JPS6214011A - Ｘ線イメ−ジセンサを用いた不可視物体の計測方式 - Google Patents
Ｘ線イメ−ジセンサを用いた不可視物体の計測方式Info
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- JPS6214011A JPS6214011A JP15347685A JP15347685A JPS6214011A JP S6214011 A JPS6214011 A JP S6214011A JP 15347685 A JP15347685 A JP 15347685A JP 15347685 A JP15347685 A JP 15347685A JP S6214011 A JPS6214011 A JP S6214011A
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、不可視物体の構造識別や形態診断等に有用な
Ｘ線イメージセンサを用いた不可視物体の計測方式に関
するものである。
Ｘ線イメージセンサを用いた不可視物体の計測方式に関
するものである。
従来、工業計測あるいは放射線医学におけるＸ線応用分
野では、Ｘ線写真やＸ線蛍光体投影像を利用した不可視
物体の構造、形態の識別、診断等が行われてきた。
野では、Ｘ線写真やＸ線蛍光体投影像を利用した不可視
物体の構造、形態の識別、診断等が行われてきた。
しかしながら、従来法で被測定部位の識別や寸法面積を
定量的に測定しようとするとマニュアルあるいはＴＶカ
メラを介して画像情報を得るため、測定手順が繁雑、か
つ不連続的な測定となる。また、ディジタルＸ線映像法
に代表される連続的な測定法はシステム構成が大規模、
かつ高価といった難点を持っている。
定量的に測定しようとするとマニュアルあるいはＴＶカ
メラを介して画像情報を得るため、測定手順が繁雑、か
つ不連続的な測定となる。また、ディジタルＸ線映像法
に代表される連続的な測定法はシステム構成が大規模、
かつ高価といった難点を持っている。
本発明は、上記の問題点を解決するものであって、Ｘ線
と可視光の両者に感度を有するＸ線検出用イメージセン
サに着目して、Ｘ線写真やＴＶカメラを介さずに構成が
容易で、操作性に冨むＸ線イメージセンサを用いた不可
視物体の計測方式を提供することを目的とするものであ
る。
と可視光の両者に感度を有するＸ線検出用イメージセン
サに着目して、Ｘ線写真やＴＶカメラを介さずに構成が
容易で、操作性に冨むＸ線イメージセンサを用いた不可
視物体の計測方式を提供することを目的とするものであ
る。
そのために本発明のＸ線イメージセンサを用いた不可視
物体の計測方式は、Ｘ線検出用１次元イメージセンサ（
１７）を一軸移動テーブル（１６）により副操作し、Ｘ
線照射時および可視光照射時における不可視物体（１８
）の投影像を２次元的にとらえ、該投影像情報から不可
視部分および外観部分の寸法、面積を測定することを特
徴とするものである。
物体の計測方式は、Ｘ線検出用１次元イメージセンサ（
１７）を一軸移動テーブル（１６）により副操作し、Ｘ
線照射時および可視光照射時における不可視物体（１８
）の投影像を２次元的にとらえ、該投影像情報から不可
視部分および外観部分の寸法、面積を測定することを特
徴とするものである。
本発明のＸ線イメージセンサを用いた不可視物体の計測
方式では、Ｘ線と可視光の両者に感度を有するＸ線検出
用イメージセンサを用いることによって、Ｘ線照射によ
る不可視部分の２次元投射像が得られ、可視光照射によ
る外観部分の２次元投射像が得られるから、これらの２
次元投射像より不可視物体の外側肉厚寸法や不可視部分
の寸法、面積等を測定することができる。
方式では、Ｘ線と可視光の両者に感度を有するＸ線検出
用イメージセンサを用いることによって、Ｘ線照射によ
る不可視部分の２次元投射像が得られ、可視光照射によ
る外観部分の２次元投射像が得られるから、これらの２
次元投射像より不可視物体の外側肉厚寸法や不可視部分
の寸法、面積等を測定することができる。
以下、実施例を図面を参照しつつ説明する。
第１図は本発明のＸ線イメージセンサを用いた不可視物
体の計測方式の１実施例構成を示すブロック図、第２図
は第１図に示すブロック図の動作を説明するためのタイ
ムチャート、第３図はサーキットボードから出力される
ビデオ信号を説明するための図である。
体の計測方式の１実施例構成を示すブロック図、第２図
は第１図に示すブロック図の動作を説明するためのタイ
ムチャート、第３図はサーキットボードから出力される
ビデオ信号を説明するための図である。
第１図において、タイマ回路（４）、リレー回路（３）
、Ｘ線発生器（１）および可視光源（２）はＸ線および
可視光の照射制御部を構成し、一軸移動テーブル（１６
） 、Ｘ線検出１次元イメージセンサ（１７）、ステン
ピングモータ（１９）およびサーキットボード（２２）
は逼像部を構成し、サンプルホールド回路（２３）およ
びＡ／Ｄ変換回路（２８）より後はデータ処理部を構成
している。
、Ｘ線発生器（１）および可視光源（２）はＸ線および
可視光の照射制御部を構成し、一軸移動テーブル（１６
） 、Ｘ線検出１次元イメージセンサ（１７）、ステン
ピングモータ（１９）およびサーキットボード（２２）
は逼像部を構成し、サンプルホールド回路（２３）およ
びＡ／Ｄ変換回路（２８）より後はデータ処理部を構成
している。
タイマ回路（４）は、Ｘ線照射時間および可視光照射時
間に対応する照射基準信号Ｔを発生するものであり、リ
レー回路（３）は、この照射基準信号Ｔを受けてｘ１発
生器（１）および可視光源（２）を交互に駆動するもの
である。
間に対応する照射基準信号Ｔを発生するものであり、リ
レー回路（３）は、この照射基準信号Ｔを受けてｘ１発
生器（１）および可視光源（２）を交互に駆動するもの
である。
Ｘ線発生器（１）および可視光源（２）の直下には、Ｘ
４ｍ検出１次元イメージセンサ（１７）を登載した一軸
移動テーブル（１６）が設置され、Ｘ線検出１次元イメ
ージセンサ（１７）の受光面上にｘｌ検出１次元イメー
ジセンサ（１７）の長軸と直交するように非接触の状態
で被測定対象の不可視物体（１８）が設置される。
４ｍ検出１次元イメージセンサ（１７）を登載した一軸
移動テーブル（１６）が設置され、Ｘ線検出１次元イメ
ージセンサ（１７）の受光面上にｘｌ検出１次元イメー
ジセンサ（１７）の長軸と直交するように非接触の状態
で被測定対象の不可視物体（１８）が設置される。
Ｘ線発生器（１）及び可視光源（２）は、例えば不可視
物体（１８）にそれぞれＸ線を０．５秒、可視光を２０
秒ずつ交互に照射するようにリレー回路（３）により駆
動される。従って、Ｘ線検出１次元イメージセンサ（１
７）による１ラインの撮像は、２０．５秒を要し、この
間に１ラインのｍＪｈ＋ｅｌ＆’；Ａ）’−１ソヒーー
々（Ａ ９ ）へＷＱＪＡ；人ｒ：：ｈになる。
物体（１８）にそれぞれＸ線を０．５秒、可視光を２０
秒ずつ交互に照射するようにリレー回路（３）により駆
動される。従って、Ｘ線検出１次元イメージセンサ（１
７）による１ラインの撮像は、２０．５秒を要し、この
間に１ラインのｍＪｈ＋ｅｌ＆’；Ａ）’−１ソヒーー
々（Ａ ９ ）へＷＱＪＡ；人ｒ：：ｈになる。
Ｘ線検出１次元イメージセンサ（１７）の検出部は、５
１２個のフォトダイオードがライン上に集積されたもの
であり、サーキットボード（２２）で発生するクロック
パルスにより最高ＩＭＨｚ／ｂｉｔの速度で走査される
。サーキットボード（２２）は、フォトダイオードアレ
イ走査用の２相りロックパルス発生器やサンプルホール
ド積分回路、バッファ増幅器を有し、フォトダイオード
出力をサンプルホールド積分回路により平滑処理してビ
デオ信号ＶＩＤとする。
１２個のフォトダイオードがライン上に集積されたもの
であり、サーキットボード（２２）で発生するクロック
パルスにより最高ＩＭＨｚ／ｂｉｔの速度で走査される
。サーキットボード（２２）は、フォトダイオードアレ
イ走査用の２相りロックパルス発生器やサンプルホール
ド積分回路、バッファ増幅器を有し、フォトダイオード
出力をサンプルホールド積分回路により平滑処理してビ
デオ信号ＶＩＤとする。
Ｘ線検出１次元イメージセンサ（１７）で撮像される像
は１次元であるため、一軸移動テーブル（１６）を用い
てＸ線検出１次元イメージセンサ（１７）を副走査する
ことによって、２次元画像を得るようにしている。この
一軸移動テーブル（１６）を副走査するのがステンビン
グモータ（１９）であり、モータドライバ（２０）の出
力パルスにより駆動される。従って、モータドライバ（
２０）の出力パルスを任意に調節できるようにすること
によって副走査速度が変更でき、不可視物体（１８）に
応じて撮像分解能が変更できる。
は１次元であるため、一軸移動テーブル（１６）を用い
てＸ線検出１次元イメージセンサ（１７）を副走査する
ことによって、２次元画像を得るようにしている。この
一軸移動テーブル（１６）を副走査するのがステンビン
グモータ（１９）であり、モータドライバ（２０）の出
力パルスにより駆動される。従って、モータドライバ（
２０）の出力パルスを任意に調節できるようにすること
によって副走査速度が変更でき、不可視物体（１８）に
応じて撮像分解能が変更できる。
メモリ （２７）は、Ｘ線照射により撮像した不可視像
データを格納するものであり、そのアドレスを指定する
のがアドレスカウンタ（２６）である。もう一方のメモ
リ （３４）は、可視光照射により撮像した外観像デー
タを格納するものであり、そのアドレスを指定するのが
アドレスカウンタ（３５）である。
データを格納するものであり、そのアドレスを指定する
のがアドレスカウンタ（２６）である。もう一方のメモ
リ （３４）は、可視光照射により撮像した外観像デー
タを格納するものであり、そのアドレスを指定するのが
アドレスカウンタ（３５）である。
コンピュータ（４２）では、ＢＡＳ Ｉ Ｃによるメイ
ンプログラム、機械語による計測ならびに画像表示すブ
ルーチンからなるプログラムを実行する。メインプログ
ラムは、測定部位の指定、測定結果のＣＲＴ （４３）
上への表示、プリンタ（４４）、ペンレコーダ（３１，
４１）への出力、実行判断の各機能を有する。計測サブ
ルーチンは、画像データから不可視部分および外観部分
の寸法面積の計測データを作成する。さらに画像表示す
ブルーチンは、メインプログラムで指定した不可視像お
よび外観像をＣＲＴ（４３）上に表示するプログラムで
ある。このプログラムにより画像データが分解、再合成
され、コンピュータ内（４２）のグラフインクＲＡＭに
直接書き込まれる。
ンプログラム、機械語による計測ならびに画像表示すブ
ルーチンからなるプログラムを実行する。メインプログ
ラムは、測定部位の指定、測定結果のＣＲＴ （４３）
上への表示、プリンタ（４４）、ペンレコーダ（３１，
４１）への出力、実行判断の各機能を有する。計測サブ
ルーチンは、画像データから不可視部分および外観部分
の寸法面積の計測データを作成する。さらに画像表示す
ブルーチンは、メインプログラムで指定した不可視像お
よび外観像をＣＲＴ（４３）上に表示するプログラムで
ある。このプログラムにより画像データが分解、再合成
され、コンピュータ内（４２）のグラフインクＲＡＭに
直接書き込まれる。
次に全体の動作を第２図に示すタイムチャートを参照し
つつ説明する。
つつ説明する。
タイマ回路（４）が出力する照射基準信号Ｔにによって
リレー回路（３）は、Ｘ線照射信号Ｘ、可視光照射信号
りを生成してＸ線発生器（１）、可視光源（２）を駆動
する。これにより被測定対象の不可視物体（１８）にＸ
ｖＡと可視光が交互に繰り返して照射される。また、Ｘ
ｖＡ照射信号Ｘ、可視光照射信号りによってモノマルチ
バイブレータ７．１１を動作させ、Ｘ線ビデオ信号に対
するウィンドウ信号ＷＸ、可視光ビデオ信号に対するウ
ィンドウ信号ＷＬを生成する。モノマルチバイブレータ
７は、Ｘ線の最大照射時のビデオ信号を抽出するために
作成するフォトダイオ走査開始パルスＳＰを含むウィン
ドウ信号Ｗｌｌを生成するように動作する。
リレー回路（３）は、Ｘ線照射信号Ｘ、可視光照射信号
りを生成してＸ線発生器（１）、可視光源（２）を駆動
する。これにより被測定対象の不可視物体（１８）にＸ
ｖＡと可視光が交互に繰り返して照射される。また、Ｘ
ｖＡ照射信号Ｘ、可視光照射信号りによってモノマルチ
バイブレータ７．１１を動作させ、Ｘ線ビデオ信号に対
するウィンドウ信号ＷＸ、可視光ビデオ信号に対するウ
ィンドウ信号ＷＬを生成する。モノマルチバイブレータ
７は、Ｘ線の最大照射時のビデオ信号を抽出するために
作成するフォトダイオ走査開始パルスＳＰを含むウィン
ドウ信号Ｗｌｌを生成するように動作する。
他方、サーキットボード（２２）は、Ｘｌｌ検出１次元
イメージセンサ（１７）のフォトダイオード走査開始パ
ルスＳＰ、走査終了パルスＥＮＤを送出してフォトダイ
オードアレイを走査し、フォトダイオード出力をサンプ
ルホールド積分回路により平滑処理してビデオ信号ＶＩ
Ｄを送出する。
イメージセンサ（１７）のフォトダイオード走査開始パ
ルスＳＰ、走査終了パルスＥＮＤを送出してフォトダイ
オードアレイを走査し、フォトダイオード出力をサンプ
ルホールド積分回路により平滑処理してビデオ信号ＶＩ
Ｄを送出する。
そして、走査開始パルスＳＰとウィンドウ信号Ｗ８によ
ってＲ−Ｓフリップフロップ９をセットして、Ｘ線最大
照射時のビデオ信号におけるフォトダイオードｌ走査分
を示す時間幅信号Ｃ１を生成し、アドレスカウンタ（２
６）のアンプカウントパルスＣ，Ｘ、Ａ／Ｄ変換器（２
８）の変換開始信号ＣＣ，及びパストランシーバ（２９
，３１）のエネイブル信号Ｃ８を送出する。また、走査
開始パルスＳＰとウィンドウ信号Ｗ、によってＲ−Ｓフ
リップフロップ１３をセットして、可視光ビデオ信号に
おけるフォトダイオード１走査分を示す時間幅信号Ｃ！
Ｌを生成し、アドレスカウンタ（３５）のアップカウン
トパルスＣＰいＡ／Ｄ変換器（２８）の変換開始信号Ｃ
Ｃ１及びパストランシーバ（２９，３１）のエネイブル
信号Ｃ８を送出する。
ってＲ−Ｓフリップフロップ９をセットして、Ｘ線最大
照射時のビデオ信号におけるフォトダイオードｌ走査分
を示す時間幅信号Ｃ１を生成し、アドレスカウンタ（２
６）のアンプカウントパルスＣ，Ｘ、Ａ／Ｄ変換器（２
８）の変換開始信号ＣＣ，及びパストランシーバ（２９
，３１）のエネイブル信号Ｃ８を送出する。また、走査
開始パルスＳＰとウィンドウ信号Ｗ、によってＲ−Ｓフ
リップフロップ１３をセットして、可視光ビデオ信号に
おけるフォトダイオード１走査分を示す時間幅信号Ｃ！
Ｌを生成し、アドレスカウンタ（３５）のアップカウン
トパルスＣＰいＡ／Ｄ変換器（２８）の変換開始信号Ｃ
Ｃ１及びパストランシーバ（２９，３１）のエネイブル
信号Ｃ８を送出する。
サーキットボード（２２）から出力されるビデオ信号Ｖ
ＩＤは、サンプルホールド回路（２３）を経てＡ／Ｄ変
換器（２８）に導かれる。ここでビデオ振幅値が２５６
段階のディジタル量に変換される。Ａ／Ｄ変換器（２８
）のデータ信号は、パストランシーバ（２９）を通して
、まずＸ線照射により撮像した不可視像データがメモリ
（２７）に転送される０次いで可視光照射により撮像
した外観像データがメモリ （３４）に転送される。
ＩＤは、サンプルホールド回路（２３）を経てＡ／Ｄ変
換器（２８）に導かれる。ここでビデオ振幅値が２５６
段階のディジタル量に変換される。Ａ／Ｄ変換器（２８
）のデータ信号は、パストランシーバ（２９）を通して
、まずＸ線照射により撮像した不可視像データがメモリ
（２７）に転送される０次いで可視光照射により撮像
した外観像データがメモリ （３４）に転送される。
データのそれぞれのメモリへの振り分けは、メモリ書き
込み信号Ｗｆｘ、ＷＥＬにより行われ、メモリ（２７，
３４）のアドレスは、アドレスカウンタ（２６，３５）
がアンプカウントパルスｃｐ、。
込み信号Ｗｆｘ、ＷＥＬにより行われ、メモリ（２７，
３４）のアドレスは、アドレスカウンタ（２６，３５）
がアンプカウントパルスｃｐ、。
ＣＰ、を計数することによって更新される。
メモリ （３４）への書き込み終了後、走査終了パルス
ＥＮＤによってＲ−Ｓフリップフロップ１３がリセット
されると、モータドライバ（２０）に供給するテーブル
移動開始信号ＤＳが発生し、一軸移動テーブル（１６）
は所用分解化分移動し副走査される。同時にこのテーブ
ル移動開始信号ＤＳは、汎用インターフェースＩＣ（３
６）のボートからコンピュータ（４２）に取り込まれ、
コンピュータ（４２）内からメモリ （２７）の読み出
し信号ＯＥＸ、アドレスカウンタ（２６）のダウンカウ
ント信号ＣＤＸを出力させる。すなわちコンピュータ（
４２）は、ソフト上で指定したメモリ読み出し信号ＯＲ
，をメモリ （２７）に送って不可視像データをメモリ
（２７）からパストランシーバ（３１）を介して読み
込む。そのとき、アドレスカウンタ（２６）のカウント
ダウン端子へカウントダウンパルスＣＤ、を送る。アド
レスカウンタ（２６）は、最終のデータのアドレスより
１つづつカウントダウンしてボロウ信号ＢＲ。
ＥＮＤによってＲ−Ｓフリップフロップ１３がリセット
されると、モータドライバ（２０）に供給するテーブル
移動開始信号ＤＳが発生し、一軸移動テーブル（１６）
は所用分解化分移動し副走査される。同時にこのテーブ
ル移動開始信号ＤＳは、汎用インターフェースＩＣ（３
６）のボートからコンピュータ（４２）に取り込まれ、
コンピュータ（４２）内からメモリ （２７）の読み出
し信号ＯＥＸ、アドレスカウンタ（２６）のダウンカウ
ント信号ＣＤＸを出力させる。すなわちコンピュータ（
４２）は、ソフト上で指定したメモリ読み出し信号ＯＲ
，をメモリ （２７）に送って不可視像データをメモリ
（２７）からパストランシーバ（３１）を介して読み
込む。そのとき、アドレスカウンタ（２６）のカウント
ダウン端子へカウントダウンパルスＣＤ、を送る。アド
レスカウンタ（２６）は、最終のデータのアドレスより
１つづつカウントダウンしてボロウ信号ＢＲ。
を送出する。このボロウ信号ＢＲ，が出力されるまで、
メモリ （２７）の不可視像データはコンピュータ（４
２）に取り込まれる。また、この信号は可視光側のメモ
リ （３４）の読み出し信号ＯＥ１、アドレスカウンタ
（３５）のダウンカウントパルスＣＤＬをコンピュータ
（４２）から出力させる指令信号となる。アドレスカウ
ンタ（３１）のボロウ信号ＢＲ，をコンビエータ（４２
）が読むと、次にコンピュータ（４２）は、パストラン
シーバ（３１）を介して不可視像データの場合と同様に
外観像データをメモリ （３４）から読み込む。
メモリ （２７）の不可視像データはコンピュータ（４
２）に取り込まれる。また、この信号は可視光側のメモ
リ （３４）の読み出し信号ＯＥ１、アドレスカウンタ
（３５）のダウンカウントパルスＣＤＬをコンピュータ
（４２）から出力させる指令信号となる。アドレスカウ
ンタ（３１）のボロウ信号ＢＲ，をコンビエータ（４２
）が読むと、次にコンピュータ（４２）は、パストラン
シーバ（３１）を介して不可視像データの場合と同様に
外観像データをメモリ （３４）から読み込む。
コンピュータ（４２）は、以上のようにして画像データ
を、ＢＡＳＩＣによるメインプログラム、機械語による
計測ならびに画像表示すブルーチンからなるプログラム
により１回の副走査毎の不可視像あるいは外観像の何れ
か、またはそれらを併せた像をＣＲＴ （４３）および
プリンタ（４４）にディスプレイ表示および印刷出力す
ると共に、指定した部位の寸法面積を計数し、その計数
データを数字あるいはグラフインク出力する。さらには
、計数データを汎用インターフェース（３７）、Ｄ／Ａ
変換器（３８，４０）を経てペンレコーダ（３９，４１
）にアナログ記録する。
を、ＢＡＳＩＣによるメインプログラム、機械語による
計測ならびに画像表示すブルーチンからなるプログラム
により１回の副走査毎の不可視像あるいは外観像の何れ
か、またはそれらを併せた像をＣＲＴ （４３）および
プリンタ（４４）にディスプレイ表示および印刷出力す
ると共に、指定した部位の寸法面積を計数し、その計数
データを数字あるいはグラフインク出力する。さらには
、計数データを汎用インターフェース（３７）、Ｄ／Ａ
変換器（３８，４０）を経てペンレコーダ（３９，４１
）にアナログ記録する。
第３図はＸ線検出１次元イメージセンサ（４８）の受光
面上に造影剤（４６）が注入された被測定対象の不可視
物体（１８）を設置し、上方からＸ線あるいは可視光（
４５）を照射した場合において、サーキットボード（２
２）から出力されるビデオ信号ＶＩＤ（４７，４８）を
模式的に示したものである。第３図において、ビデオ信
号（４７）はＸ線照射による造影剤（４６）の投影像で
あり、ビデオ信号（４８）は可視光による外形の投影像
である。これらは、内径と外径のビデオ信号となるので
、例えばこのビデオ信号（４７）とビデオ信号（４８）
との立ち上がり部及び立ち下がり部の寸法の差を求める
ことにより、管の壁厚を測定することができる。
面上に造影剤（４６）が注入された被測定対象の不可視
物体（１８）を設置し、上方からＸ線あるいは可視光（
４５）を照射した場合において、サーキットボード（２
２）から出力されるビデオ信号ＶＩＤ（４７，４８）を
模式的に示したものである。第３図において、ビデオ信
号（４７）はＸ線照射による造影剤（４６）の投影像で
あり、ビデオ信号（４８）は可視光による外形の投影像
である。これらは、内径と外径のビデオ信号となるので
、例えばこのビデオ信号（４７）とビデオ信号（４８）
との立ち上がり部及び立ち下がり部の寸法の差を求める
ことにより、管の壁厚を測定することができる。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、Ｘ線
検出１次元イメージセンサを副走査し、不可視像ならび
に外観像を２次元像として画像表示すると共に、不可視
部分、外観部分の寸法面積測定、動態解析が簡易かつ安
価にできる。本発明は、だれでも容易に使用できる不可
視物体の構造認識手段を提供するものであって、理工学
、医学などの各分野に多大の貢献を果たすことが可能で
あり、社会的意義は大きい。
検出１次元イメージセンサを副走査し、不可視像ならび
に外観像を２次元像として画像表示すると共に、不可視
部分、外観部分の寸法面積測定、動態解析が簡易かつ安
価にできる。本発明は、だれでも容易に使用できる不可
視物体の構造認識手段を提供するものであって、理工学
、医学などの各分野に多大の貢献を果たすことが可能で
あり、社会的意義は大きい。
第１図は本発明のＸ線イメージセンサを用いた不可視物
体の計測方式の１実施例構成を示すブロック図、第２図
は第１図に示すブロック図の動作を説明するためのタイ
ムチャート、第３図はサーキットボードから出力される
ビデオ信号を説明するための図である。 １・・・Ｘ線発生器、２・・・可視光源、３・・・リレ
ー回路、４・・・タイマ回路、５・・・クロック発生器
、６．１５・ＯＲ回路、７．１１．２１．２５．３３
・・・モノマルチバイブレータ、８．１０，１２．１４
．２４．３２・・・ＮＡＮＤ回路、９．１３・・・Ｒ−
Ｓフリップフロップ、１６・・・一軸移動テーブル、１
７・・・Ｘ線検出１次元イメージセンサ、１８・・・不
可視物体、１９・・・ステンピングモータ、２０・・・
モータドライバ、２２・・・サーキットボード、２３・
・・サンプルホールド回路、２６．３５・・・アドレス
カウンタ、２７．３４・・・メモリ、２８・・・Ａ／Ｄ
変換器、２９、３１・・・ハストランシーバ、３０・・
・インパーク、３６．３７・・・汎用インターフェース
ＩＣ，３８，４０・・・Ｄ ／ Ａ ｉｌ器、３９．４
１・・・ペンレコーダ、４２・・・コンピュータ、４３
・・・ＣＲＴ、４４・・・プリンタ、４５・・・Ｘ線あ
るいは可視光、４６・・・被測定対象の内腔に注入され
た造影剤、４７と４８・・・ビデオ信号。 特許出願人 新技術開発事業団 代理人弁理士 阿 部 龍 吉 第２図
体の計測方式の１実施例構成を示すブロック図、第２図
は第１図に示すブロック図の動作を説明するためのタイ
ムチャート、第３図はサーキットボードから出力される
ビデオ信号を説明するための図である。 １・・・Ｘ線発生器、２・・・可視光源、３・・・リレ
ー回路、４・・・タイマ回路、５・・・クロック発生器
、６．１５・ＯＲ回路、７．１１．２１．２５．３３
・・・モノマルチバイブレータ、８．１０，１２．１４
．２４．３２・・・ＮＡＮＤ回路、９．１３・・・Ｒ−
Ｓフリップフロップ、１６・・・一軸移動テーブル、１
７・・・Ｘ線検出１次元イメージセンサ、１８・・・不
可視物体、１９・・・ステンピングモータ、２０・・・
モータドライバ、２２・・・サーキットボード、２３・
・・サンプルホールド回路、２６．３５・・・アドレス
カウンタ、２７．３４・・・メモリ、２８・・・Ａ／Ｄ
変換器、２９、３１・・・ハストランシーバ、３０・・
・インパーク、３６．３７・・・汎用インターフェース
ＩＣ，３８，４０・・・Ｄ ／ Ａ ｉｌ器、３９．４
１・・・ペンレコーダ、４２・・・コンピュータ、４３
・・・ＣＲＴ、４４・・・プリンタ、４５・・・Ｘ線あ
るいは可視光、４６・・・被測定対象の内腔に注入され
た造影剤、４７と４８・・・ビデオ信号。 特許出願人 新技術開発事業団 代理人弁理士 阿 部 龍 吉 第２図
Claims (3)
- （１）Ｘ線検出用１次元イメージセンサ（１７）を一軸
移動テーブル（１６）により副操作し、Ｘ線照射時およ
び可視光照射時における不可視物体（１８）の投影像を
２次元的にとらえ、該投影像情報から不可視部分および
外観部分の寸法、面積を測定することを特徴とするＸ線
イメージセンサを用いた不可視物体の計測方式。 - （２）Ｘ線照射及び可視光照射を交互に行いながらＸ線
検出用１次元イメージセンサ（１７）を一軸移動テーブ
ル（１６）により副操作することを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載のＸ線イメージセンサを用いた不可視
物体の計測方式。 - （３）表示装置（４３）およびプリンタ（４４）に２次
元の不可視像と外観像を表示することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載のＸ線イメージセンサを用いた不
可視物体の計測方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15347685A JPS6214011A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | Ｘ線イメ−ジセンサを用いた不可視物体の計測方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15347685A JPS6214011A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | Ｘ線イメ−ジセンサを用いた不可視物体の計測方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6214011A true JPS6214011A (ja) | 1987-01-22 |
Family
ID=15563404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15347685A Pending JPS6214011A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | Ｘ線イメ−ジセンサを用いた不可視物体の計測方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6214011A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04204205A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Kaiyo Kagaku Gijutsu Center | テザーケーブル |
| JP5720029B2 (ja) * | 2012-10-17 | 2015-05-20 | 株式会社 システムスクエア | 包装体の検査装置 |
| US10746541B2 (en) | 2016-01-19 | 2020-08-18 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Inspection device for conveyor belt |
-
1985
- 1985-07-12 JP JP15347685A patent/JPS6214011A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04204205A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Kaiyo Kagaku Gijutsu Center | テザーケーブル |
| JP5720029B2 (ja) * | 2012-10-17 | 2015-05-20 | 株式会社 システムスクエア | 包装体の検査装置 |
| JPWO2014061461A1 (ja) * | 2012-10-17 | 2016-09-05 | 株式会社 システムスクエア | 包装体の検査装置 |
| US10746541B2 (en) | 2016-01-19 | 2020-08-18 | The Yokohama Rubber Co., Ltd. | Inspection device for conveyor belt |
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