JPS62123354A - 超音波エコーグラフィによる物体の検査方法及び装置 - Google Patents
超音波エコーグラフィによる物体の検査方法及び装置Info
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- JPS62123354A JPS62123354A JP61068868A JP6886886A JPS62123354A JP S62123354 A JPS62123354 A JP S62123354A JP 61068868 A JP61068868 A JP 61068868A JP 6886886 A JP6886886 A JP 6886886A JP S62123354 A JPS62123354 A JP S62123354A
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- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、少なくとも１個の超音波トランスジューサに
より超音波信号を繰返し送出し、該送出超音波信号がそ
の伝搬方向において遭遇した主な障害物に対応する超音
波エコーを受信する超音波エコーグラフィによる物体を
走査する方法に関するものである。
より超音波信号を繰返し送出し、該送出超音波信号がそ
の伝搬方向において遭遇した主な障害物に対応する超音
波エコーを受信する超音波エコーグラフィによる物体を
走査する方法に関するものである。
さらに本発明は超音波信号を繰返し送信する送信段及び
送信信号がその伝搬方向で遭遇する主障害物からの超音
波エコーを受信する受信段に接続された少なくとも１個
の超音波トランスジューサを具える超音波エコーグラフ
ィによる物体の走査する装置に関するものである。
送信信号がその伝搬方向で遭遇する主障害物からの超音
波エコーを受信する受信段に接続された少なくとも１個
の超音波トランスジューサを具える超音波エコーグラフ
ィによる物体の走査する装置に関するものである。
この種の装置は、例えば物体の非破壊検査のため及び生
体組織の走査のため使用される。
体組織の走査のため使用される。
従来からの超音波エコーダラムは、超音波ビームにより
生体組織に発生したエコーのエンベロープを検出するこ
とにより得られる。生体器官の境界で生じたエコーが最
も大きいため、これらエコーダラムは主にこれら器官の
輪郭を表示する。この信号の位相（および周波数）に関
する全ての情報を消失する。これら情報により、他の手
段では診断することが難しい不明瞭な疾患に対し適当な
指示を与えることができる。
生体組織に発生したエコーのエンベロープを検出するこ
とにより得られる。生体器官の境界で生じたエコーが最
も大きいため、これらエコーダラムは主にこれら器官の
輪郭を表示する。この信号の位相（および周波数）に関
する全ての情報を消失する。これら情報により、他の手
段では診断することが難しい不明瞭な疾患に対し適当な
指示を与えることができる。
本発明の目的は、被検物体の散乱関数の周波数依存性を
決定することができるようにした超音波エコーグラフィ
により物体を検査する方法を提供せんとするにある。
決定することができるようにした超音波エコーグラフィ
により物体を検査する方法を提供せんとするにある。
この目的を達成するため、少なくとも１個の超音波トラ
ンスジューサにより超音波信号を繰返し送出し、該送出
超音波信号がその伝搬方向において遭遇した主な障害物
に対応する超音波エコーを受信する超音波エコーグラフ
ィによる物体を走査するに当り、 （ａ）エコーグラフィック線をメモリに記憶し、（ｂ）
２個の異なる測定深度に対するパワースペクトルの比率
を、回折効果の補正を含めて決定し、 （ｃ）被検物体の散乱関数の周波数依存性を、メモリに
記憶するか又は表示するかの何れか一方或いは双方を行
ない、 （ｄ）均質区域の各境界に相当する２個の他の測定深度
に対する前述の動作を繰返し、且つ他のエコーグラフィ
ック線に対する前述の動作を繰返すよにしたことを特徴
とする。
ンスジューサにより超音波信号を繰返し送出し、該送出
超音波信号がその伝搬方向において遭遇した主な障害物
に対応する超音波エコーを受信する超音波エコーグラフ
ィによる物体を走査するに当り、 （ａ）エコーグラフィック線をメモリに記憶し、（ｂ）
２個の異なる測定深度に対するパワースペクトルの比率
を、回折効果の補正を含めて決定し、 （ｃ）被検物体の散乱関数の周波数依存性を、メモリに
記憶するか又は表示するかの何れか一方或いは双方を行
ない、 （ｄ）均質区域の各境界に相当する２個の他の測定深度
に対する前述の動作を繰返し、且つ他のエコーグラフィ
ック線に対する前述の動作を繰返すよにしたことを特徴
とする。
この方法によれば、被検物体の散乱関数の定量的な決定
を可能として、被検物体を特徴付け、その病理学的状態
を決めることができる。
を可能として、被検物体を特徴付け、その病理学的状態
を決めることができる。
さらに本発明の目的は、本発明の方法を実施するのに適
切な超音波エコーグラフィによる被検物体の走査装置を
提供せんとするにある。
切な超音波エコーグラフィによる被検物体の走査装置を
提供せんとするにある。
この目的のため、超音波信号を繰返し送信する送信段及
び送信信号がその伝搬方向で遭遇する主障害物からの超
音波エコーを受信する受信段に接続された少なくとも１
個の超音波トランスジューサを具える超音波エコーグラ
フィによる物体の走査する装置において、前記受信段は
、 （Ａ） アナログ−デジタル変換器及びデジタルメモ
リにより構成されエコーグラフィック線を記憶するメモ
リ段と、 （Ｂ）２個の並列接続のチャンネルを有し、各チャンネ
ルが、測定深度を選択する選択回路の出力信号とエコー
グラフィック線を記憶するメモリ段の出力信号とを乗算
するマルチプライヤ回路、フーリエ交換を計算する演算
回路、絶対値の２乗を計算する演算回路、及び回折を補
正する補正回路を具える２つの別個の測定深度に対する
パワースペクトルの比率を決定する決定段と、 （Ｃ） ａ）方程式 を計算する演算回路、（ただし、ａｌ＋ ａｚ＋ｂ＋＋
ｂ２は、散乱関数の周波数依存性が既知である場合の夫
々走査物体及び基準物体に対する散乱関数の一般式Ｕ
（ｆ） ＝ａｆｂにおける係数ａ及びべき指数すの夫々
の値であり、ξは２つの測定深度の比である） ｂ）対数増幅器並びに Ｃ）走査される物体の散乱関数をメモリに記憶するかま
たは該散乱関数を表示装置に表示する演算回路を有し、
被検物体の散乱関数をメモリに記憶するか又は表示する
かの何れか一方或いは双方を行う記憶兼表示段とを具え
るようにしたことを特徴とする超音波エコーグラフィに
よる物体の走査装置。
び送信信号がその伝搬方向で遭遇する主障害物からの超
音波エコーを受信する受信段に接続された少なくとも１
個の超音波トランスジューサを具える超音波エコーグラ
フィによる物体の走査する装置において、前記受信段は
、 （Ａ） アナログ−デジタル変換器及びデジタルメモ
リにより構成されエコーグラフィック線を記憶するメモ
リ段と、 （Ｂ）２個の並列接続のチャンネルを有し、各チャンネ
ルが、測定深度を選択する選択回路の出力信号とエコー
グラフィック線を記憶するメモリ段の出力信号とを乗算
するマルチプライヤ回路、フーリエ交換を計算する演算
回路、絶対値の２乗を計算する演算回路、及び回折を補
正する補正回路を具える２つの別個の測定深度に対する
パワースペクトルの比率を決定する決定段と、 （Ｃ） ａ）方程式 を計算する演算回路、（ただし、ａｌ＋ ａｚ＋ｂ＋＋
ｂ２は、散乱関数の周波数依存性が既知である場合の夫
々走査物体及び基準物体に対する散乱関数の一般式Ｕ
（ｆ） ＝ａｆｂにおける係数ａ及びべき指数すの夫々
の値であり、ξは２つの測定深度の比である） ｂ）対数増幅器並びに Ｃ）走査される物体の散乱関数をメモリに記憶するかま
たは該散乱関数を表示装置に表示する演算回路を有し、
被検物体の散乱関数をメモリに記憶するか又は表示する
かの何れか一方或いは双方を行う記憶兼表示段とを具え
るようにしたことを特徴とする超音波エコーグラフィに
よる物体の走査装置。
図面につき本発明の実施例を詳細に説明する。
被検物体の周波数に依存する散乱関数は、平均パワース
ペクトルを比較して分析することができる。平均パワー
スペクトルの式は、瞬間τでのタイムスロットＷに対し
て以下のように示される。
ペクトルを比較して分析することができる。平均パワー
スペクトルの式は、瞬間τでのタイムスロットＷに対し
て以下のように示される。
Ｓｗ（τ、ｆ）＝Ｉα１ｆ）ｌ ” −Ｉ Ｕ（ｆ）ｌ
２− Ｄ （τ、ｆ） 、ｅ−２０（ｆ”）Ｑ ｒこ
の式において、Ｉ Ｇ（ｆ） ｌ ”は送信信号及びト
ランスジューサの音響及び電気特性のみに依存する。
２− Ｄ （τ、ｆ） 、ｅ−２０（ｆ”）Ｑ ｒこ
の式において、Ｉ Ｇ（ｆ） ｌ ”は送信信号及びト
ランスジューサの音響及び電気特性のみに依存する。
Ｄ（τ、ｆ）は回折により生じたフィルタ効果である。
αＣｆ”）及びＣは、被検物体内の超音波の減衰及び速
度を夫々示す。Ｕ（ｆ）は物体の散乱関数である。
度を夫々示す。Ｕ（ｆ）は物体の散乱関数である。
以下の説明では、散乱関数の周波数依存性が既知である
基準物体を利用すると仮定する。同一の超音波トランス
ジューサ及び一定の送信信号を使用することにより、走
査物体及び基準物体に関連するパワースペクトルの商を
得る式、即ち・・・・・・・・・（２） は に簡略化することができる。さらに、 Ｕ Ｉ（ｆ） ＝ ａ １ ｆ ” ・・”−（４
）Ｕｚ（ｆ） ＝ ａ ｚ ｆ ” −−（５）と
すると、上述の式は、 となる。このため、物体内での減衰を決める法則を知る
必要がなくなる。その理由は、商Ｒが２つの伝搬時間τ
、及びτ、に相当する２つの深度に対し計算され、これ
ら深度のスライスにおいて走査物体は均質であるからで
ある。これがため、となるさらに、τ６＝τ、とすると
、 で表現される式（９）が定まる。この式から次式が得ら
れる。 １ ｂ −ｂ ｆ １２＝に１Ｔ（ｆ） ２（ξ−１） ・・・・・
・・・・・・・（１１）この方程式（１１）の右辺は、
本発明の方法及び装置により定まるため、走査物体の散
乱関数の周波数依存性、即ち係数す、を決定することが
できる。
基準物体を利用すると仮定する。同一の超音波トランス
ジューサ及び一定の送信信号を使用することにより、走
査物体及び基準物体に関連するパワースペクトルの商を
得る式、即ち・・・・・・・・・（２） は に簡略化することができる。さらに、 Ｕ Ｉ（ｆ） ＝ ａ １ ｆ ” ・・”−（４
）Ｕｚ（ｆ） ＝ ａ ｚ ｆ ” −−（５）と
すると、上述の式は、 となる。このため、物体内での減衰を決める法則を知る
必要がなくなる。その理由は、商Ｒが２つの伝搬時間τ
、及びτ、に相当する２つの深度に対し計算され、これ
ら深度のスライスにおいて走査物体は均質であるからで
ある。これがため、となるさらに、τ６＝τ、とすると
、 で表現される式（９）が定まる。この式から次式が得ら
れる。 １ ｂ −ｂ ｆ １２＝に１Ｔ（ｆ） ２（ξ−１） ・・・・・
・・・・・・・（１１）この方程式（１１）の右辺は、
本発明の方法及び装置により定まるため、走査物体の散
乱関数の周波数依存性、即ち係数す、を決定することが
できる。
したがって、第１図に示す装置を使用して本発明の方法
を実施することにより、散乱関数の周波数依存性を定め
ることができる。この例における装置は、超音波トラン
スジューサ１０に対する搬送波を形成すると共に生体組
織のような物体のＡモード型エコーグラムを得るのに適
している単一のプローブを有する。本発明は、レーダ型
表示装置に接続される手動変位自在のプローブ或いはい
わゆる機械式セクタ角度変位プローブを用いるか、若し
くは検査すべき組織のＰ個の平行走査方向に対応するＰ
個の超音波トランスジューサのリニアアレーを用い、こ
れをスイッチング回路に接続してエコー処理装置を各ア
クティブトランスジューサ或いはトランスジューサ群に
順次切換えることによって、またはいわゆる電子セクタ
走査式トランスジューサアレーを用い、これを遅延綿或
いは移相器の回路網に接続することによって、組織の１
つの直線だけでなく、完全に平坦なスライスを検査する
ときにも完全に同一に使用することができること明らか
である。
を実施することにより、散乱関数の周波数依存性を定め
ることができる。この例における装置は、超音波トラン
スジューサ１０に対する搬送波を形成すると共に生体組
織のような物体のＡモード型エコーグラムを得るのに適
している単一のプローブを有する。本発明は、レーダ型
表示装置に接続される手動変位自在のプローブ或いはい
わゆる機械式セクタ角度変位プローブを用いるか、若し
くは検査すべき組織のＰ個の平行走査方向に対応するＰ
個の超音波トランスジューサのリニアアレーを用い、こ
れをスイッチング回路に接続してエコー処理装置を各ア
クティブトランスジューサ或いはトランスジューサ群に
順次切換えることによって、またはいわゆる電子セクタ
走査式トランスジューサアレーを用い、これを遅延綿或
いは移相器の回路網に接続することによって、組織の１
つの直線だけでなく、完全に平坦なスライスを検査する
ときにも完全に同一に使用することができること明らか
である。
超音波トランスジューサ１０を、その一端で送信段２０
に接続し、この送信段はトランスジューサにより超音波
信号を検査すべき組織を通る任意の走査方向に繰返し送
出するのに使用され、また、このトランスジューサを、
その他端で受信段に接続し、この受信段は送信信号の伝
搬方向における主な障害物からの超音波エコーをトラン
スジューサで受信しそれを処理するのに使用される（こ
れら障害物の位置は、異なる超音波減衰を呈する組織間
の境界を表わす振幅の高いエコーによるエコーダラムで
定められる）、この接続は送信段或いは受信段を排他的
にトランスジューサに接続する選択回路４０を経て行な
われる。この種の選択回路は、例えば、米国特許第４．
１３９，８３４号明細書に記載されている。選択回路４
０によって、送信信号が受信された信号により影響を受
けるのを防止するとともに受信信号が送信信号によりマ
スクされるのを防止する。
に接続し、この送信段はトランスジューサにより超音波
信号を検査すべき組織を通る任意の走査方向に繰返し送
出するのに使用され、また、このトランスジューサを、
その他端で受信段に接続し、この受信段は送信信号の伝
搬方向における主な障害物からの超音波エコーをトラン
スジューサで受信しそれを処理するのに使用される（こ
れら障害物の位置は、異なる超音波減衰を呈する組織間
の境界を表わす振幅の高いエコーによるエコーダラムで
定められる）、この接続は送信段或いは受信段を排他的
にトランスジューサに接続する選択回路４０を経て行な
われる。この種の選択回路は、例えば、米国特許第４．
１３９，８３４号明細書に記載されている。選択回路４
０によって、送信信号が受信された信号により影響を受
けるのを防止するとともに受信信号が送信信号によりマ
スクされるのを防止する。
本例の受信段には、直列接続された、エコーグラフィッ
ク線（Ａモード型）をメモリに記憶する記憶回路１００
、データ処理回路２００及び周波数依存性を決定する決
定回路３００を設ける。記憶回路１００は、アナログ−
デジタル（Ａ／Ｄ）変換器１０１を有し、この変換器は
、クロック回路１２５により制御され、クロック回路自
体は送信段のクロック信号により制御される。さらに記
憶回路１００はＡ／Ｄ変換器の後段にデジタルメモリ１
０２を設ける。データ処理回路２００は２個の並列接続
チャンネル２１０及び２２０を有する。各チャンネルは
、時間選択回路２１２ 、２２２ 、フーリエ交換を計
算する演算回路２１３ 、２２３ 、パワースペクトル
の計算のため絶対値の２乗を計算する演算回路２１４
、２２４及び回折効果を補正する補正回路を夫々順次有
する。
ク線（Ａモード型）をメモリに記憶する記憶回路１００
、データ処理回路２００及び周波数依存性を決定する決
定回路３００を設ける。記憶回路１００は、アナログ−
デジタル（Ａ／Ｄ）変換器１０１を有し、この変換器は
、クロック回路１２５により制御され、クロック回路自
体は送信段のクロック信号により制御される。さらに記
憶回路１００はＡ／Ｄ変換器の後段にデジタルメモリ１
０２を設ける。データ処理回路２００は２個の並列接続
チャンネル２１０及び２２０を有する。各チャンネルは
、時間選択回路２１２ 、２２２ 、フーリエ交換を計
算する演算回路２１３ 、２２３ 、パワースペクトル
の計算のため絶対値の２乗を計算する演算回路２１４
、２２４及び回折効果を補正する補正回路を夫々順次有
する。
本例の時間選択回路２１２及び２２２を、乗算回路２１
６及び２２６により形成して、タイムスロットを形成す
る方形波信号によりメモリ１０２の出力信号を乗算する
。このタイムスロットの位置は伝搬時間を選択する選択
回路２０１により決定され、また伝搬時間（τＡ、τ、
）は、例えば方形波信号のパルスの前縁に相当する２個
のチャンネルの各々で選択される。選択回路２０１は選
定させた２つの深度と関連する伝搬時間の比率ξも計算
する。回折効果を修正する補正回路を除算回路２１５
、２２５により形成し、その第１入力端子は、絶対値の
２乗を計算する関連の演算回路からの出力信号を受信し
、その第２入力端子は、メモリ２５０の個々の出力端子
から発生した除算信号を受信し、この除算信号は回折効
果を補正するのに使用される。メモリ２５０は送信段の
クロックにより附勢されるクロック回路１２５により制
御される。またさらにメモリ２５０を伝搬時間を選択す
る選択回路２０１の出力端子に接続する。このメモリ２
５０は、プログラマブル・リードオンリー・メモリ（Ｆ
ＲＯＭ）またはランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ） と
し、トランスジュ−サが集束型か否かに関係なく次に示
すようにロードされる。検査すべき物体から、物体の装
置に対する前面であって伝搬の主軸線における距離２に
位置するスライスを選択し、スライス及び装置間に位置
する中間媒体を減衰の低い媒体、例えば水とする。一定
の送信信号を用いて、この位置におけるエコーグラフィ
ック信号のエネルギースペクトルを決定する。したがっ
て、伝搬の主軸線と直角に変位させた他の位置を除いて
同一距離２に対しこの動作を繰返して、平均エネルギー
スペクトルを得る（例えば、同一位置の周囲１００個の
スペクトルから平均スペクトルを形成する）。したがっ
て、装置及び検査すべき物体間の他の距離２に対しても
同様に平均エネルギースペクトルを決定し、タイムスロ
ットを限定する時間選択回路の結果として物体の同一ス
ライスを常時検査することができる。したがって、主軸
線に沿う順次の位置合てに対して、回折に対する補正値
を計算しく中間媒体を適当に選定することにより測定値
から任意の減衰効果を除去する）、この計算値をメモリ
２５０に書込むようにする。非集束型トランスジューサ
の場合には、検査すべき物体のスライスを用いることな
く、即ち例えば平坦な反射表面を用いることにより簡単
に補正値を決定することができる。
６及び２２６により形成して、タイムスロットを形成す
る方形波信号によりメモリ１０２の出力信号を乗算する
。このタイムスロットの位置は伝搬時間を選択する選択
回路２０１により決定され、また伝搬時間（τＡ、τ、
）は、例えば方形波信号のパルスの前縁に相当する２個
のチャンネルの各々で選択される。選択回路２０１は選
定させた２つの深度と関連する伝搬時間の比率ξも計算
する。回折効果を修正する補正回路を除算回路２１５
、２２５により形成し、その第１入力端子は、絶対値の
２乗を計算する関連の演算回路からの出力信号を受信し
、その第２入力端子は、メモリ２５０の個々の出力端子
から発生した除算信号を受信し、この除算信号は回折効
果を補正するのに使用される。メモリ２５０は送信段の
クロックにより附勢されるクロック回路１２５により制
御される。またさらにメモリ２５０を伝搬時間を選択す
る選択回路２０１の出力端子に接続する。このメモリ２
５０は、プログラマブル・リードオンリー・メモリ（Ｆ
ＲＯＭ）またはランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ） と
し、トランスジュ−サが集束型か否かに関係なく次に示
すようにロードされる。検査すべき物体から、物体の装
置に対する前面であって伝搬の主軸線における距離２に
位置するスライスを選択し、スライス及び装置間に位置
する中間媒体を減衰の低い媒体、例えば水とする。一定
の送信信号を用いて、この位置におけるエコーグラフィ
ック信号のエネルギースペクトルを決定する。したがっ
て、伝搬の主軸線と直角に変位させた他の位置を除いて
同一距離２に対しこの動作を繰返して、平均エネルギー
スペクトルを得る（例えば、同一位置の周囲１００個の
スペクトルから平均スペクトルを形成する）。したがっ
て、装置及び検査すべき物体間の他の距離２に対しても
同様に平均エネルギースペクトルを決定し、タイムスロ
ットを限定する時間選択回路の結果として物体の同一ス
ライスを常時検査することができる。したがって、主軸
線に沿う順次の位置合てに対して、回折に対する補正値
を計算しく中間媒体を適当に選定することにより測定値
から任意の減衰効果を除去する）、この計算値をメモリ
２５０に書込むようにする。非集束型トランスジューサ
の場合には、検査すべき物体のスライスを用いることな
く、即ち例えば平坦な反射表面を用いることにより簡単
に補正値を決定することができる。
除算回路２１５及び２２５の出力側からは、上記（７）
及び（８）に比例する信号が夫々発生し、これら信号を
周波数依存性を決定する決定回路３００に並列に供給す
る。決定回路３００はまず弐Ｑｌ又は（ＩＩ）を計算す
る演算回路３０１をその一部に有し、この演算回路は後
に１／（２（ξ−１））乗される値Ｔを計算する。ξの
値は選択回路２０１から線路を経て演算回路３０１に供
給される。演算回路３０１は次段の対数増幅器３０２に
結合され、この対数増幅器は、ｌＯ９、。
及び（８）に比例する信号が夫々発生し、これら信号を
周波数依存性を決定する決定回路３００に並列に供給す
る。決定回路３００はまず弐Ｑｌ又は（ＩＩ）を計算す
る演算回路３０１をその一部に有し、この演算回路は後
に１／（２（ξ−１））乗される値Ｔを計算する。ξの
値は選択回路２０１から線路を経て演算回路３０１に供
給される。演算回路３０１は次段の対数増幅器３０２に
結合され、この対数増幅器は、ｌＯ９、。
Ｔ １／（２＜ξ−１））に比例する信号を供給し、さ
らに次段の演算回路３０３に結合され、この回路では散
乱関数の周波数依存性を記憶するとともにこの関数を表
示装置３０４により表示するか又は何れか一方を行なう
ようにする（第２図に対数座標で示す）。
らに次段の演算回路３０３に結合され、この回路では散
乱関数の周波数依存性を記憶するとともにこの関数を表
示装置３０４により表示するか又は何れか一方を行なう
ようにする（第２図に対数座標で示す）。
メモリ内にエコーグラフィック線を有する本発明の装置
において、スペクトルの比の決定及び散乱関数の周波数
依存性の表示が、均質区域の各境界に相当する２つのさ
らに他の測定深度に対して、また他のエコーグラフィッ
ク線に対して各時間ごとに繰返される。
において、スペクトルの比の決定及び散乱関数の周波数
依存性の表示が、均質区域の各境界に相当する２つのさ
らに他の測定深度に対して、また他のエコーグラフィッ
ク線に対して各時間ごとに繰返される。
第１図は本発明の装置の構成の一例を示すブロック回路
図、 第２図は第１図に示す演算回路の動作の結果を表わす曲
線を示す特性図である。 １０・・・超音波トランスジューサ ２０・・・送信段 ４０，２０１・・・選択
回路１００・・・メモリ回路 １０１・・・アナログ−デジタル変換器１０２・・・デ
ジタルメモリ １２５・・・クロック回路 ２００・・・データ処理回路 ２１０．２２０・・・チャンネル ２１２．２２２・・・時間選択回路 ２１３．２２３・・・フーリエ変換を計算する演算回路
２１４．２２４・・・絶対値の２乗を計算する演算回路
２１５、２２５・・・除算回路 ２５０・・・メモリ
３００・・・決定回路 ３０１・・・演算回路３
０２・・・対数増幅器 ３０３・・・演算回路３０
４・・・表示装置 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
図、 第２図は第１図に示す演算回路の動作の結果を表わす曲
線を示す特性図である。 １０・・・超音波トランスジューサ ２０・・・送信段 ４０，２０１・・・選択
回路１００・・・メモリ回路 １０１・・・アナログ−デジタル変換器１０２・・・デ
ジタルメモリ １２５・・・クロック回路 ２００・・・データ処理回路 ２１０．２２０・・・チャンネル ２１２．２２２・・・時間選択回路 ２１３．２２３・・・フーリエ変換を計算する演算回路
２１４．２２４・・・絶対値の２乗を計算する演算回路
２１５、２２５・・・除算回路 ２５０・・・メモリ
３００・・・決定回路 ３０１・・・演算回路３
０２・・・対数増幅器 ３０３・・・演算回路３０
４・・・表示装置 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、少なくとも１個の超音波トランスジューサにより超
音波信号を繰返し送出し、該送出超音波信号がその伝搬
方向において遭遇した主な障害物に対応する超音波エコ
ーを受信する超音波エコーグラフィによる物体を走査す
るに当り、 （ａ）エコーグラフィック線をメモリに記憶し、（ｂ）
２個の異なる測定深度に対するパワースペクトルの比率
を、回折効果の補正を含め て決定し、 （ｃ）被検物体の散乱関数の周波数依存性を、メモリに
記憶するか又は表示するかの何れ か一方或いは双方を行ない、 （ｄ）均質区域の各境界に相当する２個の他の測定深度
に対する前述の動作を繰返し、且 つ他のエコーグラフィック線に対する前述 の動作を繰返すようにしたことを特徴とす る超音波エコーグラフィによる物体の走査 方法。 ２、超音波信号を繰返し送信する送信段及び送信信号が
その伝搬方向で遭遇する主障害物からの超音波エコーを
受信する受信段に接続された少なくとも１個の超音波ト
ランスジューサを具える超音波エコーグラフィによる物
体の走査する装置において、前記受信段は、 （Ａ）アナログ−デジタル変換器及びデジタルメモリに
より構成されエコーグラフィ ック線を記憶するメモリ段と、 （Ｂ）２個の並列接続のチャンネルを有し、各チャンネ
ルが、測定深度を選択する選 択回路の出力信号とエコーグラフィック 線を記憶するメモリ段の出力信号とを乗 算するマルチプライヤ回路、フーリエ交 換を計算する演算回路、絶対値の２乗を 計算する演算回路、及び回折を補正する 補正回路を具える２つの別個の測定深度 に対するパワースペクトルの比率を決定 する決 定段と、 （Ｃ）ａ）方程式 Ｔ＝（ａ＿１／ａ＿２）＾２＾（＾ζ＾−＾１＾）・（
＿ｆｂ＿２−ｂ＿１）＾２＾（＾ζ＾−＾１＾）を計算
する演算回路、（ただし、ａ＿１、ａ＿２、ｂ＿１、ｂ
＿２は、散乱関数の周波数依存性が既知である場合の夫
々走査物体及び基準物 体に対する散乱関数の一般式Ｕ（ｆ）＝ａｆ＾ｂにおけ
る係数ａ及びべき指数ｂの夫々の 値であり、ξは２つの測定深度の比であ る） ｂ）対数増幅器並びに ｃ）走査される物体の散乱関数をメモ リに記憶するかまたは該散乱関数を 表示装置に表示する演算回路を有し、 被検物体の散乱関数をメモリに記憶 するか又は表示するかの何れか一方 或いは双方を行う記憶兼表示段とを 具えるようにしたことを特徴とする 超音波エコーグラフィによる物体の 走査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8504822 | 1985-03-29 | ||
| FR8504822A FR2579764B1 (fr) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | Procede et appareil d'exploration de milieux par echographie ultrasonore |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62123354A true JPS62123354A (ja) | 1987-06-04 |
| JPH0713630B2 JPH0713630B2 (ja) | 1995-02-15 |
Family
ID=9317758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61068868A Expired - Lifetime JPH0713630B2 (ja) | 1985-03-29 | 1986-03-28 | 超音波エコーグラフィによる物体の検査方法及び装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4794546A (ja) |
| EP (1) | EP0196714B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0713630B2 (ja) |
| DE (1) | DE3672167D1 (ja) |
| FR (1) | FR2579764B1 (ja) |
| IL (1) | IL78288A0 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01299537A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Agency Of Ind Science & Technol | 音響特性測定装置及び測温装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5258922A (en) * | 1989-06-12 | 1993-11-02 | Wieslaw Bicz | Process and device for determining of surface structures |
| JP3242887B2 (ja) * | 1998-09-21 | 2001-12-25 | 松下電器産業株式会社 | 超音波診断装置 |
Citations (2)
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3996791A (en) * | 1975-04-24 | 1976-12-14 | Krautkramer-Branson, Incorporated | Ultrasonic test method and apparatus utilizing scattered signals |
| US4274288A (en) * | 1979-07-23 | 1981-06-23 | Rockwell International Corporation | Method for measuring the depth of surface flaws |
| US4497210A (en) * | 1982-07-05 | 1985-02-05 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Phased array ultrasonic testing apparatus and testing method therefor |
| US4470303A (en) * | 1982-09-20 | 1984-09-11 | General Electric Company | Quantitative volume backscatter imaging |
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| JPS60103944A (ja) * | 1983-11-10 | 1985-06-08 | 株式会社東芝 | 超音波検査装置 |
| JPS60190855A (ja) * | 1984-03-12 | 1985-09-28 | Hitachi Ltd | ２探触子超音波探傷装置 |
-
1985
- 1985-03-29 FR FR8504822A patent/FR2579764B1/fr not_active Expired
-
1986
- 1986-03-21 EP EP86200475A patent/EP0196714B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1986-03-21 DE DE8686200475T patent/DE3672167D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-03-25 US US06/843,905 patent/US4794546A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-03-27 IL IL78288A patent/IL78288A0/xx not_active IP Right Cessation
- 1986-03-28 JP JP61068868A patent/JPH0713630B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH01299537A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Agency Of Ind Science & Technol | 音響特性測定装置及び測温装置 |
| JPH0428375B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1992-05-14 | Kogyo Gijutsuin |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0196714B1 (fr) | 1990-06-20 |
| JPH0713630B2 (ja) | 1995-02-15 |
| IL78288A0 (en) | 1986-07-31 |
| DE3672167D1 (de) | 1990-07-26 |
| FR2579764A1 (fr) | 1986-10-03 |
| FR2579764B1 (fr) | 1987-05-15 |
| US4794546A (en) | 1988-12-27 |
| EP0196714A1 (fr) | 1986-10-08 |
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