JPS62127621A - 成形型又は成型品の形状測定方法及び測定具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、立体形状の被測定物である成形型又はこの成
形型を用いて成型された成型品の形状を簡易に測定する
方法及び測定具に関する。成形型とは、プラスチックの
成型時等に用いる金型、泥漿鋳込み時等に用いる石膏型
又は金属鋳込み時等に用いる鋳物型等をいう。

［従来技術］ 従来、この種の簡易な測定方法は、第３図に示す如く、
設計図（図示省略）から作成した複数枚の板ゲージ１，
１・・・の各ゲージ面１ａ、１ａ・・・を、被測宝物２
の外側面２ａの所定箇所に当接し、各ゲージ面１ａと被
測定物２の外側面２ａとの間隙寸法を測定して行なって
いた。

［発明が解決しようとする問題点］ しかし、前記従来の測定方法では、次の如き欠点がある
。

（ａ）　　複数枚の板ゲージ１，１・・・を作成するの
に多くの手間を必要とするため、測定に長時間を必要と
していた。

（ｂ）各ゲージ面１ａと被測定物２の外側面２ａとの間
隙寸法しか測定できないため、被測定物２の形状を正確
に測定することができない。

本発明は、上記事情に鑑み創案されたものである。

［問題を解決するための手段］ 前記問題を解決するための手段を、実施例に対応する第
１図へ〜［Ｃ）及び第２図を用いて以下に説明する。

水弟−の発明に係る成形型又は成型品の形状測定方法は
、第１図式に示す如く、立体形状の被測一 宝物２である成形型又は成型品の形状測定方法において
、固定盤３上に被測定物２を固定すると共に、被測定物
２の縦軸芯■！と直交する平板面４上に製図画面５を固
定し、平板面４上を移動自在の基台６から張出すと共に
該基台６に対し適宜高さ位置にある測定子７を被測定物
２の外側面２ａにおける３箇所以上の任意箇所Ａ、Ｂ、
Ｃ・・・に当接し、同図（Ｂ）　［Ｃ）に示す如く、前
記被測定物２の縦軸芯ｖ１と平行で且つ測定子７の接触
端７ａを通過する仮想軸線Ｖ２と製図画面５との交点Ａ
’　、Ｂ’　。

Ｃ′・・・を前記の各任意箇所Ａ、Ｂ、Ｃ・・・につい
て求めることにより被測定物２の形状を得ることである
。

本第二の発明に係る成形型又は成型品の形状を測定する
測定具は、第１図（８）に示す如く、立体形状の被測定
物２である成形型又は成型品の形状を測定する測定具に
おいて、被測定物２の固定盤３及び固定盤３の縦軸芯Ｖ
ｒと直交する平板面４を備えた測定盤８と、測定盤８の
平板面４上を摺動自在の基台６から適宜高さ位置に張出
した測定子７を備えると共に基台６の適宜箇所に基準定
規９の標点９ａ、９ａ間を目盛っであるトレッサ１０と
、同図（Ｂ）に示す如く、前記測定子７の接触端７ａを
前記基台６の摺動底面６ａの仮想延長平面へ前記固定盤
３の縦軸芯Ｖ１に沿って投影した点Ｐとトレッサ１０の
基準定規９の標点９ａ、９ａ間との関係を予め求めたテ
ンプレート１１とから構成したことである。

本第三の発明に係る成形型又は成型品の形状を測定する
測定具は、第２図に示す如く、立体形状の被測定物１２
である成形型又は成型品の形状を測定する測定具におい
て、被測定物１２の固定盤１３を固定盤１３の縦軸芯ｖ
３と直交する平板面１４の上方に張出した測定盤１８と
、測定盤１８の平板面１４上を摺動自在の基台１６から
適宜高さ位置に張出した測定子１７及び測定子１７の接
触端１７ａから前記基台１６の摺動底面１６ａの仮想延
長平面へ垂下した仮想垂線■４上に先端を一致させたプ
ロット具１９を備えたトレッサ２０とから構成したこと
である。

［作　用］ 水弟−の発明に係る成形型又は成型品の形状測定力法に
あっては、第１図（Ｂ）に示す如く、測定子７の接触端
７ａから下垂した仮想軸線ｖ２と製図画面５との交点が
、測定子７の接触端７ａを製図画面５上へ投影して得た
点Ｐに一致することから、同図（８）に示す如く、被測
定物２の外側面２ａにおける３箇所以上の任意箇所Ａ、
Ｂ、Ｃ・・・に測定子１を当接して得た同図（Ｃ）に示
す製図画面５上の交点Ａ’　、Ｂ’　、Ｃ’・・・は、
被測定物２の外側面２ａの任意箇所Ａ、Ｂ、Ｃ・・・を
製図画面５上に投影した点となる。

本第二の発明に係る成形型又は成型品の形状を測定する
測定具にあっては、第１図（８）に示す如く、被測定物
２の外側面２ａにおける３箇所以上の任意箇所Ａ、Ｂ、
Ｃ・・・に測定子７を当接して、製図画面５上ヘトレツ
サ１０の基準定規９の標点９ａ　、　９ａ間に沿って作
図した基準線ａ、ｂ、ｃ・・・に、同図［Ｃ）に示す如
く、テンプレート１１を一致させて得た製図画面５上の
プロット点Ａ’　　、Ｂ’　　、Ｃ’・・・が、任意箇
所Ａ、Ｂ、Ｃ・・・を製図画面５上に投影した点となる
。

本第三の発明に係る成形型又は成型品の形状を測定する
測定具にあっては、第２図に示す如く、測定子１７の接
触端１７ａからトレッサ２０の基台１６の摺動底面１６
ａの仮想延長平面へ垂下した仮想垂線Ｖ４上に先端を一
致させたプロット具１９を備えであるので、被測定物１
２の外側面１２ａを測定子１７でなぞった際、製図画面
１５上にプロット具１９で作図された曲線は、測定子１
７の接触端１７ａの移動軌跡である被測定物１２の等高
線を製図画面１５上に投影した曲線となる。

［実施例の説明］ （第１実施例） 第１図へ〜［Ｃ）は、本発明の第１実施例を示すもので
ある。

先ず測定具を説明する。測定具は、測定盤８とトレッサ
１０とテンプレート１１とからなる。測定盤８は、同図
穴に示す如く、被測定物２を載置固定するための固定盤
３と、固定盤３の縦軸芯Ｖ１（被測定物２の縦軸芯でも
ある）と直交する製図板等の平板面４とからなる。測定
盤８は、平板面一／− ４の上に固定した製図画面５を介して固定盤３を載置固
定したものであるが、何らこれに限定されるものではな
く、図示省略したが、被測定物の大きさ及び重量等に対
応させて、固定盤３と平板面４とで同一平面を形成する
ように一体的に構成することも、また固定盤３と平板面
４とを別体的に構成することもある。トレッサ１０は、
測定盤８の平板面４上を自在に摺動する基台６と、基台
６の適宜高さ位置に張出した高さ位置調節自在の測定子
１とからなり、基台６の側縁等に基準定規９の標点９ａ
、　９ａ間が目盛っである。テンプレート１１は、同図
（Ｂ）に示す如く、板紙又は合成樹脂板等からなり、ト
レッサ１０に形成された基準定規９の標点間目盛に対応
する基準部１１ａとＶ字状に切欠いたプロット部１１ｂ
とが次の如く形成されている。即ち、テンプレート１１
は、基準部１１ａをトレッサ１０の基準定規９の標点間
目盛に一致させたとき、トレッサ１０の測定子７の接触
端７ａから基台６の摺動底面６ａの仮想延長平面上へ垂
直投影した点Ｐとプロット部１１ｂとが一致するように
なされている。

次に、測定方法を説明する。先ず、平板面４上に製図紙
等からなる製図画面５を固定すると共に、固定盤３上に
被測定物２を固定する。次に、製図画面５上にトレッサ
１０を移動自在に載置すると共に、トレッサ１０の測定
子７の接触端７ａを被測定物２の第１番目の等高線位置
に調節した後、測定子７の接触端７ａを被測定物２の外
側面２ａにおける３箇所以上の任意箇所Ａ、Ｂ、Ｃ・・
・に当接する毎に、製図画面５上に、トレッサ１０の基
台６に形成されている基準定規９の標点間目盛に沿って
基準線ａ。

ｂ、ｃ・・・を作図する。なお、任意箇所Ａ、Ｂ、Ｃ・
・・の間隔は、被測定物２の外側曲線の複雑さに応じて
適宜決定する。続けて、図示省略したが、トレッサ１０
の測定子７の接触端１ａを被測定物２の第２番目の等高
線位置に再調節した後、測定子７の接触端７ａを被測定
物２の外側面２ａにおける３箇所以上の任意箇所に当接
する毎に、製図画面５上に、基台６の基準定規９の標点
間目盛に沿って基準線を作図する。この様にして、被測
定物２の測定すべき箇所の各等高線に対応する基準線を
製図画面５上に順次作図する。なお、Ｉｌ！図面図面上
５上準ｌａ、ｂ、ｃ・・・を作図する場合には、各基準
線が重ならないようにすると共に、同一等高線に関する
各基準線を同一色で作図すると共に、必要に応じて番号
を付記した後の識別が簡単にできるようにしておくこと
が好ましい。最後に、テンプレート１１の基準部１１ａ
を各基準線ａ、ｂ、ｃ・・・に一致させる毎に、製図画
面５上にテンプレート１１のプロット部１１ｂでプロッ
トしてプロット点Ａ’　、　Ｂｚ、Ｃ／・・・を求め、
被測定物２の形状を示す各等高線を作図する。

（第２実施例） 第２図は、本発明の第２実施例を示すものである。

先ず測定具を説明する。測定具は、測定盤１８とトレッ
サ２０とからなる。測定盤１８は、平板面１４の上方に
被測定物１２を固定するための固定盤１３が設けられ、
固定盤１３の縦軸芯Ｖ３　　（被測定物１２の縦軸芯で
もある）が平板面１４と直交するようにしである。トレ
ッサ２０は、測定盤１８の平板面１４上を自在に摺動す
る基台１６と、基台１６の適宜高さ位置に張出した高さ
位置調節自在の測定子１７と、測定子１７の接触端１７
ａから基台１６の摺動底面１６ａの仮想延長平面上へ垂
下した仮想垂線■４に先端１９ａを一致させて設けた鉛
筆等のプロット具１９とからなる。

次に、測定方法を説明する。先ず、平板面１４上におけ
る固定盤下方領域に製図紙等からなる製図画面１５を固
定すると共に、固定盤１３上に被測定物１２を固定する
。次に、平板面１４上にトレッサ２０を移動自在に載置
すると共に、測定子１７の接触端１７ａを被測定物１２
の第１番目の等高線位置に調節した後、測定子１７の接
触端１７ａで被測定物１２の外側面１２ａをなぞるよう
にトレッサ２０を移動させ、製図画面１５上にプロット
具１９で曲線を作図する。続けて、図示省略したが、ト
レッサ２０の測定子１７の接触端１７ａを被測定物１２
の第２番目の等高線位置に再調節した後、測定子１７の
接触端１７ａで被測定物１２の外側面１２ａをなぞり、
製図画面１５上にプロット具１９で曲線を作図する。こ
の様にして、被測宝物１２の形状を示す各等高線に対応
する曲線を製図画面１５上に順次作図する。

なお、得られた曲線データをコンピュータ処理するには
、上記製図画面１５として市販の図形入力装置であるデ
ジタイザを使用すれば、極めて容易にコンピュータへデ
ータを入力することもできる。

［発明の効果］ 以上詳述の如く、本発明は次の如く優れた効果を有する
。

■　極めて簡単な測定具のみで被測定物の形状を製図画
面上に短時間にトレスすることができるので、複数枚の
板ゲージの作成を必要とする従来に比べて、短時間で且
つ安価に測定することができる。

■　製図画面上に被測定物の外側面形状をプロットする
ことができるので、被測定物の外側面形状をプロットす
ることのできない従来に比べ正確に測定することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図＾〜Ｃ）は本発明に係る成形型又は成型品の形状
測定方法及び測定具の第１実施例を示すものであって、
同図穴は製図画面上に基準線を作図している状態を示す
斜視図、同図（Ｂｌはテンプレートとトレッサとの関係
を説明する斜視図、同図（Ｃ）は製図画面上にテンプレ
ートを用いて被測定物の等高線をプロットしている状態
を示す斜視図、第２図は本発明に係る成形型又は成型品
の形状測定方法及び測定具の第２実施例を示す斜視図、
第３図は従来の測定方法を示す斜視図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、立体形状の被測定物である成形型又は成型品の形状
   測定方法において、固定盤上に被測定物を固定すると共
   に、被測定物の縦軸芯と直交する平板面上に製図画面を
   固定し、平板面上を移動自在の基台から張出すと共に該
   基台に対し適宜高さ位置にある測定子を被測定物の外側
   面における３箇所以上の任意箇所に当接し、被測定物の
   縦軸芯と平行で且つ測定子の接触端を通過する仮想軸線
   と製図画面との交点を前記の各任意箇所について求める
   ことにより被測定物の形状を得ることを特徴とする成形
   型又は成型品の形状測定方法。 ２、前記仮想軸線と製図画面との交点を各任意箇所につ
   いて求めるに際し、前記測定子を各任意箇所へ当接する
   毎に、前記基台の適宜箇所に形成した基準定規の標点間
   に沿つて基準線を前記製図画面上に作図した後、該基準
   定規の標点間と前記測定子の接触端から製図画面上へ前
   記被測定物の縦軸芯に沿って投影した点との関係を予め
   求めたテンプレートを上記基準線に一致させて前記交点
   を求める特許請求の範囲第１項記載の成形型又は成型品
   の形状測定方法。 ３、立体形状の被測定物である成形型又は成型品の形状
   を測定する測定具において、被測定物の固定盤及び固定
   盤の縦軸芯と直交する平板面を備えた測定盤と、測定盤
   の平板面上を摺動自在の基台から適宜高さ位置に張出し
   た測定子を備えると共に基台の適宜箇所に基準定規の標
   点間を目盛つてあるトレッサと、前記測定子の接触端を
   前記基台の摺動底面の仮想延長平面へ前記固定盤の縦軸
   芯に沿つて投影した点とトレッサの基準定規の標点間と
   の関係を予め求めたテンプレートとからなることを特徴
   とする成形型又は成型品の形状を測定する測定具。 ４、立体形状の被測定物である成形型又は成型品の形状
   を測定する測定具において、被測定物の固定盤を固定盤
   の縦軸芯と直交する平板面の上方に張出した測定盤と、
   測定盤の平板面上を摺動自在の基台から適宜高さ位置に
   張出した測定子及び測定子の接触端から前記基台の摺動
   底面の仮想延長平面へ垂下した仮想垂線上に先端を一致
   させたプロット具を備えたトレッサとからなることを特
   徴とする成形型又は成型品の形状を測定する測定具。