JPS6211126A - 微粒子検出装置用の多点入力切換機構 - Google Patents
微粒子検出装置用の多点入力切換機構Info
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- JPS6211126A JPS6211126A JP14325185A JP14325185A JPS6211126A JP S6211126 A JPS6211126 A JP S6211126A JP 14325185 A JP14325185 A JP 14325185A JP 14325185 A JP14325185 A JP 14325185A JP S6211126 A JPS6211126 A JP S6211126A
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- dust
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、クリーンルーム等の内部の複数測定点の塵埃
測定を一台の微粒子検出装置で行うための多点入力切換
機構に関し、特に内部構造からの発塵の影響を受けずに
検出精度を向上できる微粒子検出装置用の多点入力切換
機構に関する。
測定を一台の微粒子検出装置で行うための多点入力切換
機構に関し、特に内部構造からの発塵の影響を受けずに
検出精度を向上できる微粒子検出装置用の多点入力切換
機構に関する。
従来の技術
複数の測定点の塵埃測定を一台の微粒子検出装置で行う
には、第4図に示すように、各測定点■。
には、第4図に示すように、各測定点■。
■、・・・[相]にサンプリングチューブla、lb、
・・・1nを配置しておき、上記各サンプリングチュー
ブ1a等を多点入力切換機構2の対応する吸入口に接続
し、その排出口から延びる供給管3を微粒子検出装置4
の検出セルに接続して、上記多点入力切換機構2で複数
の測定点からそれぞれ吸入した被測定ガスを上記検出セ
ル内に切り換えて供給することにより行う。
・・・1nを配置しておき、上記各サンプリングチュー
ブ1a等を多点入力切換機構2の対応する吸入口に接続
し、その排出口から延びる供給管3を微粒子検出装置4
の検出セルに接続して、上記多点入力切換機構2で複数
の測定点からそれぞれ吸入した被測定ガスを上記検出セ
ル内に切り換えて供給することにより行う。
ここで、上記多点入力切換機構2としては、従来、第5
図に示すようなものが提案されていた。
図に示すようなものが提案されていた。
その構造は、本体5の一側部に列状に設けられた吸入口
6a、・・・6nにそれぞれサンプリングチューブla
、・・・1nを接続し、上記本体5の内部には接続パイ
プ7とベローズ8とからなり矢印A。
6a、・・・6nにそれぞれサンプリングチューブla
、・・・1nを接続し、上記本体5の内部には接続パイ
プ7とベローズ8とからなり矢印A。
B方向に移動可能な切換接続部9を設け、この切換接続
部9の排出口10に供給管3を接続していた。そして、
各測定点からの被測定ガスを切り換えるには、上記切換
接続部9を矢印A、B方向に移動して所望の測定点に対
応する吸入口たとえば6aのところに停止させ、その位
置で接続パイプ7を矢印C方向に前進させてその先端部
を上記吸入口6aのテーパ状の受口に押圧していた。し
か・ しこの場合は、上記本体5内で切換接続部9を矢
印A、B方向及びC,D方向に移動させる機構部から塵
埃が発生することがあり、この塵埃が本体5内で浮遊し
て供給管3内に混入することがあった。また、上記接続
パイプ7を吸入口6a、・・・6nの受口に抑圧したと
きに、Oリング11の部分からのニアリークがあって吸
引量が一定せず不安定となるものであった。これらのこ
とから、第5図に示すようなものでは検出精度を向上す
ることはできなかった。
部9の排出口10に供給管3を接続していた。そして、
各測定点からの被測定ガスを切り換えるには、上記切換
接続部9を矢印A、B方向に移動して所望の測定点に対
応する吸入口たとえば6aのところに停止させ、その位
置で接続パイプ7を矢印C方向に前進させてその先端部
を上記吸入口6aのテーパ状の受口に押圧していた。し
か・ しこの場合は、上記本体5内で切換接続部9を矢
印A、B方向及びC,D方向に移動させる機構部から塵
埃が発生することがあり、この塵埃が本体5内で浮遊し
て供給管3内に混入することがあった。また、上記接続
パイプ7を吸入口6a、・・・6nの受口に抑圧したと
きに、Oリング11の部分からのニアリークがあって吸
引量が一定せず不安定となるものであった。これらのこ
とから、第5図に示すようなものでは検出精度を向上す
ることはできなかった。
これを改善するため、第6図に示すような電磁弁12を
それぞれのサンプリングチューブla。
それぞれのサンプリングチューブla。
・・・1nの途中に設け、これをオン、オフすることに
より被測定ガスを切り換えることが提案されている。こ
の電磁弁12は1個別吸入口13に各サンプリングチュ
ーブ1a等を接続すると共に、個別排出口14からの配
管を供給管3に接続し、コイル15への通電をオン、オ
フしてコイルハウジング16内のプランジャ17を矢印
E、F方向に摺動させ、上記プランジャ17の先端の接
液部18を弁座19に当接または踵皮させることにより
、上記個別吸入口13から個別排出口14へ向かう被測
定ガスの流れを遮断または開放するものである。
より被測定ガスを切り換えることが提案されている。こ
の電磁弁12は1個別吸入口13に各サンプリングチュ
ーブ1a等を接続すると共に、個別排出口14からの配
管を供給管3に接続し、コイル15への通電をオン、オ
フしてコイルハウジング16内のプランジャ17を矢印
E、F方向に摺動させ、上記プランジャ17の先端の接
液部18を弁座19に当接または踵皮させることにより
、上記個別吸入口13から個別排出口14へ向かう被測
定ガスの流れを遮断または開放するものである。
発明が解決しようとする問題点
しかし、このような電磁弁12を使用した場合は、上記
プランジャ17が矢印E、F方向に摺動して、その上端
部がコイルハウジング16の天井部へ衝突したり或いは
その側面がコイルハウジング16の内側面に摺接するこ
とにより、上記コイルハウジング16内部に塵埃が発生
することがある。ここで、上記プランジャ17の先端の
接液部18は、弁座19の上面に当接するだけの直径と
されているので、上記コイルハウジング16内で発生し
た塵埃は、上記接液部18の周囲を矢印Gのようにまわ
り込んで弁座19側に流れ、個別吸入口13から個別排
出口14へ向かう被測定ガスの流れに混入することがあ
る。また、一つの電磁弁12ごとに個別吸入口13と個
別排出口14とがあり、それぞれ配管チューブが接続さ
れるので、配管系が複雑となると共に、各測定点からの
サンプリングチューブla、・・・1nにおける圧損の
バラツキにより吸引量が一定しないことがある。従って
、第6図に示すような電磁弁12を使用しても、塵埃測
定の検出精度を向上することは期待できなかった。そこ
で1本発明はこのような問題点を解決することを目的と
する。
プランジャ17が矢印E、F方向に摺動して、その上端
部がコイルハウジング16の天井部へ衝突したり或いは
その側面がコイルハウジング16の内側面に摺接するこ
とにより、上記コイルハウジング16内部に塵埃が発生
することがある。ここで、上記プランジャ17の先端の
接液部18は、弁座19の上面に当接するだけの直径と
されているので、上記コイルハウジング16内で発生し
た塵埃は、上記接液部18の周囲を矢印Gのようにまわ
り込んで弁座19側に流れ、個別吸入口13から個別排
出口14へ向かう被測定ガスの流れに混入することがあ
る。また、一つの電磁弁12ごとに個別吸入口13と個
別排出口14とがあり、それぞれ配管チューブが接続さ
れるので、配管系が複雑となると共に、各測定点からの
サンプリングチューブla、・・・1nにおける圧損の
バラツキにより吸引量が一定しないことがある。従って
、第6図に示すような電磁弁12を使用しても、塵埃測
定の検出精度を向上することは期待できなかった。そこ
で1本発明はこのような問題点を解決することを目的と
する。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決する本発明の手段は、被測定ガスの
塵埃測定をする微粒子検出装置の検出セルに接続され、
複数の測定点からそれぞれ吸入した被測定ガスを上記検
出セル内に切り換えて供給する微粒子検出装置用の多点
入力切換機構において、上記被測定ガスの個々の吸入切
換部を電磁弁とし、この電磁弁の弁座と当接する接液部
を発塵の少ない材質で形成すると共にその上方の駆動部
分との間を隔離しうるように大径とし、かつ上記各々の
電磁弁の排出口をマニホールドの接続口に連結して内部
の連絡通路で結び、この連絡通路の一部から配管系で上
記検出セルに接続したことによってなされる。
塵埃測定をする微粒子検出装置の検出セルに接続され、
複数の測定点からそれぞれ吸入した被測定ガスを上記検
出セル内に切り換えて供給する微粒子検出装置用の多点
入力切換機構において、上記被測定ガスの個々の吸入切
換部を電磁弁とし、この電磁弁の弁座と当接する接液部
を発塵の少ない材質で形成すると共にその上方の駆動部
分との間を隔離しうるように大径とし、かつ上記各々の
電磁弁の排出口をマニホールドの接続口に連結して内部
の連絡通路で結び、この連絡通路の一部から配管系で上
記検出セルに接続したことによってなされる。
実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明による微粒子検出装置用の多点入力切換
機構2′を示す斜視図である。この多点入力切換機構2
′は、第4図に示すと同様に、複数の測定点■、■、・
・・[相]から各サンプリングチューブla、lb、・
・・1nを介して吸入した被測定ガスを微粒子検出装置
4の検出セル内に切り換えて供給するもので、電磁弁2
0a、・・・2Onと、マニホールド21と、配管系2
2a、22b、22cとからなる。
機構2′を示す斜視図である。この多点入力切換機構2
′は、第4図に示すと同様に、複数の測定点■、■、・
・・[相]から各サンプリングチューブla、lb、・
・・1nを介して吸入した被測定ガスを微粒子検出装置
4の検出セル内に切り換えて供給するもので、電磁弁2
0a、・・・2Onと、マニホールド21と、配管系2
2a、22b、22cとからなる。
上記電磁弁20a、・・・2Onは、どのサンプリング
チューブla、・・・Inから被測定ガスを吸入するか
切り換えるもので、第2図に示すように。
チューブla、・・・Inから被測定ガスを吸入するか
切り換えるもので、第2図に示すように。
テーパネジ状に形成された個別吸入口23に各サンプリ
ングチューブ18等を接続し、コイル24への通電をオ
ン、オフしてコイルハウジング25内のプランジャ26
を上下方向に摺動させ、上記プランジャ26の先端に設
けられた接液部27を弁座28に当接または離反させる
ようになって、いる。ここで、上記接液部27は、非粘
着性で発塵の少ない材質たとえばテフロンで形成される
と共にダイヤフラム状の第一部材27aと第二部材27
bとを一体に組み合わせて二重ダイヤフラム状とし、か
つ上記第一、第二部材27a、27bはプランジャ26
の駆動部分であるコイルハウジング25と弁7m28と
の間を隔離しろるように大径に形成されている。すなわ
ち、上記接液部27の周縁は、プランジャ26と共に上
下方向に移動する空間部の内側壁に接するところまで延
長されており、該接液部27の周囲を気体や塵埃がまわ
り込めないようになっている。従って、個別吸入口23
から弁座28の開口部を介して個別排出口29へ破線矢
印Hのように向かう被測定ガスの流れに、上記プランジ
ャ26の駆動部分からの塵埃が混入するのを防止できる
。なお、上記接液部27の第二部材27bはその周縁部
30が厚手に形成されており、また、第一部材27aの
中央突起部31はプランジャ26の下端面にねじ込まれ
て接液部27全体が着脱可能とされている。
ングチューブ18等を接続し、コイル24への通電をオ
ン、オフしてコイルハウジング25内のプランジャ26
を上下方向に摺動させ、上記プランジャ26の先端に設
けられた接液部27を弁座28に当接または離反させる
ようになって、いる。ここで、上記接液部27は、非粘
着性で発塵の少ない材質たとえばテフロンで形成される
と共にダイヤフラム状の第一部材27aと第二部材27
bとを一体に組み合わせて二重ダイヤフラム状とし、か
つ上記第一、第二部材27a、27bはプランジャ26
の駆動部分であるコイルハウジング25と弁7m28と
の間を隔離しろるように大径に形成されている。すなわ
ち、上記接液部27の周縁は、プランジャ26と共に上
下方向に移動する空間部の内側壁に接するところまで延
長されており、該接液部27の周囲を気体や塵埃がまわ
り込めないようになっている。従って、個別吸入口23
から弁座28の開口部を介して個別排出口29へ破線矢
印Hのように向かう被測定ガスの流れに、上記プランジ
ャ26の駆動部分からの塵埃が混入するのを防止できる
。なお、上記接液部27の第二部材27bはその周縁部
30が厚手に形成されており、また、第一部材27aの
中央突起部31はプランジャ26の下端面にねじ込まれ
て接液部27全体が着脱可能とされている。
上記電磁弁2Qa、・・・2Onは、マニホールド21
の上面にたとえば10個実装される。このマニホールド
21は、上記電磁弁20a等で切り換えて吸入した被測
定ガスを配管22a、22bに導くもので、第1図に示
すようにステンレス製で角柱ブロック状に形成されると
共に、第3図に示すように長手方向の中心部に連絡通路
32が形成され、この連絡通路32と連通して上面に向
けて個別接続口33a、33b、・・・33nが穿設さ
れ。
の上面にたとえば10個実装される。このマニホールド
21は、上記電磁弁20a等で切り換えて吸入した被測
定ガスを配管22a、22bに導くもので、第1図に示
すようにステンレス製で角柱ブロック状に形成されると
共に、第3図に示すように長手方向の中心部に連絡通路
32が形成され、この連絡通路32と連通して上面に向
けて個別接続口33a、33b、・・・33nが穿設さ
れ。
さらに上記連絡通路32の一部には一側面に向けて集中
排気ポート34a、34bが形成されている。なお、上
記連絡通路32の両側端には排気穴35が設けられてお
り、この排気穴35にはメクラ栓36が装着されるよう
になっている。そして、このように形成されたマニホー
ルド21には、その上面に開口した個別接続口33a、
33b、・・・33nにそれぞれの電磁弁22a等の個
別排出口29(第2図参照)を連通して該電磁弁22a
等が実装されている。また、上記集中排気ポート34a
、34bには、それぞれ配管22a、22bが連結され
ると共に、これらの配管22a、22bが合流継手37
で結合されて一本の配管22cにまとめられ、この配管
22cが微粒子検出装置4の検出セルに接続されている
。
排気ポート34a、34bが形成されている。なお、上
記連絡通路32の両側端には排気穴35が設けられてお
り、この排気穴35にはメクラ栓36が装着されるよう
になっている。そして、このように形成されたマニホー
ルド21には、その上面に開口した個別接続口33a、
33b、・・・33nにそれぞれの電磁弁22a等の個
別排出口29(第2図参照)を連通して該電磁弁22a
等が実装されている。また、上記集中排気ポート34a
、34bには、それぞれ配管22a、22bが連結され
ると共に、これらの配管22a、22bが合流継手37
で結合されて一本の配管22cにまとめられ、この配管
22cが微粒子検出装置4の検出セルに接続されている
。
次に、このように構成された多点入力切換機構2′の動
作について説明する。いま、第4図における測定点■の
塵埃測定をするとして、第1図において第一のサンプリ
ングチューブ1aが接続された第一の電磁弁20aを図
示外の制御装置によってオンとする。すると、第2図に
示すコイル24に通電されて、コイルハウジング25内
のプランジャ26が上方に移動し、その先端の接液部2
7が弁座28から離反して該弁座28の開口部を開放す
る。これにより、上記電磁弁20aの個別吸入口23か
ら個別排出口29へ向かう流路が開かれ、サンプリング
チューブ1aからの被測定ガスが破線矢印Hのように流
れ、マニホールド21の個別接続口33a及び連絡通路
32を介して集中排気ポート34aに至り、その後配管
系22a。
作について説明する。いま、第4図における測定点■の
塵埃測定をするとして、第1図において第一のサンプリ
ングチューブ1aが接続された第一の電磁弁20aを図
示外の制御装置によってオンとする。すると、第2図に
示すコイル24に通電されて、コイルハウジング25内
のプランジャ26が上方に移動し、その先端の接液部2
7が弁座28から離反して該弁座28の開口部を開放す
る。これにより、上記電磁弁20aの個別吸入口23か
ら個別排出口29へ向かう流路が開かれ、サンプリング
チューブ1aからの被測定ガスが破線矢印Hのように流
れ、マニホールド21の個別接続口33a及び連絡通路
32を介して集中排気ポート34aに至り、その後配管
系22a。
37.22cを経て微粒子検出装置4の検出セル内に測
定点■からの被測定ガスが供給される。このとき、上記
接液部27は前述のように大径とされているので、プラ
ンジャ26の駆動部分からの塵埃が被測定ガスの流れに
混入することはない。
定点■からの被測定ガスが供給される。このとき、上記
接液部27は前述のように大径とされているので、プラ
ンジャ26の駆動部分からの塵埃が被測定ガスの流れに
混入することはない。
なお、上記第一の電磁弁20aをオンとして測定点■の
塵埃測定をしているときは、他の電磁弁20b、・・・
20nはオフとされている。そして、他の測定点につい
て測定するには、当該測定点に対応する電磁弁20a、
・・・20nをそれぞれ切り換えてオンとすればよい。
塵埃測定をしているときは、他の電磁弁20b、・・・
20nはオフとされている。そして、他の測定点につい
て測定するには、当該測定点に対応する電磁弁20a、
・・・20nをそれぞれ切り換えてオンとすればよい。
また、マニホールド21内の連絡通路32を清掃するに
は、第3図に示すメクラ栓36を外して超音波洗浄等を
すればよい。
は、第3図に示すメクラ栓36を外して超音波洗浄等を
すればよい。
なお、第1図及び第3図においては、マニホールド21
の集中排気ボート34a、34bは連絡通路32の両端
部にそれぞれ一箇所だけ設けたものとして示したが、本
発明はこれに限らず、上記連絡通路32の他の箇所に一
個または複数個の集中排気ポート(第1図の符号38参
照)を設けてもよい。このようにすることにより、マニ
ホールド21を介して集中排気する際の最適吸入排気を
達成することができ、該マニホールド21内の流体通路
における残留ダスト(被測定ガス内に含まれていた塵埃
が滞留すること)を除去することができる。
の集中排気ボート34a、34bは連絡通路32の両端
部にそれぞれ一箇所だけ設けたものとして示したが、本
発明はこれに限らず、上記連絡通路32の他の箇所に一
個または複数個の集中排気ポート(第1図の符号38参
照)を設けてもよい。このようにすることにより、マニ
ホールド21を介して集中排気する際の最適吸入排気を
達成することができ、該マニホールド21内の流体通路
における残留ダスト(被測定ガス内に含まれていた塵埃
が滞留すること)を除去することができる。
発明の効果
本発明は以上のように構成されたので、電磁弁の弁座2
8と当接する接液部27を発塵の少ない材質で形成する
と共にプランジャ26の駆動部分との間を隔離しうるよ
うに大径とすることにより、上記プランジャ26がコイ
ルハウジング25の天井部へ衝突したり或いはその内側
面に摺接して塵埃が発生しても、その塵埃が上記接液部
27の周囲をまわり込んで弁座28側に流入するのを阻
止することができる。従って、電磁弁20a等の個別吸
入口23から個別排出口29へ向かう被測定ガスの流れ
に上記塵埃が混入するのを防止することができる。また
、複数の測定点に対応して設けられた電磁弁20a、・
・・2Onの個別排出口29は、マニホールド21の連
絡通路32に連結されて集中排気ポート34a、34b
で集中排気されるので、例えば二本の配管22a、22
bで排気でき、配管系を簡単かつ短くして各測定点から
のサンプリングチューブla、・・・1nにおける圧損
のバラツキを少なくして吸引量を略一定とすることがで
きる。これらのことから、本発明によれば、塵埃測定の
検出精度を向上することができる。
8と当接する接液部27を発塵の少ない材質で形成する
と共にプランジャ26の駆動部分との間を隔離しうるよ
うに大径とすることにより、上記プランジャ26がコイ
ルハウジング25の天井部へ衝突したり或いはその内側
面に摺接して塵埃が発生しても、その塵埃が上記接液部
27の周囲をまわり込んで弁座28側に流入するのを阻
止することができる。従って、電磁弁20a等の個別吸
入口23から個別排出口29へ向かう被測定ガスの流れ
に上記塵埃が混入するのを防止することができる。また
、複数の測定点に対応して設けられた電磁弁20a、・
・・2Onの個別排出口29は、マニホールド21の連
絡通路32に連結されて集中排気ポート34a、34b
で集中排気されるので、例えば二本の配管22a、22
bで排気でき、配管系を簡単かつ短くして各測定点から
のサンプリングチューブla、・・・1nにおける圧損
のバラツキを少なくして吸引量を略一定とすることがで
きる。これらのことから、本発明によれば、塵埃測定の
検出精度を向上することができる。
第1図は本発明による微粒子検出装置用の多点入力切換
機構の実施例を示す斜視図、第2図はその電磁弁を示す
縦断面図、第3図は第1図の■−■線断面図、第4図は
複数の測定点の塵埃測定を一台の微粒子検出装置で行う
状態を示す説明図、第5図及び第6図はそれぞれ従来の
多点入力切換機構の構造を示す断面図である。 2′ ・・多点入力切換機構 4・・・微粒子検出装置 20a、・・・20n・・・電磁弁 21・・・マニホールド 22 a 、 22 b 、 22 c −配管系23
・・・個別吸入口 24・・・コイル 26・・・プランジャ 27・・・接液部 28・・・弁 座 29・・・個別排出口 32・・・連絡通路 33a、33b、・・・33n・・・個別接続口34a
、34b・・・集中排気ポート 37・・・合流継手 第4図 第5図
機構の実施例を示す斜視図、第2図はその電磁弁を示す
縦断面図、第3図は第1図の■−■線断面図、第4図は
複数の測定点の塵埃測定を一台の微粒子検出装置で行う
状態を示す説明図、第5図及び第6図はそれぞれ従来の
多点入力切換機構の構造を示す断面図である。 2′ ・・多点入力切換機構 4・・・微粒子検出装置 20a、・・・20n・・・電磁弁 21・・・マニホールド 22 a 、 22 b 、 22 c −配管系23
・・・個別吸入口 24・・・コイル 26・・・プランジャ 27・・・接液部 28・・・弁 座 29・・・個別排出口 32・・・連絡通路 33a、33b、・・・33n・・・個別接続口34a
、34b・・・集中排気ポート 37・・・合流継手 第4図 第5図
Claims (1)
- 被測定ガスの塵埃測定をする微粒子検出装置の検出セル
に接続され、複数の測定点からそれぞれ吸入した被測定
ガスを上記検出セル内に切り換えて供給する微粒子検出
装置用の多点入力切換機構において、上記被測定ガスの
個々の吸入切換部を電磁弁とし、この電磁弁の弁座と当
接する接液部を発塵の少ない材質で形成すると共にその
上方の駆動部分との間を隔離しうるように大径とし、か
つ上記各々の電磁弁の排出口をマニホールドの接続口に
連結して内部の連絡通路で結び、この連絡通路の一部か
ら配管系で上記検出セルに接続したことを特徴とする微
粒子検出装置用の多点入力切換機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14325185A JPS6211126A (ja) | 1985-06-29 | 1985-06-29 | 微粒子検出装置用の多点入力切換機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14325185A JPS6211126A (ja) | 1985-06-29 | 1985-06-29 | 微粒子検出装置用の多点入力切換機構 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6211126A true JPS6211126A (ja) | 1987-01-20 |
Family
ID=15334399
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14325185A Pending JPS6211126A (ja) | 1985-06-29 | 1985-06-29 | 微粒子検出装置用の多点入力切換機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6211126A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014149240A (ja) * | 2013-02-01 | 2014-08-21 | Azbil Corp | 粒子検出システム及び粒子検出方法 |
JP2014153258A (ja) * | 2013-02-12 | 2014-08-25 | Azbil Corp | 粒子検出システム及び粒子検出方法 |
Citations (2)
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JPS5443095A (en) * | 1977-09-12 | 1979-04-05 | Toray Industries | Particle distribution measuring apparatus of aerosol |
JPS5819245B2 (ja) * | 1977-12-28 | 1983-04-16 | 井関農機株式会社 | 脱穀扱ぎ深さ制御装置 |
-
1985
- 1985-06-29 JP JP14325185A patent/JPS6211126A/ja active Pending
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