JPS62139643A - 放電結石破壊装置 - Google Patents

放電結石破壊装置

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JPS62139643A
JPS62139643A JP60280506A JP28050685A JPS62139643A JP S62139643 A JPS62139643 A JP S62139643A JP 60280506 A JP60280506 A JP 60280506A JP 28050685 A JP28050685 A JP 28050685A JP S62139643 A JPS62139643 A JP S62139643A
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JP
Japan
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discharge
probe
resistance
resistors
voltage
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Pending
Application number
JP60280506A
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English (en)
Inventor
敦之 天野
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は放電衝撃波により結石を破壊する放電結石破
壊装置に関する。
〔従来の技術〕
一般に、放電結石破壊装置はプローブに放電電極を設け
、この放電電極に高電圧を印加することにより放電をお
こし、この時発生される放電衝撃波によって結石を破壊
するようになっている。プローブは装置本体に対して着
脱自在となっている。
ところで、このような放電結石破壊装置において、プロ
ーブの放電電極は放電回数が増すごとに損耗し、その損
耗に従って放電が弱くなる。このため、放電電極には放
電回数に応じた寿命があり、その寿命は1つの症例に対
する処置をおよその限界としている。(1症例/本) これに対処するために、装置本体にはプローブ内の放電
電極による放電回数を計数する計数部と、その計数値を
表示する表示部が設けられている。
したがって、使用者は1つの症例に対する処置が終った
時、あるいは処置中であっても表示部の値が所定値に達
した時はプローブ(放電電極)が寿命であると判断し、
新゛品のプローブと交換することになる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、従来の放電結石破壊装置においては、一旦寿
命となったプローブが完全に廃棄されないで、場合によ
っては再使用されることがあった。
プローブの再使用は破壊能力の低下を招くことは勿論、
放電電極の損耗状態によってはその放電電極が人体内に
落下してしまうなどの不都合を生じてしまう欠点があっ
た。しかしながら、従来は装置本体に放電回数の計数部
と表示部が設けられているので、一旦寿命となったプロ
ーブの再使用を検知できず、これを防止できなかった。
この発明はこのような事情に対処すべくなされたもので
、その1」的とするところは寿命となったプローブの再
使用を防止することができ、これにより常に適正な破壊
能力が得られ、しかも放電電極の人体内への落下などと
いう不都合が回避でき信頼性にすぐれた放電結石破壊装
置を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明による放電結石破壊装置はプローブ内の放電電
極に放電電圧を印加する給電手段と、プローブ内に設け
られ、通電により選択的に溶断されるマトリクス状に接
続された複数の抵抗からなる抵抗手段と、プローブの放
電電極間に放電電圧を印加する回数を計数する計数手段
と、計数手段の計数値に応じて抵抗手段の各抵抗を選択
的に溶断する手段と、抵抗手段の抵抗値を検出する検出
手段と、検出手段の検出値に応じてプローブの寿命を報
知する報知手段とを具備する。
〔作用〕
この発明による放電結石破壊装置によれば、プローブ内
に設けられた抵抗手段の各抵抗を放電電極の放電回数に
応じて溶断することにより、抵抗手段の抵抗値を放電回
数に応じた値に設定し、装置本体側で各プローブの抵抗
手段の抵抗値を検出することによりプローブの寿命を検
知できる。
〔実施例〕
以下図面を参照してこの発明による放電結石破壊装置の
一実施例を説明する。第1図は第1実施例のブロック図
である。第1図でプローブ1以外の部分は放電結石破壊
装置の装置本体内にあるとする。プローブ1は柔軟性部
材で形成されている。
プローブ1の先端には一対の放電電極2a、 2bが近
接して配置され、この放電電極2a、 2bはプローブ
1の後端(装置本体側の端部)のコネクタ端子3as3
bにそれぞれ電気的に接続されている。さらに、プロー
ブ1の後端側には通電により選択的に溶断されるマトリ
クス状に接続された複数の抵抗からなる抵抗ユニット4
が内蔵され、この抵抗ユニット4の端子(3つ)はプロ
ーブ1の後端におけるコネクタ端子3c、 3d、 3
eにそれぞれ電気的に接続されている。なお、プローブ
1はコネクタ端子3a。
3b、3c、 3d、3eにより装置本体に対して着脱
自在になっている。
装置本体は商用電源5を有し、商用電源5は電源スィッ
チ6を介してトランス7の一次巻線7aに接続されてい
る。トランス7の二次巻線7bはダイオードブリッジか
らなる整流回路8を介して給電手段である充放電回路9
に接続されている。この充放電回路9は後述する制御部
l[から放電指令が供給されると、それに応答してパル
ス状の放電電圧を出力するもので、その出力端子はプロ
ーブ1のコネクタ端子3a、 3bに接続されている。
さらに、トランス7の二次巻線7cには定電圧回路10
が接続され、この定電圧回路IOの出力端子は制御部1
1に接続されている。制御部11には放電スイッチ(自
動復帰形の常開接点)12、発光ダイオード13、抵抗
溶断回路14、抵抗値検知回路15などが接続されてい
る。ここで、発光ダイオード13はプローブ1の放電電
極の寿命を報知(警告)するた込のものである。
抵抗溶断回路14は制御部11から溶断指令が供給され
るごとに値の異なる溶断電圧をコネクタ端子3cs 3
d13cへ出力し、抵抗ユニット4の各抵抗を順次溶断
するものである。抵抗値検知回路15はコネクタ端子3
c、 3d、 3eを介してプローブ1における抵抗ユ
ニット4の抵抗値を検知し、その検知結果を制御部11
に供給するものである。
抵抗ユニット4は第2図に示すように複数の抵抗により
構成されている。ここでは、抵抗は抵抗溶断回路I4か
ら出力される所定値以上の溶断電圧が印加されると溶断
され、放電回数の増加に従って各抵抗が順次溶断されて
いくとする。6個の抵抗rL r2、r3、r4、r5
、reが2行×3列のマトリクス状に接続されている。
1行目の抵抗r1、r2、「3が並列に接続され、2行
目の抵抗r4、「5・「6が並列に接続される。1列目
の抵抗「l、「4が直列に接続され、2列目の抵抗「2
、r5が直列に接続され、3列目の抵抗r3、reか直
列に接続される。1行目の抵抗rL r2、r3の両端
がコネクタ端子38% 3dに接続され、2行1]の抵
抗「4、「5、「6の両端がコネクタ端子3d、 3c
に接続される。各列の抵抗rlとr4、r2とr5、r
3とreはそれぞれ同じ抵抗値である。また、各列の抵
抗(「1、r4)、(「2、「5)、(r3、re)の
溶断電圧はコネクタ端子3c、 aa、 3e側にいく
程高くなっていて、1列目の抵抗「1、「4が溶断され
る時は、2列目、3列目の抵抗(r2、「5)、(「3
、re)が溶断されないように、また、2列目の抵抗「
2、「5が溶断される時は、3列目の抵抗r3、「6が
溶断されないようになっている。
次に、このような構成の放電結石破壊装置の動作を説明
する。プローブ1を装置本体に装着し、電源スィッチ6
をオンすると抵抗値検知回路15が動作し、プローブ1
における抵抗ユニット4の抵抗値が検知される。抵抗ユ
ニット4の抵抗値はコネクタ端子の間に電圧を印加する
ことにより検知される。ここで、抵抗ユニット4の各コ
ネクタ端子間には段数の抵抗が並列接続されているので
、その間の抵抗値は抵抗が溶断されていくにつれて上昇
していく。各抵抗は前述したように、放電回数の増加に
従って順次溶断されていくので、抵抗ユニット4の各コ
ネクタ端子間の抵抗値を検知することによりプローブ1
の放電回数が検出できる。
この実施例では抵抗ユニット4は6!の抵抗からなるの
で6通りの抵抗値を表わすことができる。
一般に、抵抗が溶断しない電力をvlとすると、抵抗が
速やかに溶断する電力v2はvlの6倍以上である。そ
のような抵抗を並列に接続し1本1本順次溶断していく
には、各抵抗値の比をそれに応じて設定しなければなら
ない。しかしながら、抵抗溶断用の電圧の上限も考える
と、並列に接続できる1氏抗の数はあまり多くはできず
、せいぜい3〜4本である。そのため、この実施例のよ
うに並列抵抗を複数段接続すれば、多くの抵抗値が設定
できプローブの寿命検知が細かくできる。
放電スイッチ12か押圧された際、抵抗ユニット4の抵
抗値が所定値以下であれば、制御部11から充放電回路
9に放電指令が供給される。充放電回路9は放電指令に
応じてパルス状の放電電圧を出力する。この放電電圧は
プローブ1のコネクタ端子3a、3bを介して放電電極
2as 2b間に印加され、その放電電極2a、2b間
で放電が行われる。こうして、放電スイッチ12を押圧
するごとに放電電極2a。
2b間で放電が行われ、放電衝撃波によって結石が破地
される。
制御部11は内部にカウンタを存し、放電指令を発生す
るごとにその発生回数を計数している。そして、所定回
数の放電を行なうごとに抵抗溶断回路14に対して溶断
指令を供給する。抵抗溶断回路14は溶断指令が供給さ
れるごとに値の異なる溶断電圧をコネクタ端子3c、 
3d、 3eから順次出力し、抵抗ユニット4の各抵抗
を溶断する。抵抗「l、「2、r3を溶断するにはコネ
クタ端子3c、 3dに電圧を印加する。抵抗「4、r
5、「6を溶断するにはコネクタ端子3d、 3cに電
圧を印加する。ここでは、コネクタ端子3c、 3d、
 3cから離れている抵抗から溶断されるとする。すな
わち、先ず1列口の抵抗「1、「4から溶断され、次い
で2列目の抵抗「2、「5、最後に3列I]の抵抗r3
、「6が溶断される。
こうして、抵抗ユニット4の抵抗値が所定値量−ヒにな
ると、つまり放電回数が設定値以上になると、制御部1
1は発光ダイオード13を点滅動作させるとともに、放
電動作を禁止する。すなわち、放電スイッチ12が押圧
されても、制御部11から充放電回路9に放電指令が供
給されない。ここで、発光ダイオード13の点滅はプロ
ーブ1に設けられている放電電極の寿命が来ているので
、交換が必要であることを利用者に報知(警告)するた
めのもみである。なお、プローブ1が装管されていない
場合は、抵抗ユニット4の抵抗値が無限大(所定値量−
に)である状態なので、同様に発光ダイオード13を点
滅、放電動作の禁止が行われる。
このように、プローブ1の放電回数をプローブ1内に設
けた抵抗ユニット4の抵抗値としてプローブ1内に記憶
しているので、一度寿命になったプローブ1の再使用が
確実に禁止される。
次にこの発明の他の実施例を説明する。
第3図は第2実施例の抵抗ユニット4の回路図である。
第2実施例の抵抗ユニットは第1実施例と同様に接続さ
れている抵抗を宵するが、ダイオードdL d2をさら
に有することが特徴である。ダイオードdl、 d2は
コネクタ端子3cに互いに逆向きに接続されている。こ
れにより、コネクタ端子3eを省略でき、プローブ1の
コネクタ端子側が小さくなる利点がある。すなわち、抵
抗r1、r2、r3を溶断する場合は、コネクタ端子3
c側をプラス、コネクタ端子3d側をマイナスとした溶
断電圧を印加すればよく、抵抗「4、「5、reを溶断
する場合は、コネクタ端子3c側をマイナス、コネクタ
端子3d側をプラスとした溶断電圧を印加すればよい。
第4図は第3実施例の抵抗ユニット4の回路図である。
第3実施例では9個の抵抗rl、 r2、r3、「4、
「5、「6、「7、「8、「9が第1実施例よりも1行
多い3行×3列のマトリクス状に接続されている。
1行目の抵抗「【、「2、「3が並列に接続され、2行
目の抵抗「4、r5、「6が並列に接続され、3行目の
抵抗「7、r8、reが並列に接続される。1列口の抵
抗rL r4、rlが直列に接続され、2列目の抵抗r
2、r5、「8が直列に接続され、3列目の抵抗r3、
re、「9が直列に接続される。1行目の抵抗rL r
2、「3の両端がコネクタ端子3c、 3dに接続され
、2行目の抵抗r4、r5、「6の両端がコネクタ端子
3L 3cに接続され、3行目の抵抗r7、「8、re
の両端がコネクタ端子3cs3rに接続される。各列の
抵抗「lと「4と「7、「2とr5と「8、「3とre
と「9はそれぞれ同じ抵抗値である。また、各列の抵抗
(rl、「4、「7)、(r2、r5、r8)、(r3
、re、「9)の溶断電圧はコネクタ端子3c、 3d
、 3e、 31’側にいく程高くなっていて、1列口
の抵抗rl、 r4、rlが溶断される時は、2列口、
3列口」の抵抗(r2、「5、「8)、(「3、re、
「9)が溶断されないように、また、2列目の抵抗r2
、r5、r8が溶断される時は、3列目の抵抗「3、r
e、 reが溶断されないようになっている。
これにより、コネクタ端子の数は1つ増えるが、抵抗ユ
ニットの抵抗値が3つ増え、プローブ寿命をより細かく
検知できる。
第5図は第4実施例の抵抗ユニット4の回路図である。
第4実施例の抵抗ユニットは第3実施例と同様に接続さ
れている抵抗を有するが、ダイオードd1、d2をさら
に有することが特徴である。ダイオードdl、 d2は
コネクタ端子3cに互いに逆向きに接続されている。こ
れにより、コネクタ端子3eを省略でき、プローブ1の
コネクタ端子側が小さくなる利点がある。抵抗rl、 
r2、「3を溶断する場合は、コネクタ端子3c側をプ
ラス、コネクタ端子3d側をマイナスとした溶断電圧を
印加すればよく、抵抗「4、r5、「6を溶断する場合
は、コネクタ端子3c側をマイナス、コネクタ端子3d
側をプラスとした溶断電圧を印加すればよく、抵抗「7
、r8、「9を溶断する場合は、コネクタ端子3c側を
マイナス、コネクタ端子3r側をプラスとした溶断電圧
を印加すればよい。
第6図は第5実施例の抵抗ユニット4の回路図である。
この実施例の抵抗ユニットはいわゆる空間マトリクス接
続された抵抗からなる。すなわち、各3つの抵抗(rl
o、rl3、rlG)、(rll、r14、r17)、
(r[2、r15、rlg)がそれぞれ星形結線される
。これらの抵抗の各端子がそれぞれコネクタ端子3cs
 3d−31’に接続され、星形結線の中心点がコネク
タ端子3eに接続される。この場合も、抵抗rlO1r
ll、r12を溶断するにはコネクタ端子3c、 3a
間に溶断電圧を印加し、抵抗r13、r14、rL5を
溶断するにはコネクタ端子3ds 3a間に溶断電圧を
印加し、抵抗r18、rL7、rlgを溶断するにはコ
ネクタ端子3e、 31’間に溶断電圧を印加すればよ
い。
このような抵抗ユニットによっても上述の実施例と同様
な効果が得られる。
第7図は装置本体側の変形に関する第6実施例のブロッ
ク図である。第6実施例は第1実施例の寿命検知時に点
滅する発光ダイオード13の代わりに表示回路16を設
けた実施例である。この表示回路1Gは段数の発光ダイ
オードを有し、抵抗ユニットの抵抗が溶断される毎に点
灯している発光ダイオードの数を減少していき、プロー
ブが寿命に達したことのみならず、放電回数の増加の傾
向をも表示するものである。これにより、寿命の残り(
放電回数)も確1認できる。
なお、上述の実施例では寿命報知手段としては発光ダイ
オードが用いられていたが、ブザーや音声合成器等を用
いてもよい。その他、この発明の要旨を変更しない限り
種々変更可能である。
〔発明の効果〕
以−り説明したようにこの発明によれば、プローブ内に
設けられた抵抗手段の各抵抗を放電電極の放電回数に応
じて溶断することにより、抵抗手段の抵抗値を放電回数
に応じた値に設定し、装置本体側で各プローブの抵抗手
段の抵抗値を検出することによりプローブの寿命を検知
できので、寿命となったプローブの再使用を防止するこ
とができ、これにより常に適正な破壊能力が得られ、し
かも放電電極の人体内への落下などという不都合が回避
できる信頼性にすぐれた放電結石破壊装置を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による放電結石破壊装置の第1実施例
のブロック図、第2図は第1実施例の抵抗ユニットの回
路図、第3図は第2実施例の抵抗ユニットの回路図、第
4図は第3実施例の抵抗ユニットの回路図、第5図は第
4実施例の抵抗ユニットの回路図、第6図は第5実施例
の抵抗ユニットの回路図、第7図は第6実施例のブロッ
ク図である。 1・・・プローブ 2a、2b・・・放電電極 3a−3bs 3cm 3F・・:’ネクタ端子4・・
・1氏抗ユニット 9・・・充放電回路 11・・・制御部 14・・・抵抗溶断回路 15・・・抵抗値検知回路 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 第3図 第5N

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放電電圧を発生する給電手段を有する装置本体と
    、前記給電手段からの放電電圧がその間に印加される放
    電電極を有するプローブとを具備する放電結石破壊装置
    において、前記プローブは通電により選択的に溶断され
    るマトリクス状に接続された複数の抵抗からなる抵抗手
    段を具備し、前記装置本体は前記プローブの放電電極間
    に放電電圧を印加する回数を計数する計数手段と、前記
    計数手段の計数値に応じて前記抵抗手段の各抵抗を選択
    的に溶断する手段と、前記抵抗手段の抵抗値を検出する
    検出手段と、前記検出手段の検出値に応じて前記プロー
    ブの寿命を報知する報知手段とを具備することを特徴と
    する放電結石破壊装置。
  2. (2)前記抵抗手段は直/並列接続された抵抗からなる
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の放電結
    石破壊装置。
  3. (3)前記抵抗手段は空間マトリクス状に接続された複
    数の抵抗からなることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載の放電結石破壊装置。
  4. (4)前記プローブは前記装置本体に着脱自在に取付け
    られることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    放電結石破壊装置。
  5. (5)前記給電手段は前記検出手段により前記放電電圧
    の印加回数が所定回数以上であることを検出すると放電
    動作が禁止されることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載の放電結石破壊装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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