JPS62133547A - Memory error correcting circuit - Google Patents
Memory error correcting circuitInfo
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- JPS62133547A JPS62133547A JP60273363A JP27336385A JPS62133547A JP S62133547 A JPS62133547 A JP S62133547A JP 60273363 A JP60273363 A JP 60273363A JP 27336385 A JP27336385 A JP 27336385A JP S62133547 A JPS62133547 A JP S62133547A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメモリエラー訂正回路に係シ、特に訂正後のデ
ータを用いてメモリに再書き込みを行う際に高速動作が
必要なメモリエラー訂正回路に関するものである。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a memory error correction circuit, and particularly to a memory error correction circuit that requires high-speed operation when rewriting a memory using corrected data. It is related to.
従来のこの種のメモリエラー訂正回路の一例を第3図に
示し説明すると、図において、11はランダムアクセス
形のメモリ回路、12はこのメモリ回路11にアドレス
データを供給するためのアドレス発生回路、13はメモ
リ回路11から出力されたエラー訂正信号を復号するた
めの復号回路、14はこの復号回路13の出力を一時保
持しておくだめのラッチ回路、15はこのラッチ回路1
4でラッチされたデータから再び正しいエラー訂正符号
を作り出し、メモリ回路11に供給するための符号化回
路、16はメモリ回路11の動作モードをリードモード
あるいはライトモードに設定するように制御するリード
/ライト制御回路である。An example of a conventional memory error correction circuit of this type is shown in FIG. 3. In the figure, 11 is a random access type memory circuit, 12 is an address generation circuit for supplying address data to the memory circuit 11, 13 is a decoding circuit for decoding the error correction signal output from the memory circuit 11; 14 is a latch circuit for temporarily holding the output of this decoding circuit 13; 15 is this latch circuit 1.
An encoding circuit 16 generates a correct error correction code from the data latched again and supplies it to the memory circuit 11. A read/write circuit 16 controls the operation mode of the memory circuit 11 to be set to read mode or write mode. This is a light control circuit.
そして、エラー訂正符号に符号化された形でメモリ回路
11に記憶されているデータを周期的に繰り返し読み出
した後、エラー訂正符号を復号回路13でエラー訂正符
号化前のデータに復号し、復号データとして出力すると
同時に、読み出されたエラー訂正符号に訂正可能な誤り
がある場合には、正しい誤り訂正符号を再生し、上記メ
モリ回路11にこれを再書き込みするように構成されて
いる。Then, after periodically and repeatedly reading out the data stored in the memory circuit 11 in the form encoded with the error correction code, the error correction code is decoded by the decoding circuit 13 into data before error correction encoding, and then decoded. At the same time as outputting data, if there is a correctable error in the read error correction code, the correct error correction code is reproduced and rewritten in the memory circuit 11.
このように構成されたメモリエラー訂正回路の動作を第
4図を参照して説明する。The operation of the memory error correction circuit configured as described above will be explained with reference to FIG.
この第4図は第3図に示す回路における主要部分の動作
波形を示し、(a)はクロック信号を示したものであり
、(b)はアドレス信号、(e)はリード/ライト信号
、(d)は出力データを示したものである。This Figure 4 shows the operating waveforms of the main parts of the circuit shown in Figure 3, where (a) shows the clock signal, (b) the address signal, (e) the read/write signal, ( d) shows the output data.
まず、第4図(b)に示すアドレス信号すはアドレス発
生回路12の出力を示すが、2クロツク毎に異なるアド
レスが出力されるように構成されている。また、第4図
(e)に示すリード/ライト信号Cはリート/ライト制
御回路16の出力であるが、1クロツク毎にリードモー
ドとライトモードとを切替えて設定している。このため
、アドレス信号すが一定に保たれている2クロック期間
の前半1クロック期間ではメモリ回路11からデータが
読み出され、後半1クロック期間ではメモリ回路11に
データが書き込まれることになる。First, the address signal shown in FIG. 4(b) shows the output of the address generation circuit 12, and is configured so that a different address is output every two clocks. Further, the read/write signal C shown in FIG. 4(e) is the output of the read/write control circuit 16, and is set by switching between a read mode and a write mode every clock. Therefore, data is read from the memory circuit 11 during the first half clock period of the two clock period in which the address signal is kept constant, and data is written to the memory circuit 11 during the second half clock period.
そして、この回路で、メモリ回路11に記憶されている
データにエラーがあった場合には、復号回路13でその
エラーを訂正し、正しいデータを出力する。また、この
正しいデータは次のライトモードのクロック期間に再び
正しいエラー訂正符号に符号化され、メモリ回路11に
書き込まれる。In this circuit, if there is an error in the data stored in the memory circuit 11, the decoding circuit 13 corrects the error and outputs correct data. Further, this correct data is again encoded into a correct error correction code and written into the memory circuit 11 during the next write mode clock period.
このようにして、この第3図に示す回路を用いることに
より、メモリ回路11には常に正しいデータが保持され
ることが可能となる。In this way, by using the circuit shown in FIG. 3, correct data can always be held in the memory circuit 11.
上述した従来のメモリエラー訂正回路では、データの読
み出しと、@き込みを交互に行っているため、データの
読み出し周期がメモリの読み出し、あるいは書き込み動
作に必要な時間、いわゆる、メモリアクセス時間のα倍
の時間必要となシ、高速動作がむづかしいという欠点が
あった。In the above-mentioned conventional memory error correction circuit, data reading and writing are performed alternately, so the data reading cycle is equal to the time required for memory reading or writing operations, the so-called memory access time α. The drawbacks were that it required twice as much time and that high-speed operation was difficult.
本発明によるメモリエラー訂正回路は、第1のメモリ回
路と、第2のメモリ回路と、この第1および第2のメモ
リ回路のデータ出力線に接続され。A memory error correction circuit according to the present invention is connected to a first memory circuit, a second memory circuit, and data output lines of the first and second memory circuits.
両データ線の一方を選択して出力するデータ出力線切替
回路と、このデータ出力線切替回路に接続され+i4b
訂正符号を復号しその復号データを出力するための復号
回路と、この復号回路に接続され上記復号データをエラ
ー訂正符号に変換して出力する符号化回路と、この符号
化回路の出力を上記第1あるいは第2のメモリ回路のデ
ータ入力線に切替えて接続するためのデータ入力線切替
回路と、上記第1のメモリ回路と第2のメモリ回路のリ
ード/ライトモード外らびに上記データ出力線切替回路
およびデータ入力線切替回路を制御するためのリード/
ライト制御回路と、上記第1および第2のメモリ回路ヘ
アドレスデータを供給するためのアドレス発生回路とを
備え、上記第1のメモリ回路がリードモード(ライトモ
ード)のとき、上記第2のメモリ回路がライトモード(
リードモード)となり、上記データ出力線切替回路が上
記第1(第2)のメモリ回路のデータ出力線を選択し、
上記データ入力線切替回路が上記第2(第1)のメモリ
回路のデータ入力線を選択するように切替るように構成
されている。A data output line switching circuit that selects and outputs one of both data lines, and +i4b connected to this data output line switching circuit.
a decoding circuit for decoding the correction code and outputting the decoded data; an encoding circuit connected to this decoding circuit for converting the decoded data into an error correction code and outputting it; a data input line switching circuit for switching and connecting to the data input line of the first or second memory circuit; and switching the read/write mode of the first memory circuit and the second memory circuit and the data output line switching circuit; Lead/lead for controlling the circuit and data input line switching circuit
a write control circuit; and an address generation circuit for supplying address data to the first and second memory circuits, when the first memory circuit is in a read mode (write mode), the second memory circuit The circuit is in light mode (
read mode), the data output line switching circuit selects the data output line of the first (second) memory circuit,
The data input line switching circuit is configured to switch to select the data input line of the second (first) memory circuit.
本発明においては、メモリ回路を2回路有し、その2回
路のリード/ライトモードを互いに反対になるように動
作させる。In the present invention, two memory circuits are provided, and the read/write modes of the two circuits are operated in opposite directions.
以下、図面に基づき本発明の実施例を詳細に説明する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below based on the drawings.
第1図図本発明によるメモリエラー訂正回路の一実施例
を示すブロック図で、説明に必要な部分のみを示す。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a memory error correction circuit according to the present invention, and only the parts necessary for explanation are shown.
図において、1はに1のメモリ回路、2は第2のメモリ
回路、3はこの第1および第2のメモリ回路1,2にそ
れぞれアドレスデータを供給するためのアドレス発生回
路、4は第1および第2のメモリ回路1,2の動作を第
1のメモリ回路1がリードモードのときは第2のメモリ
回路2がライトモードに、また、第1のメモリ回路1が
ライトモードのときは第2のメモリ回路2がリードモー
ドとなるように互いに反対になるよう制御するだめのリ
ード/ライト制御回路、5は第1および第2のメモリ回
路1,2のデータ出力線に接続され両データ線の一方を
選択して出力するデータ出力線切替回路および後述の符
号化回路の出力を第1あるいは第2のメモリ回路1,2
のデータ入力線に切替えて接続するためのデータ入力線
切替回路よりなるデータ入出力線切替回路、6はこのデ
ータ入出力線切替回路5のデータ出力線切替回路に接続
され誤9訂正符号を復号し復号データを出力するための
復号回路、7はこの復号回路6に接続され上記復号デー
タをエラー訂正符号に変換して出力する符号化回路であ
る。In the figure, 1 is a first memory circuit, 2 is a second memory circuit, 3 is an address generation circuit for supplying address data to the first and second memory circuits 1 and 2, respectively, and 4 is a first memory circuit. The operations of the second memory circuits 1 and 2 are such that when the first memory circuit 1 is in the read mode, the second memory circuit 2 is in the write mode, and when the first memory circuit 1 is in the write mode, the second memory circuit 2 is in the write mode. A read/write control circuit 5 is connected to the data output lines of the first and second memory circuits 1 and 2 and is connected to both data lines. The output of a data output line switching circuit that selects and outputs one of the two and an encoding circuit (to be described later) is sent to the first or second memory circuit 1 or 2.
A data input/output line switching circuit 6 is connected to the data output line switching circuit of the data input/output line switching circuit 5 to decode the error 9 correction code. A decoding circuit 7 is connected to the decoding circuit 6 and is an encoding circuit that converts the decoded data into an error correction code and outputs it.
ぞして、上記データ入出力線切替回路5は、第1あるい
は第2のメモリ回路1,2のうち、リードモード状態に
あるメモリ回路の出力データを選択して復号回路6に供
給し、さらに、符号化回路7からの出力をライトモード
状態にあるメモリ回路に供給するように構成されている
。Therefore, the data input/output line switching circuit 5 selects the output data of the memory circuit in the read mode state from among the first or second memory circuits 1 and 2 and supplies it to the decoding circuit 6. , is configured to supply the output from the encoding circuit 7 to the memory circuit in the write mode state.
つぎにこの第1図に示す実施例の動作を第2図を参照し
て説明する。Next, the operation of the embodiment shown in FIG. 1 will be explained with reference to FIG. 2.
この第2図は第1図に示す回路の主要部分の動作波形を
示し、(i)はクロック信号aを示したものであC1(
b)はアドレス信号b 、 (e)は第1のメモリ回路
1に供給されるリード/ライト信号e 、 (d)は第
2のメモリ回路2に供給されるリード/ライト信号d
、 (e)は出力データ句を示したものである。This FIG. 2 shows the operating waveforms of the main parts of the circuit shown in FIG. 1, and (i) shows the clock signal a, C1 (
b) is the address signal b, (e) is the read/write signal e supplied to the first memory circuit 1, and (d) is the read/write signal d supplied to the second memory circuit 2.
, (e) shows the output data phrase.
遣ず、第2図(b)に示すアドレス信号すはアドレス発
生回路3の出力であるが、1クロック周期毎にカウント
アツプされて第1および第2のメモリ回路1.2に供給
される。、マた、第2図(c) 、 (d)K示f’)
)”/ライト信号C(メモリナ1)、リード/ライ
ト信号d(メモリナ2)は、リート/ライト制御回路4
より出力され、リード/ライト信号Cは第1のメモリ回
路1に、リード/ライト信号dは第2のメモリ回路2に
それぞれ供給される。ここで、第1のメモリ回路1がリ
ード(ライト)のときは第2のメモリ回路2がライト(
リード)モードになるように制御されている。また、リ
ードモードからライトモード、あるいは、その逆への切
替は、アドレス発生回路3がメモリ回路のアドレスすべ
てをスキャンし終ったあと行なわれるように構成されて
いる。The address signal shown in FIG. 2(b) is the output of the address generation circuit 3, but is counted up every clock cycle and supplied to the first and second memory circuits 1.2. , Fig. 2 (c), (d) K f')
)''/write signal C (memorina 1) and read/write signal d (memorina 2) are read/write control circuit 4.
The read/write signal C is supplied to the first memory circuit 1, and the read/write signal d is supplied to the second memory circuit 2. Here, when the first memory circuit 1 is reading (writing), the second memory circuit 2 is writing (writing).
read) mode. Further, the switching from the read mode to the write mode or vice versa is configured to be performed after the address generation circuit 3 finishes scanning all the addresses of the memory circuit.
したがって、第1回目のスキャンで第1のメモリ回路1
からデータが読み出されている場合には、この間、第2
のメモリ回路2には正しいエラー訂正符号化されたデー
タが書き込まれている。Therefore, in the first scan, the first memory circuit 1
If data is being read from the second
Correct error-correction encoded data is written in the memory circuit 2 of .
つぎに、第1回目のスキャンが終了すると、第2のメモ
リ回路2からのデータ読み出しがはじまるが、このデー
タは第1回目のスキャンの間に新たに書き込まれたもの
であり、そのあと誤りが発生していないかぎりは正しい
データが出力されることになる。また、例え、誤りが発
生していたとしても、誤υ訂正可能な誤υであるかぎυ
訂正され、今度は第1のメモリ回路1へ正しいデータと
して書き込まれる。Next, when the first scan is completed, data reading from the second memory circuit 2 begins, but this data is newly written during the first scan, and any errors have occurred since then. Correct data will be output as long as it does not occur. In addition, even if an error occurs, the key υ is that the error υ is a correctable error υ.
The data is corrected and then written to the first memory circuit 1 as correct data.
このようにして、メモリ回路を2回路有し、そのメモリ
を交互に使うことによシ、常に正しいデータを両メモリ
に保持することができる。また、データの読み出し周期
は1クロック周期となり、メモリアクセスタイムまで減
少させることができる。In this way, by having two memory circuits and using the memories alternately, correct data can always be held in both memories. Furthermore, the data read cycle is one clock cycle, which can be reduced to the memory access time.
以上説明したように、本発明によれば、メモリ回路を2
回路有し、その2回路のリード/ライトモードを互いに
反対になるように動作させることにより、データを読み
出す周期が1クロック周期分と、従来の1/2に下げる
ことができ、高速動作を実現することができるので、実
用上の効果は極めて大である。As explained above, according to the present invention, the memory circuit can be
By operating the read/write modes of the two circuits in opposite directions, the data read cycle can be reduced to one clock cycle, which is half the conventional rate, achieving high-speed operation. Therefore, the practical effect is extremely large.
第1図は本発明によるメモリエラー訂正回路の一実施例
を示すブロック図、第2図は第1図の動作説明に供する
主要部分の動作波形を示す波形図、第3図は従来のメモ
リエラー訂正回路の一例を示すブロック図、第4図は第
3図の動作説明に供する主要部分の動作波形を示す波形
図である。
l 、 2 @ II 111+メモリ回路、3@・・
・アドレス発生回路、4・・ψ・リード/ライト制御回
路、5・・・・データ入出力線切替回路、6・・・・復
号回路、T・・・・符号化回路。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the memory error correction circuit according to the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram showing operation waveforms of the main parts used to explain the operation of FIG. 1, and FIG. 3 is a conventional memory error correction circuit. FIG. 4 is a block diagram showing an example of a correction circuit, and FIG. 4 is a waveform diagram showing operating waveforms of main parts to explain the operation of FIG. 3. l, 2 @ II 111 + memory circuit, 3 @...
- Address generation circuit, 4... ψ read/write control circuit, 5... data input/output line switching circuit, 6... decoding circuit, T... encoding circuit.
Claims (1)
れているデータを周期的に繰り返し読み出した後、前記
エラー訂正符号をエラー訂正符号化前のデータに復号し
、復号データとして出力すると同時に、読み出されたエ
ラー訂正符号に訂正可能な誤りがある場合には正しい誤
り訂正符号を再生し、前記メモリ回路に再書き込みする
メモリエラー訂正回路において、第1のメモリ回路と、
第2のメモリ回路と、前記第1および第2のメモリ回路
のデータ出力線に接続され、両データ線の一方を選択し
て出力するデータ出力線切替回路と、このデータ出力線
切替回路に接続され誤り訂正符号を復号して復号データ
を出力するための復号回路と、この復号回路に接続され
前記復号データをエラー訂正符号に変換して出力する符
号化回路と、この符号化回路の出力を前記第1あるいは
第2のメモリ回路のデータ入力線に切替えて接続するた
めのデータ入力線切替回路と、前記第1のメモリ回路と
第2のメモリ回路のリード/ライトモード並びに前記デ
ータ出力線切替回路およびデータ入力線切替回路を制御
するためのリード/ライト制御回路と、前記第1のメモ
リ回路と第2のメモリ回路へアドレスデータを供給する
ためのアドレス発生回路とを備え、前記第1のメモリ回
路がリードモード(ライトモード)のとき前記第2のメ
モリ回路がライトモード(リードモード)となり、前記
データ出力線切替回路が前記第1(第2)のメモリ回路
のデータ出力線を選択し、前記データ入力線切替回路が
前記第2(第1)メモリ回路のデータ入力線を選択する
よう切替え得るように構成されることを特徴とするメモ
リエラー訂正回路。After periodically and repeatedly reading data stored in a memory circuit in a form encoded with an error correction code, decoding the error correction code into data before error correction encoding and outputting the same as decoded data, A memory error correction circuit that reproduces a correct error correction code and rewrites it into the memory circuit when there is a correctable error in the read error correction code, a first memory circuit;
a second memory circuit; a data output line switching circuit that is connected to the data output lines of the first and second memory circuits and selects and outputs one of both data lines; and a data output line switching circuit that is connected to the data output line switching circuit. a decoding circuit for decoding the error correction code and outputting decoded data; an encoding circuit connected to this decoding circuit for converting the decoded data into an error correction code and outputting the same; a data input line switching circuit for switching and connecting to the data input line of the first or second memory circuit; a read/write mode of the first memory circuit and the second memory circuit; and switching of the data output line. A read/write control circuit for controlling the circuit and a data input line switching circuit, and an address generation circuit for supplying address data to the first memory circuit and the second memory circuit, When the memory circuit is in a read mode (write mode), the second memory circuit is in a write mode (read mode), and the data output line switching circuit selects the data output line of the first (second) memory circuit. , wherein the data input line switching circuit is configured to be able to switch to select the data input line of the second (first) memory circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60273363A JPH063590B2 (en) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | Memory error correction circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60273363A JPH063590B2 (en) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | Memory error correction circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62133547A true JPS62133547A (en) | 1987-06-16 |
JPH063590B2 JPH063590B2 (en) | 1994-01-12 |
Family
ID=17526856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60273363A Expired - Lifetime JPH063590B2 (en) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | Memory error correction circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH063590B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008016051A (en) * | 2007-08-27 | 2008-01-24 | Renesas Technology Corp | External storage device and its memory access control method |
JP2008117419A (en) * | 2007-12-21 | 2008-05-22 | Renesas Technology Corp | External storage device and its memory access control method |
-
1985
- 1985-12-06 JP JP60273363A patent/JPH063590B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008016051A (en) * | 2007-08-27 | 2008-01-24 | Renesas Technology Corp | External storage device and its memory access control method |
JP2008117419A (en) * | 2007-12-21 | 2008-05-22 | Renesas Technology Corp | External storage device and its memory access control method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH063590B2 (en) | 1994-01-12 |
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