JPS62113087A - Ic detector for preheater - Google Patents
Ic detector for preheaterInfo
- Publication number
- JPS62113087A JPS62113087A JP60251939A JP25193985A JPS62113087A JP S62113087 A JPS62113087 A JP S62113087A JP 60251939 A JP60251939 A JP 60251939A JP 25193985 A JP25193985 A JP 25193985A JP S62113087 A JPS62113087 A JP S62113087A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical axis
- preheater
- heat block
- chute rail
- cross
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ＩＣハンドラに設けられるプリヒータを通過
するＩＣを検出する装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a device for detecting an IC passing through a preheater provided in an IC handler.
ＩＣハンドラは、多数のＩＣを順次に搬送してＩＣ測定
ソケットに装着して電気的性能の検査に供し、かつ、上
記測定ソケットから離脱せしめたＩＣを検査結果に従っ
て級別に分類して搬出する自動機器である。The IC handler is an automated system that sequentially transports a large number of ICs, attaches them to IC measurement sockets, tests their electrical performance, and classifies the ICs removed from the measurement sockets according to the test results and carries them out. It is a device.
上記の電気的性能の検査は所定の温度条件で行われるの
で、該所定温度が室温よりも高、いときはプリヒータが
設けられる。Since the electrical performance test described above is performed under predetermined temperature conditions, a preheater is provided when the predetermined temperature is higher than room temperature.
プリヒータは一般に、ＩＣをシュートレールによって搬
送しつつ、ＩＣの搬送路に対向せしめてヒートブロック
を設置し、搬送途中のＩＣを加熱するように構成される
。Generally, a preheater is configured to heat the IC while being transported by placing a heat block facing the IC transport path while transporting the IC using a chute rail.
第２図は、シュートレール１によってＩＣ２を搬送して
いる状態の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a state in which the IC 2 is being transported by the chute rail 1.
第３図は従来技術に係るプリヒータの一例を示し、１は
前述のシュートレール、２は搬送中のＩＣである。FIG. 3 shows an example of a preheater according to the prior art, in which numeral 1 indicates the chute rail described above, and numeral 2 indicates an IC being transported.
搬送中のＩＣの上方に、微小間隙を介してヒートブロッ
ク３が設置される。３ａはヒートブロックに埋設された
電気ヒータである。A heat block 3 is installed above the IC being transported with a small gap therebetween. 3a is an electric heater embedded in the heat block.
このプリヒータ装置は前述のＩＣ測定用ソケット（図示
せず）の直前に設置され、プリヒータを通過したＩＣは
測定用ソケットに装着される。This preheater device is installed immediately before the aforementioned IC measurement socket (not shown), and the IC that has passed through the preheater is mounted in the measurement socket.
従って、測定用ソケットの装着、離脱操作を自動的に行
うため、プリヒータを通過するＩＣ２を検出して、該検
出信号を自動制御装置（図示せず）に入力させる必要が
有る。Therefore, in order to automatically attach and detach the measurement socket, it is necessary to detect the IC 2 passing through the preheater and input the detection signal to an automatic control device (not shown).
そこで、従来技術においては、第３図に示すようにＩＣ
２と交わる水平方向の光軸（鎖線矢印で示す）Ａを設定
し、この光軸に沿って水平に対向せしめてビームセンサ
の投光器４と同受光器５とが設置される。Therefore, in the conventional technology, as shown in FIG.
A horizontal optical axis (indicated by a chain arrow) A that intersects with A is set, and a beam sensor emitter 4 and a beam receiver 5 are installed horizontally facing each other along this optical axis.
上記ビームセンサは公知の機器で、例えばサンクス製ビ
ームセンサ（商標名）が市販されている。The beam sensor described above is a known device, and for example, Beam Sensor (trade name) manufactured by Sunkus is commercially available.
以上のように構成したＩＣ検出装置（第３図）によれば
、プリヒータを通過するＩＣ２が光路Ａを遮ったとき受
光器５が入射光の消失を検知してＩＣ２の通過を検出す
ることができ、次工程の機器に信号を与えるのに便利で
ある。According to the IC detection device (FIG. 3) configured as described above, when IC2 passing through the preheater interrupts the optical path A, the light receiver 5 can detect the disappearance of the incident light and detect the passage of IC2. This is convenient for providing signals to equipment in the next process.
プリヒータに複数組のシュートレール１及びヒートブロ
ック３を平行に設置する場合、前述の従来技術（第３図
）の検出装置を設けると、仮想線で示した隣接のヒート
ブロック３′及びシュートレール１′との間に投、受光
器４，５′を設置しなければならないため、間隔寸法Ｗ
工が大きくなり、プリヒータ装置全体を大型、大重量化
させる。When a plurality of sets of chute rails 1 and heat blocks 3 are installed in parallel in a preheater, if the detection device of the prior art described above (FIG. 3) is installed, the adjacent heat blocks 3' and chute rails 1 shown by imaginary lines can be detected. Since the emitter and receiver 4, 5' must be installed between the
This increases the size and weight of the entire preheater device.
本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので、プリヒー
タ装置に設けられる複数対のヒートブロック及びシュー
トレール間の間隔寸法を拡大することなく、該プリヒー
タ装置を通過するＩＣを検出し得る装置を提供しようと
するものである。The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and is an apparatus capable of detecting an IC passing through a preheater without increasing the distance between the plurality of pairs of heat blocks and chute rails provided in the preheater. This is what we are trying to provide.
上記の目的を達成するため、本発明は、シュートレール
上を搬送されるＩＣに交わる斜上下方向の光軸を想定す
ると共に、上記の光軸はヒートブ＝３−
ロック内に設けられているヒータと交わらないように傾
斜させ、かつ、シュートレールが上記の光軸と交わる部
分、及びヒートブロックが該光軸と交わる部分をそれぞ
れ切り欠いた形状にすると共に、前記の光軸に沿って斜
上下方向に対向せしめてビームセンサの受２発光器を設
置したことを特徴とする。In order to achieve the above object, the present invention assumes an optical axis in an oblique vertical direction that intersects an IC being transported on a chute rail, and the optical axis is connected to a heater provided in a heat block. The part where the chute rail intersects with the above-mentioned optical axis and the part where the heat block intersects with the optical axis are respectively cut out, and the parts are tilted up and down along the above-mentioned optical axis. The present invention is characterized in that the receiver and emitter of the beam sensor are installed so as to face each other in the directions.
上記のように構成すると、受２発光器を対向せしめて設
置すべき光軸が水平方向でなく、斜上下方向であるため
、上記受１発光器の設置によってヒートブロック及びシ
ュートレールの設置間隔が影響を受けない。With the above configuration, the optical axes that should be installed with the receiver 2 emitter facing each other are not horizontal but diagonally up and down, so the installation interval of the heat block and chute rail can be reduced by installing the receiver 1 emitter. Not affected.
第１図は本発明の一実施例の断面図である。 FIG. 1 is a sectional view of an embodiment of the present invention.
１１はシュートレール、１３はヒートブロック、１３ａ
は電気ヒータである。11 is the shoot rail, 13 is the heat block, 13a
is an electric heater.
シュートレール１１上を搬送されるＩＣ２に交わるよう
、斜上下方向の光軸Ｂを設定する。The optical axis B in the diagonal vertical direction is set so as to intersect with the IC 2 being transported on the chute rail 11.
上記の光軸Ｂは、はぼ垂直とするが、ヒートブロック１
３に埋設されている電気ヒータ１３ａと交わらない程度
に傾斜させる。The above optical axis B is almost vertical, but the heat block 1
It is tilted to such an extent that it does not intersect with the electric heater 13a buried in 3.
上記のように設定した光軸Ｂが、ヒートブロック１３を
通過する個所付近に透孔１３ｂを穿つと共に該光軸Ｂが
シュートレール１１を通過する個所付近に透孔１１ａを
穿つ。A through hole 13b is bored in the vicinity of the point where the optical axis B set as described above passes through the heat block 13, and a through hole 11a is bored in the vicinity of the point where the optical axis B passes through the chute rail 11.
本発明を実施する際、上記の透孔１３ｂ、 Ｉｌａは必
ずしも孔の形状でなくてもよく、溝であってもよい。要
するに光軸と干渉しないように切り欠いた形状とする。When carrying out the present invention, the above-mentioned through holes 13b and Ila do not necessarily have to be in the shape of holes, but may be grooves. In short, it has a cutout shape so as not to interfere with the optical axis.
以上のように構成した検出装置（第１図）においては、
ＩＣ２がプリヒータを通過する際に光軸Ｂと交わり、受
光器５に入射する光を遮るので、該ＩＣ２の通過を検知
することができる。In the detection device (Fig. 1) configured as above,
When the IC2 passes through the preheater, it intersects with the optical axis B and blocks the light entering the light receiver 5, so that the passage of the IC2 can be detected.
また、光軸Ｂに沿って設けた透孔（切欠）１３ｂはヒー
トブロック１３の電気ヒータ１３ａに掛からないので該
ヒートブロック１３の機能を妨げる虞れが無い。Further, since the through hole (cutout) 13b provided along the optical axis B does not touch the electric heater 13a of the heat block 13, there is no risk of interfering with the function of the heat block 13.
更に、前記の光軸Ｂは、電気ヒータ１３ａと交わらない
範囲で垂直に近く設定しであるため、この光軸に沿って
対向せしめた投、受光器４，５は、シュートレール１１
．ヒートブロック１３に対して斜上下方向に位置するこ
ととなる。このため、隣接するシュートレール１４．１
１’、及び隣接するピー１〜ブロツク１３’、 １３″
との間隔寸法Ｗ、は、本発明装置の適用によって増加す
ることが無い。Furthermore, since the optical axis B is set close to vertically within a range that does not intersect with the electric heater 13a, the projector and receivers 4 and 5 facing each other along this optical axis are aligned with the chute rail 11.
．． It is located obliquely in the vertical direction with respect to the heat block 13. For this reason, the adjacent chute rail 14.1
1', and adjacent blocks 1 to 13', 13''
The distance W between the two does not increase by applying the device of the present invention.
以上説明したように、本発明の検出装置を適用すると、
プリヒータ装置に設けられる複数対のシュートレール及
びヒートブロック相互の間隔を増加せしめることなく、
該プリヒータを通過するＩＣを検出し得るという優れた
実用的効果を奏する。As explained above, when the detection device of the present invention is applied,
without increasing the distance between multiple pairs of chute rails and heat blocks provided in the preheater device.
This has an excellent practical effect of being able to detect ICs passing through the preheater.
第１図は本発明のＩＣ検出装置の一実施例を示し、模式
化して描いた断面図である。
第２図はＩＣ搬送用シュー１−レールの斜視図、第３図
は従来のプリヒータ用ＩＣ検出装置の説明図である。
１・・・シュートレール、２・・・ＩＣｌ３・・・ヒー
トブロック、３ａ・・・電気ヒータ、４・・・ビームセ
ンサの投光器、５・・・ビームセンサの受光器、１１・
・シュートレール、１１’、１１．’・・・隣接するシ
ュートレール、１１ａ・・・透孔（切欠）、１３・・・
ヒートブロック、１３’ 、 １３’・・・隣接するヒ
ートブロック、１３ａ・・・電気ヒータ、１３ｂ・・・
透孔（切欠）。
特許出願人 日立電子エンジニアリング株式会社代理
人弁理士 秋 本 正 実
レユートレール
−【クリ−FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of the IC detection device of the present invention. FIG. 2 is a perspective view of the IC transport shoe 1-rail, and FIG. 3 is an explanatory diagram of a conventional preheater IC detection device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Shoot rail, 2... ICl3... Heat block, 3a... Electric heater, 4... Emitter of beam sensor, 5... Receiver of beam sensor, 11.
・Chute rail, 11', 11. '... Adjacent chute rail, 11a... Through hole (cutout), 13...
Heat block, 13', 13'...adjacent heat block, 13a...electric heater, 13b...
Through hole (notch). Patent Applicant: Hitachi Electronic Engineering Co., Ltd. Representative Patent Attorney: Tadashi Akimoto
Claims (1)
上を搬送されるＩＣの頂面に対向せしめて設置したヒー
トブロックとを有するプリヒータを通過するＩＣを検出
する装置において、シュートレール上を搬送されるＩＣ
に交わる斜上下方向の光軸を想定すると共に、上記の光
軸はヒートブロック内に設けられているヒータと交わら
ないように傾斜させ、かつ、シュートレールが上記の光
軸と交わる部分、及びヒートブロックが該光軸と交わる
部分をそれぞれ切り欠いた形状にすると共に、前記の光
軸に沿って斜上下方向に対向せしめてビームセンサの受
、発光器を設置したことを特徴とする、ＩＣハンドラの
プリヒータ用のＩＣ検出装置。In a device for detecting an IC passing through a preheater having a chute rail for transporting an IC and a heat block installed opposite to the top surface of the IC being transported on the chute rail, the IC being transported on the chute rail.
Assuming an optical axis in an oblique vertical direction that intersects with An IC handler characterized in that the block has a shape in which the portions intersecting with the optical axis are cut out, and a beam sensor receiver and a light emitter are installed so as to face diagonally up and down along the optical axis. IC detection device for preheater.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251939A JPS62113087A (en) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | Ic detector for preheater |
| KR1019860002732A KR940010664B1 (en) | 1985-04-25 | 1986-04-10 | Ic guiding apparatus and ic handler |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60251939A JPS62113087A (en) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | Ic detector for preheater |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62113087A true JPS62113087A (en) | 1987-05-23 |
Family
ID=17230220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60251939A Pending JPS62113087A (en) | 1985-04-25 | 1985-11-12 | Ic detector for preheater |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62113087A (en) |
-
1985
- 1985-11-12 JP JP60251939A patent/JPS62113087A/en active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0358512A3 (en) | Position detecting method and apparatus | |
| KR970013135A (en) | Window Clamp and Alignment Method of Lead Frame Strip Using the Same | |
| JPS62113087A (en) | Ic detector for preheater | |
| JPH0358675B2 (en) | ||
| JP2890442B2 (en) | Inspection method for misalignment of contact hole of semiconductor device | |
| JPH04152545A (en) | Inspection method of foreign body | |
| JPS6117310B2 (en) | ||
| JP4013488B2 (en) | Device position detector | |
| KR870000477B1 (en) | Apparatus of detecting irregularity for line | |
| JPH11287632A (en) | Method and device for inspecting electronic component for pin curving | |
| JPS6236510A (en) | Detecting sensor for bend of lead | |
| KR970018335A (en) | Casing failure detection device of loader station for semiconductor manufacturing | |
| JPS61209345A (en) | Apparatus for inspecting processed hole | |
| GB2364119A (en) | Circuit board testing | |
| KR970025356A (en) | Component adsorption defect inspection device using image processing and its control method | |
| CN207441676U (en) | A kind of diffusion automatic slice inserting machine charging equipment with detection device | |
| JP2864742B2 (en) | Coke oven working machine fixed position detection method and apparatus | |
| NO20022906D0 (en) | Method and apparatus for detecting and moving misplaced plates on a separator elevator | |
| JP2833287B2 (en) | Inspection jig for multipolar electronic devices | |
| JP2001144147A (en) | Device and method for inspecting surface-mounted package junction part | |
| JPH02124453A (en) | Method and apparatus for checking plating on board | |
| JP2578843B2 (en) | Communication device | |
| JPH06147848A (en) | Visual inspection equipment | |
| JPS6145955A (en) | Inspecting method of through hole | |
| JPS607336A (en) | Inspecting device for light emitting body |