JPS62146062A - レ−ザビ−ム走査装置 - Google Patents
レ−ザビ−ム走査装置Info
- Publication number
- JPS62146062A JPS62146062A JP60287453A JP28745385A JPS62146062A JP S62146062 A JPS62146062 A JP S62146062A JP 60287453 A JP60287453 A JP 60287453A JP 28745385 A JP28745385 A JP 28745385A JP S62146062 A JPS62146062 A JP S62146062A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- semiconductor laser
- laser
- laser beam
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数本出射されるレーザビームを感光体近傍
の非画像領域上に設けられた受光素子に順次−木ずつ入
射させて光量を測定し、制御回路によって半導体レーザ
のレーザビーム発光光量を制御するようにした複数のレ
ーザビーム走査装置に関する。
の非画像領域上に設けられた受光素子に順次−木ずつ入
射させて光量を測定し、制御回路によって半導体レーザ
のレーザビーム発光光量を制御するようにした複数のレ
ーザビーム走査装置に関する。
従来の複数のレーザビーム走査装置として、例えば特開
昭５９−１２４１６に示すものがある。
昭５９−１２４１６に示すものがある。
この装置は出射された２つのレーザビームが垂直に交わ
るように配置された２つの半導体レーザと、直交した２
つのレーザビームを一方向へ合成するビームスプリフタ
と、ビームスプリンタからのレーザビームを感光体に向
けて偏向走査する回転多面鏡と、該回転多面鏡によって
偏向走査されたレーザビームの中央部と端部とで走査光
点の偏差を集束補正するＦθレンズと、Ｆθレンズより
レーザビームが照射される感光体とより構成されている
。
るように配置された２つの半導体レーザと、直交した２
つのレーザビームを一方向へ合成するビームスプリフタ
と、ビームスプリンタからのレーザビームを感光体に向
けて偏向走査する回転多面鏡と、該回転多面鏡によって
偏向走査されたレーザビームの中央部と端部とで走査光
点の偏差を集束補正するＦθレンズと、Ｆθレンズより
レーザビームが照射される感光体とより構成されている
。
以上の構成において、２つの半導体レーザから出射され
た２つのレーザビームはビームスブリフタで直交し、一
方向へ合成されて回転多面鏡の回転によって偏向走査さ
れ、Ｆθレンズにより集束補正されたのち、感光体上に
同時に２本の走査線を形成することができる。
た２つのレーザビームはビームスブリフタで直交し、一
方向へ合成されて回転多面鏡の回転によって偏向走査さ
れ、Ｆθレンズにより集束補正されたのち、感光体上に
同時に２本の走査線を形成することができる。
しかし、従来の複数のレーザビーム走査装置によれば、
各半導体レーザから出力されたレーザビームの光量を測
定し、各半導体レーザの発光光量を制御しようとする場
合、各半導体レーザの光学系に対する出射面とは反対側
から出射されるレーザビームを測定して半導体レーザの
発光光量を制御しようとするため、それぞれの透過率、
反射率で光学系を透過、反射して感光体上に照射される
複数のレーザビームの光量と光量を測定されたレーザビ
ームの光量との値がそれぞれ異なり、感光体上に照射さ
れるレーザビームの光量は所望の値と異ってしまい、プ
リントに明暗の編笠発生するような不都合があった。
各半導体レーザから出力されたレーザビームの光量を測
定し、各半導体レーザの発光光量を制御しようとする場
合、各半導体レーザの光学系に対する出射面とは反対側
から出射されるレーザビームを測定して半導体レーザの
発光光量を制御しようとするため、それぞれの透過率、
反射率で光学系を透過、反射して感光体上に照射される
複数のレーザビームの光量と光量を測定されたレーザビ
ームの光量との値がそれぞれ異なり、感光体上に照射さ
れるレーザビームの光量は所望の値と異ってしまい、プ
リントに明暗の編笠発生するような不都合があった。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は上記
に鑑みてなされたものであり、複数のレーザビームが所
望の値の光量で、感光体上に照射されるようにするため
、感光体近傍の非画像領域にレーザビームの受光素子を
配置し、この受光素子による受光量信号に基づいて制御
回路が働き、複数の半導体レーザの発光光量を順次制御
するようにした複数のレーザビーム走査装置を提供する
ものである。
に鑑みてなされたものであり、複数のレーザビームが所
望の値の光量で、感光体上に照射されるようにするため
、感光体近傍の非画像領域にレーザビームの受光素子を
配置し、この受光素子による受光量信号に基づいて制御
回路が働き、複数の半導体レーザの発光光量を順次制御
するようにした複数のレーザビーム走査装置を提供する
ものである。
以下、本発明による複数のレーザビーム走査装置を詳細
に説明する。第１図乃至第２図実施例を示し、出射され
た２つのレーザビームＬ２及びＬ２が垂直に交わるよう
に配置された半導体レーザ１及び２と、該半導体レーザ
１及び２よりのレーザビームＬ１及びＬ２をそれぞれ平
行ビームにするコリメータレンズ３及び４と、直交した
２つのレーザビームし、及びＬ２を一方向へ合成するビ
ームスプリッタ５と、ビームスプリッタ５よりのレーザ
ビームＬｌ、Ｌ２を集光するシリンダーレンズ６と、シ
リンダーレンズ６を透過したレーザビームＬ、 、Ｌ、
を感光体１０に向けて偏向走査する回転多面鏡７と、該
回転多面鏡７によって偏向走査されたレーザビームｌ、
＋、Ｌｚの中央部と端部での走査光点の偏査を集束補正
するＦθレンズ８と、Ｆθレンズ８からのレーザビーム
Ｌ＋、Ｌｚを更に集光するシリンダーレンズ９と、シリ
ンダーレンズ９よりのレーザビームＬ＋、Ｌｚが照射さ
れる感光体１０と、感光体１０近傍のレーザビーム走査
領域内で且つ非画像領域に配置された受光素子１１と、
受光素子１１からのレーザビームの光量信号を受信して
、半導体レーザ１及び２の発光光量を制御する制御回路
１２とより構成されており、更に、制御回路１２は受光
素子１１で受けた光量信号を増幅して電圧に変換するア
ンプ２２と、基準電圧を発生する基準電圧発生器２４と
アンプ２２から送られてきた電圧を比較し差信号を出力
する比較器２３と、半導体レーザ１及び２の光量制御の
変換を行う切り換えスイッチ２５と、比較器２３より出
力された差信号に基づいて半導体レーザ１用の印加電流
を記録するＬＤＩ用印加電流記録器２６及び半導体レー
ザ２用のＬＤ２用印加電流記録器２７と、半導体レーザ
１及び２を駆動するＬＤＩ用ドラドライバー２８２９と
、半導体レーザ１あるいは２に対して発光光量を制御す
るよう切り換えるタイミングをとる切り換えタイミング
制御器３０と、画像信号に応じたレーザビームの出力信
号を半導体レーザ１．２に出力するＬＤ発光パターン発
生器３１とより構成されている。
に説明する。第１図乃至第２図実施例を示し、出射され
た２つのレーザビームＬ２及びＬ２が垂直に交わるよう
に配置された半導体レーザ１及び２と、該半導体レーザ
１及び２よりのレーザビームＬ１及びＬ２をそれぞれ平
行ビームにするコリメータレンズ３及び４と、直交した
２つのレーザビームし、及びＬ２を一方向へ合成するビ
ームスプリッタ５と、ビームスプリッタ５よりのレーザ
ビームＬｌ、Ｌ２を集光するシリンダーレンズ６と、シ
リンダーレンズ６を透過したレーザビームＬ、 、Ｌ、
を感光体１０に向けて偏向走査する回転多面鏡７と、該
回転多面鏡７によって偏向走査されたレーザビームｌ、
＋、Ｌｚの中央部と端部での走査光点の偏査を集束補正
するＦθレンズ８と、Ｆθレンズ８からのレーザビーム
Ｌ＋、Ｌｚを更に集光するシリンダーレンズ９と、シリ
ンダーレンズ９よりのレーザビームＬ＋、Ｌｚが照射さ
れる感光体１０と、感光体１０近傍のレーザビーム走査
領域内で且つ非画像領域に配置された受光素子１１と、
受光素子１１からのレーザビームの光量信号を受信して
、半導体レーザ１及び２の発光光量を制御する制御回路
１２とより構成されており、更に、制御回路１２は受光
素子１１で受けた光量信号を増幅して電圧に変換するア
ンプ２２と、基準電圧を発生する基準電圧発生器２４と
アンプ２２から送られてきた電圧を比較し差信号を出力
する比較器２３と、半導体レーザ１及び２の光量制御の
変換を行う切り換えスイッチ２５と、比較器２３より出
力された差信号に基づいて半導体レーザ１用の印加電流
を記録するＬＤＩ用印加電流記録器２６及び半導体レー
ザ２用のＬＤ２用印加電流記録器２７と、半導体レーザ
１及び２を駆動するＬＤＩ用ドラドライバー２８２９と
、半導体レーザ１あるいは２に対して発光光量を制御す
るよう切り換えるタイミングをとる切り換えタイミング
制御器３０と、画像信号に応じたレーザビームの出力信
号を半導体レーザ１．２に出力するＬＤ発光パターン発
生器３１とより構成されている。
以上の構成において、画像信号に基づいて半導体レーザ
１及び２よりレーザビームＬ、及びＬ２が出力され、コ
リメータレンズ３及び４がそれぞれのビームＬ、 、Ｌ
２を平行ビームにし、垂直に交わるレーザＬ１、Ｌ２は
ビームスプリッタ５によって一方向へ合成される。シリ
ンダーレンズ６を透過したビームＬ、、Ｌ２は回転多面
鏡７によって感光体１０に向けて偏向走査され、Ｆθレ
ンズによって集束補正された後シリンダーレンズ９を透
過して感光体１０に照射される。シリンダーレンズ９を
透過したビームＬｌ、Ｌ２は感光体１０近傍のレーザビ
ーム走査領域内で且つ非画像領域にある受光素子１１に
も入射され、例えば、第２図、第３図に示すように、レ
ーザビーム１を補正する場合には切り換えスイッチ２５
及び切り換えタイミング制御器３０によって、光源切り
換え信号４４が出力されて受光素子１１上は半導体レー
ザのみが点灯し、受光素子１１で受けた半導体レーザ１
の光量４１の信号はアンプ２２を介して、これを比較器
２３と基準電圧発生器２４によって比較され、比較器２
３からの基準の差信号４３がＬＤＩ用印加電流記録器２
６に出力されてＬＤＩ用ドラドライバー２８動を制御し
、半導体レーザ１の光量が制御される。半導体レーザ１
の光量補正が終了すると、光源切り換えスイッチ２５及
び切り換えタイミング制御器３０によって光源切り換え
信号４４が出力されて受光素子１１上は半導体レーザ２
のみが点灯し、受光素子１１は半導体レーザ２の光量４
２を受けて上述の半導体レーザ１を制御する場合の手順
と同様にして、基準電圧発生器２４との比較による比較
器２３からの差信号４３がＬＤ２用印加電流記録器２７
に出力されてＬＤ２用ドラドライバー２９動を制御し、
半導体レーザ２の光量出力を制御する。
１及び２よりレーザビームＬ、及びＬ２が出力され、コ
リメータレンズ３及び４がそれぞれのビームＬ、 、Ｌ
２を平行ビームにし、垂直に交わるレーザＬ１、Ｌ２は
ビームスプリッタ５によって一方向へ合成される。シリ
ンダーレンズ６を透過したビームＬ、、Ｌ２は回転多面
鏡７によって感光体１０に向けて偏向走査され、Ｆθレ
ンズによって集束補正された後シリンダーレンズ９を透
過して感光体１０に照射される。シリンダーレンズ９を
透過したビームＬｌ、Ｌ２は感光体１０近傍のレーザビ
ーム走査領域内で且つ非画像領域にある受光素子１１に
も入射され、例えば、第２図、第３図に示すように、レ
ーザビーム１を補正する場合には切り換えスイッチ２５
及び切り換えタイミング制御器３０によって、光源切り
換え信号４４が出力されて受光素子１１上は半導体レー
ザのみが点灯し、受光素子１１で受けた半導体レーザ１
の光量４１の信号はアンプ２２を介して、これを比較器
２３と基準電圧発生器２４によって比較され、比較器２
３からの基準の差信号４３がＬＤＩ用印加電流記録器２
６に出力されてＬＤＩ用ドラドライバー２８動を制御し
、半導体レーザ１の光量が制御される。半導体レーザ１
の光量補正が終了すると、光源切り換えスイッチ２５及
び切り換えタイミング制御器３０によって光源切り換え
信号４４が出力されて受光素子１１上は半導体レーザ２
のみが点灯し、受光素子１１は半導体レーザ２の光量４
２を受けて上述の半導体レーザ１を制御する場合の手順
と同様にして、基準電圧発生器２４との比較による比較
器２３からの差信号４３がＬＤ２用印加電流記録器２７
に出力されてＬＤ２用ドラドライバー２９動を制御し、
半導体レーザ２の光量出力を制御する。
尚、第３図中４５は所望の光量の値を示し、４６は半導
体レーザｌの制御前の光量、４７は半導体レーザ１の制
御後の光量、４８は半導体レーザ２の制御前の光量、４
９は半導体レーザ２の制御後の光量をそれぞれ示すもの
である。
体レーザｌの制御前の光量、４７は半導体レーザ１の制
御後の光量、４８は半導体レーザ２の制御前の光量、４
９は半導体レーザ２の制御後の光量をそれぞれ示すもの
である。
以上説明した通り、本発明の複数のレーザビーム走査装
置によれば、感光体近傍の非画像領域にレーザビームの
受光素子を配置し、この受光素子による受光量の信号に
基づいて制御回路が働き複数の半導体レーザの発光光量
を順次制御するようにしたため、複数のレーザビームが
所望の値の光量で感光体上に照射することができる。
置によれば、感光体近傍の非画像領域にレーザビームの
受光素子を配置し、この受光素子による受光量の信号に
基づいて制御回路が働き複数の半導体レーザの発光光量
を順次制御するようにしたため、複数のレーザビームが
所望の値の光量で感光体上に照射することができる。
第１図は本願の一実施例を示す説明図、第２図は構成図
の制御回路の構成図、第３図は光量及び制御信号のタイ
ムチャート。 符号の説明 ■・・・半導体レーザ、 ２・・・半導体レーザ、
３・・・コリメータレンズ、 ４・・・コリメータレ
ンズ、５・・・ビームスプリンタ、 ６川シリンダーレ
ンズ、７・・・回転多面鏡、 ８・・・Ｆθレ
ンズ、９・・・シリンダーレンズ、 １ｏ・・・感光体
、１１・・・受光体、 １２・・・制御回路
、２２・・・アンプ、 ２３・・・比較器、
２４・・・基準電圧発生器、 ２５・・・切り換えス
イッチ、２６・・・記録器、 ２７・・・記
録器、２８、２９・・・ＬＤＩ用ドライバ、 ３０・・・切り換えタイミング制御、 ４１・・・半導体レーザ１の光量、 ４２・・・半導体レーザ２の光量、 ４３・・・差信号、 ４４・・・光源切換え
信号。 特 許 出 願 人 冨士ゼロックス株式会社代理人
弁理士 松 原 伸 ２ 同 同 村木清司 同 同 上島淳− 同 同 酒 井 宏 明第３図
の制御回路の構成図、第３図は光量及び制御信号のタイ
ムチャート。 符号の説明 ■・・・半導体レーザ、 ２・・・半導体レーザ、
３・・・コリメータレンズ、 ４・・・コリメータレ
ンズ、５・・・ビームスプリンタ、 ６川シリンダーレ
ンズ、７・・・回転多面鏡、 ８・・・Ｆθレ
ンズ、９・・・シリンダーレンズ、 １ｏ・・・感光体
、１１・・・受光体、 １２・・・制御回路
、２２・・・アンプ、 ２３・・・比較器、
２４・・・基準電圧発生器、 ２５・・・切り換えス
イッチ、２６・・・記録器、 ２７・・・記
録器、２８、２９・・・ＬＤＩ用ドライバ、 ３０・・・切り換えタイミング制御、 ４１・・・半導体レーザ１の光量、 ４２・・・半導体レーザ２の光量、 ４３・・・差信号、 ４４・・・光源切換え
信号。 特 許 出 願 人 冨士ゼロックス株式会社代理人
弁理士 松 原 伸 ２ 同 同 村木清司 同 同 上島淳− 同 同 酒 井 宏 明第３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 画像信号によって変調された複数本のレーザビームを
偏向ならびに集束し、当該集束されたレーザビームによ
って感光体上に複数本の走査線を画像信号によって露光
し、画像形成するレーザビーム走査装置において、 感光体の非画像領域近傍に設けた複数本のレーザビーム
を各々光量測定する受光素子と、該受光素子からの光量
信号に基づいて複数本の半導体レーザの各々の発光光量
を制御する制御部とを備えたことを特徴とするレーザビ
ーム走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60287453A JPS62146062A (ja) | 1985-12-20 | 1985-12-20 | レ−ザビ−ム走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60287453A JPS62146062A (ja) | 1985-12-20 | 1985-12-20 | レ−ザビ−ム走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62146062A true JPS62146062A (ja) | 1987-06-30 |
Family
ID=17717524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60287453A Pending JPS62146062A (ja) | 1985-12-20 | 1985-12-20 | レ−ザビ−ム走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62146062A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0358171A2 (en) * | 1988-09-06 | 1990-03-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Light intensity control apparatus |
| JP2004106419A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Fuji Xerox Co Ltd | 光源制御装置 |
-
1985
- 1985-12-20 JP JP60287453A patent/JPS62146062A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0358171A2 (en) * | 1988-09-06 | 1990-03-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Light intensity control apparatus |
| US5043745A (en) * | 1988-09-06 | 1991-08-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Light intensity control apparatus |
| JP2004106419A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Fuji Xerox Co Ltd | 光源制御装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8197066B2 (en) | Image display apparatus | |
| US5006704A (en) | Optical scanner and method for generating and detecting a composite dot on a scanning medium | |
| JP4081973B2 (ja) | 光走査装置 | |
| JPS63142316A (ja) | 半導体レ−ザアレイ光源装置及び同光源装置を使用したレ−ザスキヤナ | |
| JPH077152B2 (ja) | 光ビーム走査装置 | |
| JPH0256518A (ja) | 画像走査記録装置 | |
| US5340975A (en) | Method and apparatus for reducing the effects of laser noise and for improving modulation transfer function in scanning a photoconductive surface | |
| CA2068060A1 (en) | Method for spot position control in an optical output device employing a variable wavelength light source | |
| JPS62146062A (ja) | レ−ザビ−ム走査装置 | |
| EP0785077B1 (en) | Image recording apparatus with an array light source | |
| JP2002086793A (ja) | 画像記録装置 | |
| JPS6367074A (ja) | レ−ザ走査装置 | |
| JP2508871B2 (ja) | マルチビ―ム走査光学系 | |
| JP4632751B2 (ja) | 光走査装置 | |
| JPH0618802A (ja) | 光走査装置 | |
| JP2005193460A (ja) | 走査記録装置 | |
| JP2719064B2 (ja) | 画像記録装置 | |
| US6326609B1 (en) | Scanning drawing apparatus | |
| JPH0685361A (ja) | 半導体レーザ光源装置 | |
| JP2006171318A (ja) | 走査露光装置 | |
| JPS5926006A (ja) | マルチビ−ム走査装置におけるビ−ム位置検知方法 | |
| JPH02244022A (ja) | 光走査装置の光源装置 | |
| JP2001305451A (ja) | 光ビーム走査装置 | |
| JPH048697Y2 (ja) | ||
| JPS62164015A (ja) | 複数ビ−ムを用いた走査装置 |