装置

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JPS6215872A
JPS6215872A JP15446785A JP15446785A JPS6215872A JP S6215872 A JPS6215872 A JP S6215872A JP 15446785 A JP15446785 A JP 15446785A JP 15446785 A JP15446785 A JP 15446785A JP S6215872 A JPS6215872 A JP S6215872A
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JP
Japan
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light
laser
clad layer
detecting section
substrate
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JP15446785A
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English (en)
Inventor
Akira Ibaraki
茨木 晃
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • H01S5/18305Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] with emission through the substrate, i.e. bottom emission
    • HELECTRICITY
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    • H01S5/18344Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] characterized by the mesa, e.g. dimensions or shape of the mesa
    • H01S5/18347Mesa comprising active layer
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    • H01S5/2054Methods of obtaining the confinement
    • H01S5/2081Methods of obtaining the confinement using special etching techniques

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はモニタ用フォトダイオードを一体化した面発光
型の半導体レーザ装置に関するものである。
〔従来技術〕
半導体レーザ、例えばエツチングレーザにモニタ用のフ
ォトダイオードを一体化したものとして従来第2図に示
す如き装置が知られている。
このレーザは図面には具体的な構成を示していないが、
例えば直方体形をなすn型基板上にダブルへテロ接合を
構成するn型のクラッド層、p型の活性層、p型のクラ
ッド層、p型キャップ層25をこの順序で積層形成する
と共に、長平方向の中間部に短辺と平行な向きにキャン
プJit25、クラッドJit24並びに活性層を分断
する深さの■溝21を形成し、基板の下面には全面にわ
たって兼用電極を、またV溝21で分断された片側のキ
ャンプFI25上には長手方向にストライプ電極26を
形成してV溝21の片側にレーザ本体22を、更に他側
のキャップ層25上全面に電極を形成してV溝21の他
側に光の検出部たるフォトダイオード23を形成し、レ
ーザ本体22で発生した光は活性層の一端側から出光さ
せると共に、活性層の他端側からの光はV?ji21を
経てホトダイオード23に導き、その強度を電気信号に
変換して検出し、これに基づいてレーザ本体22への電
流を制御し出射光を安定させるようになっている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで上述した如き従来の技術にあってはエツチング
レーザを対象としたものであり、面発光型半導体レーザ
についてはモニタ用フォトダイオ−ドを一体化した構造
は未だ提案されていないのが現状である。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであって、そ
の目的とするところは、中心部と周縁部との中間に基板
上に稍層形成した活性層を分断する所要深さの溝を形成
して、この溝に囲われた内側にはレーザ本体を構成し、
周縁部には光の検出部を構成し、この検出部にてレーザ
光と直交する向きに生起され、伝播されてきた光を検出
して容易にレーザ本体の光強度制御等に利用し得るよう
にした半導体レーザ装置を提供するにある。
本発明に係る半導体レーザ装置は、面発光型半導体レー
ザの側周にこれと一体化した光の検出部を形成し、レー
ザ光と直交する向きに生じた光を前記検出部にて検出す
るようにしたことを特徴とする。
〔実施例〕
以下本発明をその実hf!!例を示す図面に基づき具体
的に説明する。第1図は本発明に係る半導体レーザ装置
の断面構造図であり、図中1は半導体の例えばn型基板
、2はn型のクラッド層、3はp型の活性層、4はp型
のクラッド層、5は共通電極、6はミラー兼用電極、7
はリング状の電極を夫々示している。
基板lはn型GaAsにて矩形状に構成され、中心部に
は逆円錐台形をなす孔1aが形成されており、その−面
(第1図で下面)には前述した如<n−Ga0,6AJ
O,4Asにて構成されたクラッド2、p −Ga6.
qIN!o、+Asにて構成された活性Jit3、p 
−Gao、bA 104^Sにて構成されたクラッドJ
ii4がこの順序で積層形成され、また前記基板lの他
面(第1図では上面)には全面にわたって共通電極5が
、更にp形グランド屓4の一面(第1図では下面)には
中心にミラー兼用電極6が、また周縁部にはリング状の
電極7が形成されている。
そしてoii記ミラー兼用電極6とリング状の電極7と
の中間部には前記基板lの孔1aよりも内、外径ともに
大きい断面台形状をなすリング状の溝8がp形のクラッ
ド層4、p形の活性層3を中心と周縁部とに分断し、且
つ溝底がn形のクラッド層2に達するよう形成され、こ
れによって溝8に囲われた中心部には面発光型レーザ本
体9が、また周縁部にはその検出部たるフォトダイオー
ドlOが構成される。
溝8の深さについては特に限定するものではなく、少な
くとも活性Jit3を中心部と周縁部とに分断し得るも
のであればよ(、溝底が基板1に達するようにしてもよ
いことは言うまでもない。
而して上述の如く構成された本発明装置にあっては共通
電極5とミラー兼用電極6とに所要の電圧を印加するこ
とにより活性Jiiii3に生ぜしめた光はミラー兼用
電極6と、クラッドJij2と基板1との孔1aとの界
面で反射を反復され、共振増幅されてレーザ光として孔
1aを通じて白抜矢符で示す如くに出射せしめられる。
また上述したレーザ光とは別に活性Fi3においてはレ
ーザ光と直交する向き、即ち基板1と平行な向きにレー
ザ光の強度と対応した強度のスーパーリニア光が発生さ
れるが、この光は溝8を経て周縁部の検出部たるフォ]
・ダイオード10における活性層3内に入射し、電気信
号として共通電極5とリング状の電極7とを通じて検出
されることとなる。
この光の強度は上述の如くレーザ光の強度と略対応して
おり、これを′、lA御信号として用いることによりレ
ーザ光の安定化、その他のモニタリングに利用し得るこ
ととなる。
〔効果〕
以上の如く本発明装置にあっては溝の形成による比較的
簡単な構成によって面発光型半導体レーザ装置について
そのレーザ本体に光の検出部を一体化することが出来て
、レーザ光の安定に寄与し得る外、製作過程での検査、
特にウェーハ段階で共通電極を基盤目状に分断しておく
ことにより検査が極めて容易に、しかも一括して行い得
ることとなるなど、本発明は優れた効果を奏するもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の断面構造図、第2図は従来のフォ
トダイオードを集積したエツチングレーザ装置の模式図
である。 ■・・・基板 1a・・・孔 2・・・クラッド層 3
・・・活性層 4・・・クラッド層 5・・・共通電極
 6・・・ミラー蓋用電極 7・・・リング状の電極 
8・・・m 9・・・レーザ本体 10・・・フォトダ
イオード特 許 出願人  三洋電機株式会社 代理人 弁理士  河 野  登 夫 算 1 図 算2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、面発光型半導体レーザの側周にこれと一体化した光
    の検出部を形成し、レーザ光と直交する向きに生じた光
    を前記検出部にて検出するようにしたことを特徴とする
    半導体レーザ装置。
JP15446785A 1985-07-12 1985-07-12 半導体レ−ザ装置 Pending JPS6215872A (ja)

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JPS6215872A true JPS6215872A (ja) 1987-01-24

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6395690A (ja) * 1986-10-09 1988-04-26 Mitsubishi Electric Corp 面発光形半導体レ−ザ
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